TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 9223:2012 (ISO 6926:1999) VỀ ÂM HỌC – YÊU CẦU TÍNH NĂNG KỸ THUẬT VÀ HIỆU CHUẨN NGUỒN ÂM THANH CHUẨN SỬ DỤNG ĐỂ XÁC ĐỊNH MỨC CÔNG SUẤT ÂM

Hiệu lực: Còn hiệu lực Ngày có hiệu lực: 27/12/2012

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCN 9223:2012

ISO 6926:1999

ÂM HỌC – YÊU CẦU TÍNH NĂNG KỸ THUẬT VÀ HIỆU CHUẨN NGUỒN ÂM THANH CHUẨN SỬ DỤNG ĐỂ XÁC ĐỊNH MỨC CÔNG SUẤT ÂM

Aucostics – Requirements for the performance and calibration of reference sound sources used for the determination of sound power levels

Lời nói đầu

TCVN 9223:2012 hoàn toàn tương đương với ISO 6926:1999;

TCVN 9223:2012 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn Cơ điện – Bộ Nông nghiệp và Phát triển nông thôn biên soạn, Bộ Nông nghiệp và Phát triển nông thôn đề nghị, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng thẩm định, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

 

ÂM HỌC – YÊU CẦU TÍNH NĂNG KỸ THUẬT VÀ HIỆU CHUẨN NGUỒN ÂM THANH CHUẨN SỬ DỤNG ĐỂ XÁC ĐỊNH MỨC CÔNG SUẤT ÂM

Aucostics – Requirements for the performance and calibration of reference sound sources used for the determination of sound power levels

1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định các yêu cầu đặc tính âm học của nguồn âm thanh chuẩn bao gồm:

– Độ ổn định và độ lặp lại của công suất âm phát ra trong khoảng thời gian xác định;

– Đặc tính phổ tần;

– Chỉ số định hướng.

Đối với một số nguồn âm thanh có yêu cầu xác định đồng thời độ ổn định công suất âm phát ra và chỉ số định hướng, thường được thực hiện thông qua hình dáng biểu đồ phân bố của nguồm âm thanh chuẩn (ngoại trừ điều 5.5). Đối với những phép đo kiểm tra thông thường, chỉ cần xác định dải tần số và mức công suất âm trong điều kiện phòng bán âm vang hoặc phòng vang.

Tiêu chuẩn này quy định quy trình hiệu chuẩn nguồn âm thanh chuẩn thông qua mức công suất âm trong dải octa và dải 1/3 octa (hiệu chỉnh tần số theo đặc tính A) ở điều kiện tham chiếu chuẩn có trở kháng âm của không khí rc = 400 Ns/m3. Các quy trình khác nhau được quy định đối với đánh giá kiểu mẫu và kiểm tra.

CHÚ THÍCH: – Cho phép sử dụng nguồn âm thanh chuẩn để đo trong dải 1/2 octa ví dụ: cho ISO 9295. Tuy nhiên, khi đó không áp dụng được các giới hạn về độ ổn định và độ lặp lại quy định trong tiêu chuẩn này.

Tiêu chuẩn này quy định các phương pháp hiệu chuẩn nguồn âm thanh chuẩn không chỉ trong trường âm tự do trên mặt sàn phản xạ âm mà cả trong phòng vang tại các khoảng cách khác nhau so với mặt bao phân cách. Đối với nguồn âm thanh chuẩn bố trí trên mặt phẳng phản xạ, hai môi trường thử trên được xem là tương đương ứng với dải tần số có giới hạn trong khoảng bằng và lớn hơn 100 Hz. Dưới 100 Hz, độ không đảm bảo đo là khá khác biệt (xem Bảng 1).

Tiêu chuẩn này áp dụng để hiệu chuẩn nguồn âm thanh chuẩn, đặt trực tiếp trên sàn hoặc trên giá đỡ ở độ cao xác định. Chỉ áp dụng khi tiến hành đo trên bề mặt đo lường đối với nguồn âm thanh đặt trên sàn, có chiều cao nhỏ hơn 0,5 m và bề ngang nhỏ hơn 0,8 m. Theo tiêu chuẩn này chỉ sử dụng nguồn âm thanh chuẩn lắp đặt trên nền khi thực hiện phép đo trên mặt phẳng đo lường. Đối với nguồn âm thanh chuẩn sử dụng hoặc hiệu chuẩn trong điều kiện phòng vang, không bị hạn chế về giới hạn kích thước lớn nhất.

2. Tài liệu viện dẫn

· ISO 3741:1999, Âm học – Xác định mức công suất âm nguồn ồn bằng áp suất âm – Phương pháp chính xác cho phòng vang (Aucostics – Determination of sound power levels of noise using sound pressure – Precision method for reverberation rooms).

· ISO 3744, Âm học – Xác định mức công suất âm nguồn ồn bằng áp suất âm – Phương pháp kỹ thuật trong trường âm tự do trên mặt nền phản xạ âm (Aucostics – Determination of sound power levels of noise using sound pressure – Engineering method in an esntially free field over areflecting plane.)

· ISO 3745:1997, Âm học – Xác định mức công suất âm nguồn ồn – Phương pháp chính xác cho phòng vang và bán âm vang. (Aucostics – Determination of sound power levels of noise using sound pressure – Precision method for anechoic and semi-anechoic rooms).

· ISO 5725-01, Độ chính xác (trung thực và đúng) của phương pháp đo và kết quả – Phần 1: Nguyên tắc chung và định nghĩa (Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results – Part 1: General principle and definitions).

· ISO 9613-1, Âm học – suy giảm âm thanh trong quá trình lan truyền ngoài không gian – Phần 1: Tính toán độ hấp thụ âm trong khí quyển (Aucostics – Attenuation of sound during propagation outdoors – Part 1: Calculation of the absorption of sound by the atmosphere).

· IEC 61183, Điện âm thanh – Hiệu chuẩn tần suất ngẫu nhiên và trường khuyếch tán đối với thiết bị đo mức âm thanh (Electroaucostics – Random-incidence and deffuse-field calibration of sound level meters).

3. Thuật ngữ và định nghĩa

Trong tiêu chuẩn này sử dụng những thuật ngữ và định nghĩa sau

3.1

Trường âm tự do trên mặt phẳng phản xạ (free field over reflecting plane)

Trường âm thanh đồng nhất, đẳng hướng trong không gian làm việc, trên mặt phẳng phản xạ vô cực, cứng vững mà nguồn âm thanh đặt bên trên nó.

3.2

Phòng bán âm vang (hemi-anechoic room)

Phòng thử có mặt nền cứng phản xạ âm thỏa mãn các yêu cầu của tiêu chuẩn ISO 3745.

3.3

Mức áp suất âm bề mặt (surface sound pressure level) Lpf

Mức năng lượng trung bình (xem ISO 3744) trong một đơn vị thời gian đo được từ tất cả các vị trí của micrôphôn trên bề mặt đo lường, biểu thị bằng dexibel (dB).

3.4

Mức công suất âm (sound pressure level) LW

Mười lần logarit cơ số 10 của tỷ số giữa công suất âm phát ra bởi nguồn âm thanh ở điều kiện thử nghiệm với nguồn âm chuẩn (10-12 W).

CHÚ THÍCH: – Đại lượng biểu thị bằng dexibel (dB).

3.5

Mặt đo lường (measurement surface)

Bề mặt giả thiết bao quanh nguồn âm thanh, trên đó bố trí các điểm đo mức áp suất âm.

CHÚ THÍCH: – Bề mặt đo lường có thể là mặt bán cầu giới hạn bởi mặt phẳng phản xạ, hoặc là mặt hình cầu.

3.6

Trường âm xa (far field)
Trường âm phần phát ra từ nguồn âm thanh, tại đó mức áp suất âm giảm 3 dB khi diện tích của bề mặt đo lường tăng gấp đôi.

CHÚ THÍCH: – Trong trường âm xa, áp suất âm trung bình bình phương tỷ lệ với tổng công suất âm phát ra từ nguồn. Mức suy giảm này tương đương với sự suy giảm 6 dB cho mỗi lần tăng gấp đôi khoảng cách từ vị trí điểm nguồn.

3.7

Trường âm gần (near field)

Trường âm phần nằm giữa nguồn âm thanh và trường âm xa.

3.8

Chỉ số định hướng (directivity index) Dli

­Số chỉ sự vượt trội áp suất âm của nguồn âm thanh về một hướng chủ đạo so với các hướng khác.

CHÚ THÍCH 1: – Chỉ số định hướng theo hướng i được tính từ kết quả đo trong phòng bán âm vang hoặc phòng vang theo công thức:

Dli = Lpi – Lpf

(1)

trong đó:

pi là mức công suất âm, đo trên mặt đo lường của nguồn theo chiều riêng biệt, dB;

Lpf là mức công suất âm, ở cùng khoảng cách trung bình trên bề mặt đo lường.

Bề mặt đo lường có hình bán cầu khi nguồn âm thanh chuẩn dự kiến đặt trực tiếp trên mặt phản xạ thay vì nguồn trên trường âm tự do.

CHÚ THÍCH 2: – Định nghĩa này khác so với định nghĩa trong ISO 3745 vì chuẩn là nguồn âm thanh trong trường âm tự do trên mặt nền phản xạ thay vì của nguồn trong trường âm tự do.

3.9

Phòng vang (reverberation room)

Phòng thử phù hợp với những yêu cầu quy định trong ISO 3741.

3.10

Dải tần số quan tâm (frequency range of interest)

Dải tần số bao gồm các dải octa với tần số trung tâm từ 125 Hz đến 8000 Hz hoặc dải 1/3 octa với các tần số trung tâm từ 100 Hz đến 10000 Hz tương ứng.

CHÚ THÍCH: – Dải tần số có thể mở rộng về hai phía: đến 20 000 Hz hoặc thấp hơn 50 Hz, nếu vẫn thỏa mãn các điều kiện trong tiêu chuẩn này.

3.11

Phương pháp so sánh (comparision method)

Phương pháp xác định mức công suất âm bằng cách so sánh các giá trị đo của mức áp suất âm từ nguồn ồn (đối tượng thử) với mức áp suất âm từ nguồn âm thanh chuẩn đã biết trong cùng một môi trường.

3.12

Thời gian vang (reverberation time) T

Thời gian cần thiết để mức áp suất âm giảm 60dB sau khi nguồn âm thanh ngừng phát.

CHÚ THÍCH 1: – Thời gian vang ứng với 10 dB hoặc 15 dB suy giảm đầu tiên được ký hiệu bằng T10 hoặc T15 tương ứng.

CHÚ THÍCH 2: – Đại lượng được biểu thị bằng giây (s)

3.13

Nguồn âm thanh chuẩn (reference sound source)

Nguồn âm thanh lưu động, thông thường là nguồn âm thanh khí động hoặc điện âm thanh hay thiết bị phát ồn cùng với mạch điều khiển liên quan tạo ra âm thanh dải rộng ổn định, phù hợp với các yêu cầu của tiêu chuẩn này (điều 5).

3.14

Độ lặp lại (repeatability)

Như định nghĩa trong ISO 5725-1 khi áp dụng một trong các quy trình của tiêu chuẩn này.

4. Độ không đảm bảo đo

Mức công suất âm đơn trị của nguồn ồn thử xác định được theo các quy trình trong tiêu chuẩn này có thể sai khác so với giá trị thật một lượng không vượt quá độ không đảm bảo đo (độ KĐBĐ). Các yếu tố bất lợi của môi trường thử, kỹ thuật thực nghiệm và đặc tính định hướng của nguồn ồn thử có thể làm tăng độ KĐBĐ của kết quả xác định mức công suất âm.

Nếu một nguồn âm thanh chuẩn được dịch chuyển đến một trong các phòng thí nghiệm khác nhau, và nếu tại mỗi phòng thí nghiệm mức công suất âm của nguồn mẫu được xác định theo các điều khoản của tiêu chuẩn này, kết quả nhận được có thể sai khác nhau. Độ lệch chuẩn của giá trị đo có thể tính được (ví dụ: theo ISO 7574-4:1995), phụ lục B) và có thể thay đổi theo tần số. Sự tán xạ này phải không vượt quá giá trị cho phép trong Bảng 1.

Bảng 1 – Giới hạn trên của độ lệch chuẩn ứng với độ lặp lại của mức công suất âm do nguồn âm thanh chuẩn phát ra

Tần số trung tâm của dải octa, Hz

Tần số trung tâm của dải 1/3 octa, Hz

Độ lệch chuẩn của độ tái lặpa với nguồn âm đặt trên sàn trong phòng nửa câm sR, dB

Độ lệch chuẩn của độ tái lặpa với nguồn âm trong phòng vang sR, dB

Đo theo đường kinh tuyến hoặc đường xoắn ốc

Đo ở 20 vị trí cố định hoặc theo các đường tròn đồng trục

63

125

250 ¸ 2000

4000 ¸ 8000

16000

50 ¸ 80

100 ¸ 160

200 ¸ 3150

4000 ¸ 10000

12500 ¸ 20000

2,0

0,8

0,3

0,3

0,3

2,0

0,8

0,5

1,0

1,0

2,5

1,0

0,3

0,3

0,4

Hiệu chỉnh theo đặc tính A

0,3b

0,5

0,2b

– a Trị số, đã được loại bỏ những thay đổi ở đầu ra nguồn âm và đã được kiểm nghiệm thực tế;

– b Trị số, đã được hiệu chỉnh theo đặc tính A, tính toán từ số liệu đo theo dải 1/3 octa;

Các trị số giới hạn cho trong Bảng 1 là độ lệch chuẩn của độ tái lặp không bao hàm sự sai khác hệ thống giữa các mức công suất âm, xác định trong hai môi trường thử khác nhau. Sự sai khác này có thể bỏ qua ở tần số trên 100 Hz. Tuy nhiên, tại tần số 100 Hz và thấp hơn, sự sai khác này có thể là đáng kể. Đối với phòng vang có thể tích 200 m3, sự sai lệch này thông thường bằng hoặc nhỏ hơn 1,5 dB (ISO 6926:1999)

Độ lệch chuẩn của độ lặp lại scho trong Bảng 1 như xác định trong ISO 5725-1. Các trị số trong Bảng 1 phải bao gồm cả hiệu ứng tích lũy độ KĐBĐ trong việc áp dụng các quy trình theo tiêu chuẩn này, nhưng không kể đến các biến động công suất cửa ra gây nên bởi các biến động về điều kiện vận hành (ví dụ: vận tốc quay, điện áp lưới điện) hoặc điều kiện lắp đặt.

Độ KĐBĐ phụ thuộc vào độ lệch chuẩn của độ tái lặp cho trong Bảng 1 và hệ số tin cậy mong muốn. Ví dụ: với phân bố chuẩn của mức công suất âm và độ tin cậy 95 %, giá trị của mức công suất âm nằm trong khoảng ± 1,96 sR của giá trị đo. Xem các ví dụ khác trong ISO 7574-4.

CHÚ THÍCH 1: – Độ KĐBĐ trong Bảng 1 chỉ áp dụng cho nguồn âm thanh riêng rẽ là đối tượng hiệu chuẩn trực tiếp. Không áp dụng kết quả hiệu chuẩn một nguồn âm thanh chuẩn đơn lẻ cho các nguồn âm thanh chuẩn khác có cùng kiểu thiết kế và cùng nhà chế tạo, trừ khi có các số liệu thống kê bổ sung để chỉ rõ độ KĐBĐ xuất hiện từ các biến đổi trong quá trình sản xuất;

CHÚ THÍCH 2: – Độ KĐBĐ trong Bảng 1 không bao hàm sự sai khác hệ thống giữa các mức công suất âm xác định trong các môi trường khác nhau. Sự khác biệt này là đáng kể trên 100 Hz. Tuy nhiên, tại 100 Hz và thấp hơn, sự sai khác này là đáng kể. Đối với phòng vang dung tích 200 m3 sự khác biệt này phổ biến bằng và nhỏ hơn 1,5 dB.

5. Yêu cầu đặc tính kỹ thuật

5.1 Khái quát

Nhà chế tạo phải công bố liệu nguồn âm thanh chuẩn có phù hợp với tiêu chuẩn này.

5.2 Độ ổn định và khả năng lặp lại của công suất âm phát ra

Nguồn âm thanh chuẩn phải được thiết kế và chế tạo sao cho làm việc ổn định, độ lặp lại mức công suất âm tại mỗi dải 1/3 octa phải duy trì không đổi theo thời gian ứng với độ lệch chuẩn cho trong Bảng 2.

Bảng 2 – Độ lệch chuẩn lớn nhất của độ tái lặp mức công suất âm của nguồn âm thanh chuẩn

Dải tần số, Hz Độ lệch chuẩn, dB
50 ¸ 80 0,8
100 ¸ 160 0,4
200 ¸ 20000 0,2

CHÚ THÍCH: Đối với ứng dụng đặc biệt, nguồn âm thanh chuẩn có thể có dải tần số hẹp hơn.

Nhà chế tạo nguồn âm thanh chuẩn phải công bố dải biến thiên của nguồn công suất điện hay cơ học (ví dụ: điện áp cung cấp) trong đó mức công suất âm trong mỗi dải 1/3 octa trong dải tần số quan tâm phải không biến đổi hơn ± 0,3 dB. Nhà chế tạo phải đảm bảo quy trình điều chỉnh mức công suất âm phát ra từ nguồn âm thanh chuẩn đối với ảnh hưởng của biến động lớn của công suất nguồn điện áp hay công suất cơ học.

CHÚ THÍCH 1: – Mức công suất âm của nguồn âm thanh chuẩn phụ thuộc vào áp suất khí quyển và nhiệt độ không khí. Đối với các ứng dụng ở nhiệt độ hay độ cao khác nhau, nhà chế tạo phải cung cấp thông tin về các hiệu chỉnh và độ KĐBĐ thích hợp về ảnh hưởng của nhiệt độ không khí, áp suất khí quyển lên mức công suất âm.

5.3 Mức công suất âm toàn phần dải tần rộng

Không có yêu cầu riêng về mức công suất âm dải tần rộng phát ra bởi nguồn âm thanh chuẩn. Tuy nhiên, nếu công bố mức công suất âm toàn phần dải tần rộng, phải công bố kèm theo dải tần số tương ứng.

5.4 Đặc điểm của phổ tần số

Nguồn âm thanh chuẩn phải tạo ra âm thanh ổn định trong vùng tần số cần sử dụng, ít nhất trong dải 1/3 octa của tần số trung tâm từ 100 Hz đến 10 000 Hz. Trên dải tần này, mức công suất âm của tất cả các dải 1/3 octa, đo được phù hợp với yêu cầu của điều 7 và điều 8 phải nằm trong khoảng 12 dB. Ở cùng điều kiện đo và dải tần số, mức công suất âm tại mỗi dải 1/3 octa phải không sai lệch quá 3 dB so với mức công suất âm trong dải 1/3 octa lân cận. Nếu dải tần số mở rộng vượt ra ngoài phạm vi từ 100 Hz đến 10k Hz thì cho phép độ sai lệch mức công suất âm giữa các dải octa lân cận tương ứng là 16 dB và 4 dB.

Có thể cần nguồn âm thanh chuẩn đặc biệt để thỏa mãn các chuẩn mức bên trên dải tần số giới hạn hơn hay đối với hình dạng phổ khác. Nếu nguồn âm thanh không phù hợp với yêu cầu của tiêu chuẩn này trên dải tần số từ 100 Hz đến 10 000 Hz, nhà chế tạo phải công bố đáp ứng tần số của nguồn âm thanh chuẩn không phù hợp với những quy định của tiêu chuẩn này.

5.5 Chỉ số định hướng

Khi đo trong phòng nửa câm theo điều 7, chỉ số định hướng lớn nhất của nguồn âm tại mọi dải 1/3 octa với tần số trung tâm từ 100 Hz đến 10 000 Hz không được vượt quá +6 dB. Mức áp suất âm lớn nhất đo được, hiệu chỉnh theo thời gian S cho mỗi dải 1/3 octa ứng với bất kỳ sự di chuyển nào cũng phải được ghi nhận và sử dụng để tính chỉ số định hướng, nếu sử dụng micrôphôn di động. Đối với vị trí micrôphôn cố định, mức áp suất âm lớn nhất ở mỗi dải tần số tại tất cả các vị trí đo đều được sử dụng.

Nếu chỉ sử dụng nguồn âm thanh chuẩn riêng cho phòng vang, không bắt buộc phải tuân thủ ISO 3741, và phải ghi rõ “Chỉ sử dụng nguồn âm thanh chuẩn cho phòng vang”;

Nếu nguồn âm thanh chuẩn được thiết kế để sử dụng ở vị trí bên trên sàn, phải tuân thủ các yêu cầu đối với trường âm tự do và phải tiến hành đo chỉ số định hướng trong phòng câm theo ISO 3745.

5.6 Hiệu chuẩn lại

Nhà chế tạo phải đưa ra khuyến cáo khoảng thời gian dài nhất giữa hai lần hiệu chuẩn. Trong khoảng thời gian này, mức công suất âm của nguồn âm thanh chuẩn không được sai lệch quá giới hạn cho phép trong Bảng 2.

Để xác định khoảng thời gian cần thiết phải hiệu chuẩn lại, cho phép đo mức áp suất âm dải 1/3 octa của nguồn âm thanh chuẩn tại một hoặc nhiều điểm chuẩn cố định trong môi trường thử xác định (vị trí và khoảng thời gian được nhà chế tạo khuyến cáo). Phải hiệu chuẩn lại nguồn âm thanh chuẩn sau sửa chữa do hỏng hóc hoặc sua khi đã điều chỉnh mức áp suất âm phát ra theo hướng dẫn của nhà chế tạo, mà mức áp suất âm ở bất kỳ dải 1/3 octa nào có sai lệch quá 2,83 lần giá trị cho trong Bảng 2, có thể cần phải hiệu chuẩn lại nguồn âm thanh chuẩn (xem ISO 5725-1).

6. Lắp đặt và vận hành nguồn âm thanh chuẩn trong quá trình hiệu chuẩn

6.1 Khái quát

Nguồn âm thanh chuẩn phải được vận hành theo hướng dẫn của nhà chế tạo. Đo và giám sát duy trì các thông số liên quan bằng các thiết bị thích hợp. Ghi chép đầy đủ các đặc điểm của nguồn điện cung cấp về điện áp và tần số, các thông số vận hành liên quan của nguồn mẫu như tốc độ quay của nguồn khí động học v.v.

CHÚ THÍCH: – Chỉ tiến hành các phép đo khi nguồn âm thanh chuẩn ở trạng thái hoạt động ổn định (đặc tính âm học và thông số vận hành…).

6.2 Vị trí nguồn âm thanh chuẩn

6.2.1 Nguồn âm thanh chuẩn đặt trên mặt phẳng phản xạ cách xa tường bên

Trong phòng babs âm vang: Đặt nguồn âm thanh chuẩn cần hiệu chuẩn trên mặt phẳng phản xạ, theo điều kiện sử dụng.

Trong phòng vang: Đặt nguồn âm thanh chuẩn trên mặt sàn, không đối xứng đối với các tường bên, cách một khoảng í nhất là 1,5 m. Sử dụng bốn vị trí cách nhau ít nhất 2 m.

6.2.2 Nguồn âm thanh chuẩn đặt phía trên sàn gần tường bên

Nếu nguồn âm thanh chuẩn dự định hiệu chuẩn tại các vị trí khác với điều 6.2.1, phải tiến hành hiệu chuẩn trong phòng vang.

Không cho phép hiệu chuẩn nguồn âm thanh chuẩn trong phòng bán âm vang, nếu bố trí nguồn âm thanh chuẩn cao hơn mặt phẳng phản xạ 0,5 m hoặc ở gần tường bên.

7. Quy trình hiệu chuẩn trong phòng bán âm vang

7.1 Môi trường thử nghiệm

Môi trường thử nghiệm phải thỏa mãn điều kiện phòng bán âm vang (Phụ lục A) trên toàn dải tần số quan tâm. Sàn nhà phải trải rộng ra mọi phía ít nhất 1m tính từ đường biên của bề mặt đo lường trên sàn.

7.2 Micrôphôn

Đối với dải tần số quan tâm, thường sử dụng micrôphôn có đặc tính tần số phẳng (biến đổi không quá 0,1 dB) đối với trường âm tác động thẳng góc. Phải lắp đặt micrôphôn sao cho bề mặt của màn chắn hướng về tâm của bán cầu đo lường. Nếu micrôphôn có đặc tính tần số phẳng đối với trường âm tác động chéo góc, phải lắp đặt sao cho bề mặt của màn chắn song song với đường thẳng hướng về tâm của bán cầu đo lường. Micrôphôn phải được hiệu chỉnh để có đặc tính tần số phẳng đối với trường âm tác động thẳng góc hoặc chéo góc trên toàn dải tần số quan tâm. Nếu mở rộng dải tần số quá 10 000 Hz đối với dải 1/3 octa, chỉ sử dụng micrôphôn có đặc tính tần số phẳng với trường âm tác động chéo góc.

7.3 Vị trí micrôphôn

7.3.1 Khái quát

Sử dụng bề mặt đo lường hình bán cầu có bán kính 2m. Tâm của bán cầu trùng với tâm hình chiếu mặt trên của nguồn âm thanh chuẩn trên mặt phẳng phản xạ. Bố trí micrôphôn theo các điều 7.3.2, điều 7.3.3, điều 7.3.4 hoặc điều 7.3.5. Phải đảm bảo để các cơ cấu cố định cơ khí hay cơ cấu dịch chuyển micrôphôn không gây ảnh hưởng lên kết quả đo.

7.3.2 Di chuyển theo đường kính tuyến

Đối với nguồn âm thanh quay đối xứng, di chuyển micrôphôn theo ba đường kính tuyến (xem Phụ lục B) với bước dịch chuyển 120o xung quanh trục đứng của bề mặt đo lường. Đối với các nguồn âm thanh khác, sử dụng ít nhất tám hành trình. Khi các hành trình được thực hiện với tốc độ góc không đổi, dùng thiết bị chia góc sin (bằng điện, hoặc cơ khí hay dùng thuật toán tương đương) để đạt được sự hiệu chỉnh phù hợp giữa các đặc tính diện tích bề mặt với thời gian cần thiết để di chuyển micrôphôn trên cung tròn xác định. Nếu di chuyển micrôphôn thẳng đứng với tốc độ không đổi (tốc độ góc tỷ lệ nghịch với hàm sin của góc giữa vị trí góc của microphone và trục đứng của bề mặt đo lường) thì không cần thiết phải hiệu chỉnh theo diện tích bề mặt.

CHÚ THÍCH: Khi sử dụng thiết bị chia góc sin (vì không thể xác định vận tốc ở đỉnh của bán cầu) phải ngừng di chuyển microphone tại vị trí cách đỉnh bán cầu một khoảng đủ nhỏ (ví dụ: khoảng 20 cm).

7.3.3 Đường xoắn ốc

Di chuyển micrôphôn theo đường kinh tuyến như điều 8.3.2, đồng thời di chuyển chậm micrôphôn qua tập hợp của ít nhất năm đường tròn, tạo thành đường xoắn ốc xung quanh trục đứng của bề mặt đo lường. Có thể tạo ra đường xoắn ốc bằng cách quay chậm nguồn âm thanh chuẩn với tốc độ không đổi ít nhất năm vòng hoàn chỉnh, đồng thời di chuyển micrôphôn theo đường kính tuyến. Hiệu chỉnh theo diện tích bề mặt tương tự điều 7.3.2, nếu cần thiết. Lặp lại ba hành trình với số gia 120o xung quanh trục đứng của bề mặt đo lường.

7.3.4 Bố trí micrôphôn theo dẫy điểm đo cố định

Sử dụng 20 vị trí micrôphôn cố định, phân bố trên bề mặt bán cầu có bán kính R = 2 m ở độ cao xác định so với mặt sàn, mỗi vị trí micrôphôn sẽ ứng với một độ cao. Độ cao của 20 điểm đo tương ứng là 0,025 R, 0,075 R, … và 0,975 R. Ở mỗi độ cao xác định, vị trí góc phương vị của micrôphôn phải được di chuyển 60o so với vị trí trước đó để tạo ra một đường tròn xoắn ốc. Nếu nguồn âm thanh không quay đối xứng trên mặt phẳng nằm ngang, phải tiến hành một tập hợp phép đo thứ hai dịch đi 180o so với tập hợp thứ nhất. Giá trị trung bình của hai tập hợp đó sẽ được xem là kết quả đo.

7.3.5 Di chuyển trên đường tròn đồng trục

Áp dụng 20 hành trình vòng quanh trục đứng xuyên qua tâm của nguồn âm thanh chuẩn trên bề mặt của bán cầu bán kính R = 2 m. Các đường di chuyển phải được đặt tại 20 độ cao khác nhau theo điều 7.3.4 và biểu diễn bề mặt bán cầu đo lường. Có thể nhận được các đường tròn trên bằng các quay chậm 360o nguồn âm thanh chuẩn hoặc micrôphôn (thời gian quay một vòng ít nhất phải là 60 s). Bề mặt trụ quay nguồn âm thanh chuẩn phải ngang bằng với mặt phẳng phản xạ.

7.4 Phép đo

Đo mức áp suất âm dải 1/3 octa trong khoảng thời gian xác định, ít nhất 200 s cho mỗi phần tư vòng tròn di chuyển theo đường kinh tuyến và ít nhất 600 s đối với đường xoắn ốc. Đo trong 30 s tại mỗi vị trí micrôphôn đối với các vị trí micrôphôn độc lập. Chọn thời gian đo tương thích với số lượng của micrôphôn hay tốc độ quay của nguồn âm thanh trong trường hợp đường tròn đồng trục.

CHÚ THÍCH: – Mức áp suất âm dải octa hiệu chỉnh theo đặc tính A có thể đo trực tiếp hoặc tính toán trên cơ sở áp suất âm trung bình bình phương từ số liệu đo dải 1/3 octa.

7.5 Hệ số hấp thụ âm của không khí

Nếu các phép đo mở rộng tới tần số cao hơn 10 000 Hz, phải hiệu chỉnh hệ số hấp thụ âm theo ISO 9613-1.

7.6 Tính toán kết quả

Tính toán mức áp suất âm bề mặt ở dải 1/3 octa và mức công suất âm phù hợp với ISO 3745 theo biểu thức:

(2)

trong đó:

Lpf là mức áp suất âm trên bề mặt đo lường, dB (so với áp suất đối chiếu P0 = 20 mPa, dB);

S1 là diện tích bề mặt đo lường, m2;

S0 = 1 m2;

C là Hằng số hiệu chỉnh thay đổi theo điều kiện nhiệt độ q và áp suất B, dB

 với B0 = 105Pa

(3)

CHÚ THÍCH 1: – Biểu thức (2) tính được mức công suất có thể đã xác định trong khi điều kiện tham chiếu rcref = 400 Ns/m3. Bằng cách bù C, mức công suất âm sẽ trở thành độc lập so với B và q. Thành phần hiệu chỉnh C được tính ở điều kiện thời tiết thực tế, B và q tại vị trí đo. Tỷ số 423/400 hiệu chỉnh sự khác nhau giữa đặc tính trở kháng âm thực tế của sự lan truyền trung bình của rc tại q = 0 oC và B0 = 105 Pa với đặc tính kháng âm chuẩn, rcref = 400 Ns/m3. Bởi vì nó bao gồm trở kháng âm thực tế rc của không khí tại vị trí đo, công suất âm của cùng một máy được xác định từ các kết quả đo ở các điều kiện thời tiết khác nhau đáng kể sẽ cho các kết quả khác nhau không đáng kể. Điều này xảy ra vì sự khác biệt trong rc của không khí ở các điều kiện thời tiết khác nhau sẽ thay đổi sự phát xạ âm thanh hiệu dụng của nguồn âm.

Tính giá trị lớn nhất của chỉ số định hướng nguồn âm Dli cho mỗi dải 1/3 octa.

CHÚ THÍCH 2: – Dải octa và chỉ số hiệu chỉnh theo đặc tính A có thể tính tương ứng.

8. Quy trình hiệu chuẩn trong phòng vang

8.1 Môi trường thử

Môi trường thử nghiệm phải tuân thủ yêu cầu trong ISO 3741 với yêu cầu bổ sung là kích thước dài nhỏ nhất của phòng vang phải lớn hơn 4m.

CHÚ THÍCH: – Độ KĐBĐ của độ tái lặp quy định trong tiêu chuẩn này được dựa trên các phép đo tại 7 phòng vang khác nhau có dung tích từ 197 m3 đến 238 m3.

8.2 Micrôphôn

Sử dụng micrôphôn tác động ngẫu nhiên, có đặc tính tần số phẳng trong trường âm khuyếch tán, đã được hiệu chuẩn theo IEC 61183.

8.3 Vị trí micrôphôn

Thông thường sử dụng sáu vị trí micrôphôn tĩnh tại hoặc một micrôphôn di chuyển phù hợp với ISO 3741. Nếu dải tần số được mở rộng vượt qua 10 000 Hz trong dải 1/3 octa, chỉ cần sử dụng các vị trí micrôphôn cố định với hướng bất kỳ trong phòng.

8.4 Thao tác đo lường

Đo mức áp suất âm dải 1/3 octa với thời gian đo xác định, Ít nhất 64 s cho mỗi vị trí micrôphôn.

Đo thời gian vang T bằng cách dùng ít nhất ba vị trí nguồn âm và sáu vị trí micrôphôn. Đo, ít nhất ba độ suy giảm với mỗi tổ hợp vị trí, tùy thuộc vào số thiết bị có sẵn. Áp dụng độ suy giảm 10 dB hoặc 15 dB và tính toán T10 hoặc T15 từ giá trị trung bình của T hoặc từ giá trị trung bình của dãy.

8.5 Tính toán kết quả

Tính mức công suất âm dải 1/3 octa theo công thức theo ISO 3741.

Tính giá trị trung bình mức công suất âm từ bốn vị trí nguồn âm thanh bắt buộc.

Mức áp suất âm dải octa và mức áp suất âm theo đặc tính A phải được tính toán dựa trên áp suất âm trung bình bình phương từ số liệu đo dải 1/3 octa.

9. Thông tin ghi chép

Phải ghi chép các thông tin quy định trong điều 9 trong ISO 3745:1977 hay trong điều 9 của ISO 3741:1999. Đo và tính toán các giá trị phải ghi chép ít nhất gần làm tròn đến 0,1 dB.

10. Báo cáo kết quả

Biên bản báo cáo kết quả phải bao gồm những thông tin sau:

a) Sự phù hợp của kết quả hiệu chuẩn theo yêu cầu của tiêu chuẩn này. Nếu sai khác, phải được ghi nhận;

b) Nói rõ, hiệu chuẩn được tiến hành trong phòng nửa câm hay phòng vang (kèm theo sơ đồ bố trí micrôphôn), mô tả chi tiết về kích thước, giới hạn tần số thấp, vật liệu và vị trí nguồn âm thanh sử dụng: đặt trên cao, có chân hoặc giá đỡ (kích thước, vật liệu…);

c) Thể tích của phòng vang hay tần số giới hạn của phòng bán âm vang, và các vật dụng liên quan.

d) Mức công suất âm trong mỗi dải tần số biểu thị bằng dexibel; được làm tròng tới 0,1 dB giá trị gần nhất (so với tham chiếu PW0 = 10-12 W) ở điều kiện chuẩn rc = 400 Ns/m3;

CHÚ THÍCH: – Như giá trị tham chiếu chuẩn rc = 400 Ns/m3, không sử dụng trong phiên bản 1. Tuy nhiên khuyến cáo sử dụng trong giai đoạn chuyển tiếp nên báo cáo không chỉ giá trị đo mức công suất âm ở điều kiện chuẩn mà cả giá trị đo ở điều kiện thực.

e) Độ KĐBĐ (xem Bảng 1);

f) Nhiệt độ, độ ẩm và áp suất môi trường tại thời điểm hiệu chuẩn, giá trị của hằng số C (điều 7.6) và những điều chỉnh khác nếu có sử dụng để chỉ rõ trạng thái môi trường (điều 5.2 và điều 7.6) và phương pháp xác định;

g) Đặc điểm cần chú ý của nguồn điện cung cấp và thông số vận hành liên quan của nguồn âm thanh chuẩn (xem điều 5.1);

h) Nếu hiệu chuẩn là một phần cần thiết để kiểm định tất cả các yêu cầu (đánh giá mẫu) theo tiêu chuẩn này, phải cung cấp thêm các thông tin về sự đồng nhất của phổ tần, thời gian duy trì độ ổn định, công suất âm đầu ra, đặc tính phổ tần và chỉ số định hướng phù hợp với điều 5.

 

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1 Phạm vi áp dụng

2 Tài liệu viện dẫn

3 Thuật ngữ và định nghĩa

4 Độ không đảm bảo đo

5 Yêu cầu đặc tính kỹ thuật

5.1 Khái quát

5.2 Độ ổn định và khả năng lặp lại của công suất âm phát ra

5.3 Mức công suất âm toàn phần dải tần rộng

5.4 Đặc điểm của phổ tần số

5.5 Chỉ số định hướng

5.6 Hiệu chuẩn lại

6 Lắp đặt và vận hành nguồn âm thanh chuẩn trong quá trình hiệu chuẩn

6.1 Khái quát

6.2 Vị trí nguồn âm thanh chuẩn

7 Quy trình hiệu chuẩn trong phòng bán âm vang

7.1 Môi trường thử nghiệm

7.2 Micrôphôn

7.3 Vị trí micrôphôn

7.4 Phép đo

7.5 Hệ số hấp thụ âm của không khí

7.6 Tính toán kết quả

8 Quy trình hiệu chuẩn trong phòng vang

8.1 Môi trường thử

8.2 Micrôphôn

8.3 Vị trí micrôphôn

8.4 Thao tác đo lường

8.5 Tính toán kết quả

9 Thông tin ghi chép

10 Báo cáo kết quả

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 9223:2012 (ISO 6926:1999) VỀ ÂM HỌC – YÊU CẦU TÍNH NĂNG KỸ THUẬT VÀ HIỆU CHUẨN NGUỒN ÂM THANH CHUẨN SỬ DỤNG ĐỂ XÁC ĐỊNH MỨC CÔNG SUẤT ÂM
Số, ký hiệu văn bản TCVN9223:2012 Ngày hiệu lực 27/12/2012
Loại văn bản Tiêu chuẩn Việt Nam Ngày đăng công báo
Lĩnh vực Điện lực
Ngày ban hành 27/12/2012
Cơ quan ban hành Bộ khoa học và công nghê
Tình trạng Còn hiệu lực

Các văn bản liên kết

Văn bản được hướng dẫn Văn bản hướng dẫn
Văn bản được hợp nhất Văn bản hợp nhất
Văn bản bị sửa đổi, bổ sung Văn bản sửa đổi, bổ sung
Văn bản bị đính chính Văn bản đính chính
Văn bản bị thay thế Văn bản thay thế
Văn bản được dẫn chiếu Văn bản căn cứ

Tải văn bản