TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 10297: 2014 (TIA/EIA/568-B.2-2001; IEC 60352-3) VỀ PHIẾU ĐẤU DÂY CAT5/CAT5E – YÊU CẦU KỸ THUẬT VÀ PHƯƠNG PHÁP THỬ

Hiệu lực: Còn hiệu lực

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 10297 : 2014

PHIẾN ĐẤU DÂY CAT5/CAT5E – YÊU CẦU KỸ THUẬT VÀ PHƯƠNG PHÁP THỬ

Cat5/Cat5e wiring block – Technical requirements anh methods of measurement

Lời nói đầu

TCVN 10297:2014 “Phiến đấu dây Cat5/Cat5e – Yêu cầu kỹ thuật và phương pháp thử” được xây dựng trên cơ sở chấp thuận áp dụng các tiêu chuẩn quốc tế TIA/EIA/568-B.2-2001 và tiêu chuẩn IEC 60352-3.

TCVN 10297:2014 do Viện Khoa học Kỹ thuật Bưu điện biên soạn, Bộ Thông tin và Truyền thông đề nghị, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng thm định, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

PHIẾN ĐẤU DÂY CAT5/CAT5E – YÊU CẦU KỸ THUẬT VÀ PHƯƠNG PHÁP THỬ

Cat5/Cat5e wiring block – Technical requirements anh methods of measurement

1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định các yêu cầu kỹ thuật và phương pháp đo đối với phiến đấu dây Cat5/Cat5e.

2. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết để áp dụng tiêu chun này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng phiên bn được nêu. Đối với các tài liệu viện dn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi, bổ sung (nếu có).

IEC 60512-2: Connectors for electronic equipment – Tests and Measurements: Electrical continuity and contact resistance tests (Đầu nối thết bị điện tử – Đo kiểm và thử nghiệm: Thử điện tr tiếp xúc và dẫn điện)

IEC 60512-3-1: Connectors for electronic equipment – Tests and measurements . Part 3-1: Insulation tests – Tets 3a: Insulation resistance (Thiết bị điện tử và đầu nối – Phương pháp đo và th nghiệm – Phần 3.1: Thử nghiệm cách điện – Thử 3a: Điện trở cách điện)

IEC 60512-5: Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and measuring methods, part 5: impact tests (free components), static load tests (fixed components), endurance tests and overload tests (Các thành phần cơ điện của thiết bị điện t; th tục thử nghiệm và phương pháp đo, phần 5: thử độ cứng (các thành phần không liên kết), thử tải tĩnh (các thành phần cố định), thử độ bền và quá tải)

IEC 60512-6-4: Electromechanical components for electronic equipment – basic testing procedures and measuring methoos, part 6: climatic tests and soldering tests (Các thành phần cơ điện của thiết bị điện tử – thủ tục thử nghiệm và phương pháp đo, phần 6: thử môi trường và mối hàn)

IEC 60068-2-60: Environmental Testing – Part 2: Tests – Test Ke: Flowing mixed gas corrision test (Thử môi trường, Phần 2: Các thử nghiệm Ke: Thử mài mòn bằng hỗn hợp khí)

TCVN 7699-1: Thử nghiệm môi trường – Quy định chung và hướng dẫn

TCVN 7699-2-2: Thử nghiệm môi trường – Phần 2-2: Các thử nghim – Thử nghiệm B: Nóng khô

TCVN 7699-2-6: Thử nghiệm môi trường – Phần 2-6: Các th nghim – Thử nghiệm Fc: Rung (Hình sin)

TCVN 7699-2-14: Thử nghiệm môi trường – Phần 2-14: Các thử nghim – Thử nghiệm N: Thay đổi nhiệt độ

TCVN 7699-2-30: Thử nghiệm môi trường – Phần 2-30: Các thử nghim – Thử nghiệm Db: Nóng m, chu kỳ 12h+12h)

3. Thuật ngữ, định nghĩa và chữ viết tắt

3.1. Thuật ngữ và định nghĩa

3.1.1Kết nối trượt cắt cách điện (Insulation Displacement Connection (ID connection))

Một kết nối điện không hàn được thực hiện bằng cách gài dây dẫn vào khe của tấm sao cho các cạnh của khe cắt lớp cách điện của dây dẫn tạo thành một kết nối kín khí.

3.1.1.1Kết nối trượt cắt cách điện có th truy nhập (Accessible insulation displacement connection (accessible ID connection))

Là kết nối ID có thể truy nhập được để thực hiện các phép thử v cơ lý (ví dụ như thử kéo) và điện (ví dụ như điện trở tiếp xúc) mà không làm thay đổi cu trúc của kết nối.

3.1.1.2Kết ni trượt cắt cách điện không th truy nhập (Non-acccessible insulation displacement connection (non-accessible ID connection))

Là kết nối ID không thể truy nhập được đ thực hiện các phép thử v cơ lý (ví dụ như thử kéo) và điện (ví dụ như điện tr tiếp xúc) mà không làm thay đổi cu trúc của kết nối.

3.1.2Tm trượt cắt cách đin (Insulation Displacement Termination (ID termination))

Là tấm được thiết kế để gài dây tạo thành một kết nối ID.

3.1.2.1Tấm trượt cắt cách điện có th sử dụng lại (Re-usable insulation Displacement Termination (reusable ID termination))

Một tm ID có th được đu nối nhiều lần.

3.1.2.2Tấm trượt cắt cách đin không th s dụng lại (Non-reusable insulation Displacement Termination (non-reusable ID termination))

Một tấm ID chỉ có th đấu ni một ln.

3.1.3Khe (Slot)

Phần hở trong tấm ID

3.1.3.1Khe kết nối (Connection slot)

Phần h trong tm ID đ cắt lớp cách điện của dây và đm bo một kết nối kín khí giữa tm và dây dẫn.

3.1.3.2Khe căng dây (Strain relief slot)

Phần h trong tấm ID để tạo ra sức kéo căng dây.

3.1.4Đỉnh (Beam)

Phần đỉnh của tấm ID nằm về 2 phía của khe.

3.1.5Đường kính biểu kiến (của dây dẫn bện) (Apparent diameter (of a stranded conductor))

Đường kính tương đương của dây dẫn lõi bện.

3.1.6. Khối dẫn (Guiding block)

Phần của thiết bị (phiến nối) để chèn dây dn vào khe. Ngoài ra, nó còn có tác dụng cố định dây dẫn, làm giảm sức căng dây của kết nối ID.

3.1.7Dụng cụ gài dây (Wire insertion tool)

Dụng cụ dùng tay hoặc chạy bng điện đ chèn dây vào vị trí thích hợp trên khe.

3.1.8Dụng cụ tháo dây (Wire extraction tool)

Dụng cụ để tháo dây khỏi kết nối ID.

3.2. Chữ viết tắt

ANSI Viện tiêu chuẩn Quốc gia Hoa Kỳ America National Standard Institute
IDC Kết ni trượt ct cách điện Insulation Displacement Connection
EIA Hiệp hội công nghiệp điện tử Electronic Industries Alliance
ELFEXT Suy hao xuyên âm đu xa cân bằng Equal level Far End Crosstalk
FEXT Suy hao xuyên âm đầu xa Far End Crosstalk
IEC y ban điện – điện tử quốc tế International Electrotechnical Commission
LCT Nhiệt độ thấp tới hạn Low Critical Temperature
NEXT Suy hao xuyên âm đầu gần Near End Crosstalk
PSELFEXT Tổng ng sut suy hao xuyên âm đầu xa mức cân bằng Power Sum Equal level Far End crosstalk
PSNEXT Tổng công suất suy hao xuyên âm đầu gần Power Sum Near End Cross Talk
PVC Hợp chất PVC Polyvinyl clorua
TIA Hiệp hội công nghiệp viễn thông Telecommunications Industries Association
UCT Nhiệt độ cao tới hạn Upper Critical Temperature

4. Yêu cầu kỹ thuật

4.1. Yêu cầu chung

4.1.1Ttrượt cắt cách đin

4.1.1.1Vật liệu

S dụng hợp kim đồng-thiếc, đồng-km, đồng-berili hoặc đồng phốt pho.

4.1.1.2Kích thước

Cht lượng của kết nối ID phụ thuộc vào kích thước của tm ID, đặc biệt là khe nối, đnh của tm và vật liệu sử dụng. Kích thước của khe nối phụ thuộc vào đường kính dây gài.

4.1.1.3B mt tiếp xúc

Vùng tiếp xúc của các tiếp điểm phải được mạ vàng, bạc, thiếc hoặc thiếc-chì, bạch kim hoặc hợp kim của chúng. Bề mặt phải không b làm bn và không bị ăn mòn.

4.1.1.4Đặc tính thiết kế

Các tm ID được phân loại khác nhau theo đặc tính sử dụng và kích thước dây, bao gồm các loại sau:

 Tm có th sử dụng lại, được thiết kế cho trường hợp kết ni nhiu lần và cho một loại đường kính dây.

 Tấm có thể sử dụng lại, được thiết kế cho trường hợp kết nối nhiều lần và cho nhiều loại đường kính dây.

 Tấm không th sử dụng lại, được thiết kế cho trường hợp kết nối một ln và cho một loại đường kính dây.

 Tm không thể sử dụng lại, được thiết kế cho trường hợp kết ni một lần và cho nhiu loại đường kính dây.

Các cạnh của các đỉnh tấm ID phải trơn, không sắc đ không gây ảnh hưởng đến dây dẫn hay cách điện.

4.1.2Dây dẫn

Có thể sử dụng dây dẫn lõi đặc hoặc lõi bện.

4.1.2.1Vật liệu

Dây dẫn phải làm bằng đồng có độ giãn dài lớn hơn hoặc bng 10 %.

4.1.2.2Kích thước

Dây sử dụng có đường kính từ 0,25 mm đến 1,22 mm đối với dây dẫn lõi đặc hoặc có tiếđiện t 0,075 mm2 đến 1,17 mm2 đối với dây dẫn lõi bện.

4.1.2.3B mặt

Dây dn lõi đặc có th mạ thiếc, thiếc-chì hoặc bạc. Dây dẫn lõi bện phải gồm các sợi mạ thiếc, thiếc- chì hoặc bạc.

Bề mặt dây phải không bị làm bẩn và không bị ăn mòn.

4.1.2.4Cách đin dây dẫn

Chiu dày lớp cách điện phù hợp với kích thước của các tm ID. Vật liệu cách điện có thể làm bằng PVC hoặc các vật liệu phù hợp với việc trượt cắt cách điện IDC.

4.1.3Kết nối trượt cắt cách điện (IDC)

a) Dây dẫn, tấm ID và dng cụ kết nối phải tương thích với nhau.

b) Khi chèn dây vào khe của tấm ID, mặt trong của đỉnh s cắt trượt lớp cách điện và làm biến dạng đường kính lõi dẫn trong và tạo ra một kết nối kín khí.

c) Dây dẫn sẽ được đặt vào vị trí quy định trong khe của tm ID. Khoảng cách giữa tấm và đầu cuối dây phụ thuộc vào dây nối và được quy định chi tiết.

d) Chỉ s dụng một dây ứng với một khe kết nối.

4.2. Yêu cầu đối với kết nối IDC

4.2.1Yêu cầu cơ lý

Sau các phép th cơ lý, điện trở tiếp xúc phải thỏa mãn giá trị quy định trong Điu 4.2.2.1.

4.2.1.1Thử kéo

IDC phải chịu được lực kéo dây theo chiu ngang như quy định trong Bảng 1.

Bảng 1 – Lực kéo dây tối thiểu theo chiều ngang

Đường kính dây dn đặc, mm

Tiết diện dây dẫn bện, mm2

Lực kéo tối thiu

Dây dẫn đặc, N

Dây dẫn bện, N

0,25 ÷ 0,32

0,05 ÷ 0,08

2

1

0,32 ÷ 0,5

0,08 ÷ 0,2

3

2

0,5 ÷ 0,8

0,2 ÷ 0,5

5

3

0,8 ÷ 1,22

0,5 ÷ 1,17

8

5

4.2.1.2Thử uốn

Dây phải được uốn theo hai hướng so với phương thẳng đng với góc 30° tạo thành một chu trình. Thực hiện ít nht 10 chu trình trừ khi có quy định cụ thể khác.

Sau phép thử, tm ID phải không b hư hỏng và dây dẫn không b đứt

4.2.1.3Thử rung

Việc kiểm tra được thực hiện bằng cách gắn chặt mẫu cần kiểm tra lên bàn rung.

Các tham số thực hiện thử rung theo quy định  Bảng 2.

Bảng 2 – Th rung

Dải tần

10 Hz đến 55 Hz

10 Hz đến 500 Hz

10 Hz đến 2000 Hz

Tn số ct

57 Hz đến 62 Hz

57 Hz đến 62 Hz

Biên độ cắt phía dưới tần số cắt

0,35 mm

0,35 mm

1,5 mm

Sự gia tăng biên độ phía trên tn số cắt

50 m/s2 (5 g)

200 m/s2 (20 g)

Hướng

3 trục

3 trục

3 trục

Số chu trình quét theo từng hướng

5

5

5

4.2.1.4S ln đu ni

Phần này chỉ áp dụng cho ID có th đu nối nhiều lần.

Thực hiện gài dây vào tấm ID, sau đó tháo dây ra. Quá trình này tạo thành một lần đấu nối. Thực hiện kim tra với số lần đấu tối thiu là 50 lần.

4.2.2Yêu cầu điện

4.2.2.1Điện tr tiếp xúc

Điện tr tiếp xúc phải phù hợp với các giá tr quy đnh trong Bảng 3.

Bảng 3 – Điện tr tiếp xúc

Tm ID

Dây dẫn

Điện tr tiếp xúc ban đu cực đại, mΩ

Chênh lch điện tr tiếp xúc cực đại sau các phép thử cơ, thử môi trường, mΩ

Mạ

Dây dẫn lõi đặc

Mạ

2

1

Không mạ

5

1

Dây dẫn lõi bện

M

2

2

Không mạ

5

5

Không mạ

Dây dẫn lõi đặc

Mạ

5

1

Không m

5

1

Dây dẫn lõi bện

M

5

2

Không mạ

5

5

4.2.2.2Điện trở cách điện

Điện trở cách điện phải lớn hơn 500 MΩ và được đo theo IEC 60512-3-1. Điện áp thử 500 VDC.

4.2.2.3Thử nhit độ và tải

Phép thử thực hiện trong điu kiện:

+ Nhiệt độ hoạt động cực đại: 100 °C.

+ Thời gian thử: 1 000 h.

Phép thử thực hiện theo IEC 60512-5.

4.2.3Thử môi trường

Sau các phép thử môi trường, mẫu th không bị biến dạng hay hư hỏng và điện trở tiếp xúc phải thỏa mãn các giá trị quy định trong mục 4.2.2.1.

4.2.3.1Thay đổi nhiệt độ nhanh

Phép thử thực hiện theo TCVN 7699-2-14 trong các điều kiện sau:

Nhiệt độ thp: TA – 55 °C (LCT)
Nhiệt độ cao: TB + 100 °C (UCT)
Thời gian t1 30 min
Số lần thực hiện 5

4.2.3.2Chu trình môi trường

Phép thử thực hiện theo IEC 60512-11 trong các điều kiện sau:

Nóng khô: Theo IEC 60512-11-9
Nhiệt độ th: + 100°C (UCT)
Chu trình nóng m Theo IEC 60512-11-12
+ Nhiệt độ thử + 55 °C
+ Số ln thử 6
+ Hệ số biến đổi 2
Chu trình lạnh Theo IEC 60512-11-10
+ Nhiệt độ – 55 °C (LCT)

4.2.3.3Thử ăn mòn

Phép thử thực hiện theo IEC 60068-2-60 trong các điu kiện sau:

SO2 (0,5 ± 0,1) 10-6 (vol/vol)
H2S (0,1 ±0,02) 10-6 (vol/vol)
Nhiệt độ (25 ± 2) °C
Độ m tương đối: (75 ± 3)%
Thời gian th: 10 ngày

4.3. Yêu cầu truyền dẫn

4.3.1Suy hao truyền dẫn

Suy hao truyền dẫn phải nhỏ hơn hoặc bằng các yêu cầu quy định trong Bảng 4.

Bảng 4 – Suy hao truyn dn

Tn số (MHz)

Cat5 (dB)

Cat5e (dB)

1,0

0,1

0,1

4,0

0,1

0,1

8,0

0,1

0,1

10,0

0,1

0,1

16,0

0,2

0,2

20,0

0,2

0,2

25,0

0,2

0,2

31,25

0,2

0,2

62,5

0,3

0,3

100

0,4

0,4

4.3.2. Suy hao xuyêâm đu gần

Suy hao xuyên âm đu gần phải lớn hơn hoặc bằng các yêu cầu quy định trong Bảng 5.

Bảng 5 – Suy hao xuyên âm đầu gần

Tn số (MHz)

Cat5 (dB)

Cat5e (dB)

1,0

62

65

4,0

62

65

8,0

61,9

64,9

10,0

62

63

16,0

55,9

58,9

20,0

54,0

57,0

25,0

52,0

55,0

31,25

50,1

53,1

62,5

44,1

47,1

100

40,0

43,0

4.3.3Suy hao phản xạ

Suy hao phản xạ phải lớn hơn hoặc bằng các yêu cầu quy định trong Bảng 6.

Bảng 6 – Suy hao phản xạ

Tn số (MHz)

Cat5 (dB)

Cat5e (dB)

1,0

Không quy định

30,0

4,0

Không quy định

30,0

8,0

Không quy định

30,0

10,0

Không quy định

30,0

16,0

Không quy định

30,0

20,0

Không quy định

30,0

25,0

Không quy định

30,0

31,25

Không quy định

30,0

62,5

Không quy định

24,1

100

Không quy đinh

20

5. Phương pháp đo

5.1. Thử kéo

Mục đích ca phép th nhằm xác định kh năng giữ dây dẫn của kết nối khi được kéo theo phương dọc theo tm ID.

Mẫu thử gồm một tm ID đã gài dây.

Tm ID được giữ chặt, nếu cn thiết tháo ra khỏi phiến.

Sơ đồ thực hiện như Hình 1. Lực kéo có tốc độ từ 25 mm/min đến 50 mm/min.

h

Hình 1 – Phương pháp thử kéo

5.2. Độ uốn cong

Mục đích của phép thử là xác định kh năng chịu lực uốn cong dây ca kết nối ID.

Mẫu thử gồm một tấm ID đã gài dây.

Tấm ID được giữ chặt, nếu cn thiết tháo ra khỏi phiến.

Sơ đ thực hiện như Hình 2.

Hình 2- Phương pháp thử uốn cong dây

Lực F có giá tr bằng 5 % đến 10 % độ cứng của dây dẫn.

Góc uốn cong có thể bằng 30°, 60° hoặc 90°.

Phép thử phải thỏa mãn các yêu cu của IEC 60512-2-5.

5.3. Thử rung

Sơ đồ thử rung như Hình 3.

Phép thử thực hiện theo IEC 60512-6-4 và thỏa mãn các yêu cầu của IEC 60512-2-5.

Hình 3 – Phương pháp thử rung

5.4. Điện trở tiếp xúc

Sơ đồ đo điện tr tiếp xúc như Hình 4.

Hình 4 – Sơ đồ đo đin tr tiếp xúc

Nguồn dòng sử dụng có giá trị 1 A/mm2 tiết diện dây dẫn. Thời gian thử đ ngắn để không làm nóng mẫu thử.

5.5. Suy hao truyền dẫn

Thiết b cn đo kiểm cn được đu nối và lắp đặt theo như hướng dẫn của nhà sn xut. Sơ đ đấu nối đo kiểm như Hình 5.

Hình 5 – Sơ đ đu nối đo kim suy hao truyền dẫn

Hình 6 – Sơ đồ đu nối đo kim suy hao xuyên âm đầu gần

5.6. Suy hao xuyên âm đầu gần

Sơ đồ đấu nối đo kiểm như trong Hình 6.

Có hai cu hình đo suy hao xuyên âm đầu gần:

a) Không có kết cuối đu cuối (Điểm C trong Hình 6 đ h)

b) Có kết cuối  đầu gần (Điểm C trong Hình 6 kết cuối tải 50 Ω, đu xa để hở)

 

THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO

[1] ANSI/TIA/EIA 568B.2-2001 “Commercial Building Telecommunications Cabling Standard, Part 2: Balanced Twisted-Pair Cabling Components”.

[2] IEC 60352-3, Solderless connections; Part 3: Solderless accessible insulation displacement connections – General requirements, test methods and practical guidance

 

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1. Phạm vi áp dụng

2. Tài liệu viện dẫn

3. Thuật ngữ, định nghĩa và chữ viết tắt

3.1. Thuật ngữ và định nghĩa

3.2Chữ viết tắt

4Yêu cầu kỹ thuật

4.1Yêu cầu chung

4.2Yêu cu đối với kết nối IDC

4.3Yêu cầu truyền dẫn

5Phương pháp đo

5.1Th kéo

5.2Độ uốn cong

5.3Thử rung

5.4Điện tr tiếp xúc

5.5. Suy hao truyền dẫn

5.6Suy hao xuyên âm đu gần

Thư mục tài liệu tham khảo

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 10297: 2014 (TIA/EIA/568-B.2-2001; IEC 60352-3) VỀ PHIẾU ĐẤU DÂY CAT5/CAT5E – YÊU CẦU KỸ THUẬT VÀ PHƯƠNG PHÁP THỬ
Số, ký hiệu văn bản 10297: 2014 Ngày hiệu lực
Loại văn bản Tiêu chuẩn Việt Nam Ngày đăng công báo
Lĩnh vực Lĩnh vực khác
Ngày ban hành
Cơ quan ban hành Tình trạng Còn hiệu lực

Các văn bản liên kết

Văn bản được hướng dẫn Văn bản hướng dẫn
Văn bản được hợp nhất Văn bản hợp nhất
Văn bản bị sửa đổi, bổ sung Văn bản sửa đổi, bổ sung
Văn bản bị đính chính Văn bản đính chính
Văn bản bị thay thế Văn bản thay thế
Văn bản được dẫn chiếu Văn bản căn cứ

Tải văn bản