TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 11166-6:2015 (ISO/IEC 7811-6:2014) VỀ THẺ ĐỊNH DANH – KĨ THUẬT GHI – PHẦN 1: SỌC TỪ – KHÁNG TỪ CAO

Hiệu lực: Còn hiệu lực Ngày có hiệu lực: 31/12/2015

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 11166-6 : 2015

ISO/IEC 7811-6 : 2014

THẺ ĐỊNH DANH – KỸ THUẬT GHI – PHẦN 6: SỌC TỪ – KHÁNG TỪ CAO

Identification cards – Recording technique – Part 6: Magnetic stripe -High coercivity

Lời nói đầu

TCVN 11166-6:2015 (ISO/IEC 7811-6:2014) hoàn toàn tương đương với ISO/IEC 7811-6:2014.

TCVN 11166-6:2015 (ISO/IEC 7811-6:2014) do Ban kỹ thuật tiêu chun quốc gia TCVN/JTC 1 Công nghệ thông tin” biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

Hiện nay, bộ TCVN 11166 (ISO/IEC 7811) về Th định danh – Kỹ thuật ghi gồm các tiêu chun:

 Phần 1: Rập nổi;

 Phần 2: Sọc từ – Kháng từ thấp;

 Phần 6: Sọc từ – Kháng từ cao;

 Phần 7: Sọc từ – Kháng từ cao, mật độ cao;

 Phần 8: Sọc từ – Kháng từ 51,7 kA/m (650 Oe);

 Phần 9: Đánh dấu định danh xúc giác;

 

THẺ ĐỊNH DANH – KỸ THUẬT GHI – PHN 6: SỌC TỪ – KHÁNG TỪ CAO

Identification cards – Recording technique – Part 6: Magnetic stripe -High coercivity

1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chun này qui đnh các đặc tính cho thẻ định danh được định nghĩa trong Điều 4 và việc sử dụng các thẻ này trong trao đổi quốc tế.

Tiêu chun này qui định các yêu cu đối với sọc từ kháng từ cao (bao gồm mọi lớp phủ bảo vệ) trên thẻ định danh, kỹ thuật mã hóa và bộ ký tự mã hóa. Tiêu chun này xem xét cả khía cạnh con người và máy móc và nêu rõ các yêu cầu tối thiểu.

Kháng từ ảnh hưởng đến nhiều đại lượng được qui định trong tiêu chun, nhưng tiêu chun này không qui định cho kháng từ. Đặc tính chính của sọc từ kháng từ cao là khả năng chống xóa được cải thiện. Điều này đạt được nhờ giảm thiểu khả năng xảy ra hư hại đối với các sọc từ khác bởi tiếp xúc trong khi vẫn duy trì khả năng tương thích đọc với các sọc từ được qui định trong TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2).

Tiêu chun này đưa ra các tiêu chí để thẻ hoạt động, không xem xét v lượng sử dụng, nếu có thì cần xem xét lượng thẻ trước khi thử nghiệm. Nếu không phù hợp với các tiêu chí qui định, thì các bên liên quan nên thương lượng với nhau.

ISO/IEC 10373-2 qui định các th tục thử nghiệm để kiểm tra thẻ so với các thông số được qui định trong tiêu chun này.

CHÚ THÍCH  Các giá trị s theo hệ đo lường SI và/hoặc h đo lường Anh trong tiêu chun này có thể được làm tròndo đó giá trị là phù hợp nhưng không chính xác bng nhau. Có thể sử dụng hệ đo lường khác nhưng không nên dùng lẫn hoặc chuyển đi ln nhau. Thiết kế ban đu sử dụng hệ thống đo lường Anh.

2. Sự phù hợp

Điều kiện tiên quyết để phù hợp với tiêu chuẩn này là phù hợp với TCVN 11165 (ISO/IEC 7810). Một thẻ đnh danh phù hợp với tiêu chuẩn này nếu đáp ứng tất cả các yêu cầu bắt buộc được qui định trong tiêu chuẩn. Áp dụng các giá trị mặc định nếu không qui định giá trị khác.

3. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu tham khảo dưới đây không thể thiếu đối với việc áp dụng tài liệu này. Đối với các tham khảo ghi năm, chỉ áp dụng bản được nêu. Đối với các tham khảo không ghi năm, áp dụng bản tài liệu tham khảo mới nhất (bao gồm cả sửa đổi).

TCVN 11165 (ISO/IEC 7810), Thẻ định danh – Đặc tính vật lý,

ISO 4287 Geometrical Product Specifications (GPS) – Surface texture: Profile method – Terms, definitions and surface texture parameters (Đặc tả sản phẩm hình học (GPS) – Kết cấu bề mặt: Phương pháp mặt nghiêng – Thuật ngữ, định nghĩa và thông số kết cấu bề mặt);

ISO/IEC 10373-1 Identification cards – Test methods – Part 1: General characteristics tests (Thẻ định danh – Phương pháp th nghiệm – Phần 1: Đặc tính chung);

ISO/IEC 10373-2, Identification cards – Test methods – Part 2: Cards with magnetic stripes (Thẻ định danh – Phương pháp th nghiệm – Phần 2: Thẻ có sọc từ).

4. Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa trong TCVN 11165 (ISO/IEC 7810) và dưới đây.

4.1. Tiêu chuẩn chính (primary Standard)

Tập các thẻ tham chiếu được thiết lập bởi Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) và được duy trì bởi ban thư kí PTB, Q-Card và WG1 để thể hiện các giá tr của UR và IR được chỉ rõ RM7811-x26.

4.2Tiêu chuẩn phụ (secondary Standard)

Th tham chiếu được ch rõ RM7811-6 liên quan đến tiêu chuẩn chính như đã nêu trong giấy chứng nhận hiệu chuẩn cung cấp cho từng thẻ.

CHÚ THÍCH  Các tiêu chun phụ có th được đặt hàng từ Q-Card, 301 Reagan Street, Sunbury, PA 17801, USA. Nguồn tiêu chun phụ được duy trì ít nht đến năm 2018.

4.3. Thẻ không mã chưa sử dụng (unused un-encoded card)

Thẻ gồm tất cả các cấu kiện cần thiết cho mục đích sử dụng, không lệ thuộc vào bất  thao tác  nhân hay thử nghiệm nào và được lưu giữ trong môi trường sạch không quá 48 h phơi dưới ánh sáng ban ngày ở nhiệt độ từ 5°C đến 30°C và độ m từ 10 % đến 90 %, không qua sốc nhiệt.

4.4. Th mã chưa sử dụng (unused encoded card)

Th theo 4.3 và chỉ mã hóa mọi dữ liệu được yêu cầu cho mục đích sử dụng thẻ (ví dụ mã hóa từ, rập nổi, mã hóa điện tử).

4.5. Th trả lại (returned card)

Thẻ theo 4.4 sau khi được cp cho ch th và được trả lại để thử nghiệm.

4.6Chuyển tiếp dòng (flux transition)

Vị trí mà tại đó tốc độ thay đổi lớn nhất về khoảng cách của việc từ hóa.

4.7. Dòng điện chuẩn (reference current)

IR

Biên độ dòng điện được ghi nh nht dưới các điều kiện thử nghiệm đã cho, trên thẻ tham chiếu,  biên độ tín hiệu đọc ngược bằng 80 % biên độ tín hiệu chun, UR, với mật độ bằng 8 chuyển tiếp dòng/mm (200 chuyển tiếp dòng/inch) như chỉ ra trong Hình 6.

4.8. Mức dòng chuẩn (reference flux level)

FR

Mức dòng trong đầu thử tương ứng với dòng điện chuIR.

4.9. Dòng điện ghi thử nghiệm (test recording currents)

Có hai dòng điện ghi được xác định bởi:

 Imin = dòng điện ghi tương ứng với 2,8 FR

 Imax = dòng điện ghi tương ứng với 3,5 FR

4.10. Biên độ tín hiệu riêng (individual signal amplitude)

Ui

Biên độ cơ s-đến-đỉnh của một tín hiệu điện áp đọc ngược riêng lẻ.

4.11. Biên độ tín hiệu trung bình (average signal amplitude)

UA

Tổng giá trị tuyệt đối biên độ của từng đỉnh tín hiệu (Ui) chia cho số đỉnh tín hiệu (n) đối với một rãnh cho trước trên chiều dài của vùng sọc từ.

4.12Biên độ tín hiệu chuẩn (reference signal amplitude)

UR

Giá trị biên độ tín hiệu trung bình lớn nhất của một thẻ tham chiếu được hiệu chnh đối với tiêu chun chính.

4.13Mật độ ghi vật lý (physical recording density)

Số các chuyển tiếp dòng trên mỗi chiều dài đơn vị được ghi trên một rãnh.

4.14Mật độ bit (bit density)

S các bit dữ liệu được lưu trữ trên mỗi đơn v chiều dài (bits/mm hoặc bpi)

4.15. Ô bit (bit cell)

Khoảng cách giữa hai chuyển tiếp dòng đồng bộ.

CHÚ THÍCH 1  Xem Hình 11.

4.16Phân khong thời gian (subinterval)

Khoảng cách thường bằng một nửa khoảng cách giữa 2 chuyển tiếp dòng đồng bộ.

CHÚ THÍCH 1  Xem Hình 11.

4.17Dòng điện khử từ (demagnetisation current)

Id

Giá trị dòng điện một chiều để giảm biên độ tín hiệu trung bình đến 80 % biên độ tín hiệu chuẩn (UR) trên th tham chiếu phụ được mã hóa tại mật độ 20 ft/mm (500 ftpi) và dòng điện Imin.

5. Đặc tính vật lý của thẻ định danh

Th định danh phải phù hợp với đặc tả trong TCVN 11165 (ISO/IEC 7810).

CẢNH BÁO – Việc lưu tâm của bên phát hành thẻ dẫn đến thực tế là thông tin chứa trên sọc từ có th b vô hiệu thông qua sự nhiễm bẩn do tiếp xúc với bụi bẩn các hóa cht thường sử dụng gồm các chất làm dẻo. Nên chú ý là bất kỳ việc in hoặc kim tra trên đnh sọc từ không được làm hằn vết chức năng của sọc từ đó.

5.1Độ vênh vùng sọc từ

Đặt một tải 2,2 N (0.5 lbf) phân b đều trên mặt trước đối diện với sọc từ phải bao gồm toàn bộ sọc từ trong 0,08 mm (0.003 in) của tấm cứng.

5.2Biến dạng bề mặt

Không được có biến dạng bề mặt, bất thường hay các vùng nổi trên c mặt trước và sau của thẻ trong vùng được ch ra trong Hình 1 có th làm cản trở tiếp xúc giữa đầu từ và sọc từ.

Kích thước tính theo mi-li-mét (in-sơ)

Hình 1 – Vùng biến dạng tùy ý trên thẻ có sọc từ

Nếu vùng ô chữ ký nổi được đặt ở mặt trước hoặc sau của th, thì vùng này không được gần với mép trên của thẻ dưới 19,05 mm (0.750 in).

CHÚ THÍCH  Các vùng nổi và biến dạng trên các vùng khác của thẻ có thể gây ra những vn đ truyền tải th với thiết b xử lý sọc từ gây ra các lỗi ghi hoặc đọc.

6. Đặc tính vật lý của sọc từ

6.1Chiều cao và đường dốc b mặt vùng sọc từ

Vùng sọc từ được đặt  mặt sau thẻ giống như Hình 2.

Kích thước tính theo mi-li-mét (in-sơ)

Hình 2 – Vị trí của vật liệu từ cho thẻ kiểu ID-1

CHÚ THÍCH  Trong trường hợp vùng sọc từ được sử dụng cho rãnh 1 và 2, kích thước a được ch ra trong hình 2 về phương tiện truyền thông từ tính có thể nh hơn kích thước lớn nht b được ch ra trong Hình 12 đối với v trí của dữ liệu rãnh 2 trên th. Mong muốn vùng sọc t mở rộng vượt ra ngoài rãnh được mã hóa đó.

6.1.1Đường dốc bề mặt vùng sọc từ

Độ lệch theo chiều dọc (a) lớn nhất ca đường dốc bề mặt ngang vùng sọc từ được ch ra dưới đây. Xem Hình 3, 4 và 5. Độ dốc của đường cong đường dốc bề mặt trong giới hạn:

-4a/W < độ dốc (slope) < 4a/W

Khi giá trị về tính khó uốn (xem TCVN 11165 (ISO/IEC 7810)) của thẻ là 20 mm hoặc lớn hơn thì giới hạn đường dốc bề mặt là:

Chiều rộng sọc từ nh nht

Theo Hình 3A

Theo Hình 3B

W = 6,35 mm (0.25 in) a ≤ 9,5 µm (375µin) a ≤ 5,8 µm (225µin)
W = 10,41 mm (0.41 in) a ≤ 15,4 µm (607µin) a ≤ 9,3 µm (365µin)

Khi giá tr về tính khó uốn (xem TCVN 11165 (ISO/IEC 7810)) của thẻ nhỏ hơn 20 mm thì giới hạn đường dốc bề mặt là:

Chiều rộng sọc từ nh nht

Theo Hình 3A

Theo Hình 3B

W = 6,35 mm (0.25 in) a ≤ 7,3 µm (288µin) a ≤ 4,5 µm (175µin)
W = 10,41 mm (0.41 in) a ≤ 11,7 µm (466µin) a ≤ 7,3 µm (284µin)

Hình 3 – Đường dc bề mặt

Hình 4 – Ví dụ đường dốc bề mặt

Các đường dốc không cân trên hình có thể dẫn đến việc mã hóa chất lượng kém

Hình 5 – Ví dụ đường dốc bề mặt không cân

6.1.2Chiều cao vùng sọc từ

Độ lệch theo chiều dọc (h) của vùng sọc từ liên quan đến bề mặt tiếp giáp của th:

-0,005 mm (- 200 µin) ≤ □h  0,038 mm (1500 µin)

Phần nhọn trong đường dốc do vật liệu “phun ra” khi in dấu nóng lên không phải là một phần của sọc từ. Không được m rộng bên trên vùng sọc từ có chiều cao (h) như đã qui định ở trên.

6.2Tính thô ráp bề mặt

Đ thô ráp bề mặt trung bình (Ra) của vùng sọc từ không vượt quá 0,40 µm(15.9 µin) theo cả chiều dọc và ngang khi được đo theo ISO 4287.

6.3Tính bám dính của sọc từ với th

Sọc từ không được phân tách khỏi thẻ khi sử dụng bình thường.

6.4Tính mài mòn sọc từ khi cắm/rút khỏi đầu đọc/ghi

Biên độ tín hiệu trung bình (UA) và biên độ tín hiệu riêng (Ui) được đo trước và sau 2000 chu kỳ mài mòn và kết quả:

UA sau ≥ 0,60 UA trước

Ui sau ≥ 0,80 UA sau

6.5Tính kháng hóa chất

Biên độ tín hiệu trung bình (UA) và biên độ tín hiệu riêng (Ui) được đo trước và sau khi tiếp xúc với điều kiện môi trường trong thời gian ngắn như qui định trong ISO/IEC 10373-1 và kết quả:

UA sau ≥ 0,90 UA trước

Ui sau ≥ 0,90 UA sau

Biên độ tín hiệu trung bình (UA) và biên độ tín hiệu riêng (Ui) được đo trước và sau khi tiếp xúc với điều kiện môi trường trong thời gian dài (24 h) với mồ hôi nhân tạo có a-xít và kiềm, như xác định trong ISO/IEC 10373-1.

UA sau ≥ 0,90 UA trước

Ui sau ≥ 0,90 UA sau

7. Đặc tính hiệu năng đối với vật liệu từ

7.1Yêu cầu chung

Mục đích của Điều này là đảm bảo khả năng đổi lẫn từ giữa thẻ và các hệ thống xử lý. Không qui định kháng từ của các phương tiện truyền thông. Tiêu chí hiệu năng của các phương tiện truyền thông không phụ thuộc kháng từ được qui định trong 7.3.

Phương pháp này sử dụng một th tham chiếu mà vật liệu có thể được truy nguyên đối với các tiêu chuẩn chính (Xem Điều 4). Tất cả các biên độ tín hiệu từ việc s dụng th tham chiếu phụ phải được hiệu chnh bởi các yếu tố được h trợ cùng thẻ tham chiếu phụ đó. Phải sử dụng các phương pháp thử nghiệm trong ISO/IEC 10373-2.

7.2Môi trường thao tác và thử nghiệm

Môi trường thử nghiệm để đo biên độ tín hiệu là nhiệt độ 23°C ± 3°C (73°F ± 5°F) và độ m tương đối từ 40 % đến 60 %. Mặt khác khi thử nghiệm trong cùng các điều kiện giống nhau, biên độ tín hiệu trung bình đo được tại 8ft/mm (200 ftpi) không được lệch trên 15 % so với giá trị của nó trong môi trường thử nghiệm sau 5 min tiếp xúc với điều kiện môi trường trong môi trường hoạt động sau:

Nhiệt độ -35°C đến 50°C (-31°F đến 122°F)
Độ m tương đối 5 % đến 95 %

7.3Yêu cầu biên độ tín hiệu đối với các phương tiện truyền thông từ tính

Các yêu cu đối với các đặc tính ghi của thẻ được ch ra trong Bảng 1 và Hình 6. Các yêu cầu hiệu năng của phương tiện truyền thông được qui định trong 7.3 phải đáp ứng để đạt được khả năng chống xóa được cải thiện và cho phép khả năng trao đổi từ giữa thẻ và các hệ thống xử lý. Các thuộc tính trong Phụ lục C là các hướng dẫn cho vật liệu từ. Phụ lục C là tham khảo và không phải sử dụng như các tiêu chí hiệu năng cho thẻ.

Bảng 1 – Yêu cầu biên độ tín hiệu cho các th không mã chưa sử dụng

Mô tả

Mật độ

ft/mm (ftpi)

Dòng ghi thử nghiệm

Kết qu biên độ tín hiệu

Yêu cầu

Biên độ tín hiệu

8 (200)

Imin

UA1

0,8 UR ≤ UA1 ≤ 1,2 UR

Biên độ tín hiệu

8 (200)

Imin

Ui1

Ui1 ≤ 1,26 UR

Biên độ tín hiệu

8 (200)

Imax

UA2

UA2 ≥ 0,8 UR

Biên độ tín hiệu

20 (500)

Imax

Ui2

Ui2 ≥ 0,65 UR

Độ phân giải

20 (500)

Imax

UA3

UA3 ≥ 0,7 UA2

Xóa bỏ

0

Imin, DC

UA4

UA4 ≤ 0,03 UR

Xung bổ trợ

0

Imin, DC

Ui4

Ui4 ≥ 0,05 UR

Kh từ

0

Id,

DC

UA

5

UA5 ≥ 0,64 UR

Kh từ

0

Id,

DC

Ui

5

Ui5 ≥ 0,54 UR

Dạng sóng

3 (75)

/max

Ui6UA6

Ui6 ≤ 0,07 UA6

Ui6 là giá trị tuyệt đối của biên độ tín hiệu lớn nht trong vùng đo lường Ui6 như ch ra trong Hình 7.

Độ dốc của đường cong bão hòa không bao giờ dương giữa Imin và Imax

CHÚ THÍCH 1  Không được phép kết hợp toán học các yêu c trên. Các giá trị này đối với thử nghiệm thẻ không mã và không thể áp dụng cho th mã.

CHÚ THÍCH 2  Quan sát cho thấy độ phân gii thp được đo trong Bảng 1 có th tương ứng với biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cao được đo trong Bảng 2.

Hình 6 – Ví dụ đường cong bão hòa ch ra vùng dung sai tại 8 ft/mm (200 ftpi)

CHÚ THÍCH  Các đường cong xác định đáp ứng tiêu chuẩn chính (trên thẻ). Các thông số cửa sổ xác định một thẻ có chức năng trong môi trường máy có thể đọc.

1. Tìm trung điểm giữa 2 đỉnh liền kề.

2. Tìm điểm giao 0 cho dạng sóng giữa trung điểm và đnh liền kề.

3. Vùng đo lường là 1,5 lần a (khoảng cách giữa trung điểm và điểm giao 0).

4. Tìm mức biên độ tín hiệu lớn nhất trong vùng đo lường xác định trong hình.

5. Giá trị tuyệt đối của mức này là Ui6 đối với dạng sóng.

Hình 7 – Đo lường dạng sóng

8. Kỹ thuật mã hóa

Kỹ thuật mã hóa đối với mỗi rãnh là phương pháp ghi 2-tần số. Phương pháp này cho phép ghi tuần tự dữ liệu tự đồng bộ. Việc mã hóa bao gồm dữ liệu và các chuyển tiếp đồng bộ cùng nhau. Một chuyển tiếp dòng xảy ra giữa các lần đồng bộ có nghĩa bit là “1” và việc không có chuyển tiếp dòng giữa các chuyển tiếp đồng bộ có nghĩa bit là “0” (Xem Hình 8).

Hình 8 – Ví dụ về mã hóa 2- tần s

Dữ liệu phải được ghi như một chuỗi đồng bộ các ký tự không có khoảng trống xen vào.

CHÚ THÍCH  Việc ghi với dòng ghi nhỏ hơn Imin có thể dẫn đến vc mã hóa với cht lượng kém.

9. Yêu cầu chung về đặc tả mã hóa

9.1Góc ghi

Góc ghi phải vuông góc với mép gần nhất của thẻ song song với sọc từ với dung sai ± 20 min. Góc ghi (a) được xác định bằng việc đo góc của khe trống đầu ghi khi các biên độ đọc lớn nhất (xem Hình 9).

Hình 9 – Góc ghi

9.2Mật độ bit danh nghĩa

Mật độ bit danh nghĩa cho mỗi rãnh phải là:

Rãnh 1

8,27 bits/mm (210 bpi),

Rãnh 2

2,95 bits/mm (75 bpi),

Rãnh 3

8,27 bits/mm (210 bpi),

9.3Yêu cầu biên độ tín hiệu cho các rãnh 1,2 và 3

Yêu cầu đối với biên độ tín hiệu trên các rãnh 1, 2 và 3 như sau:

 Thẻ mã chưa sử dụng:            0,64 UR ≤ Ui ≤ 1,36 UR
 Thẻ trả lại: 0,52 U≤ U≤ 1,36 UR

Không được có đỉnh tín hiệu giữa yêu cầu tối thiểu (0,64 UR Cho các thẻ mã chưa sử dụng hoặc 0,52 UR Cho các thẻ trả lại) và 0,07 UR(xem Hình 10).

Hình 10 – Tạp nhiễu trong dạng sóng tín hiệu

9.4. Cấu hình bit

Trong cấu hình bít của mỗi ký tự trên vùng từ tính, bít ít nghĩa nhất (2°) phải được mã hóa đầu tiên và bit kiểm tra chẵn lẻ là cuối cùng.

9.5Hướng ghi

Việc mã hóa phải bắt đầu từ phía bên phải nhìn từ phía sọc từ trên cùng.

9.6Các số 0 ở đầu và đuôi

Đầu vào bit dữ liệu đầu tiên phải được ghi với các số 0 và khoảng trống sau bit cuối cùng cũng phải ghi với các số 0. Các số 0 trước 3,30 mm (0.130 in) hoặc sau 82,17 mm (3.235 in) từ mép phải của thẻ khi quan sát từ đằng sau không cần đáp ứng các đặc t được qui định  đây.

10. Đặc tả mã hóa

10.1. Rãnh chữ và số, rãnh 1

10.1.1Mật độ bit trung bình

Mật độ bit trung bình (Ba) là 8,27 bits/mm (210 bpi) ± 8 % được đo song song dọc theo chiều với mép tham chiếu trên cùng.

10.1.2Biến đổi cách khoảng chuyn tiếp dòng

Các biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng được chỉ ra trong Bảng 2 đối với các thẻ mã chưa sử dụng và trong Bảng 3 đối với các th trả lại. Xem Hình 11.

Hình 11 – Biến đổi cách khoảng chuyn tiếp dòng

Bảng 2 – Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cho các th mã chưa sử dụng – Rãnh 1 và 3

Số hạng

Mô tả

Yêu cầu

Biến đổi

Ba

Chiều dài trung bình giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ

111 µm (4381 µin) ≤ Ba ≤ 131 µm (5143 µin)

±8%

Bin

Chiều dài riêng giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ

109 µm (4286 µin) ≤ Bin ≤ 133 µm (5238 ≤in)

±10%

Bin+1

Biến bit-đến-bit liền kề

0,90 Bin ≤ Bin+1 ≤ 1,10 Bin

±10%

Sin

Chiều dài phân khoảng thời gian

53 µm (2095 µin) ≤ Sin ≤ 68 µm (2667 µin)

±12 %

Sin+1

Chiều dài phân khoảng thời gian liền kề

0,88 Bin/2 ≤ Sin+1 ≤ 1,12 Bin/2

±12 %

Bin+1 hoặc Sin+1 là chiều dài giữa các chuyển tiếp dòng tiếp theo và liền kề với Bin.

CHÚ THÍCH 1  Bng này ch thể hiện các giới hạn mà thẻ có chức năng thông thường và không bao hàm bất kỳ đảm bảo nào v cách khoảng chuyển tiếp dòng trong thời hạn có hiệu lực của th phát hành.

CHÚ THÍCH 2  Phân giải thp được quan sát và đo trong Bảng 1 tương ứng với biến đổi cách khoảng chuyn tiếp dòng cao được đo trong Bảng 2.

Bảng 3 – Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cho các thẻ trả lại – Rãnh 1 và 3

Số hạng

Mô tả

Yêu cầu

Biến đổi

Ba

Chiều dài trung bình giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ

111 µm (4381 µin) ≤ Ba ≤ 131 µm (5143 µin)

±8%

Bin

Chiều dài riêng giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ

103 µm (4048 µin) ≤ Bin ≤ 139 µm (5476 µin)

±15%

Bin+1

Biến bit đến bit liền kề

0,85 Bin ≤ Bin+1  1.15 Bin

±15%

Sin

Chiều dài phân khoảng thời gian

48,4 µm (1905 µin) ≤ Sin ≤ 72,6 µm (2857 µin)

±20 %

Sin+1

Chiều dài phân khoảng thời gian liền kề

0,70 Bin/2 ≤ Sin+1≤ 1,30 Bin/2

±30 %

Bin+1 hoặc Sin+1 là chiều dài giữa các chuyn tiếp dòng tiếp theo và liền kề với Bin.

CHÚ THÍCH  Bảng này ch thể hiện các giới hạn mà thẻ có chức năng thông thường và không bao hàm bất kỳ đảm bảo nào về cách khoảng chuyn tiếp dòng trong thời hạn có hiệu lực của thẻ phát hành.

10.1.3Bộ ký tự mã hóa

Bộ ký tự mã hóa cho rãnh 1 phải có 7 chữ-số như trong Bảng 4. Các ký tự sau đây có ý nghĩa đặc biệt và việc sử dụng bị hạn chế như qui định.

Các ký tự

Ý nghĩa hoặc sử dụng

! ” & ‘ * + , : ; < = > @ _

Sử dụng cho mục đích điều khiển phần cứng; không sử dụng cho nội dung dữ liệu.

[\]

Dành riêng cho các ký tự quốc gia bổ sung khi được yêu cầu. Không sử dụng trên bình diện quốc tế.

#

Dành riêng cho các ký hiệu đồ họa b sung tùy chọn

%

Cờ hiệu bắt đầu

^

Phân tách trường

?

Cờ hiệu kết thúc

Bảng 4 – Bộ ký tự mã hóa cho 5 bit số

Ký tự

Bit nhị phân

 

Ký tự

Bit nh phân

P

25

24

23

22

21

20

P

25

24

23

22

21

20

space

1

0

0

0

0

0

0

 

@

0

1

0

0

0

0

0

!

0

0

0

0

0

0

1

 

A

1

1

0

0

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

 

B

1

1

0

0

0

1

0

#

1

0

0

0

0

1

1

 

C

0

1

0

0

0

1

1

$

0

0

0

0

1

0

0

 

D

1

1

0

0

1

0

0

%

1

0

0

0

1

0

1

 

E

0

1

0

1

0

1

0

&

1

0

0

0

1

1

0

 

F

0

1

0

0

1

1

0

0

0

0

0

1

1

1

 

G

1

1

0

0

1

1

1

(

0

0

0

1

0

0

0

 

H

1

1

0

1

0

0

0

)

1

0

0

1

0

0

1

 

I

0

1

0

1

0

0

1

*

1

0

0

1

0

1

0

 

J

0

1

0

1

0

1

0

+

0

0

0

1

0

1

1

 

K

1

1

0

1

0

1

1

1

0

0

1

1

0

0

 

L

0

1

0

1

1

0

0

0

0

0

1

1

0

1

 

M

1

1

0

1

1

0

1

.

0

0

0

1

1

1

0

 

N

1

1

0

1

1

1

0

/

1

0

0

1

1

1

1

 

O

0

1

0

1

1

1

1

0

0

0

1

0

0

0

0

 

P

1

1

1

0

0

0

0

1

1

0

1

0

0

0

1

 

Q

0

1

1

0

0

0

0

2

1

0

1

0

0

1

0

 

R

0

1

1

0

0

1

0

3

0

0

1

0

0

1

1

 

S

1

1

1

0

0

1

1

4

1

0

1

0

1

0

0

 

T

0

1

1

0

1

0

0

5

0

0

1

0

1

0

1

 

U

1

1

1

0

1

0

1

6

0

0

1

0

1

1

0

 

V

1

1

1

0

1

1

0

7

1

0

1

0

1

1

1

 

w

0

1

1

0

1

1

1

8

1

0

1

1

0

0

0

 

X

0

1

1

1

0

0

0

9

0

0

1

1

0

0

1

 

Y

1

1

1

1

0

0

1

:

0

0

1

1

0

1

0

 

Z

1

1

1

1

0

1

0

;

1

0

1

1

0

1

1

 

[

0

1

1

1

0

1

1

0

0

1

1

1

0

0

 

\

1

1

1

1

1

0

0

=

1

0

1

1

1

0

1

 

]

0

1

1

1

1

0

1

1

0

1

1

1

1

0

 

^

0

1

1

1

1

1

0

?

0

0

1

1

1

1

1

 

1

1

1

1

1

1

1

CHÚ THÍCH  Bộ ký tự mã hóa này hoàn toàn tương đương với bộ ký tự trong ISO/IEC 7811-x26 (được tạo từ ASCII)

10.1.4Số ký tự lớn nht cho th loại ID-1

Các ký tự dữ liệu, ký tự điều khiển, cờ hiệu bắt đầu, cờ hiệu kết thúc và ký tự kiểm tra dư thừa theo chiều dọc cùng nhau không vượt quá 79 ký tự.

10.2. Rãnh số, rãnh 2

10.2.1Mật độ bit trung bình

Mật độ bit trung bình (Ba) phải là 2,95 bits/mm (75 bpi) ±5 % được đo song song dọc theo chiều với mép tham chiếu trên.

10.2.2Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng

Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng được chỉ ra trong Bảng 5 cho các thẻ mã chưa sử dụng và trong Bảng 6 cho các th trả lại. Xem Hình 11.

Bảng 5 – Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cho th mã chưa s dụng – Rãnh 2

Số hạng

Mô t

Yêu cầu

Biến

Ba

Chiều dài trung bình giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ

322 µm (12667 µin) ≤ Ba  356 µm (14000 µin)

±5%

Bin

Chiều dài riêng giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ

315 µm (12400 µin) ≤ Bin ≤ 363 µm (14267 µin)

±7%

Bin+1

Biến bit đến bit liền kề

0,90 Bin ≤ Bin+1 ≤ 1.10 Bin

±10 %

Sin

Chiều dài phân khoảng thời gian

153 µm (6000 µin) ≤ Sin ≤ 186 µm (7333 µin)

±10 %

Sin+1

Chiều dài phân khoảng thời gian lin kề

0,88 Bin/2  Sin+1 ≤ 1,12 Bin/2

±12 %

Bin+1 hoặc Sin+1 là chiều dài giữa các chuyển tiếp dòng tiếp theo và liền kề với Bin

Bảng 6 – Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cho thẻ trả lại – Rãnh 2

Số hạng

Mô tả

Yêu cầu

Biến

Ba

Chiều dài trung bình giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ 322 µm (12667 µin) ≤ Ba  356 µm (14000 µin)

±5%

Bin

Chiều dài riêng giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ 288 µm (11333 µin) ≤ Bin ≤ 390 µm (15333 µin)

±15%

Bin+1

Biến bit đến bit liền kề 0,85 Bin ≤ Bin+1  1,1Bin

±15%

Sin

Chiều dài phân khoảng thời gian 136 µm (5333 µin) ≤ Sin ≤ 203 µm (8000 µin)

±20 %

Sin+1

Chiều dài phân khoảng thời gian liền kề 0,70 Bin/2 ≤ Sin+1 ≤ 1,30 Bin/2

±30 %

Bin+1 hoặc Sin+1 là chiều dài giữa các chuyn tiếp dòng tiếp theo và liền kề với Bin.

CHÚ THÍCH  Bảng này ch th hiện các giới hạn mà thẻ có chức năng thông thường và không bao hàm bt k đảm bảo nào v cách khoảng chuyển tiếp dòng trong thời hạn có hiệu lực của th phát hành.

10.2.3Bộ ký tự mã hóa

Bộ ký tự mã hóa cho rãnh 2 phải có 5 chữ-số như trong Bảng 7. Các ký tự sau đây có ý nghĩa đặc biệt và việc sử dụng hạn chế như mô tả sau.

Ký tự

Ý nghĩa hoặc sử dụng

: < >

Sử dụng cho mục đích điều khiển phần cứng; không sử dụng cho nội dung dữ liệu

;

Cờ hiệu bắt đầu

=

Phân tách trường

?

Cờ hiệu kết thúc

Bảng 7 – Bộ ký tự mã hóa cho 5 bit số

 

Ký tự

Bit nhị phân

 

Ký tự

Bit nhị phân

 

 

 

 

P

23

22

21

20

 

 

 

 

P

23

22

21

20

 

0

 

1

0

0

0

0

 

8

 

0

1

0

0

0

 

1

 

0

0

0

0

1

 

9

 

1

1

0

0

1

 

2

 

0

0

0

1

0

 

:

 

1

1

0

1

0

 

3

 

1

0

0

1

1

 

;

 

0

1

0

1

1

 

4

 

0

0

1

0

0

 

 

1

1

1

0

0

 

5

 

1

0

1

0

1

 

=

 

0

1

1

0

1

 

6

 

1

0

1

1

0

 

 

0

1

1

1

0

 

7

 

0

0

1

1

1

 

?

 

1

1

1

1

1

CHÚ THÍCH  Bộ ký tự mã hóa này hoàn toàn tương đương với bộ ký tự trong ISO/IEC 7811-x26 (được tạo từ ASCII)

10.2.4Số ký tự lớn nht cho th loại ID-1

Các ký tự dữ liệu, các ký tự điều khiển, các cờ hiệu bắt đầu, cờ hiệu kết thúc và ký tự kiểm tra dư thừa theo chiều dọc cùng nhau không vượt quá 40 ký tự.

10.3. Rãnh số, rãnh 3

10.3.1Mật độ bit trung bình

Mật độ bit trung bình (Ba) phải là 8,27 bits/mm (210 bpi) ± 8 % được đo song song dọc theo chiều với mép tham chiếu trên đầu.

10.3.2Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng

Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng được chỉ ra trong Bảng 2 cho các thẻ mã chưa sử dụng và trong Bảng 3 cho các thẻ trả lại. Xem Hình 11.

10.3.3Bộ ký tự mã hóa

Bộ ký tự mã hóa cho rãnh 3 phải có 5 bit số như trong Bảng 7. Các ký tự sau đây có ý nghĩa đặc biệt và việc sử dụng bị hạn chế như qui định.

Ký tự

Ý nghĩa hoặc sử dụng

: < >

Sử dụng cho mục đích điều khiển phần cứng; không sử dụng cho nội dung dữ liệu

;

Cờ hiệu bắt đầu

=

Phân tách trường

?

Cờ hiệu kết thúc

10.3.4Số ký tự lớn nht cho th loại ID-1

Các ký tự dữ liệu, các ký tự điều khiển, các cờ hiệu bắt đầu, cờ hiệu kết thúc và ký tự kim tra dư thừa theo chiều dọc không được cùng vượt quá 107 ký tự.

11. Phát hiện lỗi

Hai kỹ thuật phát hiện lỗi, như được mô tả dưới đây, phải được mã hóa. Trong cả hai kỹ thuật, các số 0  đầu và đuôi không được coi là các kí tự dữ liệu.

11.1Cặp chẵn l

Phải sử dụng bit chẵn lẻ cho từng ký tự mã hóa. Giá trị của bit chẵn lẻ được xác định bằng tổng số các bit một được ghi, cho từng ký tự, bao gồm bit chẵn lẻ, phải là lẻ.

11.2Kiểm tra dư thừa theo chiều dọc (LRC)

Ký tự kiểm tra dư thừa theo chiều dọc (IRC) phải xuất hiện cho từng rãnh dữ liệu. Ký tự LRC phải được mã hóa ngay sau cờ hiệu kết thúc khi thẻ được đọc theo hướng đưa ra cho cờ hiệu bắt đu đầu tiên, tiếp theo là dữ liệu và cờ hiệu kết thúc, cấu hình bit của ký tự LRC phải trùng với cấu hình bit của các ký tự dữ liệu.

Ký tự LRC được tính bằng cách sử dụng th tục sau:

Giá trị của mỗi bit trong ký tự LRC, ngoại trừ bit chẵn lẻ, được xác định bằng tổng của một bit mã hóa trong vị trí bit tương ứng của tt c các ký tự của rãnh dữ liệu, bao gồm cờ hiệu bắt đầu, dữ liệu, cờ hiệu kết thúc và các ký tự LRC.

Bit chẵn lẻ ký tự LRC không phải là một bit chẵn l cho bit chẵn lẻ riêng của rãnh dữ liệu, mà chỉ bit chẵn l cho ký tự LRC mã hóa như mô tả trong 11.1.

12. Vị trí các rãnh mã hóa

Mỗi rãnh mã hóa phải được đặt giữa hai dòng như trong Hình 12. Điểm bắt đu mã hóa được đặt tại đường chính giữa của bit “một” đu tiên trong cờ hiệu bắt đầu. Đim kết thúc mã hóa được đặt tại đường chính giữa của bit cuối cùng trong ký tự kiểm tra dư thừa theo chiều dọc (bit cuối cùng là bít chẵn lẻ).

Số hạng

Rãnh 1

Rãnh 2

Rãnh 3

a

 

8,33 (0,328) nh nhất

11,63 (0,458) nhỏ nht

5,79 (0,228) lớn nhất

9,09 (0,358) lớn nhất

12,65 (0,498) lớn nhất

b

8,33 (0,328) nh nhất

11,63 (0,458) nh nhất

15,19 (0,598) nh nht

9,09 (0,358) lớn nht

12,65 (0,498) lớn nht

15,82 (0,623) lớn nhất

c

7,44 ± 1,00 (0,293 ± 0,039)

7,44 ± 0,50 (0,293 ± 0,020)

7,44 ± 1,00 (0,293 ± 0,039)

d

6,93 (0,252) nhỏ nht

6,93 (0,252) nhỏ nhất

không yêu cầu

CHÚ THÍCH  Tất cả các rãnh có một chiu rộng nhỏ nhất 2,54 (0.100).

Hình 12-V trí các rãnh mã hóa

PHỤ LỤC A

(tham khảo)

Khả năng tương tích về đọc của các sọc từ (TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2) và tiêu chuẩn này)

Mục đích của phụ lục này là giải thích cho người sử dụng những hạn chế của thuật ngữ “kh năng tương tích đọc như đã đề cập trong phạm vi áp dụng của tiêu chun và được áp dụng cho cho TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2) và tiêu chun này.

Về lý thuyết, các sọc từ kháng từ cao phải được cải thiện đáng kể khả năng chống ty xóa nhưng phải là tương đương về các đặc tính tín hiệu đọc ngược với các sọc từ “kháng từ thấp” (ví dụ, Các sọc từ phù hợp với tiêu chun TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2)). Tuy nhiên, trong thực tế, sự khác biệt về các đặc tính từ giữa các sọc từ kháng từ cao và kháng từ thp dn đến các đặc tính tín hiệu đọc ngược khác bit đáng kể để thực hiện việc đánh giá biên độ tín hiệu đọc ngược phụ thuộc vào các thiết b đo.

Nói chung, mong muốn các hệ thống phụ đọc ngược có độ nhạy lớn hơn đối với các bước sóng ghi lại ngắn hơn để làm tăng các biên độ tín hiệu đọc ngược có kháng từ cao liên quan đến các biên độ tín hiệu đọc ngược có kháng từ thấp.

Do đó, người sử dụng tiêu chuẩn này cần lưu ý thực tế rằng việc đạt được các biên độ tín hiệu đọc ngược có thể so sánh từ các sọc từ phù hợp với tiêu chun này phụ thuộc vào việc tái tạo các điều kiện chính xác trong phép đo trong ISO/IEC 10373-2.

 

PHỤ LỤC B

(tham khảo)

Mài mòn sọc từ

Mục đích của phụ lục này là để giải thích nguyên nhân các thuộc tính mài mòn sọc từ khi liên quan đến tuổi thọ của đầu đọc không nằm trong số các đặc tính vật lý được qui định bởi tiêu chuẩn này. Việc không có đặc tả đối với các thuộc tính mài mòn phản ánh sự khó khăn trong việc xác định các thông số về mài mòn vật liệu và việc đưa ra thử nghiệm có thể lặp lại, chính xác để đo đặc tính mài mòn. Mặc dù không có các phương pháp thử nghiệm lặp lại, nhưng vẫn có các công nghệ đã biết có thể kéo dài tuổi thọ của đầu đọc như vật liệu đầu đọc tăng cường, các cht bổ sung hình thành sọc từ, hoặc các lớp phủ trên sọc từ.

Tính mài mòn sọc từ được định lượng là một điều kiện tiên quyết cho mọi cố gắng để dự đoán tuổi thọ của đầu từ. Tuy nhiên, có sự biến đổi đáng kể về bản cht mài mòn của các sọc từ tính khác nhau, có môi trường đọc/ghi sọc từ. Sự đa dạng của việc kết hợp các ảnh hưởng và tính phức tạp của dạng thức ảnh hưởng đến tính mài mòn gây khó khăn trong việc dự đoán tuổi thọ của đầu từ ngay cả khi các điều kiện môi trường, máy móc và sọc từ được qui định.

Việc thử nghiệm tính mài mòn thiết bị cụ thể hiện thời được thực hiện trên cơ sở so sánh thuần túy. Đó là thời gian tiêu thụ và chi phí số lượng thẻ được sử dụng. Các kết quả thử nghiệm như vậy ch đơn gin là các xếp hạng phân cp để ch ra một sọc từ bị mài mòn  mức độ nhiều hay ít hơn những sọc từ khác tùy theo các điều kiện cụ thể của thử nghiệm. Không có các giá trị tuyệt đối chính xác và các xếp hạng phân cấp có thể thay đổi từ một tập hợp các điều kiện khác.

Thực hiện thành công thao tác đọc hoặc ghi trên một sọc từ đòi hỏi sọc từ và đầu từ phải tiếp xúc với toàn bộ thao tác. Chuyển động tương đối giữa đầu từ và sọc từ tạo ra sự chịu mòn của cả hai. Tính mài mòn ban đầu của sọc từ giảm nhanh với số đầu rãnh cán, vì vậy, tính mài mòn của sọc từ mới chưa sử dụng có thể lớn hơn nhiều so với sọc từ ghi một lần, trừ khi số đầu rãnh cán tăng tốc độ thay đổi của việc giảm tính mài mòn.

Những ảnh hưởng tác động đến tính mài mòn sọc từ được biết bao gồm nhiệt độ, độ m, vật liệu đầu từ (và trạng thái chịu mòn và kết thúc), áp lực đầu đọc, tốc độ thẻ, các đặc tính vật lý cụ thể của bề mặt sọc từ tiếp xúc với đầu đọc, tính thô ráp và sự nhiễm bn trên sọc từ. Dưới điều kiện bụi bẩn và dầu mỡ từ môi trường đọng lại trên các giao diện đầu đọc/ sọc từ thường tạo ra những khác biệt lớn giữa khả năng chịu mòn được đo trong điều kiện phòng thí nghiệm và thực tế đạt được.

Do đó, có thể thấy rõ rằng không ch có những khó khăn I trong việc đạt được một mức không đảm bảo đo có thể chấp nhận đối với thử nghiệm tính mài mòn mà còn có những nghi ngờ đáng kể về khả năng ứng dụng các kết quả của các thử nghiệm tính mài mòn trên th trong điều kiện phòng thí nghiệm để dự đoán về hiệu năng trong thực tế. Không thể có đặc tả kỹ thuật tiêu chuẩn và thử nghiệm trừ khi những vấn đề này được giải quyết.

 

PHỤ LỤC C

(tham khảo)

Đặc tính từ tĩnh

C.1. Giới thiệu

Phụ lục này đưa ra các định nghĩa và giá trị về đặc tính từ tĩnh của các sọc từ kháng từ cao. Các thông số này hữu ích trong sản xuất vật liệu từ và không trực tiếp liên quan đến các đặc tính hiệu năng từ trong Bảng 1 đối với thẻ. Không đảm bảo rằng các sọc từ có giá trị được đưa ra trong Phụ lục này là phù hợp với các yêu cầu bắt buộc đưa ra trong Bảng 1. Tuy nhiên, các sọc từ không tuân thủ các giá trị từ tĩnh được đề xuất có khả năng không được phù hợp với các đặc tính trong Bảng 1.

C.2. Thuật ngữ và định nghĩa

C.2.1Trường lớn nht (maximum field)

Hmax

Cường độ từ trường tuyệt đối lớn nht áp dụng như miêu tả bởi phương pháp thử nghiệm.

C.2.2Vòng lặp tĩnh M(H) (static M(H) loop)

Vòng lặp trễ thông thường mà cường độ từ trường có chu kỳ giữa -Hmax đến +Hmax tại tốc độ thay đổi thấp để vòng lặp này không bị ảnh hưởng bởi tốc độ thay đổi đó.

C.2.3Kháng từ (Coercivity)

H‘cM = HcJ

Từ tường áp dụng liên tục giảm từ tính xuống 0 từ một trạng thái từ tính lớn nhất trước đó theo hướng ngược lại, đại lượng này được đo song song với trục dài của sọc từ.

C.2.4Cảm ứng từ dư (remanence)

Mr

Giá trị của từ tính (M) theo một hướng đã cho tại từ trường bằng 0 (H= 0) sau khi đặt và g b trường lớn nhất (Hmax) theo hướng tương tự.

C.2.5Kháng từ cm ứng từ dư (remanence coercivity)

Hr

Từ trường áp dụng mà khi gỡ b quay vật liệu trở lại có trạng thái từ tính 0 từ trạng thái từ tính lớn nhất trước đó theo hướng ngược lại, đại lượng này được đo song song với trục dài của sọc từ.

C.2.6Oxtet (Oersted)

Oe

Đơn vị Gau-xơ cgs của cường độ từ trường sử dụng phổ biến trong công nghiệp ghi từ bằng xp x 79,578 A/m.

C.2.7Khử từ tĩnh (static demagnetisation)

S160

Giảm từ tính cảm ứng dư từ dưới ảnh hưởng của từ trường đối ngược; đặc trưng bởi [Mr – M+(-160)]/Mr.

C.2.8Vuông góc dọc (longitudinal squareness)

SQ = Mr/M at (Hmax)

Tỉ lệ của giá trị cảm ứng dư từ (Mr) sau khi áp dụng và từ bỏ trường mạnh nhất (Hmax) đối với từ tính (M) tại trường lớn nhất được áp dụng (Hmax) được đo dọc theo trục dọc của sọc từ.

C.2.9Tỉ lệ cảm ứng dư từ (remanence ratio)

RM = (MrP / MrL)

Tỉ lệ của cảm ứng dư từ vuông góc được đo vuông góc với bề mặt của sọc từ (MrP) đối với cảm ứng dư từ đọc được đo theo hướng dọc của sọc từ (MrL).

C.2.10Trường chuyển đổi bởi độ dốc (switching field by slope)

SFS

(/H2/-/H1/)/ HcM khi M(-/H1/)=0,5Mr and M(-/H2/) = -0,5 Mr; sự khác nhau giữa các giá trị trường tại phân đoạn vòng lặp từ tính tĩnh M(H) với M(H) = 0,5 Mr and M(H) = -0,5 Mr, được chia bởi kháng từ.

C.2.11Trường chuyn đổi bởi đạo hàm (switching field by derivative)

SFD

Chiều rộng tại một nửa chiều cao của đường cong từ tính tĩnh khác biệt M(H) được chia bởi giá trị kháng tử trên đường cong tương tự

CHÚ THÍCH  Các định nghĩa đặc tính từ tính tĩnh định có nguồn gốc từ IEC 50-221 (được thay thế bng IEC 600050-221) và ISO 31-5:1992 (được thay thế bằng TCVN 7870-6 (IEC 80000-6)).

C.3. Đặc tính khuyến ngh

Các đặc tính tĩnh được khuyến nghị của sọc từ kháng từ cao được chỉ ra trong bảng C.1.

Bảng C.1 – Đặc tính tĩnh của vật liệu từ kháng từ cao

TT

Thông số

Ký hiệu

Giá trị

1

Kháng từ

H’cM

335 kA/m (420 0 Oe) lớn nhất

200 kA/m (250 0 Oe) nhỏ nhất

2

Kh từ tĩnh

S160

0,20 lớn nhất

3

Vuông góc dọc

SQ

0,80 nhỏ nhất

4

Tỉ lệ cm ứng dư từ

RM

0,35 lớn nhất

5

Chuyển đổi trường bằng độ dốc

SFS

0,30 lớn nhất

6

Chuyển đổi trường bng đạo hàm

SFD

0,50 lớn nhất

 

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1Phạm vi áp dụng

2Sự phù hợp

3Tài liệu viện dn

4Thuật ngữ và định nghĩa

5Đặc tính vật lý của th định danh

5.1Độ vênh vùng sọc từ

5.2Biến dạng bề mặt

6Đặc tính vật lý của sọc từ

6.1Chiều cao và đường dốc bề mặt vùng sọc từ

6.2Tính thô ráp bề mặt

6.3Tính bám dính của sọc từ với thẻ

6.4Tính mài mòn sọc từ khi cắm/rút khỏi đầu đọc/ghi

6.5Tính kháng hóa chất

7Đặc tính hiệu năng đối với vật liệu t

7.1Yêu cầu chung

7.2Môi trường thao tác và thử nghiệm

7.3Yêu cầu biên độ tín hiệu đối với các phương tiện truyền thông từ tính

8Kỹ thuật mã hóa

9Yêu cầu chung về đặc tả mã hóa

9.1Góc ghi

9.2Mật độ bit danh nghĩa

9.3Yêu cầu biên độ tín hiệu cho các rãnh 1, 2 và 3

9.4. Cấu hình bit

9.5Hướng ghi

9.6Các số 0 ở đầu và đuôi

10Đặc tả mã hóa

10.1Rãnh chữ và số, rãnh 1

10.2Rãnh số, rãnh 2

10.3Rãnh số, rãnh 3

11Phát hiện lỗi

11.1Cặp chẵn lẻ

11.2Kiểm tra dư thừa theo chiều dọc (LRC)

12Vị trí các rãnh mã hóa

Phụ lục A (tham khảo) Khả năng tương tích về đọc của các sọc từ

Phụ lục B (tham khảo) Mài mòn sọc từ

Phụ lục c (tham khảo) Đặc tính từ tĩnh

C.1. Giới thiệu

C.2. Thuật ngữ và định nghĩa

C.3. Đặc tính khuyến nghị

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 11166-6:2015 (ISO/IEC 7811-6:2014) VỀ THẺ ĐỊNH DANH – KĨ THUẬT GHI – PHẦN 1: SỌC TỪ – KHÁNG TỪ CAO
Số, ký hiệu văn bản TCVN11166-6:2015 Ngày hiệu lực 31/12/2015
Loại văn bản Tiêu chuẩn Việt Nam Ngày đăng công báo
Lĩnh vực Lĩnh vực khác
Ngày ban hành 31/12/2015
Cơ quan ban hành Bộ khoa học và công nghê
Tình trạng Còn hiệu lực

Các văn bản liên kết

Văn bản được hướng dẫn Văn bản hướng dẫn
Văn bản được hợp nhất Văn bản hợp nhất
Văn bản bị sửa đổi, bổ sung Văn bản sửa đổi, bổ sung
Văn bản bị đính chính Văn bản đính chính
Văn bản bị thay thế Văn bản thay thế
Văn bản được dẫn chiếu Văn bản căn cứ

Tải văn bản