TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 11688-6:2016 (ISO/IEC 10373-6:2016) VỀ THẺ ĐỊNH DANH – PHƯƠNG PHÁP THỬ – PHẦN 6: THẺ CẢM ỨNG

Hiệu lực: Còn hiệu lực Ngày có hiệu lực: 30/12/2016

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 11688-6:2016

ISO 10373-6:2016

THẺ ĐỊNH DANH – PHƯƠNG PHÁP THỬ – PHẦN 6: THẺ CẢM ỨNG

Identification cards – Test methods – Part 6: Proximity cards

Lời nói đầu

TCVN 11688-6:2016 hoàn toàn tương đương với ISO/IEC 10373-6:2016.

TCVN 11688-6:2016 do Tiểu Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/JTC 1/SC 17 “Thẻ nhận dạng” biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ khoa học và Công nghệ công bố.

Hiện nay, bộ tiêu chuẩn TCVN 11688 (ISO/IEC 10373) về Thẻ định danh – Phương pháp kiểm thử gồm các tiêu chuẩn:

– TCVN 11688-1:2016 (ISO/IEC 10373-1:2016 và Amd.1:2012), Phần 1: Đặc tính chung;

– TCVN 11688-2:2016 (ISO/IEC 10373-2:2015), Phần 2: Thẻ có sọc từ;

– TCVN 11688-3:2016 (ISO/IEC 10373-3:2010), Phần 3: Thẻ mạch tích hợp có tiếp xúc và thiết bị giao diện liên quan;

– TCVN 11688-6:2016 (ISO/IEC 10373-6:2016), Phần 6: Thẻ cảm ứng.

THẺ ĐỊNH DANH – PHƯƠNG PHÁP THỬ – PHẦN 6: THẺ CẢM ỨNG

Identification cards – Test methods – Part 6: Proximity cards

1 Phạm vi áp dụng

TCVN 11688 (ISO/IEC 10373) xác định phương pháp thử các đặc tính của thẻ định danh theo định nghĩa đưa ra trong TCVN 11165 (ISO/IEC 7810). Mỗi phương pháp thử được tham chiếu chéo với hoặc nhiều tiêu chuẩn cơ bản, có thể là TCVN 11165 (ISO/IEC 7810) hoặc một hay nhiều tiêu chuẩn bổ sung xác định công nghệ lưu trữ thông tin dùng cho các ứng dụng thẻ định danh.

CHÚ THÍCH 1 Các tiêu chí đối với khả năng chấp nhận không thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này, mà có thể trong các tiêu chuẩn khác đã nêu ở trên.

CHÚ THÍCH 2 Phương pháp thử mô tả trong tiêu chuẩn này được thực hiện riêng rẽ. Một thẻ không nhất thiết phải đạt qua tất cả thử nghiệm theo đúng trình tự.

Tiêu chuẩn này qui định các phương pháp thử đối với các thẻ và đối tượng không tiếp xúc, và các thiết bị nối kết không tiếp xúc, xác định trong TCVN 11689-1 (1SO/IEC 14443-1), TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2), TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443–4).

TCVN 11688-1 (ISO/IEC 10373-1) xác định các phương pháp thử chung cho hoặc nhiều công nghệ thẻ mạch tích hợp và các tiêu chuẩn khác trong bộ TCVN 11688 (ISO/IEC 10373) xác định các phương pháp thử công nghệ cụ thể.

2 Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau rất cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất, bao gồm cả sửa đổi (nếu có).

TCVN 11165 (ISO/IEC 7810), Thẻ định danh – Đặc tính vật lí;

TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1), Thẻ định danh – Thẻ mạch tích hợp không tiếp xúc – Thẻ cảm ứng – Phần 1: Đặc tính vật lí;

TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2), Thẻ định danh – Thẻ mạch tích hợp không tiếp xúc – Thẻ cảm ứng – Phần 2: Giao diện tín hiệu và công suất tần số radio;

TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), Thẻ định danh – Thẻ mạch tích hợp không tiếp xúc – Thẻ cảm ứng – Phần 3: Khởi tạo và chống va chạm;

TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Thẻ định danh – Thẻ mạch tích hợp không tiếp xúc – Thẻ cảm ứng – Phần 4: Giao thức truyền dẫn;

IEC 61000-4-2:20081, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and measurement techniques – Electrostatic discharge immunity test (Tương thích điện từ (EMC) – Phần 4-2: Phương pháp đo và thử – Miễn nhiễm phóng điện đối với hiện tượng phóng điện);

3 Thuật ngữ và định nghĩa, ký hiệu và thuật ngữ viết tắt

3.1 Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa trong TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1), TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2), TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) và sau đây.

CHÚ THÍCH Các yếu tố trong dấu ngoặc vuông đậm [ ] là các định nghĩa tùy chọn.

3.1.1

Tiêu chuẩn cơ bản (Base standard)

Tiêu chuẩn đưa ra phương pháp thử được sử dụng để kiểm tra sự phù hợp.

3.1.2

Mức phân tầng (CascadeLevels)

Số các mức phân tầng của PICC.

3.1.3

Tập lệnh (Command Set)

Tập mô tả các lệnh PICC trong quá trình khởi tạo và chống va chạm.

CHÚ THÍCH Xem 6.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) đối với PICC kiểu A và 7.5, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) đối với PICC kiểu B.

3.1.4

Tác động tải (Loading Effect)

Thay đổi dòng ăng-ten PCD bởi sự có mặt (các) PICC trong trường do điều chỉnh nối kết lẫn nhau của cộng hưởng ăng-ten PCD và hệ số chất lượng.

3.1.5

Mute (chặn đáp ứng) (Mute)

Không đáp ứng trong suốt thời gian tạm ngưng được qui định, ví dụ như việc hết hạn của FWT.

3.1.6

Trạng thái PICC (PICC States)

Trạng thái PICC khác nhau trong quá trình khởi tạo và chống va chạm.

CHÚ THÍCH Xem 6.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) đối với PICC kiểu A và 7.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) đối với PICC kiểu B.

3.1.7

Kịch bản (Scenario)

Ứng dụng và giao thức điển hình xác định quy định việc trao đổi thông tin được sử dụng với các phương pháp thử được xác định trong tiêu chuẩn này.

3.1.8

Trạng thái khởi đầu thử nghiệm (Test initial State)

TIS

Yếu tố từ trạng thái PICC, là trạng thái PICC trước khi thực hiện một lệnh PICC cụ thể từ Tập lệnh.

3.1.9

Phương pháp thử (Test method)

Phương pháp để thử nghiệm đặc tính của thẻ định danh với mục đích kiểm tra sự tuân thủ của thẻ với các tiêu chuẩn.

3.1.10

Trạng thái đích thử nghiệm (Test Target State)

TTS

Yếu tố từ trạng thái PICC, là trạng thái PICC sau khi thực hiện một lệnh PICC cụ thể từ Tập lệnh.

3.2 Ký hiệu và thuật ngữ viết tắt

(xxxxx)b	Thể hiện bit dữ liệu
‘XY’	Kí pháp thập lục phân, bằng với XY theo cơ số 16
ATA(cid)	Trả lời cho ATTRIB, ví dụ (mbli+cid CRC_B), với mbli một giá trị hex tùy ý (xem 7.11, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3))
ATTRIB(cid, fsdi)	Lệnh ATTRIB mặc định với PUPI từ ATQB, CID = cid và giá trị mã Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) = fsdi ví dụ (‘1D’ PUPI cid fsdi ’01 00′ CRC_B)
DUT	Thiết bị đang thử nghiệm
ESD	Phóng tĩnh điện
l(c)n(inf [,CID = cid] [,NAD = nad] [,~CRC])	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) khối-l với bit liên kết chuỗi bit cϵ{1 ,0}, số khối nϵ{1,0} và trường thông tin inf. Theo mặc định không CID và không NAD phải được truyền dẫn. Nếu CID = cidϵ{0…15} được qui định, nó phải được truyền dẫn như thông số thứ 2. Nếu NAD = nadϵ{0…‘FF’} được qui định nó phải được truyền dẫn như thông số thứ 3 (hoặc thông số thứ 2 nếu không CID được truyền dẫn). Nếu chữ ‘~CRC’ không được qui định, thì CRC hợp lệ tương ứng với kiểu PICC phải được truyền dẫn theo mặc định (ví dụ CRC_A hoặc CRC_B)
IUT	Triển khai đang thử nghiệm (ISO/IEC 9646); trong phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này, IUT thể hiện cho PCD đang thử nghiệm
LT	Bộ thử nghiệm thấp hơn (ISO/IEC 9646), phần mô phỏng-PICC của Dụng cụ-thử nghiệm-PCD
m	Chỉ số điều chế
Mute	Không đáp ứng trong một thời gian tạm ngưng được qui định
N/A	Không áp dụng
PPS(cid, dri, dsi)	Yêu cầu PPS mặc định với CID = cid, DRI = dri và DSI = dsi, ví dụ (‘D’ + cid ’11’ dsi x 4 + dri CRC_A)
R(ACK [,CID = cid] [,~CRC])_n	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) Khối R(ACK) với số khối n. Định nghĩa CID tùy chọn và ký hiệu ~CRC như trong khối l(c)_n ở trên
R(NAK [,CID = cid][,~CRC])_n	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) khối R(NAK) với số khối n. Định nghĩa CID tùy chọn và ký hiệu ~CRC như trong khối l(c)_n ở trên
RATS(cid, fsdi)	Lệnh RATS mặc định với CID = cid và giá trị FSDI = fsdi ví dụ (‘E0‘ fsdi x 16+cid CRC_A)
READY(I)	Trạng thái READY trong mức phân tầng I, I ϵ {1, 2, 3}; ví dụ như READY(2) là mức phân tầng PICC 2
READY*(I)	Trạng thái READY* trong mức phân tầng I, I ϵ {1, 2, 3}; ví dụ như READY*(2) là mức phân tầng PICC 2
REQB(N)	Lệnh REQB với N xác định trong 7.7.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
S(WTX)(WTXM [,ClD = cid][,~CRC])	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) khối S(WTX) với thông số WTXM. Định nghĩa CID tùy chọn và ký hiệu ~CRC như trong khối l(c)_n ở trên
S(DESELECT [,CID = cid] [,~CRC])	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) khối S(DESELECT). Định nghĩa CID tùy chọn và ký hiệu ~CRC như trong khối l(c)_n ở trên
SAK(cascade)	Trả lời SELECT(l) với bit phân tầng (bit 3) đặt là (1)b
SAK(complete)	Trả lời SELECT(I) với bit phân tầng (bit 3) đặt là (0)b
SEL(c)	Lựa chọn mã của mức c (ví dụ SEL(1) = ‘93’ SEL(2) = ’95’, SEL(3) = ’97’)
SELECT(I)	Lệnh SELECT của mức phân tầng I, ví dụ SELECT(1) = (’93 70′ UIDTX1 BCC CRC_A) SELECT(2) = (’95 70′ UIDTX2 BCC CRC_A) SELECT(3) = (’97 70′ UIDTX3 BCC CRC_A)
SLOTMARKER(n)	Lệnh Slot-MARKER (đánh dấu khe) với số khe n, ví dụ (16 x (n – 1) + 5 CRC_B)
TB-PDU	Đơn vị dữ liệu giao thức khối truyền dẫn, bao gồm cả khối-l, khối-R hoặc khối-S
TEST_COMMAND1(1)	Lệnh thử nghiệm mặc định gồm một khối-l không liên kết chuỗi CHÚ THÍCH Lệnh này phụ thuộc giá trị Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) đã thỏa thuận của PICC.
TEST_COMMAND1 (n), n > 1	Lệnh thử nghiệm mặc định gồm n khối-l không liên kết chuỗi (liên kết chuỗi PCD) CHÚ THÍCH Lệnh này phụ thuộc giá trị Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) đã thỏa thuận của PICC.
TEST_COMMAND1 (n)k	Trường INF của liên kết chuỗi thứ k khối-l của TEST_COMMAND1(n) CHÚ THÍCH Lệnh này phụ thuộc giá trị Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) đã thỏa thuận của PICC.
TEST_COMMAND2(n), n > 1	Lệnh thử nghiệm mặc định chờ đợi một đáp ứng gồm n khối-l được liên kết chuỗi CHÚ THÍCH Lệnh này phụ thuộc giá trị Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) đã thỏa thuận của PCD.
TEST_COMMAND3	Lệnh thử nghiệm mặc định gồm một khối-l cần nhiều thời gian FWT hơn để thi hành
TEST_RESPONSE1(n)	Trường INF của đáp ứng với TEST COMMAND1(n) CHÚ THÍCH Đáp ứng này được giả định luôn giải phóng liên kết chuỗi.
TEST_RESPONSE2(n)	Đáp ứng với TEST_COMMAND2(n) CHÚ THÍCH Đáp ứng này phụ thuộc giá trị Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) đã thỏa thuận của PCD.
TEST_RESPONSE2(n)k	Trường INF của liên kết chuỗi khối thứ k của TEST_RESPONSE2(n) CHÚ THÍCH Đáp ứng này phụ thuộc giá trị Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) đã thỏa thuận của PCD.
TEST_RESPONSE3	Đáp ứng khối-l với TEST_COMMAND3 CHÚ THÍCH Đáp ứng này được giả định luôn giải phóng liên kết chuỗi.
TM- PDU	Thử nghiệm đơn vị dữ liệu giao thức quản lí (ISO/IEC 9646-1, PDU)
t_START	Bắt đầu việc truyền dẫn PICC
UIDTX_l	Dữ liệu UID 32-bit được truyền ở mức phân tầng I (xem Bảng 1)
UT	Bộ thử nghiệm cao hơn (ISO/IEC 9646), phần kiểm soát dụng cụ-thử nghiệm-PCD
UT_APDU	Đơn vị dữ liệu giao thức ứng dụng bộ thử nghiệm, cao hơn: một gói dữ liệu được gửi bởi PCD đến LT qua giao diện RF
V_t_ả_i	Điện áp DC đo được tại đầu nối CON3 của PICC tham chiếu
WUPB(N)	Lệnh WUPB với N xác định trong 7.7.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
~X	Chuỗi bit gồm các bit đảo ngược của chuỗi bit X hoặc bất kì chuỗi bit khác X
X[[a..b]]	Chuỗi bit con của chuỗi bit X gồm các bit giữa vị trí a và b. Nếu a > b thì chuỗi rỗng
X[[n]]	Bit tại vị trí n của chuỗi bit X. Bit đầu tiên ở vị trí 1
X[n]	Byte ở vị trí n của chuỗi bit X. Byte đầu tiên ở vị trí 1 (ví dụ X[n] = X[[(n – 1) x 8 + 1..n x 8]])

Bảng 1 – Ánh xạ từ UID đến UIDTX

Mức phân tầng	PICC UID đơn	PICC UID cặp đôi	PICC UID cặp ba
UIDTX1	UID0 UID1 UID2 UID3	’88’ UID0 UID1 UID2	’88’ UID0 UID1 UID2
UIDTX2	–	UID3 UID4 UID5 UID6	’88’ UID3 UID4 UID5
UIDTX3	–	–	UID6 UID7 UID8 UID9

4 Hạng mục mặc định áp dụng đối với các phương pháp thử

4.1 Môi trường thử nghiệm

Trừ khi có qui định khác, thử nghiệm phải được thực hiện trong môi trường nhiệt độ 23 ^oC ± 3 ^oC (73 ^oF ± 5 ^oF) và độ ẩm tương đối từ 40 % đến 60 %.

4.2 Điều kiện ổn định trước

Phương pháp thử trong tiêu chuẩn này không yêu cầu điều kiện ổn định trước về môi trường đối với các PICC hay PCD.

4.3 Dung sai mặc định

Trừ khi có qui định khác, một dung sai mặc định ± 5 % phải được áp dụng với các giá trị đại lượng cho trước qui định đặc tính của thiết bị thử nghiệm (ví dụ như kích thước tuyến tính) và các quy trình phương pháp thử (ví dụ: hiệu chỉnh thiết bị thử nghiệm).

4.4 Điện cảm giả

Các điện trở và tụ điện nên có điện cảm không đáng kể.

4.5 Độ không đảm bảo đo tổng

Độ không đảm bảo đo tổng đối với mỗi đại lượng được xác định bởi các phương pháp thử phải được nêu rõ trong báo cáo thử nghiệm.

Thông tin cơ bản được đưa ra trong ISO/IEC Guide 98-3:2008.

5 Dụng cụ và mạch đối với thử nghiệm thông số trong TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1) và TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2)

Điều này xác định dụng cụ và mạch thử nghiệm đối với việc kiểm tra hoạt động của PICC hoặc PCD theo TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1) và TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Dụng cụ thử nghiệm gồm:

– Dụng cụ đo (xem 5.1);

– Cuộn dây hiệu chuẩn (xem 5.2);

– Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm (xem 5.3);

– PICC tham chiếu (xem 5.4).

– Thiết lập thử nghiệm EMD (xem 5.5).

Các dụng cụ này được mô tả trong các Điều dưới đây.

5.1 Yêu cầu tối thiểu đối với dụng cụ đo

5.1.1 Máy hiện sóng

Máy hiện sóng lấy mẫu kỹ thuật số phải có khả năng lấy mẫu ở tốc độ ít nhất 500 triệu mẫu/s với độ phân giải ít nhất 8 bit tại thang đo tối ưu và phải có băng thông tổng tối thiểu 250 MHz. Máy hiện sóng nên có khả năng xuất dữ liệu được lấy mẫu như tệp văn bản để tạo thuận lợi cho việc tính toán và các hoạt động khác như tạo cửa sổ trên dữ liệu được lấy mẫu bằng cách sử dụng các chương trình phần mềm (xem các Phụ lục E và F).

CHÚ THÍCH Băng thông tổng là kết hợp của băng thông máy hiện sóng và băng thông hệ thống dò.

5.2 Cuộn dây hiệu chuẩn

Điều này xác định kích cỡ, chiều dày và đặc tính của các cuộn dây hiệu chuẩn 1 và 2.

Cuộn dây hiệu chuẩn 1 phải chỉ được dùng trong khối lắp ráp PCD thử nghiệm 1 và cuộn dây hiệu chuẩn 2 phải chỉ được dùng trong khối lắp ráp PCD thử nghiệm 2.

5.2.1 Kích cỡ thẻ cuộn dây hiệu chuẩn

Thẻ cuộn dây hiệu chuẩn phải gồm một vùng có chiều cao và chiều rộng kiểu ID-1 xác định trong TCVN 11165 (ISO/IEC 7810) chứa một cuộn dây vòng xoắn đồng tâm với viền ngoài của thẻ (xem Hình 1).

Hình 1 – Các cuộn dây hiệu chuẩn 1 và 2

5.2.2 Chiều dày và vật liệu của thẻ cuộn dây hiệu chuẩn

Chiều dày của thẻ cuộn dây hiệu chuẩn phải nhỏ hơn thẻ ID-1. Thẻ cuộn dây hiệu chuẩn phải được làm bằng vật liệu cách điện phù hợp:

5.2.3 Đặc tính cuộn dây

Cuộn dây trên thẻ cuộn dây hiệu chuẩn phải có một vòng xoắn. Dung sai kích thước tương đối phải bằng ± 2 %.

Kích cỡ bên ngoài của cuộn dây phải là 72 mm x 42 mm với bán kính góc 5 mm.

CHÚ THÍCH 1 Diện tích trên đó mà trường được tích hợp là 3000 mm².

CHÚ THÍCH 2 Tại 13,56 MHz điện cảm xấp xỉ 250 nH và điện trở xấp xỉ 0,4 Ω.

Hệ số hiệu chuẩn mạch hở đối với cuộn dây hiệu chuẩn 1 là 0,318 V (rms) [tương đương 900 mV (đỉnh-đỉnh) trên mỗi A/m (rms)].

Kích cỡ ngoài của cuộn dây hiệu chuẩn 2 là 46 mm x 24 mm với bán kính góc 2 mm.

CHÚ THÍCH 3 Diện tích trên đó mà trường được tích hợp là 1100 mm².

CHÚ THÍCH 4 Tại 13,56 MHz điện cảm xấp xỉ 140 nH và điện trở xấp xỉ 0,3 Ω.

Hệ số hiệu chuẩn mạch hở đối với cuộn dây hiệu chuẩn 2 là 0,118 V (rms) [tương đương 333 mV (đỉnh-đỉnh) trên mỗi A/m (rms)].

Cuộn dây phải được làm như một cuộn dây in sẵn trên bảng mạch in sẵn (PCB) được mạ bằng 35μm đồng. Chiều rộng của rãnh phải là 500 μm với dung sai tương đối ± 20%. Kích cỡ các tấm lót liên kết phải là 1,5 mm x 1,5 mm.

Đầu dò máy hiện sóng trở kháng cao với dẫn nạp đầu vào tương đương với điện dung song song Cp < 14 pF và một điện trở song song Rp > 9 kΩ tại 13,56 MHz phải được sử dụng để đo (mạch hở) điện áp cảm ứng trong cuộn dây.

Nối đất đầu dò máy hiện sóng trở kháng cao càng ngắn càng tốt, ngắn hơn 20 mm hoặc nối đồng trục.

5.3 Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm

Xác định 2 bộ lắp ráp PCD thử nghiệm:

– Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1 đối với các PICC “Lớp 1”, “Lớp 2”, “Lớp 3” và đối với các PICC không tuyên bố tuân thủ lớp nào;

– Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1 đối với các PICC “Lớp 4”, “Lớp 5”, “Lớp 6”.

Mỗi bộ lắp ráp PCD thử nghiệm phải gồm một ăng-ten PCD thử nghiệm hình tròn và 2 cuộn cảm song song: cuộn cảm a và cuộn cảm b, như chỉ ra trong Hình 2. Các cuộn cảm phải được kết nối để tín hiệu từ một cuộn dây ngược pha với cuộn kia. Điện thế kế P1 10 Ω để tinh chỉnh điểm cân bằng khi các cuộn cảm không được tải bởi một PICC hoặc mọi mạch nối kết từ tính. Tải điện dung của đầu dò gồm 5 điện dung kí sinh phải nhỏ hơn 14 pF.

Điện dung của các mối nối và của đầu dò máy hiện sóng nên giữ mức nhỏ nhất đối với khả năng phát lại.

Để tránh sai lệch ngoài ý muốn trong trường hợp một thiết lập không đối xứng với dải điều chỉnh của điện thế kế P1 chỉ là 10 Ω. Nếu thiết lập không thể bù bởi 10 Ω điện thế kế P1, thì nên kiểm tra sự đối xứng tổng thể của thiết lập đó.

Nối đất đầu dò máy hiện sóng trở kháng cao nên càng ngắn càng tốt, ngắn hơn 20 mm hoặc nối đồng trục.

Hình 2 – Thiết lập thử nghiệm (nguyên tắc)

5.3.1 Ăng-ten PCD thử nghiệm

Trong bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1, ăng-ten PCD thử nghiệm 1 phải có đường kính 150 mm.

Trong bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 2, ăng-ten PCD thử nghiệm 2 phải có đường kính 100 mm

Mỗi cấu trúc ăng-ten PCD thử nghiệm phải phù hợp với bản vẽ tương ứng trong Phụ lục A.

Việc làm khớp mỗi ăng-ten PCD thử nghiệm nên được thực hiện bằng cách sử dụng một bộ phân tích trở kháng hoặc một bộ phân tích mạng hoặc một đồng hồ đo LCR. Nếu một bộ phân tích trở kháng hoặc một bộ phân tích mạng hoặc một đồng hồ đo LCR không có sẵn, thì việc làm khớp có thể thực hiện theo quy trình trong Phụ lục B.

5.3.2 Cuộn cảm

Trong bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1, kích cỡ các cuộn cảm 1 phải là 100mm x 70mm với bán kính góc 10mm.

Trong bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 2, kích cỡ các cuộn cảm 2 phải là 60 mm x 47 mm với bán kính góc 10 mm.

Mỗi cấu trúc cuộn cảm phải phù hợp với bản vẽ tương ứng trong Phụ lục C.

5.3.3 Bộ lắp ráp của PCD thử nghiệm

Các cuộn cảm 1 và ăng-ten PCD thử nghiệm 1 phải được lắp song song và với các cuộn cảm và ăng-ten đồng trục và để khoảng cách giữa các điện dẫn tích cực là 37,5 mm như chỉ ra trong Hình 3, Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1.

Các cuộn cảm 2 và ăng-ten PCD thử nghiệm 2 phải được lắp song song và với các cuộn cảm và ăng-ten đồng trục và để khoảng cách các điện dẫn tích cực là 23 mm như chỉ ra trong Hình 3, Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 2.

Dung sai kích thước phải lớn hơn ± 0,5 mm. Khoảng cách giữa cuộn dây trong DUT và cuộn dây hiệu chuẩn phải bằng với cuộn dây của ăng-ten PCD thử nghiệm.

CHÚ THÍCH Các khoảng cách này được chọn để đưa ra một từ trường mạnh và đồng nhất ở vị trí DUT.

Hình 3 – Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1 và Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 2

5.4 PICC tham chiếu

Một PICC tham chiếu được xác định để thử nghiệm khả năng của một PCD để:

– tạo một cường độ trường ít nhất H_min và không vượt quá H_max;

– truyền công suất đến PICC;

– truyền một tín hiệu được điều chế đến PICC;

– nhận tín hiệu điều chế tải từ PICC;

trong bộ qui tắc hoạt động của PICC tham chiếu đó.

5.4.1 Kích thước của PICC tham chiếu

PICC tham chiếu phải gồm một vùng chứa các cuộn dây có chiều cao và chiều rộng xác định trong TCVN 11165 (ISO/IEC 7810) đối với kiểu ID-1. Bên ngoài vùng này, chứa mạch mô phỏng các chức năng PICC được yêu cầu phải được gắn theo cách giống như cho phép chèn vào các thiết lập thử nghiệm và do vậy không gây nhiễu đến thử nghiệm. Kích thước như chỉ ra trong Hình 4.

Hình 4 – Kích thước PICC tham chiếu

5.4.2 Cấu trúc PICC tham chiếu

Cấu trúc PICC tham chiếu được xác định trong Phụ lục D. Nếu các đầu nối được sử dụng giữa các cuộn và mạch, các đầu nối đó phải nhỏ nhất, nếu có, tác động đến các phép đo RF.

PICC tham chiếu phải có một sơ đồ mạch như trong Hình 5 và các giá trị thành phần như trong Bảng 2.

Hình 5 – Sơ đồ mạch PICC tham chiếu

CHÚ THÍCH Vị trí ‘d’ chân nối J1 là RFU.

Bảng 2 – Danh sách thành phần PICC tham chiếu

Yếu tố	Giá trị	Yếu tố	Giá trị
L1	Xem Phụ lục D	C1	7 pF – 50 pF ^b
L2	Xem Phụ lục D	C2	3 pF – 10 pF ^b
R1	1,8 kΩ	C3	27 pF
R2	0 kΩ – 2 kΩ ^a	C4	1 nF
R3	220 Ω	D1, D2, D3, D4	BAR43S hoặc tương đương ^c
R4	51 kΩ	Dz	BZX84,15 V hoặc tương đương ^c
R5	51 Ω	Q1a, Q1b	BCV61A hoặc tương đương
R6	500 kΩ	Q2	BSS83 hoặc tương đương
R7	110 kΩ	CMF1, CMF2, CMF3, CMF4	ACM3225 -102-2P hoặc tương đương
R8	51 Ω	CON1, CON2, CON3, CON4	Đầu nối RF
R9	1,5 kΩ
^a Nên sử dụng điện thế kế đa vòng xoắn (các vòng xoắn ≥ 10). ^b Hệ số – Q phải lớn hơn 100 tại 13,56 MHz. ^c Nên chú ý các thông số Cj (điện dung mấu nối), Cp (điện dung gói), Ls (điện cảm nối tiếp) và Rs (điện trở nối tiếp) của các đi-ốt tương đương. Chú ý rằng các giá trị này có thể không có trong bảng dữ liệu.

Tại CON1 tín hiệu điều chế tải phải được áp dụng. Điều chế tải có thể được xác định trong bộ lắp ráp PCD thử nghiệm. Khi không được sử dụng, bộ tạo tín hiệu điều chế tải phải ngắt kết nối hoặc đặt là 0 V.

Với điện áp tại CON2, tải PICC tham chiếu có thể được điều chỉnh đến khi điện áp DC yêu cầu chỉ tại CON3.

Điện áp DC PICC tham chiếu phải được đo tại CON3 sử dụng một vôn kế trở kháng cao và các dây kết nối nên là dây xoắn hoặc đồng trục.

Các thông số dạng sóng PCD thu được tại CON4 sử dụng một đầu dò máy hiện sóng trở kháng cao. Nối đất đầu dò máy hiện sóng trở kháng cao càng ngắn càng tốt, ngắn hơn 20 mm hoặc nối đồng trục.

Vị trí ‘a’ của J2 phải được sử dụng cho thử nghiệm tốc độ bit fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16.

Vị trí ‘b’ của J2 phải được sử dụng cho thử nghiệm tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2.

5.4.3 Chỉnh tần số cộng hưởng PICC tham chiếu

Tần số cộng hưởng PICC tham chiếu phải được hiệu chuẩn với quy trình sau:

a) Đặt chân nối J1 đến vị trí ‘a’

b) Kết nối cuộn dây hiệu chuẩn trực tiếp với bộ tạo tín hiệu và đầu kết nối PICC tham chiếu CON3 với vôn kế trở kháng cao. Kết nối tất cả các đầu kết nối với thiết bị tương tự như sử dụng cho thử nghiệm.

c) Định vị PICC tham chiếu với khoảng cách d = 10 mm trên cuộn dây hiệu chuẩn với các trục của 2 cuộn dây (cuộn dây hiệu chuẩn và cuộn dây chính PICC tham chiếu) tương tự nhau (xem Hình 6).

d) Vận hành cuộn dây hiệu chuẩn với sóng hình sin đặt là tần số cộng hưởng mong muốn.

e) Điều chỉnh các tụ điện PICC tham chiếu C1 và C2 để nhận điện áp DC lớn nhất ở CON3.

f) Điều chỉnh mức vận hành bộ tạo tín hiệu để đọc điện áp DC V_t_ả_i ở CON3.

g) Lặp lại các bước e) và f) cho đến khi điện áp lớn nhất sau bước e) là V_tải.

h) Hiệu chuẩn bộ lắp ráp PCD thử nghiệm để tạo điều kiện hoạt động H_m_i_n trên cuộn dây hiệu chuẩn.

i) Đặt PICC tham chiếu vào trong vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm. Chuyển chân nối J1 đến vị trí ‘b’ và điều chỉnh R2 đạt điện áp DC là V_t_ả_i đo tại đầu kết nối CON3. Điều kiện trường hoạt động được kiểm tra bởi việc giám sát điện áp trên cuộn dây hiệu chuẩn và được hiệu chỉnh, nếu cần.

j) Lặp lại các bước b) đến g) với giá trị thu được của R2.

CHÚ THÍCH Có thể sử dụng thay thế bộ tạo tín hiệu bằng một bộ phân tích mạng véc-tơ nếu đủ công suất cung cấp để tạo V_t_ả_i tại CON3 trong khi đạt đến phần điện trở lớn nhất của trở kháng phức đo được của cuộn dây hiệu chuẩn.

Hình 6 – Thiết lập điều chỉnh tần số PICC tham chiếu (nguyên tắc)

5.5 Thiết lập thử nghiệm EMD

5.5.1 Mô tả chung

Thiết lập thử nghiệm EMD gồm:

– Bộ tạo tín hiệu với tạp âm pha thấp, được sử dụng để tổng hợp cả mẫu thử nghiệm EMD và các lệnh thử nghiệm PCD gửi đến PICC trong quá trình thử nghiệm;

– Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm;

– Thiết bị phân tích biên độ tín hiệu:

– hoặc một thiết bị thu nhận tín hiệu (ví dụ máy hiện sóng) và phần mềm tính toán phù hợp,

– hoặc một bộ phân tích quang phổ (xem những điều bắt buộc bổ sung trong 5.5.2).

Thiết bị phân tích biên độ tín hiệu phải có khả năng phát công suất đối với các phép đo thời gian với tần số cố định, băng thông cố định, dải động cao, độ không đảm bảo đo thấp và độ phân giải thời gian cao.

CHÚ THÍCH Thử nghiệm EMD PICC có thể được thực hiện bằng việc sử dụng tín hiệu đầu ra RF của một PCD thương mại. Thử nghiệm EMD PICC có thể sử dụng mô phỏng PICC để tạo mẫu thử nghiệm EMD.

5.5.2 Tính toán công suất so với thời gian

Khởi đầu tín hiệu thu được phải được tạo cửa sổ Bartlett với độ chính xác 2 chu kì sóng mang điều chế. Biến đổi Fourier của các mẫu được tạo cửa sổ này tạo một giá trị công suất. Bằng cách dịch cửa sổ Bartlett qua các bước 1/fc từ khi khởi động đến lúc kết thúc tín hiệu thu được, kết quả công suất so với thời gian mong muốn được tính toán cuối cùng.

CHÚ THÍCH Kết quả băng thông 3 dB của cửa sổ được mô tả ở trên là 531 kHz và tạp âm của nó tương đương một lượng băng thông 843 kHz.

Việc tính toán công suất so với thời gian phải được thực hiện tại fc+ fs và fc – fs, sử dụng thang đo như một tín hiệu hình sin thuần túy cho kết quả biên độ đỉnh của tín hiệu đó. Một ví dụ về tính toán được đưa ra trong Phụ lục J.

Trong trường hợp sử dụng một bộ phân tích quang phổ, bộ phân tích đó phải có ít nhất một băng thông phân tích tương đương. Nó phải vượt qua thử nghiệm điều kiện ổn định trước nền tạp âm, như trong 5.5.3, và có lượng dư bổ sung 10/fc trên t_EPICC yêu cầu và không có đỉnh nhọn trên giới hạn EMD.

5.5.3 Thử nghiệm điều kiện ổn định trước nền tạp âm

5.5.3.1 Mục đích

Để đảm bảo một dải động cao và đủ nhạy, phép đo nền tạp âm phải được thực hiện và đạt qua bởi thiết lập thử nghiệm EMD. Mục đích của thử nghiệm đặt trước này là để xác minh dụng cụ được sử dụng cho phép đo mức EMD thỏa mãn một yêu cầu tạp âm nhỏ nhất.

Thử nghiệm nền tạp âm đạt qua nếu độ lệch chuẩn tạp âm nhỏ hơn ít nhất 3 lần giới hạn EMD V_{E, PICC}, khi được đo như trong 5.5.3.2.

Độ lệch chuẩn tạp âm được đo bởi việc tính giá trị căn bậc hai của trung bình bình phương của các kết quả biến đổi Fourier, như trong 5.5.2.

CHÚ THÍCH Nền tạp âm này có thể đạt được hoặc với bộ số hóa 14-bit tại một tốc độ lấy mẫu 100 triệu mẫu trên mỗi giây hoặc một máy hiện sóng kỹ thuật số 8-bit tại tốc độ lấy mẫu 1000 triệu mẫu trên mỗi giây.

5.5.3.2 Quy trình thử nghiệm

Thực hiện các bước sau để đánh giá tạp âm tại ít nhất H_min và H_max.

a) Chỉnh PICC tham chiếu đến 13,56 MHz.

b) Điều chỉnh công suất RF được truyền bởi bộ tạo tín hiệu đến ăng ten PCD thử nghiệm với cường độ trường được yêu cầu như đo được bởi cuộn dây hiệu chuẩn.

c) Đặt PICC tham chiếu vào trong vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm, đặt chân nối J1 đến vị trí ‘b’ và điều chỉnh R2 đạt đến điện áp V_t_ải tại CON3. Ngoài ra, chân nối J1 có thể đặt đến vị trí ‘c’ và điện áp tác dụng trên CON2 được điều chỉnh để đạt đến điện áp V_tải tại CON3. Trong cả 2 trường hợp, điều kiện trường hoạt động phải được kiểm tra bằng việc kiểm tra điện áp trong cuộn dây hiệu chuẩn và được hiệu chỉnh khi cần thiết.

d) Ghi tín hiệu của các cuộn cảm trong khoảng thời gian ít nhất là 250 μs.

e) Tính độ lệch chuẩn tạp âm tại fc + fs và fc -fs sử dụng phần mềm máy tính phù hợp, ví dụ như đã đưa ra trong Phụ lục J. Kiểm tra xem các độ lệch chuẩn tạp âm này có nhỏ hơn 3 lần V_E_,_PICC không.

5.5.3.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải nêu rõ độ lệch chuẩn tạp âm tại fc+ fs và fc- fs và phải nêu các yêu cầu đầy đủ.

6 Thử nghiệm thông số trong TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1)

6.1 Thử nghiệm PCD

6.1.1 Từ trường luân phiên

6.1.1.1 Mục đích

Thử nghiệm này xác định PCD tạo một trường không cao hơn giá trị trung bình được qui định trong TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1), tại mọi vị trí PICC có thể có.

6.1.1.2 Quy trình thử nghiệm

a) Chỉnh PICC 1 tham chiếu đến 19 MHz như trong 5.4.3 các bước a) đến g).

b) Hiệu chuẩn bộ lắp ráp PCD thử nghiệm để tạo giá trị trường trung bình được qui định trong 4.4, TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1) trên cuộn dây hiệu chuẩn.

c) Đặt PICC tham chiếu vào trong vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm. Chuyển chân nối J1 đến vị trí ‘b’ và điều chỉnh R2 đạt điện áp DC bằng 3 V đo tại đầu kết nối CON3. Điều kiện trường hoạt động được kiểm tra bởi việc giám sát điện áp trên cuộn dây hiệu chuẩn và được hiểu chỉnh, nếu cần.

CẢNH BÁO – Giá trị R2 nên ở khoảng giữa 55 Ω và 65 Ω.

d) Vị trí PICC 1 tham chiếu tại mọi vị trí PICC có thể. Điện áp DC ở CON3 phải không vượt quá 3 V.

e) Nếu vượt quá, sử dụng cùng một hệ số biến đổi để đo điện áp DC lớn nhất và trung bình và biến đổi cường độ trường để kiểm tra các giá trị trường lớn nhất và trung bình trong khoảng thời gian 30 s qui định trong 4.4, TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1).

6.1.1.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra điện áp DC đo được tại CON3.

6.2 Thử nghiệm PICC

6.2.1 Từ trường luân phiên

6.2.1.1 Mục đích

Mục đích của thử nghiệm này là kiểm tra cách hoạt động của PICC trong mối quan hệ với từ trường luân phiên phơi nhiễm tại 13,56 MHz.

6.2.1.2 Dụng cụ

Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm phải sử dụng để tạo từ trường luân phiên.

6.2.1.3 Quy trình thử nghiệm

Quy trình như sau:

a) Phù hợp với lớp PICC, điều chỉnh công suất RF được cấp bởi bộ tạo tín hiệu đến ăng-ten PCD thử nghiệm để cường độ trường của mức trung bình được qui định trong 4.4, TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1) như được đo bởi cuộn dây hiệu chuẩn.

b) Đặt PICC đang thử nghiệm ở vị trí DUT và ngay lập tức điều chỉnh lại phần điều khiển RF vào ăng-ten PCD thử nghiệm đến cường độ trường được yêu cầu, nếu cần.

c) Sau 5 min, gỡ bỏ PICC khỏi vị trí DUT trong ít nhất 5 s.

d) Để phù hợp với lớp PICC, điều chỉnh công suất RF được cấp bởi bộ tạo tín hiệu đến ăng-ten PCD thử nghiệm để cường độ trường của mức trung bình được qui định trong 4.4, TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1) như được đo bởi cuộn dây hiệu chuẩn.

e) Đặt PICC đang thử nghiệm ở vị trí DUT và ngay lập tức điều chỉnh lại phần điều khiển RF vào ăng-ten PCD thử nghiệm đến cường độ trường được yêu cầu, nếu cần.

f) Áp dụng trong 5 min một điều chế ASK 100 % đối với trường này với chu kì tác nhiệm sau:

– 5 s tại 0 A/m (rms);

– 25 s tại mức lớn nhất được qui định trong 4.4, TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1), phù hợp với lớp PICC.

g) Kiểm tra các hoạt động PICC như dự định.

6.2.1.4 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải nêu có hay không các hoạt động PICC như dự định.

6.2.2 Thử nghiệm điện tĩnh

6.2.2.1 Mục đích

Mục đích của thử nghiệm này là để kiểm tra cách hoạt động của thẻ IC trong mối quan hệ với phóng tĩnh điện (ESD) phơi nhiễm trong mẫu thử nghiệm. PICC đang thử nghiệm bị phơi nhiễm với phóng tĩnh điện được mô phỏng (ESD, mô hình cơ thể con người) và hoạt động cơ bản của PICC đã kiểm tra sau khi phơi nhiễm (xem Hình 7).

Hình 7 – Mạch thử nghiệm ESD

6.2.2.2 Dụng cụ

Tham khảo IEC 61000-4-2:2008.

a) Qui định kỹ thuật chính của bộ tạo ESD:

– điện dung lưu trữ năng lượng: 150 pF ± 10 %;

– điện trở phóng: 330 Ω ± 10 %;

– điện trở nạp: giữa 50 MΩ và 100 MΩ ;

– thời gian gia tăng: 0,7 ns đến 1 ns.

b) Qui định kỹ thuật được chọn từ các hạng mục tùy chọn:

– kiểu thiết bị: thiết bị đầu bàn thử;

– phương pháp phóng: áp dụng trực tiếp phóng không khí đến thiết bị đang thử nghiệm;

– các điện cực phóng của bộ tạo ESD: đầu dò mũi tròn có đường kính 8 mm.

6.2.2.3 Quy trình thử nghiệm

Nối chân nối đất của dụng cụ với tấm dẫn điện đặt PICC.

Áp dụng phóng liên tục trong phân cực thông thường đối với mỗi vùng trong 20 vùng thử nghiệm như trong Hình 8. Sau đó lặp lại quy trình tương tự với phân cực đảo ngược. Cho phép giai đoạn giảm mát giữa các xung liên tiếp trong ít nhất 10 s.

CẢNH BÁO – Nếu PICC gồm các tiếp xúc, tiếp xúc nên đối diện nhau và vùng có các tiếp xúc không nên phơi nhiễm với việc phóng này.

Kiểm tra các hoạt động như dự định khi kết thúc thử nghiệm.

Hình 8 – Các vùng thử nghiệm trên PICC đối với thử nghiệm ESD

6.2.2.4 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải nêu có hay không các hoạt động như dự định.

6.3 Thử nghiệm PXD

Thử nghiệm PCD và PICC phải được áp dụng như sau:

– khi PXD trong chế độ PCD, phải áp dụng thử nghiệm được xác định trong 6.1;

– khi PXD trong chế độ PICC, phải áp dụng thử nghiệm được xác định trong 6.2.

Trong chế độ luân phiên tự động, PXD có thể bị bắt buộc vào chế độ được yêu cầu.

7 Thử nghiệm thông số của TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2)

7.1 Thử nghiệm PCD

Tất cả các thử nghiệm PCD mô tả dưới đây phải được thực hiện theo bộ qui tắc hoạt động như định nghĩa bởi nhà sản xuất PCD đối với từng lớp được hỗ trợ.

Tất cả các thử nghiệm PCD về thông số của TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2) phải được thực hiện bởi các PICC tham chiếu 1, 2 và 3 và các PICC tham chiếu tương ứng tùy chọn khác để các lớp tùy chọn được hỗ trợ bởi PCD, với các thông số và bộ lắp ráp PCD thử nghiệm liên quan như trong Bảng 3.

Bảng 3 – Lớp các thông số

Lớp	PICC tham chiếu	V_tải	R2_mi_n	R2_ma_x	Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm
1	1	6 V	870 Ω	1070 Ω	Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1
2	2	4,5 V	1030 Ω	1260 Ω	Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1
3	3	4,5 V	1080 Ω	1320 Ω	Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1
4	4	4,5 V	990 Ω	1210 Ω	Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 2
5	5	4,5 V	960 Ω	1170 Ω	Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 2
6	6	4,5 V	700 Ω	900 Ω	Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 2

CHÚ THÍCH V_tải có thể phù hợp với 4,5 V cho tất cả các lớp trong các phiên bản tương lai của tiêu chuẩn này.

7.1.1 Cường độ trường PCD

7.1.1.1 Mục đích

Thử nghiệm này đo cường độ trường tạo bởi một PCD trong bộ qui tắc hoạt động của PCD đó. Giá trị cường độ trường lớn nhất và nhỏ nhất được sử dụng với mỗi PICC tham chiếu đã cho trong Bảng 1, TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443–2).

CHÚ THÍCH Thử nghiệm có tính đến tải PICC của PCD.

7.1.1.2 Quy trình thử nghiệm

7.1.1.2.1 Quy trình cho thử nghiệm H_max

a) Chỉnh PICC tham chiếu đến 19 MHz như trong 5.4.3 các bước từ a) đến g).

b) Hiệu chuẩn bộ lắp ráp PCD thử nghiệm để tạo điều kiện hoạt động H_max trên cuộn dây hiệu chuẩn.

c) Đặt PICC tham chiếu vào trong vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm. Chuyển chân nối J1 đến vị trí ‘b’ và điều chỉnh R2 đạt điện áp DC bằng 3 V đo tại đầu kết nối CON3. Ngoài ra, chân nối J1 có thể được đặt là vị trí ‘c’ và điện áp tác dụng trên CON2 được điều chỉnh đạt đến điện áp DC 3 V ở đầu kết nối CON3. Trong cả 2 trường hợp, điều kiện trường hoạt động phải được xác bởi việc giám sát điện áp trên cuộn dây hiệu chuẩn và được điều chỉnh, nếu cần.

CẢNH BÁO – Giá trị R2 nên nằm giữa 75 và 85 Ω. Kểm tra dải này ít nhất 1 lần trước khi sử dụng phương pháp thay thế.

d) Vị trí PICC tham chiếu trong bộ qui tắc hoạt động xác định của PCD đang thử nghiệm. Điện áp DC tại CON3 không được vượt quá 3 V.

7.1.1.2.2 Quy trình cho thử nghiệm H_m_in

a) Chỉnh PICC tham chiếu đến 13,56 MHz như trong 5.4.3.

b) Đặt PICC tham chiếu vào vị trí DUT trên việc sản xuất bộ lắp ráp PCD thử nghiệm với điều kiện vận hành Hmin trên cuộn dây hiệu chuẩn. Kiểm tra chân nối J1 được thiết lập ở vị trí ‘b’ và điện áp DC V_tả_i như trong Bảng 3 đo tại đầu nối CON3. Ngoài ra, chân nối J1 được thiết lập ở vị trí ‘c’ và điện áp trên đầu nối CON2 được điều chỉnh để có được điện áp DC V_tải như trong Bảng 3 tại đầu nối CON3. Trong cả hai trường hợp, điều kiện trường hoạt động phải được kiểm tra bằng việc kiểm tra điện áp trên cuộn dây hiệu chuẩn và điều chỉnh nếu cần.

CẢNH BÁO – Giá trị R2 nên nằm giữa R2_m_i_n và R2_max như trong Bảng 3. Kểm tra dải này ít nhất 1 lần trước khi sử dụng phương pháp thay thế.

c) Vị trí PICC tham chiếu trong bộ qui tắc hoạt động xác định của PCD đang thử nghiệm. Điện áp DC tại CON3 không được vượt quá V_tải như trong Bảng 3.

7.1.1.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải kiểm tra bộ qui tắc hoạt động trong điện áp DC đo được tại CON3 cho R2 hoặc điện trở tải biến thiên điều chỉnh đến cường độ trường H_min và H_max thỏa mãn các yêu cầu được xác định trong các bước cuối cùng của 2 quy trình trong phần 7.1.1.2.

7.1.2 Bỏ trống

Hoạt động hỗ trợ cường độ trường PCD với các PICC “Lớp 1”, được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xóa bỏ.

7.1.3 Bỏ trống

Truyền tải công suất PCD đến PICC được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xoá bỏ.

7.1.4 Chỉ số điều chế và dạng sóng

7.1.4.1 Mục đích

Thử nghiệm này được sử dụng để xác định chỉ số điều chế của trường PCD cũng như số lần gia tăng và giảm xuống và các giá trị vượt quá như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2) cho tất cả các tốc độ bit từ PCD được hỗ trợ đến PICC.

7.1.4.2 Quy trình

a) Vị trí cuộn dây hiệu chuẩn tại một vị trí tùy ý trong bộ qui tắc hoạt động xác định và hiển thị điện áp cuộn cảm trên một máy hiện sóng phù hợp. Xác định chỉ số điều chế và đặc tính dạng sóng bằng cách sử dụng công cụ phân tích xác định trong Phụ lục E.

b) Chỉnh PICC tham chiếu đến 16,5 MHz như trong 5.4.3 các bước từ a) đến g) và chuyển chân nối J1 đến vị trí ‘c’.

c) Đặt PICC tham chiếu tại một vị trí riêng trong bộ qui tắc hoạt động PCD.

d) Tác dụng và điều chỉnh điện áp DC tại CON2 để đạt điện áp DC tại đầu kết nối CON3 V_tải như trong Bảng 3.

Nếu điện áp DC V_t_ả_i không thể đạt đến vị trí được chọn, thì nên dùng điện áp đạt được lớn nhất cho thử nghiệm.

e) Nếu điện áp chưa điều chế trên CON4, thì được đo với máy hiện sóng phù hợp (các yêu cầu xem 5.1.1) dưới 1 V (đỉnh-tới-đỉnh), sử dụng một cuộn dây thụ âm thay thế để xác định đặc tính dạng sóng.

Cuộn dây thụ âm thay thế này nên có một hình dạng “số 8” với bán kính 15 mm cách PICC tham chiếu xa nhất để nối kết nhỏ nhất và càng gần ăng-ten PCD càng tốt để có điện áp cảm ứng lớn nhất.

f) Xác định chỉ số điều chế và đặc tính dạng sóng từ điện áp tại CON4 hoặc tại cuộn dây thụ âm thay thế sử dụng công cụ phân tích xác định trong Phụ lục E.

g) Lặp lại các bước c) đến f) cho các vị trí khác nhau trong bộ qui tắc hoạt động và tất cả các tốc độ bit từ PCD được hỗ trợ đến PICC.

CHÚ THÍCH 1 Vị trí được chọn của cuộn dây hiệu chuẩn trong bộ qui tắc hoạt động dự kiến không ảnh hưởng đến kết quả.

CHÚ THÍCH 2 Tải PICC tham chiếu không thể hiện tác động tải trong trường hợp xấu nhất của PICC. Các tác động tải cao hơn có thể đạt được với tần số cộng hưởng gần với tần số sóng mang (ví dụ như 15 MHz hoặc 13,56 MHz).

7.1.4.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra chỉ số điều chế đo được của trường PCD, số lần gia tăng và giảm xuống và các giá trị vượt quá, trong bộ qui tắc hoạt động xác định trong các điều kiện có tải và không tải.

7.1.5 Tiếp nhận điều chế tải tiếp nhận

7.1.5.1 Mục đích

Thử nghiệm này được dùng để kiểm tra rằng PCD phát hiện chính xác điều chế tải của một PICC phù hợp với TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2) cho các tốc độ bit từ PICC đến PCD fc/128, fc/8, fc/4 và fc/2, nếu được hỗ trợ.

7.1.6.2 Quy trình thử nghiệm

PICC tham chiếu và quy trình hiệu chuẩn PICC cho phép đánh giá độ nhạy của một PCD đến điều chế tải. PICC tham chiếu không mô phỏng tác động tải của tất cả kiểu PICC.

a) Chỉnh PICC tham chiếu đến 13,56 MHz như trong 5.4.3 và chuyển chân nối J1 đến vị trí ‘c’.

b) Đặt PICC tham chiếu tại một vị trí riêng trong bộ qui tắc hoạt động PCD.

c) Tác dụng và hiệu chỉnh điện áp DC ở CON2 để đạt điện áp DC ở đầu kết nối CON3 V_tải như trong Bảng 3.

d) Tăng biên độ tín hiệu điều chế ở CON1 để tạo các đáp ứng cho đến khi PCD phát hiện ít nhất 10 biên độ liên tục

e) Đặt PICC tham chiếu trong vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm.

f) Điều chỉnh bộ lắp ráp PCD thử nghiệm để tạo một cường độ trường H cho điện áp tương tự tại CON3 và ghi chú cường độ trường tương ứng bởi việc đọc điện áp cuộn dây hiệu chuẩn.

g) Đo biên độ điều chế tải PICC tham chiếu V_LMA như trong 7.2.1 và so sánh nó với giới hạn chuẩn V_LMA_,_PCD liên quan đến cường độ trường được lưu ý. Mức V_LMA được đo này xác định các tiêu chí độ nhạy PCD để so sánh với giới hạn chuẩn V_LMA,PCD để tiến hành các phép đo thử nghiệm này.

h) Lặp lại các bước b) đến g) cho các vị trí khác nhau trong bộ qui tắc hoạt động cho các tốc độ bit từ PICC đến PCD fc/128, fc/8, fc/4 và fc/2, nếu được hỗ trợ.

i) Lặp lại các bước a) đến h) với tần số cộng hưởng PICC tham chiếu 15 MHz.

Bất kì vị trí nào có độ nhạy PCD trên giới hạn chuẩn V_LMA_,_PCD phải xem xét ngoài bộ qui tắc hoạt động.

Khoảng đo thử nghiệm có thể được mở rộng bởi việc dùng các tần số cộng hưởng dưới 13,56 MHz cũng như 12 MHz và 10 MHz.

Độ nhạy PCD nên dưới giới hạn chuẩn V_LMA,PCD để đảm bảo việc tiếp nhận tốt của điều chế tải PICC.

CHÚ THÍCH Thử nghiệm này không kiểm tra việc nhận PCD độc lập với pha điều chế tải PICC. Do đó, nó không thể đảm bảo nhận chính xác bất kì biên độ PICC phù hợp với TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

7.1.5.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra độ nhạy điều chế tải PCD cho các vị trí đã thử nghiệm.

7.1.6 Thử nghiệm miễn dịch EMD PCD

7.1.6.1 Mục đích

Mục đích của thử nghiệm này là xác định xem PCD không nhạy với bất kỳ biên độ điều chế tải dưới V_E,PCD hay không.

7.1.6.2 Quy trình

a) Chỉnh PICC tham chiếu đến 13,56 MHz như trong 5.4.3 và chuyển chân nối J1 đến vị trí ‘c’.

b) Đặt PICC tham chiếu tại vị trí được chỉ định theo bộ qui tắc hoạt động PCD.

c) Tác dụng và điều chỉnh điện áp DC tại CON2 để đạt điện áp DC tại điểm kết nối CON3 là V_tả_i như trong Bảng 3.

d) Gửi mẫu thử nghiệm như chỉ ra trong Hình 9. Mẫu thử nghiệm là một khung tiêu chuẩn hợp lệ bao gồm một byte đơn (01011101)b. Biên độ điều chế tải ban đầu V_EMD của mẫu thử nghiệm phải đủ thấp để PCD phát hiện trả lời PICC được gửi trong bước e).

e) Ngay sau mẫu thử nghiệm này, việc áp dụng không có khoảng cách, gửi trả lời PICC thích hợp đến lệnh PCD với biên độ điều chế tải V_LMA, được đo như trong 7.2.1, ở một mức độ cao hơn, ví dụ cặp đôi lần, hơn giá trị nhỏ nhất của cường độ trường đã áp dụng H.

f) Tăng V_EMD bằng cách điều chỉnh điện áp tại CON1 cho đến khi PCD không còn phát hiện câu trả lời chính xác. Điều này có thể xác định bằng việc kiểm tra lệnh PCD tiếp theo ngay sau trả lời PICC, xem Hình 9.

g) Đặt PICC tham chiếu vào trong vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm.

h) Điều chỉnh bộ lắp ráp PCD thử nghiệm để tạo ra cường độ trường H đưa ra cùng điện áp tại CON3 và chú ý cường độ trường tương ứng bởi việc đọc điện áp cuộn dây hiệu chuẩn.

i) Trích dẫn giá trị hiện tại của V_EMD trên PICC tham chiếu bởi việc áp dụng số đo công suất so với thời gian như trong 5.5.2.

j) So sánh giá trị VEMD đo được này với V_E_,_PCD.

Lặp lại các bước b) đến j) cho các vị trí được chỉ định khác theo bộ qui tắc hoạt động.

Hình 9 – Thử nghiệm miễn dịch PCD (chung cho Kiểu A và Kiểu B)

7.1.6.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải nêu rõ PCD không nhạy với bất kỳ biên độ điều chế tải dưới V_E,PCD.

7.1.7 Thử nghiệm khôi phục EMD PCD

7.1.7.1 Mục đích

Mục đích của thử nghiệm này là xác định xem PCD có bị nhiễu bởi mẫu thử nghiệm được gửi t_E_,_PCD trước khi PICC trả lời.

7.1.7.2 Quy trình

a) Chỉnh PICC tham chiếu đến 13,56 MHz như trong 5.4.3.

b) Hiệu chỉnh bộ lắp ráp PCD thử nghiệm để tạo H_min điều kiện vận hành theo cuộn hiệu chỉnh.

c) Đặt PICC tham chiếu vào trong vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm. Đóng chân nối J1 đến vị trí ‘c’ và điều chỉnh điện áp DC tại CON2 để đạt đến điện áp DC tại đầu nối CON3 là V_tải như trong Bảng 3. Điều kiện trường hoạt động phải được kiểm tra bằng việc kiểm tra điện áp trong cuộn dây hiệu chỉnh và điện áp điều chỉnh khi cần thiết.

d) Tìm điện áp truyền động phù hợp tại CON1 để tạo ra biên độ điều chế tải V_L_MA, được đo như trong 7.2.1, cao hơn giới hạn cho H_min, xác định trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

e) Đặt PICC tham chiếu tại một vị trí theo bộ qui tắc hoạt động PCD với V_t_ả_i đạt được tại CON3.

f) Gửi một trình tự, như minh họa trong Hình 10 sử dụng tE,PCD kết hợp với FDT/TR0 nhỏ nhất,

CHÚ THÍCH 1 Thời gian EMD thấp t_E_,_PCD là một chức năng của FDT/TR0 như trong 8.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

– Một mẫu thử nghiệm, bắt đầu gửi 2 dữ liệu bit b1 = (0)b sau b2 = (1)b theo cách hợp lệ đến PCD, nhưng ngắt ngay lập tức sau khi bit thứ 2 được gửi, như minh họa trong Hình 11 cho Kiểu A và Hình 12 cho Kiểu B.

CHÚ THÍCH 2 Phụ thuộc vào FDT/TR0, mẫu thử nghiệm có thể bắt đầu trước khi kết thúc lệnh PCD.

– Giai đoạn chưa điều chế tải trong khoảng thời gian t_E_,_PCD,

– Trả lời thích hợp đối với lệnh PCD.

g) Kiểm tra nếu các cách hoạt động PCD theo cách tương tự như khi không có mẫu thử nghiệm. Điều này có thể được đo bằng việc kiểm tra lệnh PCD tiếp theo sau PICC trả lời, xem Hình 10.

h) Lặp lại các bước f) và g) 10 lần.

i) Lặp lại các bước f) đến h) thay thế FDT/TR0 nhỏ nhất bằng FDT/TR0 lớn nhất.

Hình 10 – Trình tự thử nghiệm khôi phục EMD (chung cho Kiểu A và Kiểu B)

Hình 11 – Mẫu thử nghiệm cho thử nghiệm khôi phục EMD (Kiểu A)

Hình 12 – Mẫu thử nghiệm cho thử nghiệm khôi phục EMD (Kiểu B)

7.1.7.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải báo cáo xem PCD có bị nhiễu bởi mẫu thử nghiệm gửi t_E_,_PCD trước khi PICC trả lời (hoặc có thể khôi phục mẫu thử nghiệm).

7.2 Thử nghiệm PICC

7.2.1 PICC truyền dẫn

7.2.1.1 Mục đích

Mục đích của thử nghiệm này là để xác định biên độ điều chế tải V_LMA của PICC trong khoảng trường vận chuyển [Hmin, Hmax] như qui định trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2) cho các tốc độ bit từ PICC đến PCD fc/128, fc/8, fc/4 và fc/2, nếu được hỗ trợ. Ngoài chức năng của PICC đối với Kiểu A và Kiểu B trong các khoảng điều chế tương ứng như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2) phải được xác định.

7.2.1.2 Quy trình thử nghiệm

Bước 1:

Mạch thử nghiệm điều chế tải ở Hình 2 và bộ lắp ráp PCD thử nghiệm ở Hình 3 xác định cho lớp PICC (xem 8.2.2, TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2)) được sử dụng. Nếu PICC không yêu cầu phù hợp với các yêu cầu của một lớp riêng như qui định trong TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1), chọn bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1.

Điều chỉnh công suất RF được truyền bởi bộ tạo tín hiệu đến ăng-ten PCD thử nghiệm để đáp ứng cường độ trường đã đo được bởi cuộn dây hiệu chuẩn. Kết nối đầu ra của mạch thử nghiệm điều chế tải ở Hình 2 với máy hiện sóng lấy mẫu kỹ thuật số. 10 Ω điện thế kế P1 phải được cắt giảm tối thiểu sóng mang còn lại. Tín hiệu này phải ít nhất là 40 dB thấp hơn tín hiệu đạt được bởi việc làm ngắn mạch một cuộn cảm.

CẢNH BÁO – Thử nghiệm biên độ điều chế tải PICC phải được thực hiện bởi cường độ trường từ 0 A/m (rms), do đó việc kiểm tra sự hoạt động PICC đúng bắt đầu từ H_min.

Bước 2:

PICC đang thử nghiệm phải được đặt trong vị trí DUT, trung tâm của cuộn cảm a. RF vận hành trong ăng-ten PCD thử nghiệm phải được điều chỉnh lại để đáp ứng cường độ trường.

Một lệnh liên tục REQA hoặc REQB như trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) phải được gửi bởi thử nghiệm PCD để đạt được một tín hiệu hoặc đáp ứng điều chế tải từ PICC khi thử nghiệm truyền dẫn PICC tại một tốc độ bit fc/128. Một S(PARAMETERS) liên tục như trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) và một khối-l phải được gửi bằng PCD thử nghiệm để đạt một tín hiệu hoặc đáp ứng điều chế tải từ PICC khi thử nghiệm truyền dẫn PICC tùy chọn các tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2.

CHÚ THÍCH Không có thử nghiệm điều chế tải được yêu cầu cho các tốc độ bit fc/64, fc/32 và fc/16 vì các tốc độ bit này sử dụng tần suất sóng mang điều chế như nhau là c/128.

Hiển thị một đoạn của ít nhất 6 chu kì dạng sóng của điều chế tải sóng mang điều chế trên trên máy hiện sóng lấy mẫu kĩ thuật số và lưu trữ dữ liệu lấy mẫu trong một tập tin để phân tích bởi một chương trình phần mềm máy tính (xem Phụ lục F).

Chú ý trong việc áp dụng phương pháp đồng bộ hóa riêng cho điều chế tải biên độ thấp.

Biến đổi Fourier với đúng một cửa sổ Bartlett 6 chu kì sóng mang điều chế của điều chế dạng sóng mẫu sử dụng phù hợp với phần mềm máy tính (như một phần trong Phụ lục F). Sử dụng một biến đổi Fourier rời rạc với tỷ lệ như là những kết quả tín hiệu hình sin thuần khiết trong biên độ đỉnh của nó. Để giảm thiểu ảnh hưởng tạm thời, tránh việc phân tích một chu kì sóng mang điều chế tức thời sau một giai đoạn chưa điều chế hoặc một pha chuyền sóng mang điều chế. Sự biến đổi Fourier rời rạc phải được thực hiện tại các tần số giải biên được tạo bởi PICC đang thử nghiệm, ví dụ fc + fs và fc – fs.

Kết quả các biên độ đỉnh của giải biên cao hơn và thấp hơn tại fc + fs và fc – fs phải nằm trên giá trị xác định 8.2.2, trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

CHÚ THÍCH 2 Đối với thử nghiệm điều chế tải PICC Kiểu B, tùy chọn máy hiện sóng FFT (Fast Fourier Transform) cũng có thể sử dụng trên một số lượng lớn của các chu kì sóng mang điều chế với hoặc không hiệu ứng tạm thời hoặc không chuyển pha (ví dụ trên một phần ổn định của thời gian đồng bộ hóa TR1 xác định trong 9.2.5 TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2) hoặc trên một phần ổn định của SOF xác định trong 7.1.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

7.2.1.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra các biên độ đỉnh đo được của các giải biên cao hơn và thấp hơn tại fc + fs và fc – fs và các trường và các điều chế được áp dụng.

7.2.2 Mức độ EMD PICC và thử nghiệm thời gian EMD thấp

7.2.2.1 Mục đích

Mục đích của thử nghiệm này là xác định PICC không tạo ta một biên độ nhiễu điện V_EMD cao hơn V_E_,_PICC trong t_E_,_PICC với trường hợp ngoại lệ xác định trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

CHÚ THÍCH 1 Thời gian EMD thấp t_E,PICC là một chức năng của FDT/TR0 như trong 8.2, ISO/IEC 14443-3.

CHÚ THÍCH 2 EMD giới hạn V_E_,_PICC là một chức năng của cường độ trường.

7.2.2.2 Các yêu cầu tạp âm

Để đảm bảo một dãy động cao và đủ độ nhạy với EMD, điều kiện ổn định trước thử nghiệm nền tạp âm xác định trong 5.5.3 phải thực hiện trước thử nghiệm này.

7.2.2.3 Các lệnh thử nghiệm

Thử nghiệm EMD PICC phải được thực hiện theo các lệnh của ISO/IEC 14443-3. Tùy thuộc vào ứng dụng PICC, các lệnh lớp cao hơn bổ sung phải bao hàm trong kế hoạch thử nghiệm.

7.2.2.4 Quy trình

Thử nghiệm này phải thực hiện ít nhất áp dụng H_min và H_max. Việc sử dụng bộ lắp ráp PCD thử nghiệm, thực hiện theo các bước sau:

a) Điều chỉnh công suất RF được truyền bởi bộ tạo tín hiệu đến ăng ten PCD thử nghiệm với cường độ trường được yêu cầu như đo được bởi cuộn dây hiệu chuẩn.

b) Đặt PICC trong điều kiện thử nghiệm vào vị trí DUT. Ổ đĩa RF vào trong ăng ten PCD thử nghiệm phải được điều chỉnh lại theo cường độ trường được yêu cầu nếu cần thiết.

c) Thiết lập lại PICC bằng cách đóng và mở trường RF; sau đó nếu cần thiết gửi một chuyển của các lệnh liên tiếp để đặt PICC trong trạng thái khởi động thử nghiệm, (xem Phụ lục G.3.3.2.1 cho PICC Kiểu A và Phụ lục G.4.4.1.1 cho PICC Kiểu B).

d) Gửi lệnh được thử nghiệm.

e) Ghi tín hiệu cuộn cảm trong một khoảng thời gian ít nhất 200 μs trước khi bắt đầu hệ sóng mang điều chế PICC. Ngoài ra, ghi ít nhất 50 μs sau khi sóng mang điều chế được phát hiện đầu tiên để đo chính xác vị trí trả lời PICC.

f) Đo giá trị t_E_,_PICC từ tín hiệu thu được: nếu PCD điều chế hiện rõ dấu hiệu thì đo thời gian giữa cạnh tăng cuối cùng của PCD điều chế và sự bắt đầu tạo sóng mang điều chế PICC và tính t_E_,_PICC với công dưa đã có trong 8.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3); nếu PCD điều chế không thể hiện dấu hiệu thì t_E_,_PICC bằng với giá trị lớn nhất của nó trong 8.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

g) Tính toán cường độ tín hiệu tại các tần số fc + fs và fc – fs như một chức năng thời gian như trong 5.5.2.

h) Việc sử dụng dữ liệu đạt được trong bước g), xác định xung nhịp thời gian t_START tương ứng với nửa bên trên biên độ băng trong cạnh tăng lên của việc truyền PICC. Kiểm tra về biên độ tín hiệu trong khoảng thời gian [t_START – _tE_,_PICC; t_START – 10/fc] tuân thủ các yêu cầu xác định trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

i) Lặp lại bước h) cho tần số băng tần thấp hơn.

j) Lặp lại các bước d) đến i) cho lệnh thử nghiệm tiếp theo.

7.2.2.5 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải nêu xem mức độ EMD PICC trong khoảng t_E_,_PICC tuân thủ các yêu cầu xác định trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

Hơn nữa các báo cáo thử nghiệm phải cung cấp các mức độ nhiễu điện tối đa đo được của các dải băng cao và thấp hơn tại fc + fs và fc – fs trong t_E_,_PICC. Một biểu đồ hiển thị mức EMD trong t_E,PICC phải được đưa vào báo cáo trong trường hợp thử nghiệm không đạt.

7.2.3 Tiếp nhận PICC

7.2.3.1 Mục đích

Mục đích của thử nghiệm này là để kiểm tra khả năng PICC nhận các lệnh PCD.

7.2.3.2 PICC Kiểu A cho các tốc độ bit PCD đến PICC fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16

7.2.3.2.1 Các điều kiện cho tốc độ bit PCD đến PICC fc/128

Ba điều kiện thử nghiệm được xác định với việc định xung nhịp thời gian tại ranh giới của dạng sóng điều chế PICC kiểu A định xung nhịp thời gian vùng các thông số xác định trong Hình 4, TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2):

– Điều kiện 1: : t1 -12 lớn nhất và t3 lớn nhất, không đạt vượt ngưỡng:

– Điều kiện 2: t1 -12 nhỏ nhất đạt được (với bộ lắp ráp PCD thử nghiệm) và t3 lớn nhất liên quan, đạt vượt ngưỡng lớn nhất:

– Điều kiện 3: t3 nhỏ nhất đạt được (với bộ lắp ráp PCD thử nghiệm) và t1 -12 lớn nhất liên quan, và vượt ngưỡng lớn nhất.

Biên độ sóng mang tại thời điểm kết thúc t2 phải ít hơn 4 %.

Ba điều kiện thử nghiệm này phải được thử nghiệm việc sử dụng ít nhất Hmin và Hmax trong khi thông số t1 là giá trị được qui định lớn nhất khi điều kiện 1 và 3 được sử dụng và là giá trị được qui định nhỏ nhất khi điều kiện 2 được sử dụng.

7.2.3.2.2 Các điều kiện cho tốc độ bit PCD đến PICC fc/64, fc/32 và fc/16

3 điều kiện thử nghiệm được xác định với việc định xung nhịp thời gian tại ranh giới của dạng sóng điều chế PICC kiểu A định xung nhịp thời gian vùng các thông số xác định trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2), các Hình 7, 8 và 9:

– Điều kiện 1: t1 -15 lớn nhất và t6 lớn nhất, không vượt ngưỡng;

– Điều kiện 2: t1 -15 nhỏ nhất đạt được (với bộ lắp ráp PCD thử nghiệm) và t6 lớn nhất liên quan, đạt vượt ngưỡng lớn nhất;

– Điều kiện 3: t6 nhỏ nhất đạt được (với bộ lắp ráp PCD thử nghiệm) và t1 -15 lớn nhất liên quan, và đạt vượt ngưỡng lớn nhất.

Ba điều kiện thử nghiệm này phải được thử nghiệm việc sử dụng ít nhất H_min và H_max trong khi:

– thông số a là giá trị được qui định lớn nhất khi điều kiện 1 được sử dụng và là giá trị nhỏ nhất có thể đạt được cho bộ lắp ráp PCD thử nghiệm khi điều kiện 2 và điều kiện 3 được sử dụng;

– thông số t1 là giá trị được qui định lớn nhất khi điều kiện 1 và điều kiện 3 được sử dụng và là giá trị được qui định nhỏ nhất khi điều kiện 2 được sử dụng.

7.2.3.2.3 Quy trình thử nghiệm

Trong các điều kiện xác định trong 7.2.3.2.1 PICC phải trả lời cho REQA với ATQA.

Đối với mỗi tốc độ bit PCD đến PICC tùy chọn được hỗ trợ bằng PICC, PICC phải vận hành trong các điều kiện xác định trong 7.2.3.2.2 sau khi lựa chọn tốc độ bit đó. PICC phải đáp ứng chính xác một khối-l được truyền tại tốc độ bit tùy chọn đó.

7.2.3.3 PICC Kiểu B cho các tốc độ bit PCD đến PICC fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16

7.2.3.3.1 Các điều kiện thử nghiệm

3 điều kiện thử nghiệm được xác định với việc định xung nhịp thời gian tại ranh giới của dạng sóng điều chế PICC kiểu B định xung nhịp thời gian vùng các thông số xác định trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2:-9.1.2):

– Điều kiện 1: t_f lớn nhất và t_r lớn nhất, không dưới ngưỡng và vượt ngưỡng;

– Điều kiện 2: t_f nhỏ nhất đạt được (với bộ lắp ráp PCD thử nghiệm) và t_r lớn nhất liên quan, dưới và đạt vượt ngưỡng lớn nhất;

– Điều kiện 3: t_r nhỏ nhất đạt được (với bộ lắp ráp PCD thử nghiệm) và t_f lớn nhất liên quan, dưới và đạt vượt ngưỡng lớn nhất.

Ba điều kiện thử nghiệm này phải được thử nghiệm việc sử dụng ít nhất:

– H_min và H_max;

– chỉ số điều chế nhỏ nhất và lớn nhất m cho cường độ trường liên quan được áp dụng (xem 9.1.2, TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

7.2.2.3.2 Quy trình thử nghiệm

Trong các điều kiện xác định trong 7.2.3.3.1 việc vận hành PICC tại một tốc độ bit fc/128 phải trả lời cho REQB với ATQB.

Đối với mỗi tốc độ bit PCD đến PICC tùy chọn được hỗ trợ bằng PICC, PICC phải vận hành trong các điều kiện xác định trong 7.2.3.2.1 sau khi lựa chọn tốc độ bit đó. PICC phải đáp ứng chính xác một khối-l được truyền tại tốc độ bit tùy chọn đó.

7.2.3.4 PICC Kiểu A hoặc Kiểu B cho các tốc độ bit PCD đến PICC fc/8, fc/4 và fc/2

Xem 7.2.3.3

7.2.3.5 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải kiểm tra hoạt động dự kiến theo tốc độ bit bắt buộc fc/128. Đối với các PICC hỗ trợ một hoặc nhiều tốc độ bit cao tùy chọn báo cáo thử nghiệm phải kiểm tra hoạt động dự kiến theo tốc độ bit hỗ trợ. Các điều kiện thử nghiệm được sử dụng phải có trong báo cáo thử nghiệm.

7.2.4 PICC tần số cộng hưởng (tham khảo)

7.2.4.1 Mục đích

Thử nghiệm có thể được dùng để đo tần số cộng hưởng của một PICC.

Khi 2 hay nhiều PICC được đặt trong trường công suất PCD tương tự nhau, tần số cộng hưởng của từng PICC giảm.

Chú ý trong việc thiết kế từng tần số cộng hưởng PICC.

CẢNH BÁO – Tần số cộng hưởng có thể phụ thuộc cường độ trường sử dụng trong đo lường.

7.2.4.2 Quy trình

Tần số cộng hưởng của một PICC được đo bằng cách dùng một bộ phân tích trở kháng hoặc một bộ phân tích mạng lưới hoặc một LCR-met được kết nối với cuộn dây hiệu chuẩn. PICC phải được đặt trên cách cuộn dây hiệu chuẩn 10 mm, với các trục của 2 cuộn dây đồng dư. Tần số cộng hưởng là tần số mà tại đó phần điện trở của trở kháng phức đo được lớn nhất.

7.2.4.3 Báo cáo thử nghiệm

Khi báo cáo thử nghiệm được áp dụng phải đưa ra tần số cộng hưởng PICC và các điều kiện đo lường.

7.2.5 Tác động tải lớn nhất PICC

7.2.5.1 Mục đích

Thử nghiệm này được sử dụng để đo tác động tải PICC.

7.2.5.2 Quy trình

Tùy thuộc vào lớp PICC được yêu cầu, lựa chọn:

– H_m_in liên quan như trong Bảng 2, TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2);

– PICC tham chiếu liên quan như trong Bảng 3 và điện áp V_tải của nó;

– Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm liên quan như trong Bảng 3.

Nếu PICC không yêu cầu bất kỳ lớp đặc biệt nào như qui định trong TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1), thì các thông số PICC Lớp 1, dụng cụ thử nghiệm và các mạch phải được sử dụng trong thử nghiệm này.

Tác động tải PICC tại H_min phải được đo bằng bộ lắp ráp PCD thử nghiệm. Nếu nó không vượt quá tác động tải của PICC tham chiếu được chọn chỉnh đến 13,56 MHz và hiệu chỉnh để đạt V_t_ả_i ở CON3 tại H_min. Quy trình của phương pháp thay thế này như sau.

a) Chỉnh PICC tham chiếu được chọn đến 13,56 MHz như trong 5.4.3.

b) Hiệu chỉnh bộ lắp ráp PCD thử nghiệm để tạo điều kiện vận hành H_min trên cuộn dây hiệu chuẩn.

c) Đặt PICC tham chiếu vào trong vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm. Chuyển chân nối J1 đến vị trí ‘b’ và điều chỉnh R2 đạt điện áp DC V_t_ả_i đo tại đầu kết nối CON3. Ngoài ra, chân nối J1 có thể được đặt là vị trí ‘c’ và điện áp được áp dụng trên CON2 được điều chỉnh đạt đến điện áp DC V_tả_i ở đầu kết nối CON3. Trong cả 2 trường hợp, điều kiện trường hoạt động phải được xác bởi việc giám sát điện áp trên cuộn dây hiệu chuẩn và được hiểu chỉnh, nếu cần.

CẢNH BÁO – Giá trị R2 nên nằm giữa R2 nhỏ nhất và R2 lớn nhất như trong Bảng 3. Kiểm tra dải này ít nhất một lần trước khi sử dụng phương pháp thay thế.

d) Gỡ bỏ PICC tham chiếu.

e) Đặt PICC trong thử nghiệm vào vị trí DUT trên bộ lắp ráp PCD thử nghiệm.

f) Đo cường độ trường HC được giám sát bằng cuộn dây hiệu chuẩn. Cường độ trường HC phải lớn hơn H_min.

7.2.5.3 Báo cáo thử nghiệm

Kết quả thử nghiệm chỉ là ĐẠT nếu cường độ trường được đo trong bước f) lớn hơn H_min, còn không là KHÔNG ĐẠT

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra giá trị về cường độ trường đo được.

7.3 Các phương pháp thử cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc từ PCD đến PICC

Xem Phụ lục K.

7.4 Thử nghiệm PXD

Thử nghiệm PCD và PICC phải được áp dụng như sau;

– khi PXD trong chế độ PCD, thử nghiệm xác định trong 7.1 và 7.3 tùy chọn phải được áp dụng:

– khi PXD trong chế độ PICC, thử nghiệm xác định trong 7.2 và 7.3 tùy chọn phải được áp dụng.

CHÚ THÍCH Trong luân phiên chế độ tự động, PXD có thể bị bắt buộc vào chế độ được yêu cầu.

8 Thử nghiệm thông số của TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)

8.1 Thử nghiệm PCD

Xem Phụ lục H và Phụ lục I.

8.2 Thử nghiệm PICC

Xem Phụ lục G.

8.3 Thử nghiệm PXD

8.3.1 Các chế độ PCD và PICC

Thử nghiệm PCD và PICC phải được áp dụng như sau:

– khi PXD trong chế độ PCD, thử nghiệm được xác định trong 8.1 phải được áp dụng:

– khi PXD trong chế độ PICC, thử nghiệm được xác định trong 8.2 phải được áp dụng.

CHÚ THÍCH Trong luân phiên chế độ tự động, PXD có thể bị bắt buộc vào chế độ được yêu cầu.

8.3.2 Luân phiên chế độ tự động

Thử nghiệm này xác định trong điều phụ này chỉ áp dụng đối với PXD hỗ trợ luân phiên chế độ tự động.

Một chu kì được xác định là một khoảng thời gian giữa 2 khởi đầu liên tục của chế độ PCD (trường RF mở).

8.3.2.1 Chu kì luân phiên chế độ PCD và PICC

8.3.2.1.1 Mục đích

Thử nghiệm này kiểm tra

– mỗi chu kì không dài hơn t_c_yc,

– trong mỗi chu kì, chế độ PICC kéo dài hơn chế độ PCD, và

– khoảng thời gian của chế độ PICC thay đổi ngẫu nhiên và khác biệt bởi t_diff nhất.

8.3.2.1.2 Điều kiện

PXD không nên ở gần với PXD, PCD hoặc PICC khác.

8.3.2.1.3 Quy trình

Trường RF của PXD phải được giám sát và đánh giá ít nhất trong 10 chu kì liên tục.

a) Đảm bảo PXD là luân phiên chế độ tự động.

b) Đo tất cả trường RF mở ra và trường RF ngắt.

8.3.2.1.4 Báo cáo thử nghiệm

Kết quả thử nghiệm là ĐẠT nếu tất cả các điều kiện dưới đây phù hợp:

– không chu kì nào kéo dài hơn t_cyc;

– đối với mỗi t_cyc khoảng thời gian chế độ PICC (Trường RF ngắt) dài hơn khoảng thời gian chế độ PCD (Trường RF mở);

– các khoảng thời gian chế độ PICC khác nhau;

– các khoảng thời gian chế độ PICC lớn nhất và nhỏ nhất khác nhau bởi t_diff ít nhất.

Kết quả thử nghiệm khác là KHÔNG ĐẠT.

CHÚ THÍCH 1 Đánh giá cao tính ngẫu nhiên của khoảng thời gian chế độ PICC có thể được thực hiện với các phương pháp thống kê chung.

CHÚ THÍCH 2 Vì các lí do thông kê kết quả thử nghiệm có thể KHÔNG ĐẠT và thử nghiệm có thể được lặp lại.

8.3.2.2 Chế độ PCD

8.3.2.2.1 Kiểm soát vòng

8.3.2.2.1.1 Mục đích

Thử nghiệm này kiểm tra PXD có trong các kiểm soát vòng luân phiên chế độ tự động hay không đối với các PICC Kiểu A và Kiểu B như trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 5.3 trong từng chu kì của chế độ PCD.

8.3.2.2.1.2 Điều kiện

PXD không nên gần với PXD, PCD hoặc PICC khác.

8.3.2.2.1.3 Quy trình

Tất cả các điều chế trong chế độ PCD phải được giám sát, và các thời gian giữa các lệnh yêu cầu phải được đo trong ít nhất 10 chu kì liên tục.

a) Đảm bảo PXD trong chế độ luân phiên tự động.

b) Giám sát tất cả các lệnh yêu cầu trong chế độ PCD.

c) Đo các thời gian trước và giữa mỗi lệnh.

8.3.2.2.1.4 Báo cáo thử nghiệm

Kết quả thử nghiệm là ĐẠT nếu tất cả các điều kiện dưới đây phù hợp trong từng chu kì:

– ít nhất một lệnh REQA/WUPA được gửi bởi PXD;

– ít nhất một lệnh REQB/WUPB được gửi bởi PXD;

– khoảng thời gian trường không được điều chế trước khi ít nhất một trong các lệnh REQA/WUPA lớn hơn 5 ms;

– khoảng thời gian trường không được điều chế trước khi ít nhất một trong các lệnh REQB/WUPB lớn hơn 5 ms.

Kết quả thử nghiệm khác là KHÔNG ĐẠT.

8.3.2.2.2 Kết thúc chế độ PCD

8.3.2.2.2.1 Mục đích

Thử nghiệm này kiểm tra PXD có trong luân phiên chế độ tự động rời khỏi chế độ PCD sau khi Xử lý một PICC, và lại tiếp tục trở lại luân phiên chế độ tự động với chế độ PICC đầu tiên.

8.3.2.2.2.2 Điều kiện

Dụng cụ-thử nghiệm-PCD phải được sử dụng.

8.3.2.2.2.3 Quy trình

Thực hiện các bước sau:

a) Đặt Dụng cụ-thử nghiệm-PCD theo bộ qui tắc hoạt động của PXD.

b) Gửi các đáp ứng đến các lệnh chống va chạm gửi bởi PXD cho đến khi dụng cụ-thử nghiệm-PCD ở trong trạng thái ACTIVE hoặc PROTOCOL.

c) Không trả lời thêm bất kì lệnh PXD.

8.3.2.2.2.4 Báo cáo thử nghiệm

Kết quả thử nghiệm là ĐẠT nếu PXD tiếp tục trở lại luân phiên chế độ tự động, có thể sau khi áp dụng việc Xử lý lỗi hoặc nguyên tắc kiểm tra có mặt PICC, với chế độ PICC đầu tiên, kết quả thử nghiệm khác là KHÔNG ĐẠT.

8.3.2.3 Chế độ PICC

8.3.2.3.1 Phản ứng để kiểm soát vòng

8.3.2.3.1.1 Mục đích

Thử nghiệm này kiểm tra PXD trong luân phiên chế độ tự động đáp ứng các lệnh yêu cầu Kiểu A hoặc Kiểu B như trong 5.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) trong từng chu kì của chế độ PICC.

8.3.2.3.1.2 Điều kiện

Dụng cụ-thử nghiệm-PICC phải được sử dụng.

8.3.2.3.1.3 Quy trình 1

Thực hiện các bước sau:

a) Tắt trường hoạt động RF dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

b) Đặt PXD vào trong vị trí thử nghiệm của Dụng cụ-thử nghiệm-PICC và đảm bảo PXD ở trong chế độ luân phiên tự động.

c) Bật trường hoạt động RF dụng cụ-thử nghiệm-PICC trong khi trường RF PXD đang mở.

d) Gửi một lệnh REQA 5 ms sau khi bắt đầu chế độ PICC (Trường RF PXD ngắt).

e) Gửi một lệnh REQB 5 ms sau khi kết thúc lệnh REQA.

f) Ghi sự hiện diện và nội dung của đáp ứng PXD.

8.3.2.3.1.4 Quy trình 2

Thực hiện các bước sau:

a) Tắt trường hoạt động RF dụng cụ-thử nghiệm-PICC

b) Đặt PXD vào trong vị trí thử nghiệm của dụng cụ-thử nghiệm-PICC và đảm bảo PXD ở trong chế độ luân phiên tự động.

c) Bật trường hoạt động RF dụng cụ-thử nghiệm-PICC trong khi trường RF PXD đang mở.

d) Gửi một lệnh REQB 5 ms sau khi bắt đầu chế độ PICC (Trường RF PXD ngắt).

e) Gửi một lệnh REQA 5 ms sau khi kết thúc lệnh REQB.

f) Ghi sự hiện diện và nội dung của đáp ứng PXD.

8.3.2.3.1.5 Báo cáo thử nghiệm

Kết quả thử nghiệm là ĐẠT nếu đáp ứng PXD là một trong những trường hợp sau:

– ATQA trong từng quy trình của 2 quy trình (Chế độ PICC Kiểu A):

– ATQB trong từng quy trình của 2 quy trình (Chế độ PICC Kiểu B);

– ATQA trong quy trình 1 và ATQB trong quy trình 2 (Chế độ PICC Kiểu A và Kiểu B).

Kết quả thử nghiệm khác là KHÔNG ĐẠT.

8.3.2.3.2 Khoảng thời gian chế độ PICC và các điều kiện thoát khỏi

8.3.2.3.2.1 Mục đích

Thử nghiệm này kiểm tra xem sau việc tiếp nhận lệnh REQA/WUPA hoặc REQB/WUPB hợp lệ, PXD trong luân phiên chế độ tự động không vận hành chế độ PCD trước một trạng thái POWER-OFF.

8.3.2.3.2.2 Điều kiện

Dụng cụ-thử nghiệm-PICC phải được sử dụng.

8.3.2.3.2.3 Quy trình

Thực hiện các bước sau:

a) Bật trường hoạt động RF dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

b) Đảm bảo PXD trong chế độ luân phiên tự động và đặt PXD vào trong vị trí thử nghiệm của Dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Gửi một lệnh REQA ít nhất 5 ms sau khi bắt đầu chế độ PICC (Trường RF PXD ngắt).

d) Gửi một lệnh REQB 5 ms sau khi kết thúc lệnh REQA nếu không có câu trả lời đối với lệnh REQA.

e) Giữ Dụng cụ-thử nghiệm-PICC trường RF mở hơn 2 s.

f) Tiếp tục với các lệnh chống va chạm để đặt PXD trong trạng thái ACTIVE hoặc PROTOCOL và kiểm tra các đáp ứng PXD.

g) Gửi một lệnh HALT hoặc S(DESELECT) để đặt PXD trong trạng thái HALT.

h) Giữ Dụng cụ-thử nghiệm-PICC trường RF mở hơn 2 s.

i) Gửi một lệnh yêu cầu theo Kiểu được trả lời theo bước c) hoặc d) và kiểm tra việc không có đáp ứng PXD.

j) Gửi một lệnh Wake-up theo Kiểu được trả lời theo bước c) hoặc d) và kiểm tra việc có đáp ứng PXD.

k) Tắt trường hoạt động RF dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

l) Kiểm tra luân phiên tự động bắt đầu trở lại ít hơn 1 s bởi việc giám sát PXD Trường RF.

8.3.2.3.2.4 Báo cáo thử nghiệm

Kết quả thử nghiệm là ĐẠT nếu tất cả các bước của quy trình thành công, nếu không kết quả thử nghiệm là KHÔNG ĐẠT.

Phụ lục A

(qui định)

Ăng-ten PCD thử nghiệm

A.1 Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng

Các Hình A.1, A.2, A.3 và A.4 minh họa bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm. Các bản vẽ không theo tỉ lệ.

Rãnh cuộn dây ăng-ten có chiều rộng 1,8 mm (ngoại trừ qua các lỗ kim loại dẹt).

Bắt đầu từ mạng phối hợp trở kháng góc cắt chéo 45 ^o.

Bảng mạch in (PCB): Vật liệu FR4, chiều dày 1,6 mm, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH 1 Bố trí của mạng phối hợp trở kháng là thông tin.

CHÚ THÍCH 2 Các bảng mạch in như vậy và các điện trở R_ext có sẵn từ các nguồn thương mại khác nhau.

Hình A.1 – Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng với tốc độ bit fc/128 (Xem từ mặt trước)

Hình A.2 – Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng với tốc độ bit fc/128 (xem từ mặt sau)

Hình A.3 – Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng với các tốc độ bit cao hơn fc/128 (xem từ mặt trước)

Hình A.4 – Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng với các tốc độ bit cao hơn fc/128 (xem từ mặt sau)

A.2 Mạng phối hợp trở kháng

Trở kháng ăng-ten (R_ant, L_ant) được thích ứng với trở kháng đầu ra bộ tạo tín hiệu (Z = 50 Ω) bởi một mạch kết hợp (xem A.2.1 và A.2.2). Các tụ điện C1, C1a, C1b, C2 và C3 có các giá trị cố định. Pha trở kháng đầu vào có thể được điều chỉnh với tụ điện biến thiên C4.

Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm như trong 5.3 và trong Phụ lục dự định được sử dụng đối với những đo lường giới hạn thời gian, để tránh yếu tố riêng quá nóng. Nếu thử nghiệm vận hành liên tục, tản nhiệt phải được cải thiện. Chú ý giữ cho điện áp và tản nhiệt lớn nhất trong các giới hạn qui định của yếu tố riêng.

Hai mạng phối hợp trở kháng được mô tả: mạng phối hợp trở kháng cho tốc độ bit fc/128 và mạng phối hợp trở kháng cho các tốc độ bit cao hơn fc/128. Xem Bảng A.1.

Bảng A.1 – Các trường hợp sử dụng mạng phối hợp trở kháng

Mạng phối hợp trở kháng	Khả năng từ trường	Khả năng tốc độ bit
Cho tốc độ bit fc/128	Lên đến 12 A/m (rms)	Chỉ fc/128
Cho các tốc độ bit cao hơn fc/128	Lên đến 7,5 A/m (rms)	Tất cả các tốc độ bit

CHÚ THÍCH 1 Dung sai trở kháng ăng-ten phối hợp là ± 5 Ω và ± 10 ^o.

CHÚ THÍCH 2 R_ext được đặt ở phía bên mặt của cuộn dây ăng-ten.

CHÚ THÍCH 3 Khoảng công suất và điện áp gồm một ngưỡng an toàn.

Bộ điều khiển công suất 50 Ω đầu ra biến đổi méo thấp tuyến tính phải có khả năng tạo các điều chế Kiểu A và B cho việc truyền dẫn REQA và REQB như trong 7.2.2. Công suất đầu ra phải được điều chỉnh để truyền các trường H trong khoảng từ 1,5 A/m (rms) – 12 A/m (rms). Chú ý với khoảng thời gian của các trường ở dải hoạt động cao hơn bằng 7,5 A/m (rms).

A.2.1 Mạng phối hợp trở kháng cho tốc độ bit fc/128

Bảng thành phần

	Giá trị	Đơn vị	Ghi chú
C1	47	pF	Dải điện áp 200 V
C2	180	pF	Dải điện áp 200 V
C3	22	pF	Dải điện áp 200 V
C4	2-27	pF	Dải điện áp 200 V
R_ext	0,94	Ω	Dải công suất 10 W

Hình A.5 – Mạng phối hợp trở kháng cho tốc độ bit fc/128

CHÚ THÍCH 1 R_e_x_t có thể xây dựng bởi việc kết nối 5 điện trở 4,7 Ω 2 W song song.

CHÚ THÍCH 2 R_e_xt có thể vẫn đặt ở vị trí đánh dấu với đường viền ngoài gạch như chỉ ra trong Hình A.5.

CHÚ THÍCH 3 R_ext có thể 4 W nếu trường lớn nhất lên đến 7,5 A/m (rms).

CHÚ THÍCH 4 Điện dung kí sinh của ăng-ten không được chỉ ra trong Hình A.5.

A.2.2 Mạng phối hợp trở kháng cho các bit tốc độ fc/64, fc/32 và fc/16

Bảng thành phần:

	Giá trị	Đơn vị	Ghi chú
C1a	82	pF	Dải điện áp 200 V
C1b	8,2	pF	Dải điện áp 200 V
C2	150	pF	Dải điện áp 200 V
C3	10	pF	Dải điện áp 200 V
C4	2-27	pF	Dải điện áp 200 V
R_e_xt	4,7	Ω	Dải công suất 20 W

Hình A.6 – Mạng phối hợp trở kháng cho các bit tốc độ cao hơn fc/128

CHÚ THÍCH 1 R_e_xt có thể được dựng bởi một mạch 2 điện trở song song 4,7 Ω 5 W mắc nối tiếp.

R_ext nên được đặt trên phía tiếp đất của ăng-ten như Hình A.6.

CHÚ THÍCH 2 Điện dung kí sinh của ăng-ten không được thể hiện trong Hình A.6.

A.3 Ăng ten PCD thử nghiệm 2

A.3.1 Bố trí ăng ten PCD thử nghiệm 2 bao gồm mạng phối hợp trở kháng

Hình A.7 và Hình A.8 minh họa bố trí ăng ten PCD thử nghiệm 2. Các bản vẽ không theo tỉ lệ.

Rãnh cuộn dây ăng-ten có chiều rộng 1,8 mm (ngoại trừ xuyên qua các lỗ kim loại dẹt).

Bắt đầu từ mạng phối hợp trở kháng có các góc cắt chéo 45 ^o.

Bảng mạch in (PCB): Vật liệu FR4, chiều dày 1,6 mm, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH 1 Bố trí và vị trí của mạng phối hợp trở kháng là tham khảo. Kích thước PCB bên ngoài là tham khảo.

CHÚ THÍCH 2 Các bảng mạch in như vậy và các điện trở R_e_xt có sẵn từ các nguồn thương mại khác nhau.

Hình A.7 – Bố trí ăng ten PCD thử nghiệm 2 gồm mạng phối hợp trở kháng (xem từ mặt trước)

Hình A.8 – Bố trí ăng ten PCD thử nghiệm 2 gồm mạng phối hợp trở kháng (xem từ mặt sau)

A.3.2 Mạng phối hợp trở kháng 2

Bảng thành phần:

	Giá trị	Đơn vị	Ghi chú
C1a	100	pF	Dải điện áp 200 V
C1b	12	pF	Dải điện áp 200 V
C2	270	pF	Dải điện áp 200 V
C3	18	pF	Dải điện áp 200 V
C4	2-27	pF	Dải điện áp 200 V
R_ext	2,7	Ω	Dải công suất 20 W

Hình A.9 – Mạng phối hợp trở kháng 2

CHÚ THÍCH 1 R_ext có thể được dựng bởi một trong mạch song song gồm 2 nhánh bằng nhau có 2 điện trở là 2,7 Ω 5 W mắc nối tiếp của từng mạch hoặc một mạch song song gồm 10 Ω, 10 Ω, 10 Ω và 15 Ω, 5 W.

R_ext phải được đặt trong mặt phẳng của ăng ten như vẽ trong Hình A.9.

CHÚ THÍCH 2 Điện dung kí sinh của ăng ten không được thể hiện trong Hình A.9.

Phụ lục B

(tham khảo)

Chỉnh Ăng-ten PCD thử nghiệm

Các Hình B.1 và B.2 chỉ ra 2 bước trong quy trình chỉnh pha đơn giản để phối hợp trở kháng của ăng-ten mà vận hành máy phát. Sau 2 bước của quy trình chỉnh bộ tạo tín hiệu phải được nối trực tiếp với đầu ra ăng-ten cho thử nghiệm.

Bước 1:

Điện trở có độ chính xác cao 50 Ω ± 1 % (ví dụ như điện trở BNC 50 Ω) được chèn vào dòng tín hiệu giữa đầu ra bộ tạo tín hiệu và đầu kết nối ăng-ten. Hai đầu dò máy hiện sóng được kết nối với cả 2 mặt của điện trở tham chiếu nối tiếp. Máy hiện sóng hiển thị một hình Lissajous khi nó thiết lập trong cách thể hiện Y đến X. Bộ tạo tín hiệu được đặt là:

– Dạng sóng: Hình sin;

– Tần số: 13,56 MHz;

– Biên độ: 2 V (rms) – 5 V (rms).

Đầu ra được chấm dứt với điện trở có độ chính xác cao thứ hai 50Ω ± 1% (ví dụ như điện trở cuối cùng BNC 50 Ω). Đầu dò song song với đầu kết nối đầu ra có một điện dung kí sinh nhỏ Cprobe. Một điện dung hiệu chuẩn Ccal song song với điện trở tham chiếu bù với máy có khả năng đầu dò nếu C_c_al = C_probe. Máy có khả năng đầu dò được bù khi hình Lissajous được đóng hoàn toàn.

Hình B.1 – Thiết lập hiệu chuẩn (Bước 1)

CHÚ THÍCH Cáp mặt đất phải được vận hành gần với đầu dò để tránh các điện áp cảm ứng gây ra bởi từ trường.

Bước 2:

Việc sử dụng các giá trị giống nhau như thiết lập đối với bước 1, trong bước 2 mạch kết hợp được kết nối với đầu ra ăng-ten. Tụ điện C4 trên bảng ăng-ten được dùng để chỉnh pha đến 0.

Hình B.2 – Thiết lập hiệu chuẩn (Bước 2)

Phụ lục C

(qui định)

Cuộn cảm

C.1 Bố trí cuộn cảm

C.1.1 Bố trí cuộn cảm 1

Hình C.1 minh họa bố trí cuộn cảm 1, kích thước tính theo mi-li-mét (các bản vẽ không theo tỉ lệ).

Rãnh cuộn cảm rộng 0,5 mm với dung sai tương đối ± 20% (ngoại trừ qua các lỗ kim loại dẹt). Kích cỡ của các cuộn dây đề cập đến kích thước bên ngoài.

Bảng mạch in (PCB): vật liệu FR4, chiều dày 1,6 mm, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH Các bảng mạch in có sẵn từ các nguồn thương mại khác nhau.

Hình C.1 – Bố trí các cuộn cảm 1 (a và b)

C.1.2 Bố trí cuộn cảm 2

Hình C.2 minh họa bố trí cuộn cảm 2, kích thước tính theo mi-li-mét (các bản vẽ không theo tỉ lệ).

Rãnh cuộn cảm rộng 0,5 mm với dung sai tương đối ± 20% (ngoại trừ qua các lỗ kim loại dẹt). Kích cỡ của các cuộn dây đề cập đến kích thước bên ngoài.

Bảng mạch in (PCB): vật liệu FR4, chiều dày 1,6 mm, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH Các bảng mạch in có sẵn từ các nguồn thương mại khác nhau.

Hình C.2 – Bố trí các cuộn cảm (a và b)

C.1.3 Bộ lắp ráp cuộn cảm

Hình C.3 minh họa bộ lắp ráp cuộn cảm.

Hình C.3 – Bộ lắp ráp cuộn cảm

Phụ lục D

(qui định)

PICC tham chiếu

D.1 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 1

Hình D.1 qui định bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 1.

Hình D.1 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 1

Kích thước so với trung tâm rãnh (các bản vẽ không theo tỉ lệ).

Cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính phải đồng tâm.

2 cuộn dây có chiều rộng rãnh và cách khoảng phải là 0,5 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Bảng mạch in (PCB): vật liệu FR4, chiều dày 0,76 mm với dung sai tương đối ± 10 %, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH 1 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây chính L1 là 2,3 μH ± 10 % và điện trở là 1,8 Ω ± 10 %.

CHÚ THÍCH 2 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây thụ âm L2 là 375 nH ± 10 % và điện trở xấp xỉ 0,65 Ω ± 10%.

CHÚ THÍCH 3 Các bảng mạch in như vậy có sẵn từ các nguồn thương mại khác nhau.

D.2 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 2

Hình D.2 qui định bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 2.

Hình D.2 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 2

Kích thước so với trung tâm rãnh (các bản vẽ không theo tỉ lệ).

Kích thước cuộn chính: 75 mm x 24 mm (các kích thước bên ngoài).

Cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính phải đồng tâm.

2 cuộn dây có chiều rộng rãnh và khoảng cách phải là 0,5 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Tất cả các góc cuộn dây chính phải có bán kính 2 mm.

Bảng mạch in (PCB): vật liệu FR4, chiều dày 0,76 mm với dung sai tương đối ± 10 %, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH 1 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây chính L1 là 2,4 μH ± 10 % và điện trở là 1,9 Ω ± 10 %.

CHÚ THÍCH 2 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây thụ âm L2 là 417 nH ± 10 % và điện trở xấp xỉ 0,8 Ω ± 10%.

D.3 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 3

Hình D.3 qui định bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 3.

Hình D.3 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 3

Kích thước so với trung tâm rãnh (các bản vẽ không theo tỉ lệ).

Kích thước cuộn chính: 46 mm x 32 mm (các kích thước bên ngoài).

Cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính phải đồng tâm.

Chiều rộng rãnh cuộn dây thụ âm phải là 0,5 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Chiều rộng rãnh cuộn dây chính và khoảng trống phải là 0,3 mm với dung sai tương đối ±20 %.

Bảng mạch in (PCB): vật liệu FR4, chiều dày 0,76 mm với dung sai tương đối ± 10 %, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH 1 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây chính L1 là 2,39 μH ± 10 % và điện trở là 2,18 Ω ± 10 %.

CHÚ THÍCH 2 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây thụ âm L2 là 405 nH ± 10 % và điện trở xấp xỉ 0,76 Ω ± 10 %.

D.4 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 4

Hình D.4 qui định bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 4.

Hình D.4 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 4

Kích thước so với trung tâm rãnh (các bản vẽ không theo tỉ lệ).

Kích thước cuộn chính: 47 mm x 24 mm (các kích thước bên ngoài).

Cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính phải đồng tâm.

Chiều rộng rãnh cuộn dây thụ âm phải là 0,5 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Tất cả các góc cuộn dây chính phải có bán kính 2 mm.

Chiều rộng rãnh cuộn dây chính phải là 0,4 mm và khoảng trống phải là 0,35 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Bảng mạch in (PCB): vật liệu FR4, chiều dày 0,76 mm với dung sai tương đối ± 10 %, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH 1 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây chính L1 là 2,3 μH ± 10 % và điện trở là 1,8 Ω ± 10 %.

CHÚ THÍCH 2 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây thụ âm 12 là 390 nH ± 10 % và điện trở xấp xỉ 0,7 Ω ± 10%.

D.5 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 5

Hình D.5 qui định bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 5.

Hình D.5 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 5

Kích thước so với trung tâm rãnh (các bản vẽ không theo tỉ lệ).

Kích thước cuộn chính: 38 mm x 22 mm (các kích thước bên ngoài).

Cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính phải đồng tâm.

Chiều rộng rãnh cuộn dây thụ âm phải là 0,5 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Tất cả các góc cuộn dây chính phải có bán kính 2 mm.

Chiều rộng rãnh cuộn dây chính và khoảng trông phải là 0,35 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Bảng mạch in (PCB): vật liệu FR4, chiều dày 0,76 mm với dung sai tương đối ± 10 %, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH 1 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây chính L1 là 2,4 μH ± 10 % và điện trở là 1,9 Ω ± 10 %.

CHÚ THÍCH 2 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây thụ âm L2 là 380 nH ± 10 % và điện trở xấp xỉ 0,7 Ω ± 10%.

D.6 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 6

Hình D.6 qui định bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 6.

Hình D.6 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 6

Kích thước so với trung tâm rãnh (các bản vẽ không theo tỉ lệ).

Kích thước cuộn chính: 25 mm x 20 mm (các kích thước bên ngoài).

Cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính phải đồng tâm.

Chiều rộng rãnh cuộn dây thụ âm phải là 0,5 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Tất cả các góc cuộn dây chính phải có bán kính 1 mm.

Chiều rộng rãnh cuộn dây chính phải là 0,3 mm và khoảng trống phải là 0,2 mm với dung sai tương đối ± 20 %.

Bảng mạch in (PCB): vật liệu FR4, chiều dày 0,76 mm với dung sai tương đối ± 10 %, 2 mặt 35 μm bằng đồng.

CHÚ THÍCH 1 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây chính L1 là 2,3 μH ± 10 % và điện trở là 2,2 Ω ± 10 %.

CHÚ THÍCH 2 Tại 13,56 MHz độ tự cảm của cuộn dây thụ âm L2 là 370 nH ± 10 % và điện trở xấp xỉ 0,7 Ω ± 10%.

Phụ lục E

(qui định)

Chỉ số điều chế và công cụ phân tích dạng sóng

E.1 Tổng quan

Nguyên tắc làm việc của công cụ phân tích chỉ số điều chế và dạng sóng được minh họa trong Hình E.1.

Hình E.1 – Sơ đồ khối công cụ phân tích chỉ số điều chế và dạng sóng

Mỗi khối được mô tả trong các điều sau đây.

E.2 Lấy mẫu

E.2.1 Lấy mẫu cho các tốc độ bit fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16

Máy hiện sóng sử dụng để thu giữ tín hiệu phải thực thi các yêu cầu xác định trong 5.1.1.

Dữ liệu thời gian và điện áp của một xung điều chế (xem Hình E.2) phải được chuyển sang một máy tính phù hợp.

Hình E.2 – Điều chế xung

E.2.2 Lấy mẫu cho các tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2

Máy hiện sóng sử dụng để thu giữ tín hiệu phải thực thi các yêu cầu xác định trong 5.1.1.

Dữ liệu thời gian và điện áp của một khung PCD chứa các xung điều chế dài và ngắn (có thể là một lệnh S(DESELECT) hoàn chỉnh) như minh họa trong Hình E.3, với ít nhất 20 khoảng thời gian sóng mang trước xung điều chế đầu tiên và sau xung điều chế cuối cùng, phải được chuyển sang một máy tính phù hợp.

Hình E.3 – Xung điều chế

E.3 Việc lọc

E.3.1 Việc lọc cho các tốc độ bit fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16

Một bộ lọc thông dải kiểu Butterworth bậc 4, với tần số trung tâm 13,56 MHz và 10 MHz độ rộng băng thông 3-dB phải được sử dụng để lọc DC và thành phần hài cao. Đặc tính của bộ lọc được minh họa trong Hình E.4.

Hình E.4 – Đặc tính của bộ lọc

E.3.2 Việc lọc cho các tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2

Một bộ lọc thông dải kiểu Butterworth bậc 4, với tần số trung tâm 13,56 MHz và 15 MHz độ rộng băng thông 3-dB phải được sử dụng cho việc lọc DC và thành phần hài cao.

E.4 Tạo đường bao

Tín hiệu được lọc phải được biến đổi Hilbert và độ lớn của biến đổi phức này thể hiện đường bao tín hiệu.

E.5 Làm trơn đường bao

E.5.1 Làm trơn đường bao cho các tốc độ bit fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16

Đường bao tín hiệu phải làm trơn với bộ lọc trung bình di chuyển và khoảng thời gian lọc phải là một khoảng thời gian sóng mang. Tín hiệu đường bao làm trơn được minh họa trong Hình E.5.

Hình E.5 – Làm trơn đường bao

E.5.2 Làm trơn đường bao cho các tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2

Phải không làm trơn đường bao tín hiệu.

E.6 Xác định chỉ số điều chế

Các biên độ tín hiệu đường bao điều chế ban đầu phải được xác định bằng cách tính toán biểu đồ tín hiệu đường bao làm trơn. Các giá trị thường xuyên nhất tương ứng với biên độ tín hiệu đường bao điều chế ban đầu. Đối với các tín hiệu điều chế Kiểu A chỉ biên độ tín hiệu đường bao điều chế ban đầu phải được xác định bằng việc sử dụng biểu đồ tần số.

Đối với các tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2 giá trị nhỏ nhất của chỉ số điều chế m phải được xác định hoàn toàn trong khung PCD (xem Hình E.6). Khung PCD phải chứa (101010.10)b.

Hình E.6 – Giá trị nhỏ nhất của chỉ số điều chế m

E.7 Xác định định xung nhịp thời gian

Số lần đi gia tăng và giảm xuống phải được xác định theo các định nghĩa trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

Cho các tốc độ fc/8, fc/4 và fc/2 việc định xung nhịp thời gian tại các vị trí với các vị trí xung điều chế dài, ví dụ t_f tại vị trí chuyển tiếp đến SOF thấp và t_r tại vị trí chuyển tiếp đến EOF cao.

E.8 Xác định vượt ngưỡng và dưới ngưỡng

Tín hiệu đường bao làm trơn sẵn sàng phải được làm trơn hơn bằng một bộ lọc trung bình động trên 3 khoảng thời gian sóng mang trước khi xác định các giá trị vượt ngưỡng và dưới ngưỡng theo các định nghĩa trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

E.9 Chương trình công cụ phân tích chỉ số điều chế và dạng sóng (tham khảo)

Chương trình sau đây được viết theo ngôn ngữ C đưa ra một ví dụ về việc thực hiện công cụ phân tích chỉ số điều chế và dạng sóng.

Thực hiện C gồm 6 tập tin khác nhau được đặt trong cùng thư mục.

E.9.1 structure.h

E.9.2 fftrm.h

E.9.3 fftrm.c

E.9.4 hilbert.h

E.9.5 hilbert.c

E.9.6 functs.c

Phụ lục F

(tham khảo)

Chương trình cho việc đánh giá quang phổ

Chương trình sau đây được viết theo ngôn ngữ C đưa ra một ví dụ về việc tính toán tầm quan trọng của quang phổ từ PICC.

Phụ lục G

(qui định)

Phương pháp thử PICC bổ sung

G.1 Dụng cụ-thử nghiệm-PICC và phụ kiện

Điều này qui định dụng cụ thử nghiệm và mạch thử nghiệm cho việc kiểm tra hoạt động của PICC theo TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3). Dụng cụ thử nghiệm gồm:

– Cuộn dây hiệu chuẩn (xem 5.2);

– Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm (xem 5.3);

– Máy hiện sóng lấy mẫu kỹ thuật số (xem 5.1.1).

Chú ý để đảm bảo các kết quả không bị ảnh hưởng bởi hiệu năng RF của các mạch thử nghiệm.

G.1.1 Mô phỏng giao thức I/O

Dụng cụ-thử nghiệm-PICC có thể phải mô phỏng các giao thức Kiểu A và Kiểu B cần thiết để thử nghiệm một PICC.

G.1.2 Tạo kí tự I/O định xung nhịp thời gian trong chế độ tiếp nhận

Dụng cụ-thử nghiệm-PICC có thể phải tạo dòng bit I/O theo TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3). Các thông số định xung nhịp thời gian: độ dài bit bắt đầu, thời gian bảo vệ, chiều rộng bit, yêu cầu thời gian bảo vệ, bắt đầu chiều rộng khung, kết thúc chiều rộng khung phải được cầu hình.

G.1.3 Đo và giám sát giao thức I/O RF

Dụng cụ-thử nghiệm-PICC có thể phải đo và giám sát việc định xung nhịp thời gian của trạng thái cao và thấp lô-gic của đường ra/nhận RF tương đối so với tần số đồng hồ. Dụng cụ-thử nghiệm-PICC có thể giám sát sóng mang điều chế PICC.

G.1.4 Phân tích giao thức

Dụng cụ-thử nghiệm-PICC có thể phải phân tích dòng bit I/O theo giao thức Kiểu A và Kiểu B như qui định trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) và trích xuất luồng dữ liệu lô-gic để phân tích giao thức chi tiết hơn.

G.1.5 Giá trị và trường RFU

Các trường RFU nên được giám sát liên tục trong quá trình thử nghiệm và luôn được kiểm tra chứa giá trị mặc định được gán. Một thử nghiệm phải là FAIL và PICC thử nghiệm phải được khai báo trong trường hợp không tuân thủ một trường RFU không được đặt là giá trị mặc định của nó bất kì lúc nào.

Các trường chức năng nên liên tục được giám sát trong suốt quá trình thử nghiệm và luôn được kiểm tra chỉ chứa các giá trị chức năng ghi trong tiêu chuẩn hoặc các giá trị riêng ghi trong tiêu chuẩn. Một thử nghiệm phải là FAIL và PICC thử nghiệm phải được khai báo trong trường hợp một trường chức năng không được đặt là các giá trị đã nói đến (và do đó được đặt là một RFU hoặc giá trị bị hạn chế) bất kì lúc nào.

G.1.6 Đo lường định xung nhịp thời gian

G.1.6.1 Phép đo định xung nhịp thời gian

Dụng cụ–thử nghiệm–PICC phải giám sát liên tục định dạng khung sau đây và các giá trị định xung nhịp thời gian:

Đối với PICC kiểu A:

– Thời gian trễ khung PCD đến PICC (xem 6.2.1.1, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3));

– Các định dạng khung (xem TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 6.2.3);

– Thời gian chờ đợi khung (xem 7.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)).

Đối với PICC kiểu B:

– Kí tự, định xung nhịp thời gian và định dạng khung (xem 7.1, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3));

– Thời gian chờ đợi khung (xem 7.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)).

Một thử nghiệm phải là FAIL và PICC thử nghiệm phải được khai báo trong trường hợp một trong những ràng buộc định xung nhịp thời gian được liệt kê bị vi phạm.

G.1.6.2 Báo cáo đo lường định xung nhịp thời gian

Điền vào Bảng G.59 đối với PICC kiểu A và/hoặc Bảng G.60 đối với PICC kiểu B với các giá trị định xung nhịp thời gian đo được.

G.2 Xem xét chung

G.2.1 Sử dụng các lệnh thử nghiệm (có thể cả những đáp ứng PICC bổ sung)

Các lệnh thử nghiệm được xác định trong 3.2.

Dụng cụ–thử nghiệm–PICC phải đưa vào tài khoản theo nguyên tắc sau đây.

G.2.1.1 Nguyên tắc về TEST_COMMAND1 và TEST_RESPONSE1

Nếu TEST_RESPONSE1 tạo chuỗi, Dụng cụ–thử nghiệm–PICC thích nghi bằng cách gửi R(ACK) tương ứng để tiếp tục kịch bản như quy định.

Nếu PICC gửi một hoặc một vài yêu cầu S(WTX) trước TEST_RESPONSE1, Dụng cụ–thử nghiệm–PICC thích nghi bằng cách gửi các đáp ứng S(WTX) cần thiết để tiếp tục kịch bản như qui định.

G.2.1.2 Nguyên tắc về TEST_COMMAND2 và TEST_RESPONSE2

Nếu PICC không hỗ trợ bất kì lệnh nào mong đợi một đáp ứng gồm n khối – I tạo chuỗi, các kịch bản sử dụng TEST_COMMAND2 không thể áp dụng.

Nếu PICC gửi một hoặc một vài yêu cầu S(WTX) trước TEST_RESPONSE2, Dụng cụ-thử nghiệm-PICC thích nghi bằng cách gửi các đáp ứng S(WTX) cần thiết để tiếp tục kịch bản như quy định.

G.2.1.3 Nguyên tắc về TEST_COMMAND3 và TEST_RESPONSE3

Nếu PICC không hỗ trợ bất kì lệnh nào cần nhiều thời gian FWT hơn cho việc thực hiện, thì các kịch bản sử dụng TEST_COMMAND3 không thể áp dụng

Nếu PICC gửi một hoặc một vài yêu cầu S(WTX) trước TEST_RESPONSE3, Dụng cụ-thử nghiệm-PICC thích nghi bằng cách gửi các đáp ứng S(WIX) cần thiết để tiếp tục kịch bản như quy định.

Nếu TEST_RESPONSE3 tạo chuỗi, Dụng cụ-thử nghiệm-PICC thích nghi bằng cách gửi R(ACK) cần thiết để tiếp tục kịch bản như quy định.

G.2.2 Mối quan hệ giữa các phương pháp thử với yêu cầu của tiêu chuẩn cơ bản

Bảng G.1 liệt kê thử nghiệm có thể áp dụng đối với các PICC Kiểu A.

Bảng G.2 liệt kê thử nghiệm có thể áp dụng đối với các PICC Kiểu B.

Bảng G.3 liệt kê thử nghiệm có thể áp dụng đối với các PICC Kiểu A và Kiểu B.

PICC trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) cần tuân thủ TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và theo cả các thử nghiệm TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) đối với kiểu có thể áp dụng.

PICC tuân thủ TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) nhưng không tuân thủ TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) và trong trạng thái ACTIVE hoặc ACTIVE* (xem G.3.3.7, G.3.3.12 và G.4.4.6) có thể đáp ứng với mọi khung (gồm trạng thái Mute (chặn đáp ứng)) đối với các khung không liên quan đến TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

Bảng G.1 – Phương pháp thử đối với thao tác lô-gic của giao thức PICC kiểu A

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Yêu cầu tương ứng
Điều	Tên	Tiêu chuẩn cơ bản	(Các) Điều
G.3.2	Kiểm soát vòng	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	5.3
G.3.3	Thử nghiệm các chuyển tiếp trạng thái PICC kiểu A	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	6.3, 6.4, 6.5
G.3.4	Xử lý chống va chạm Kiểu A	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	6.4.2
G.3.5	Xử lý RATS	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	5.6.1.2
G.3.6	Xử lý yêu cầu PPS	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	5.6.2.2
G.3.7	Xử lý FSD	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	5.1

Bảng G.2 – Phương pháp thử đối với thao tác lô-gic của giao thức PICC kiểu B

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Yêu cầu tương ứng
Điều	Tên	Tiêu chuẩn cơ bản	(Các) Điều
G.4.2	Kiểm soát vòng	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443–3)	5.3
G.4.3	PICC Tiếp nhận	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	7.1
G.4.4	Thử nghiệm các chuyển tiếp trạng thái PICC kiểu B	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	7.4 đến 7.12
G.4.5	Xử lý chống va chạm Kiểu B	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	7.4 đến 7.12
G.4.6	Xử lý ATTRIB	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	7.10
G.4.7	Xử lý Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất)	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	7.10.4

Bảng G.3 – Phương pháp thử đối với thao tác lô-gic PICC kiểu A hoặc B

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Yêu cầu tương ứng
Điều	Tên	Tiêu chuẩn cơ bản	(các) Điều
G.5.2	PICC phản ứng với các kịch bản TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443-4)	TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443–4)	7
G.5.3	Xử lý việc phát hiện lỗi PICC	TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443–4)	7.5.7
G.5.4	PICC phản ứng trên CID	TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443–4)	7.1.2.2
G.5.5	PICC phản ứng trên NAD	TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443–4)	7.1.2.3
G.5.6	PICC phản ứng trên các khối S(PARAMETERS)	TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443–4)	7.5.1

G.3 Phương pháp thử việc khởi tạo PICC kiểu A

G.3.1 Giới thiệu

Thử nghiệm trong phần này xác định xem một PICC kiểu A có phù hợp với TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và chuỗi kích hoạt trong Điều 5, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4). Nếu sự phù hợp với TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) không được yêu cầu, tất cả thử nghiệm trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) các lệnh không cần phải áp dụng.

G.3.2 Kịch bản G.1: Kiểm soát vòng

G.3.2.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trên việc nhận các lệnh REQA theo Điều 5.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.3.2.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau đối với 3 trường hoạt động khác nhau 1,5, 4,5 và 7,5 A/m (rms):

a) Đặt PICC vào trong trường và điều chỉnh nó.

b) Tắt trường hoạt động RF trong một khoảng thời gian nhỏ nhất để thiết lập lại một PICC (xem 5.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

c) Bật mở trường hoạt động RF.

d) Trễ 5ms và gửi một khung lệnh REQA hợp lệ.

e) Ghi sự hiện diện và nội dung của đáp ứng PICC.

f) Tắt trường hoạt động RF trong một khoảng thời gian nhỏ nhất để thiết lập lại một PICC (xem 5.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

g) Bật mở trường hoạt động RF.

h) Đợi 5 ms và gửi một khung lệnh REQB hợp lệ (sử dụng điều chế và mã hoá bit Kiểu B).

i) Đợi 5 ms và gửi một khung lệnh REQB hợp lệ.

j) Ghi sự hiện diện và nội dung của đáp ứng PICC.

G.3.2.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.4.

Bảng G.4 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.1: Kiểm soát vòng

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi đáp ứng của PICC là một ATQA hợp lệ ATQA trong cả bước e) và j)	ĐẠT
Nếu đáp ứng của PICC không phải là một ATQA hợp lệ trong bất kì bước e) hoặc j)	KHÔNG ĐẠT

G.3.3 Thử nghiệm các chuyển tiếp trạng thái PICC kiểu A

G.3.3.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này kiểm tra việc thực hiện đúng sơ đồ trạng thái PICC Kiểu A như trong 6.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.3.3.2 Bố trí thử nghiệm chung

Đối với thử nghiệm toàn diện trạng thái PICC kiểu A mọi chuyển tiếp trạng thái phải được kiểm tra cách chính xác có thể. Việc kiểm tra trạng thái cụ thể sử dụng chuyển tiếp trạng thái cụ thể phải được thực hiện như sau:

Đầu tiên, thiết lập lại PICC và đặt nó trong trạng thái ban đầu thử nghiệm (TIS). Đây là một trong những trạng thái từ StateSet khi các chuyển tiếp (T) phải được kiểm tra. Sau đó thực hiện một chuyển tiếp (T) từ Chuyển tiếp Set. Sau khi thực hiện chuyển tiếp trạng thái kiểm tra xem PICC có trong trạng thái đích (TTS) mong muốn không. Có khó khăn trong cách thực hiện kiểm tra này, vì không thể kiểm tra trực tiếp trạng thái máy của PICC. Giải quyết vấn đề này làm thêm một vài chuyển tiếp trạng thái bổ sung và kiểm tra trả lời của PICC. Các chuyển tiếp vì mục đích này được chọn theo cách có thể xác định trạng thái từ những trả lời của PICC chính xác nhất có thể.

G.3.3.2.1 Chức năng đặt PICC trong trạng thái ban đầu thử nghiệm (TIS)

Đặt PICC vào trong trạng thái TIS phải được thực hiện bởi một trình tự các lệnh chuyển tiếp quy định như bảng dưới đây. Phương pháp chung như sau:

Để đặt PICC vào trong trạng thái TIS, tra cứu trình tự chuyển tiếp trạng thái tương ứng trong Bảng G.5. Sau đó liên tiếp áp dụng các chuyển tiếp trạng thái mô tả trong cột trình tự chuyển tiếp trạng thái bằng tra các lệnh tương ứng trong Bảng G.6. Luôn kiểm tra nội dung và tính toàn vẹn của đáp ứng PICC.

Bảng G.5 – Bảng trình tự chuyển tiếp trạng thái

Bảng G.6 – Bảng chuyển tiếp trạng thái

G.3.3.2.2 Chức năng kiểm tra tính hợp lệ của trạng thái đích thử nghiệm TTS

Bảng G.7 mô tả các chuyển tiếp trạng thái sử dụng để kiểm tra liệu PICC trong trạng thái S. Nội dung của trả lời PICC (ví dụ ATQA, SAK …) nên được kiểm tra qua sự phù hợp với TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4). Lưu ý, thử nghiệm này có thể là khiến PICC thay đổi trạng thái.

Trạng thái READY(I)/ READY*(I) và ACTIVE/ACTIVE* không thể được phân biệt qua 1 lần vận hành thử nghiệm. Để phân biệt trạng thái-“*” với không- “*” thực hiện các bước:

a) Lặp lại thử nghiệm lần thứ 2, mà không kiểm tra TTS.

b) Gửi Lệnh REQA. Đáp ứng PICC phải ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng).

c) Gửi Lệnh REQA.

d) Nếu đáp ứng PICC ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng) thì trạng thái PICC ở trạng thái- “*”.

e) Điều kiện khác PICC ở trạng thái không- “*”

Trạng thái HALT không thể phân biệt được READY*(I) và ACTIVE* với lần vận hành thử nghiệm. Để phân biệt trạng thái HALT thực hiện các bước sau:

a) Lặp lại thử nghiệm lần thứ 2, mà không kiểm tra TTS.

b) Gửi lệnh WUPA. Đáp ứng PICC phải là ATQA.

Bảng G.7 – Kiểm tra TTS

CHÚ THÍCH Số khối có thể là 0 hoặc 1 phụ thuộc vào nguyên tắc đánh số khối xác định trong 7.5.4, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

G.3.3.3 Kịch bản G. 2: cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái IDLE

G.3.3.3.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái IDLE theo 6.3.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.3.3.3.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau hoặc theo từng hàng của Bảng G.8:

a) Đặt PICC vào trạng thái IDLE.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS không.

Bảng G.8 – Chuyển từ trạng thái IDLE

G.3.3.3.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.9.

Bảng G.9 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái IDLE

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như được chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.4 Kịch bản G.3: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(1)

G.3.3.4.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động PICC kiểu A trong trạng thái READY ở mức phân tầng 1 theo 6.3.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.3.3.4.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau đối với các PICCs và theo từng hàng của Bảng G.10:

a) Đặt PICC vào trạng thái READY(1).

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra đáp ứng PICC có như chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS

Bảng G.10 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY(1)

G.3.3.4.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.11.

Bảng G.11 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(1)

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như được chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.5 Kịch bản G.4: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(2)

G.3.3.5.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này được xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY ở mức phân tầng 2 theo 6.3.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3). Thử nghiệm này chỉ cho các PICC với kích cỡ UID cặp đôi hoặc cặp ba.

G.3.3.5.2 Quy trình

Thực hiện các bước cho tất cả các PICC với kích cỡ UID cặp đôi hoặc cặp ba và từng hàng của Bảng G.12:

a) Đặt PICC vào trạng thái READY(2).

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra đáp ứng PICC có như chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS

Bảng G.12 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY(2)

G.3.3.5.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.61 theo Bảng G.13.

Bảng G.13 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(2)

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Nếu PICC có một UID kích cỡ đơn	N/A (Không áp dụng)
Khi PICC có một UID kích cỡ cặp đôi hoặc cặp ba và chỉ khi nó đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.6 Kịch bản G.5: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(3)

G.3.3.6.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY theo 6.3.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3). Thử nghiệm này chỉ dành cho các PICC có UID kích cỡ cặp ba.

G.3.3.6.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho tất cả các PICC với UID kích cỡ cặp ba và từng hàng của Bảng G.14:

a) Đặt PICC vào trạng thái READY(3).

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS.

Bảng G.14 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY(3)

G.3.3.6.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.15.

Bảng G.15 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(3)

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Nếu PICC có một UID đơn hoặc cặp đôi lần	N/A (Không áp dụng)
Khi PICC có một UID kích cỡ cặp ba và chỉ khi đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.7 Kịch bản G.6: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái ACTIVE

G.3.3.7.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái ACTIVE theo 6.3.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443- 3).

G.3.3.7.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.16:

a) Đặt PICC vào trạng thái ACTIVE.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS

Bảng G.16 – Các chuyển tiếp từ trạng thái ACTIVE

G.3.3.7.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.17.

Bảng G.17 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trạng thái ACTIVE

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như được chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.8 Kịch bản G. 7: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái HALT

G.3.3.8.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái HALT theo 6.3.5, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.3.3.8.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.18:

a) Đặt PICC vào trạng thái HALT.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS

Bảng G.18 – Các chuyển tiếp từ trạng thái HALT

G.3.3.8.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.19.

Bảng G.19 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trạng thái HALT

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như được chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.9 Kịch bản G.8: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY*(1)

G.3.3.9.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY* của mức phân tầng 1 theo 6.3.6, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.3.3.9.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.20:

a) Đặt PICC vào trạng thái READY*(1).

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS

Bảng G.20 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY*(1)

G.3.3.9.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.21.

Bảng G.21 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY*(1)

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như được chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.10 Kịch bản G.9: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY*(2)

G.3.3.10.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY* của mức phân tầng 2 theo 6.3.6, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3). Thử nghiệm này chỉ áp dụng đối với các PICC với UID kích cỡ cặp đôi và 3 lần.

G.3.3.10.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.22:

a) Đặt PICC vào trạng thái READY*(2).

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS

Bảng G.22 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY*(2)

G.3.3.10.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.23.

Bảng G.23 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY*(2)

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Nếu PICC có một UID kích cỡ đơn	N/A (Không áp dụng)
Khi PICC có một UID kích cỡ cặp đôi hoặc cặp ba và chỉ khi đáp ứng như đã chỉ trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.11 Kịch bản G.10: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY*(3)

G.3.3.11.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY* ở mức phân tầng 3 theo 6.3.6, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3). Thử nghiệm này dành cho các PICC có UID kích cỡ cặp ba.

G.3.3.11.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.24:

a) Đặt PICC vào trạng thái READY*(3).

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS

Bảng G.24 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY*(3)

G.3.3.11.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.25.

Bảng G.25 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY*(3)

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Nếu PICC có một UID kích cỡ đơn hoặc cặp đôi lần	N/A (Không áp dụng)
Khi PICC có một UID kích cỡ cặp ba và chỉ khi nó đáp ứng như đã chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.12 Kịch bản G.11: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái ACTIVE*

G.3.3.12.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái ACTIVE* theo 6.3.7, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443- 3).

G.3.3.12.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.26:

a) Đặt PICC vào trạng thái ACTIVE.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC phù hợp với giá trị được chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC ở trong trạng thái TTS

Bảng G.26 – Các chuyển tiếp từ trạng thái ACTIVE*

G.3.3.12.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.27.

Bảng G.27 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái ACTIVE*

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như được chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.3.13 Kịch bản G. 12: Cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái PROTOCOL

G.3.3.13.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC Kiểu A trong trạng thái PROTOCOL theo TCVN 6.3.8, 11689-4 (ISO/IEC 14443-4). Hoặc thử nghiệm này phải đảm bảo PICC đã kích hoạt không đáp ứng bất kì lệnh chống va chạm hoặc khởi động.

G.3.3.13.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.28:

a) Đặt PICC vào trạng thái PROTOCOL.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng cách gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC được chỉ ra trong cột PICC.

d) Nếu đáp ứng PICC không Mute (chặn đáp ứng), kiểm tra thời gian trễ khung của PICC như đã chỉ ra trong cột FDT.

e) Kiểm tra nếu PICC có trong trạng thái TTS.

Bảng G.28 – Các chuyển tiếp từ trạng thái PROTOCOL

G.3.3.13.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.29.

Bảng G.29 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trạng thái PROTOCOL

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như được chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.4 Kịch bản G.13: Xử lý chống va chạm Kiểu A

G.3.4.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này để thực hiện một vòng lặp chống va chạm bitwise đầy đủ theo 6.5.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.3.4.2 Quy trình

a) Đặt PICC vào trong trường.

b) Đặt PICC vào trong trạng thái READY(1).

c) Thực hiện AnticollisionA (chống va chạm A).

d) Đặt PICC vào trong trạng thái READY*(1).

e) Thực hiện AnticollisionA (chống va chạm A).

Mã giả: Quy trình chống va chạm Kiểu A

G.3.4.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.61 theo Bảng G.30.

Bảng G.30 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của chống va chạm Kiểu A

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi mọi quy trình thử nghiệm chống va chạm được trả lại PASS	ĐẠT
Khi bất kì quy trình thử nghiệm chống va chạm được trả lại giá trị FAIL	KHÔNG ĐẠT

G.3.5 Xử lý của RATS

Xử lý của RATS được thử nghiệm trong G.3.3.7 và G.3.3.12.

Kịch bản G.14: Bỏ trống

Kịch bản G.14: RATS sau RATS không đúng, được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xoá bỏ.

Kịch bản G.15: Bỏ trống

Kịch bản G.15, RATS sau RATS, được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xoá bỏ.

G.3.6 Xử lý của yêu cầu PPS

G.3.6.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách xử lý yêu cầu PPS bằng PICC Kiểu A theo 5.6.2.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

G.3.6.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng kịch bản G.16 cho đến G.19 được liệt kê trong Điều này:

a) Đặt PICC vào trạng thái PROTOCOL.

b) Gửi lệnh như trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC theo từng kịch bản.

c) Kiểm tra xem đáp ứng của PICC có phù hợp với trong những giá trị đã đưa ra trong cột PICC.

d) Kiểm tra nếu PICC trong trạng thái PROTOCOL.

Kịch bản G.16: Bỏ trống

Kịch bản G.16, PPS không thay đổi thông số, được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xoá bỏ.

Kịch bản G.17: PPS không có PPS1

Kịch bản G.18: PPS sau PPS

Kịch bản G.19: PPS sau PPS không nhận được

G.3.6.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào các hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.31.

Bảng G.31 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của yêu cầu PPS

Diển giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như đã chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.3.7 Kịch bản G.20: Xử lý của FSD

G.3.7.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định nếu PICC kiểu A tôn trọng giá trị FSD khi được thỏa thuận bởi RATS theo TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 5.1.

G.3.7.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng FSDI = 0 to 8:

a) Đặt PICC vào trạng thái ACTIVE.

b) Gửi lệnh RATS(0, fsdi) với thông số fsdi như đang thử nghiệm riêng biệt.

c) Kiểm tra PICC trả lời một ATS hợp lệ và kích cỡ của nó ≤ FSD.

CHÚ THÍCH PICC có thể yêu cầu các trình tự bổ sung để sẵn sàng chấp nhận TEST_COMMAND2(2).

d) Gửi khối–l l(0)0(TEST_COMMAND2(2)).

e) Kiểm tra kích cỡ của khối –I gửi bởi PICC ≤ FSD.

G.3.7.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.62 theo Bảng G.32.

Bảng G.32 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.20: Xử lý của FSD

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như đã chỉ trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.4 Phương pháp thử cho việc khởi động của PICC kiểu B

G.4.1 Giới thiệu

Điều này là để thử nghiệm nếu PICC kiểu B có phù hợp với TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3). Nếu sự phù hợp với TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) không được yêu cầu thì tất cả các thử nghiệm có các lệnh của TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) không cần phải áp dụng.

Nếu PICC không hỗ trợ REQB/WUPB với N>1 cũng không hỗ trợ lệnh Slot-MARKER (xem TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 7.6.1) tất cả thử nghiệm có các lệnh này không cần áp dụng.

G.4.2 Kịch bản G.21: Kiểm soát vòng

G.4.2.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu B về việc tiếp nhận REQB theo ISO/IEC 14443-3:-, Điều 5.

G.4.2.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho 3 trường hoạt động khác nhau của 1,5,4,5 và 7,5 A/m (rms):

a) Đặt PICC vào trong trường và điều chỉnh nó.

b) Đóng trường hoạt động RF trong một thời gian tối thiểu cho việc thiết lập lập lại một PICC theo 5.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

c) Bật mở trường hoạt động RF.

d) Đợi 5 ms và gửi một khung lệnh REQB(1) hợp lệ.

e) Ghi sự hiện diện và nội dung của đáp ứng PICC.

f) Đóng trường hoạt động RF trong một thời gian tối thiểu cho việc thiết lập lập lại một PICC theo 5.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

g) Bật mở trường hoạt động RF.

h) Đợi 5 ms và gửi một khung lệnh REQA hợp lệ (with điều chế Kiểu A).

i) Đợi 5 ms và gửi một khung lệnh REQB(1) hợp lệ.

j) Ghi sự hiện diện và nội dung của đáp ứng PICC.

G.4.2.3 Báo cáo thử nghiệm.

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.33:

Bảng G.33 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.21: Kiểm soát vòng

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi đáp ứng của PICC là một ATQA hợp lệ ATQB trong cả 2 bước e) và j)	ĐẠT
Khi đáp ứng của các PICC không phải là một ATQB hợp lệ trong bất kì bước e) hoặc j)	KHÔNG ĐẠT

G.4.3 Kịch bản G.22: PICC Tiếp nhận

G.4.3.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này is xác định cách hoạt động của một PICC Kiểu B khi việc nhận các thông điệp PCD theo 7.1.1, 7.1.2, 7.1.4 và 7.1.5, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.4.3.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.34:

a) Đặt PICC tham chiếu vào trong trường.

b) Thiết lập các thông số khung của dụng cụ-thử nghiệm-PICC theo Bảng G.34.

c) Gửi một lệnh REQB.

d) Ghi sự hiện diện, nội dung và thời gian của đáp ứng PICC.

e) Kiểm tra định dạng khung của đáp ứng PICC phù hợp với:

– Đáp ứng PICC phải là một ATQB hợp lệ;

– Định thời gian 0 lô-gic SOF nằm giữa 10 và 11 etu;

– Định thời gian 1 lô-gic SOF nằm giữa 2 và 3 etu;

– Định thời gian 0 lô-gic SOF nằm giữa 10 và 11 etu;

– Định thời gian TR0 thuộc khoảng 64/fs ≤ TR0 ≤ 256/fs;

– Định thời gian TR1 thuộc khoảng 80/fs ≤ TR1 ≤ 200/fs;

– PICC phải tắt sóng mang điều chế giữa 0 và 2 etu sau khi kết thúc EOF.

Bảng G.34 – Các thông số khung Kiểu B

EGT [µs]	SOF (lô-gic 0) [etu]	SOF (lô-gic 1) [etu]	EOF [etu]
0	10	2	10
57	10	2	10
0	11	2	10
0	10	3	10
0	10	2	11

G.4.3.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.35.

Bảng G.35 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.22: PICC Tiếp nhận

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như đã chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.4.4 Thử nghiệm trạng thái chuyển tiếp PICC kiểu B

Thử nghiệm này xác minh việc thực hiện đúng sơ đồ trạng thái PICC kiểu B như trong 7.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.4.4.1 Bố trí thử nghiệm chung

Phần này là quy trình tương tự như mô tả ở PICC kiểu A (xem G.3.3.2).

G.4.4.1.1 Các chức năng để thiết lập PICC trong trạng thái ban đầu thử nghiệm TIS

Đặt PICC vào trong trạng thái TIS phải được thực hiện bởi một trình tự các lệnh chuyển tiếp qui định trong các bảng dưới đây. Phương pháp chung như sau:

Để đặt PICC vào trong trạng thái TIS, tra cứu trình tự chuyển tiếp trạng thái tương ứng trong Bảng G.36. Sau đó liên tiếp áp dụng các chuyển tiếp trạng thái mô tả trong cột này bằng cách tra cứu các lệnh tương ứng trong Bảng G.37. Luôn kiểm tra nội dung và tính toàn vẹn của đáp ứng PICC.

Bảng G.36 – Trình tự chuyển tiếp trạng thái

Bảng G.37 – Chuyển tiếp trạng thái

G.4.4.1.2 Chức năng kiểm tra tính hợp lệ của trạng thái đích thử nghiệm TTS

Bảng G.38 dưới đây mô tả các chuyển tiếp trạng thái, sử dụng để kiểm tra PICC có trong trạng thái S không. Nội dung trả lời PICC (ví dụ ATQB…) phải được kiểm tra sự phù hợp theo TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

CHÚ THÍCH Thử nghiệm này có thể dẫn đến PICC thay đổi trạng thái.

Bảng G.38 – Kiểm tra TTS

CHÚ THÍCH Số khối có thể là 0 hoặc 1 phụ thuộc vào nguyên tắc đánh số khối xác định trong 7.5.4, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

G.4.4.2 Kịch bản G.23: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái IDLE

G.4.4.2.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái IDLE theo 7.4.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.4.4.2.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.39:

a) Đặt PICC vào trong trạng thái IDLE.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng việc gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra nếu đáp ứng PICC có như đã chỉ ra trong cột PICC.

d) Kiểm tra nếu PICC có trong trạng thái TTS.

Bảng G.39 – Các chuyển tiếp từ trạng thái IDLE

G.4.4.2.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.40.

Bảng G.40 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.23: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái IDLE

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như đã chỉ trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.4.4.3 Kịch bản G.24: Cách hoạt động của PICC kiểu B trạng thái con READY-REQUESTED

Nếu PICC không hỗ trợ REQB/WUPB với N>1 cũng không hỗ trợ lệnh Slot-MARKER (xem 7.6.1 TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)) kịch bản này không cần áp dụng.

G.4.4.3.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái con READY-REQUESTED theo 7.4 5, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.4.4.3.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.41:

a) Đặt PICC vào trong trạng thái con READY-REQUESTED.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng việc gửi lệnh như đã chỉ trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra nếu đáp ứng PICC có như đã chỉ ra trong cột PICC.

d) Kiểm tra nếu PICC có trong trạng thái TTS.

Bảng G.41 – Các chuyển tiếp từ trạng thái con READY-REQUESTED

G.4.4.3.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.42.

Bảng G.42 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.24: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái con READY-REQUESTED

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như đã chỉ trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.4.4.4 Kịch bản G.25: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái con READY- DECLARED

G.4.4.4.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu B trạng thái con READY-DECLARED theo 7.4.6, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.4.4.4.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.43:

a) Đặt PICC vào trong trạng thái con READY-DECLARED.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng việc gửi lệnh như chỉ ra trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra nếu đáp ứng PICC có như chỉ ra trong cột PICC.

d) Kiểm tra nếu PICC có trong trạng thái TTS.

Bảng G.43 – Các chuyển tiếp từ trạng thái con READY-DECLARED

G.4.4.4.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.44.

Bảng G.44 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.25: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái con READY-DECLARED

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.4.4.5 Kịch bản G.26: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái HALT

G.4.4.5.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái HALT theo 7.4.8, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.4.4.5.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.45:

a) Đặt PICC vào trong trạng thái HALT.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng việc gửi lệnh như chỉ ra trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra nếu đáp ứng PICC có như chỉ ra trong cột PICC.

d) Kiểm tra nếu PICC trong trạng thái TTS.

Bảng G.45 – Các chuyển tiếp từ trạng thái HALT

G.4.4.5.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.46.

Bảng G.46 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.26: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái HALT

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.4.4.6 Kịch bản G.27: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái PROTOCOL

G.4.4.6.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC Kiểu B trong trạng thái PROTOCOL theo TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4). Thử nghiệm này phải đảm bảo PICC đã kích hoạt không đáp ứng bất kì lệnh khởi động nào.

G.4.4.6.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng hàng của Bảng G.47:

a) Đặt PICC vào trong trạng thái PROTOCOL.

b) Thực hiện chuyển tiếp trạng thái bằng việc gửi lệnh như chỉ ra trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra nếu đáp ứng PICC có như chỉ ra trong PICC.

d) Kiểm tra nếu PICC có trong trạng thái TTS.

Bảng G.47 – Các chuyển tiếp từ trạng thái PROTOCOL

G.4.4.6.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.48.

Bảng G.48 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.27: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái PROTOCOL

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.4.5 Kịch bản G.28: Xử lý của chống va chạm Kiểu B

G.4.5.1 Phạm vi áp dụng

Mục đích của thử nghiệm này là xác định việc Xử lý của chống va chạm PICC Kiểu B theo 7.4.1, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

Cốt lõi của thử nghiệm này là quy trình chống va chạm B(N, outparam chi2) được xác định trong mã giả dưới đây. Quy trình thực hiện 256 lệnh REQB(N) và các lệnh Slot-MARKER tiếp sau và tính bao nhiêu lần mỗi khe N được chọn bởi PICC. Quy trình cũng kiểm tra xem PICC có ánh xạ từng yêu cầu REQB(N) đến chính xác một khe không. Nếu đây không phải là thử nghiệm trả lại KHÔNG ĐẠT.

Khi chống va chạm Kiểu B dựa trên sự lựa chọn các khe ngẫu nhiên, các phương pháp thống kê phải được sử dụng để xác minh. Vì đó là bản chất của tất cả thử nghiệm thống kê, thử nghiệm này có thể không đạt ngay cả trong trường hợp PICC thực hiện chính xác. Không đạt này được gọi là một “lỗi loại I” trong các thuật ngữ thống kê. Lỗi này không thể tránh được hoàn toàn. Thay vào đó, xác suất phóngy ra của nó có thể được kiểm soát bởi tên gọi “giá trị ý nghĩa” α. Điều này có nghĩa, các α nhỏ hơn, ít có thể phóngy ra “lỗi loại I“. Tuy nhiên, điều này không có nghĩa là nên chọn α càng nhỏ càng tốt. Điều này là do các α nhỏ hơn, có thể nhỏ hơn thử nghiệm đạt một PICC xấu (ví dụ một PICC không chọn các khe với xác suất đúng). Trong các thuật ngữ thống kê được gọi là một “lỗi loại II“.

PICC phải chọn bổ sung từng khe N với xác suất bằng nhau (ví dụ 1/N). Để kiểm tra điều này, X²-test có tính thống kê trên tất cả các khe phải được thực hiện. Kết quả thử nghiệm này là giá trị chi2 phải được so sánh với ngũ phân vị X²_{α, N-1}.

G.4.5.2 Quy trình

Nếu một đang thử nghiệm thống kê không đạt trong bước e) phòng thử nghiệm có thể quay lại thử nghiệm với thông số N.

Thực hiện các bước sau với từng giá trị N = 2, 4, 8, 16.

a) Thiết lập mức ý nghĩa α là 0,005 và tra cứu từ Bảng G.49 ngũ phân vị X²_{α, N-1} tương ứng. Các lựa chọn khác của α theo Bảng G.49 được tùy chọn cho những người yêu cầu thử nghiệm.

b) Thiết lập lại PICC.

c) Thực thi chống va chạm B(N, chi2).

d) Nếu chống va chạm B trở lại FAIL, thử nghiệm không đạt.

e) Nếu chi2 ≤ X²_{α, N-1} sau đó thử nghiệm đạt hoặc thử nghiệm không đạt.

Bảng G.49 – Các giá trị ngũ phân vị α

α	X²α
α	X²α,	X²α,	X²α,	X²α, 15
0,1 (tùy chọn)	2,706	6,251	12,017	22,307
0,05 (tùy chọn)	3,841	7,815	14,067	24,996
0,01 (tùy chọn)	6,635	11,345	18,475	30,578
0,005	7,879	12,838	20,278	32,801

Mã giả: quy trình chống va chạm Kiểu B

CHÚ THÍCH Tiếp tục với bước e) chỉ khi ĐẠT trở lại trong dòng 43.

G.4.5.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.50.

Bảng G.50 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.28: Xử lý của chống va chạm Kiểu B

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi từng quy trình thử nghiệm chống va chạm được quay lại PASS	ĐẠT
Khi mọi quy trình thử nghiệm chống va chạm quay lại giá trị FAIL	KHÔNG ĐẠT

G.4.6 Xử lý của ATTRIB

G.4.6.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC kiểu B trên lệnh ATTRIB theo 7.10, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443–3).

G.4.6.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng Kịch bản G.29 cho đến G.30 được liệt kê trong Điều này:

a) Đặt PICC vào trong trạng thái con READY-DECLARED.

b) Gửi lệnh trình tự như trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

c) Kiểm tra nếu đáp ứng của PICC có phù hợp với trong những giá trị đã đưa ra trong cột PICC.

d) Kiểm tra nếu PICC có trong trạng thái PROTOCOL.

Kịch bản G. 29: ATTRIB VỚI PUPI sai lệch

Kịch bản G. 30: ATTRIB sau khi ATTRIB sai lệch

G.4.6.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.51.

Bảng G.51 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của ATTRIB

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.4.7 Kịch bản G.31: Xử lý của Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất)

G.4.7.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định nếu PICC kiểu B chú trọng đến Maximum Frame size (kích cỡ khung lớn nhất) như thỏa thuận bởi ATTRIB theo 7.10.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

G.4.7.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng Mã Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) trong ATTRIB như xác định trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3):

a) Đặt PICC vào trong trạng thái con READY-DECLARED như trong G.4.4.1.1.

b) Gửi lệnh ATTRIB(0, fsdi) với thông số fsdi như đang thử nghiệm riêng biệt.

c) Kiểm tra nếu trả lời PICC là ATA(0).

CHÚ THÍCH PICC có thể yêu cầu trình tự bổ sung để sẵn sàng chấp nhập TEST_COMMAND2(2).

d) Gửi Khối–I I(0)₀(TEST_COMMAND2(2)).

e) Kiểm tra nếu kích cỡ của đáp ứng Khối–I của đáp ứng PICC ≤ Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất).

G.4.7.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.63 theo Bảng G.52.

Bảng G.52 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.31: Trình xử lý của Maximum Frame size (kích cỡ khung lớn nhất)

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.5 Phương pháp thử đối với thao tác lô-gic của PICC kiểu A/Kiểu B

G.5.1 Giới thiệu

Chương này gồm thử nghiệm xác minh PICC đã kích hoạt phù hợp với TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4). Chương này áp dụng đối với PICC kiểu A và Kiểu B.

G.5.1.1 Các bước kích hoạt PICC

Kích hoạt PICC là quá trình đặt PICC vào trong trạng thái mà các khối giao thức được xác định trong TCVN 11689-4 (1SO/IEC 14443-4) có thể được trao đổi. Quá trình này phụ thuộc kiểu PICC.

CHÚ THÍCH PICC có thể yêu cầu các trình tự bổ sung để sẵn sàng chấp nhận bước 1 của Kịch bản.

G.5.1.1.1 Kích hoạt PICC kiểu A

a) Đặt PICC vào trong trạng thái ACTIVE như trong G.3.3.2.1.

b) Gửi RATS(cid, fsdi).

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC có là một ATS hợp lệ.

G.5.1.1.2 Kích hoạt PICC kiểu B

a) Đặt PICC vào trong trạng thái con READY-DECLARED như trong G.4.4.1.1.

b) Gửi ATTRIB(cid, fsdi).

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC có là ATA hợp lệ.

G.5.2 Phản ứng PICC đối với các kịch bản TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)

G.5.2.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICC theo TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443–4), Điều 7. Thử nghiệm này sử dụng việc thực hiện các kịch bản giao thức của TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443–4), Phụ lục B.

G.5.2.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng Kịch bản G.32 cho đến G.54 liệt kê trong Điều này:

a) Kích hoạt PICC như trong G.5.1.1, sử dụng CID = 0 và FSDI = 0.

b) Đối với từng bước trong kịch bản:

1) Gửi lệnh như trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

2) Kiểm tra xem đáp ứng PICC phù hợp với giá trị của cột PICC.

c) Kết thúc.

Kịch bản G.32: Trao đổi các Khối–I

Kịch bản G.33: Yêu cầu mở rộng thời gian chờ

Kịch bản G.34: DESELECT

Kịch bản G.35: PCD sử dụng liên kết chuỗi

Kịch bản G.36: PICC sử dụng liên kết chuỗi

Kịch bản G.37: Bắt đầu giao thức

Kịch bản G.38: Trao đổi các Khối-I

Kịch bản G.39: Trao đổi các Khối-I 1

Kịch bản G.40: Trao đổi các Khối–I 2

Kịch bản G.41: Yêu cầu mở rộng thời gian chờ

Kịch bản G.42: Yêu cầu mở rộng thời gian chờ

Kịch bản G.43: Yêu cầu mở rộng thời gian chờ

Kịch bản G.44: Yêu cầu mở rộng thời gian chờ

Kịch bản G.45: Yêu cầu mở rộng thời gian chờ

Kịch bản G.46: DESELECT

Kịch bản G.47: PCD sử dụng liên kết chuỗi

Kịch bản G.48: PCD sử dụng liên kết chuỗi

Kịch bản G.49: PCD sử dụng liên kết chuỗi

Kịch bản G.50: PICC sử dụng liên kết chuỗi

Kịch bản G.51: PICC sử dụng liên kết chuỗi

Kịch bản G.52: PICC sử dụng liên kết chuỗi

Kịch bản G.53: Có mặt PICC kiểm tra phương pháp 1

Kịch bản G.54: Có mặt PICC kiểm tra phương pháp 2

G.5.2.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào các hàng thích hợp trong Bảng G.64 theo Bảng G.53.

Bảng G.53 – Tiêu chí kết quả đối với phản ứng PICC đối với các kịch bản TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.5.3 Xử lý phát hiện lỗi PICC

G.5.3.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định phát hiện lỗi cơ học của PICC như trong 7.5.6, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

G.5.3.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng Kịch bản G.55 cho đến G.57 được liệt kê trong Điều này:

a) Đặt PICC tham chiếu vào trong trường.

b) Kích hoạt PICC như trong G.5.1.1, sử dụng CID = 0 và FSDI = 0.

c) Cho từng bước trong Kịch bản:

1) Gửi lệnh như trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

2) Kiểm tra nếu đáp ứng PICC như miêu tả trong cột PICC.

d) Kết thúc.

Kịch bản G.55: Sai lệch CRC trên Khối–I

Kịch bản G.56: Sai lệch CRC trên Khối–I được liên kết chuỗi

Kịch bản G.57: Sai lệch CRC trên khối–S(WTX)

G.5.3.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào các hàng thích hợp trong Bảng G.64 theo Bảng G.54.

Bảng G.54 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý phát hiện lỗi PICC

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.5.4 PICC phản ứng trên CID

G.5.4.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định phản ứng của PICC đến việc mã hoá CID theo 7.1.1.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

G.5.4.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng Kịch bản G.58 cho đến G.62 được liệt kê trong Điều này. Sử dụng bảng trường hợp thử nghiệm CID riêng biệt phụ thuộc PICC có hỗ trợ CID hay không.

Đối với mỗi hàng trong các bảng trường hợp thử nghiệm CID trong Bảng G.55 hoặc Bảng G.56:

a) Kích hoạt PICC với cid_ass như chỉ ra trong cột CID được gán cho.

b) Thực hiện một khối trao đổi như trong kịch bản tương ứng. Sử dụng cid_cmd như trong cột CID lệnh trong bảng trường hợp thử nghiệm CID.

c) Kiểm tra xem đáp ứng PICC phù hợp với đáp ứng như trong cột PICC ở Kịch bản. Nếu 2 tùy chọn đáp ứng được chỉ ra cho PICC, thì đáp ứng mong đợi duy nhất phải được xác định từ cột đáp ứng PICC mong muốn trong bảng trường hợp thử nghiệm CID.

Bảng G.55 – Bảng trường hợp thử nghiệm CID (đối với các PICC hỗ trợ CID)

Thứ tự thử,^a	CID được gán cho (cid_ass)	CID lệnh (cid_cmd)	Đáp ứng PICC mong muốn
1	1	1	Đáp ứng 1 của Kịch bản
2	0	0	Đáp ứng 1 của Kịch bản
3	0	NO CID	Đáp ứng 1 của Kịch bản
4	1	NO CID	Đáp ứng 2 của Kịch bản (Mute (chặn đáp ứng))
5	0	1	Đáp ứng 2 của Kịch bản (Mute (chặn đáp ứng))
6	1	0	Đáp ứng 2 của Kịch bản (Mute (chặn đáp ứng))
7	2	1	Đáp ứng 2 của Kịch bản (Mute (chặn đáp ứng))
^a Mỗi số Thứ tự thử trong bảng phải được thử nghiệm với từng Kịch bản được mô tả.

Bảng G.56 – Bảng trường hợp thử nghiệm CID (đối với các PICC không hỗ trợ CID)

Thứ tự thử,^a	CID được gán cho (cid_ass)	CID lệnh (cid_cmd)	Đáp ứng PICC mong muốn
1	0	0	Đáp ứng 2 của Kịch bản (Mute (chặn đáp ứng))
2	0	NO CID	Đáp ứng 1 của Kịch bản
3	0	1	Đáp ứng 2 của Kịch bản (Mute (chặn đáp ứng))
4 b	1	NO CID	Đáp ứng 1 của Kịch bản
^a Mỗi số Thứ tự thử trong bảng phải được thử nghiệm với từng Kịch bản được mô tả. ^b Áp dụng chỉ đối với PICC Kiểu A

Kịch bản G.58: CID trên Khối–I

Kịch bản G.59: CID trên Khối-I với liên kết chuỗi

Kịch bản G.60: CID trên khối –R

Kịch bản G.61: CID trên khối–S(WTX)

Kịch bản G.62: CID trên khối–S(DESELECT)

Kịch bản G.66: CID trên khối-S(PARAMETERS)

G.5.4.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng G.64 theo Bảng G.57.

Bảng G.57 – Tiêu chí kết quả đối với PICC phản ứng trên CID

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PICC đáp ứng như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.5.5 PICC phản ứng trên NAD

G.5.5.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định phản ứng của PICC đối với việc mã hoá NAD theo 7.1.2.3, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

G.5.5.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho từng Kịch bản G.63 cho đến G.65 được liệt kê trong Điều này.

Kích hoạt PICC như trong Điều quá trình kích hoạt PICC G.5.1.1, sử dụng CID = 0 và FSDI = 0,

Đối với mỗi bước trong Kịch bản:

a) Gửi lệnh như trong cột dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

b) Kiểm tra xem đáp ứng PICC phù hợp với giá trị của cột PICC.

Để n là một giá trị tùy ý của NAD hợp lệ với b4 và b8 đặt là (0)b.

Kịch bản G.63: NAD trên Khối–I (đối với các PICC hỗ trợ NAD)

Kịch bản G.64: NAD trên Khối-I được liên kết chuỗi (đối với các PICC hỗ trợ NAD)

Kịch bản G.65: NAD trên Khối–I (cho các PICC không hỗ trợ NAD)

G.5.5.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào các hàng thích hợp trong Bảng G.64 theo Bảng G.58.

Bảng G.58 – Tiêu chí kết quả đối với PICC phản ứng trên NAD

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Nếu Kịch bản Không áp dụng cho PICC	N/A (Không áp dụng)
Khi kịch bản có thể được áp dụng cho PICC và chỉ khi đáp ứng của PICC như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.5.6 Phản ứng PICC trên các khối–S(PARAMETERS)

G.5.6.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này xác định cách hoạt động của PICG theo 7.5.1, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4). Thử nghiệm này sử dụng những bước tiến hành các Kịch bản giao thức của B.2.6, TCVN 11689-4 (ISO/ ISO/1EC 14443-4).

G.5.6.2 Quy trình

Thực hiện các bước sau cho mỗi Kịch bản được liệt kê dưới đây trong điều phụ này:

a) Kích hoạt PICC như trong G.5.1.1, sử dụng CID = 0.

b) Đối với mỗi bước trong Kịch bản thực hiện:

1) Gửi lệnh như trong cột Dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

2) Kiểm tra đáp ứng PICC phù hợp với trong các cột PICC. Nếu PICC không hỗ trợ S(PARAMETERS), PICC phải ở Câm trên từng yêu cầu S(PARAMETER).

c) Kết thúc.

Kịch bản G.66: Trao đổi các thông số bổ sung

Kịch bản G.67: Trao đổi các thông số bổ sung

Kịch bản G.68: Trao đổi các thông số bổ sung

Kịch bản G.69: Trao đổi các thông số bổ sung

G.5.6.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào các hàng thích hợp trong Bảng G.64 theo Bảng G.59.

Bảng G.59 – Tiêu chí kết quả cho việc thay đổi các thông số bổ sung

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi đáp ứng của PICC như chỉ ra trong quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

G.5.7 PICC hỗ trợ Kiểu A và Kiểu B

G.5.7.1 Mục đích

Thử nghiệm này kiểm tra PICC có hỗ trợ Kiểu A và Kiểu B hay không, sau đó nó có ở trạng thái khoá theo kiểu lệnh yêu cầu được Xử lý đầu tiên cho đến trạng thái POWER – OFF (sau khi trả lời yêu cầu của một kiểu, kiểu còn lại ngừng cho đến khi PICC nhập vào trạng thái POWER – OFF).

G.5.7.2 Điều kiện

Dụng cụ-thử nghiệm-PICC phải được sử dụng.

G.5.7.3 Quy trình

Thực hiện các bước sau:

a) Đặt PICC vào trong vị trí thử nghiệm của Dụng cụ-thử nghiệm-PICC.

b) Bật trường hoạt động RF dụng cụ-thử nghiệm-PICC và đợi ít nhất 5 ms.

c) Gửi một lệnh WUPA và kiểm tra có một đáp ứng PICC hợp lệ.

d) Giữ Dụng cụ-thử nghiệm-PICC Trường RF mở trong hơn 1 s.

e) Gửi một trình tự 10 lệnh WUPB và kiểm tra không có đáp ứng PICC.

f) Tắt trường hoạt động RF trong một thời gian nhỏ nhất để thiết lập lại một PICC (xem TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 5.6)

g) Bật trường hoạt động RF dụng cụ-thử nghiệm-PICC và đợi ít nhất 5 ms.

h) Gửi một lệnh WUPB và kiểm tra có một đáp ứng PICC hợp lệ.

i) Giữ Dụng cụ-thử nghiệm-PICC Trường RF mở trong hơn 1 s.

j) Gửi một trình tự 10 lệnh WUPA và kiểm tra không có đáp ứng PICC.

G.5.7.4 Báo cáo thử nghiệm

Kết quả thử nghiệm là ĐẠT nếu tất cả các bước của quy trình thành công, nếu không kết quả thử nghiệm là KHÔNG ĐẠT.

G.6 Báo cáo kết quả

Bảng G.60 – Bảng định xung nhịp thời gian cụ thể Kiểu A

TT	Thông số	Tham chiếu	Giá trị đo được [1/fc]		Kết quả thử nghiệm ĐẠT/KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG
TT	Thông số	Tham chiếu	Nhỏ nhất	Lớn nhất	Kết quả thử nghiệm ĐẠT/KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG
1	Thời gian trễ khung PCD đến PICC (đối với các lệnh REQA, WUPA, SELECT ANTICOLLISION,)	6.2.1.1, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
2	RATS và ngừng hoạt động thời gian chờ đợi khung	8.1, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)
3	Thời gian trễ khung PCD đến PICC (cho các khung ngoài các hàng trước đó)	6.2.11, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) 8.1, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)

Bảng G.61 – Bảng định thời gian cụ thể Kiểu B

TT	Thông số	Tham chiếu	Giá trị đo được [etu] hoặc [1/fs] hoặc [1/fc] phụ thuộc vào yêu cầu		Kết quả thử nghiệm ĐẠT/KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG
TT	Thông số	Tham chiếu	Nhỏ nhất	Lớn nhất	Kết quả thử nghiệm ĐẠT/KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG
1	SOF thấp	7.1.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
2	SOF cao	7.1.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
3	EOF thấp	7.1.5, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
4	EGT PICC tới PCD	7.1.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
5	TR0 cho ATQB	7.1.6, TCVN 11689-3 (ISO/1EC 14443-3), 7.10.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
6	TR1 cho ATQB	7.1.6, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443–3), 7.10.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
7	TR0 ngoại trừ cho ATQB và đáp ứng S(DESELECT)	7.1.6, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 7.10.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
8	TR1 Không cho ATQB	7.1.6, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 7.10.3, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
9	Fs đến OFF	7.1.7, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
10	Ngừng hoạt động thời gian chờ đợi khung (TR0 + TR1)	7.1.6, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 8.1, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)

Bảng G.62 – Kết quả báo cáo đối với các phương pháp thử cụ thể kiểu A

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Số kịch bản	Kết quả thử nghiệm
Điều	Thông số	ISO/IEC 10373-6	ĐẠT hoặc KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG
G.3.2	Kiểm soát vòng	Kịch bản G.1
G.3.3	Thử nghiệm các chuyển tiếp trạng thái PICC kiểu A	Kịch bản G.2
		Kịch bản G.3
		Kịch bản G.4
		Kịch bản G.5
		Kịch bản G.6
		Kịch bản G.7
		Kịch bản G.8
		Kịch bản G.9
		Kịch bản G.10
		Kịch bản G.11
		Kịch bản G.12
G.3.4	Xử lý của chống va chạm Kiểu A	Kịch bản G.13
G.3.6	Xử lý của yêu cầu PPS	Kịch bản G.17
		Kịch bản G.18
		Kịch bản G.19
G.3.7	Xử lý của FSD	Kịch bản G.20

Bảng G.63 – Kết quả báo cáo đối với các phương pháp thử cụ thể Kiểu B

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Số kịch bản	Kết quả thử nghiệm
Điều	Thông số	ISO/IEC 10373-6	ĐẠT hoặc KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG
G.4.2	Kiểm soát vòng	Kịch bản G.21
G.4.3	PICC Tiếp nhận	Kịch bản G.22
G.4.4	Thử nghiệm của các chuyển tiếp trạng thái PICC kiểu B	Kịch bản G.23
		Kịch bản G.24
		Kịch bản G.25
		Kịch bản G.26
		Kịch bản G.27
G.4.5	Xử lý của chống va chạm Kiểu B	Kịch bản G.28
G.4.6	Xử lý của ATTRIB	Kịch bản G.29
G.4.6	Xử lý của ATTRIB	Kịch bản G.30
G.4.7	Xử lý của Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất)	Kịch bản G.31

Bảng G.64 – Kết quả báo cáo đối với các phương pháp thử về thao tác lô-gic của PICC kiểu A hoặc Kiểu B

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Số kịch bản		Kết quả thử nghiệm
Điều	Thông số		ISO/IEC 10373-6	ĐẠT hoặc KHÔNG ĐẠT hoặc N/A
G.5.2	Phản ứng PICC của các kịch bản TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)		Kịch bản G.32
			Kịch bản G.33
			Kịch bản G.34
			Kịch bản G.35
			Kịch bản G.36
			Kịch bản G.37
			Kịch bản G.38
			Kịch bản G.39
			Kịch bản G.40
			Kịch bản G.41
			Kịch bản G.42
			Kịch bản G.43
			Kịch bản G.44
			Kịch bản G.45
			Kịch bản G.46
			Kịch bản G.47
			Kịch bản G.48
			Kịch bản G.49
			Kịch bản G.50
			Kịch bản G.51
			Kịch bản G.52
			Kịch bản G.53
			Kịch bản G.54
G.5.3	Xử lý phát hiện lỗi PICC		Kịch bản G.55
			Kịch bản G.56
			Kịch bản G.57
G.5.4	PICC phản ứng trên CID		Kịch bản G.58
			Kịch bản G.59
			Kịch bản G.60
			Kịch bản G.61
			Kịch bản G.62
G.5.5	PICC phản ứng trên NAD		Kịch bản G.63
			Kịch bản G.64
			Kịch bản G.65
G.5.6	PICC phản ứng trên các khối S(PARAMETERS)		Kịch bản G.67
			Kịch bản G.68
			Kịch bản G.69
			Kịch bản G.70
G.5.7	PICC hỗ trợ Kiểu A và Kiểu B

Phụ lục H

(quy định)

Phương pháp thử PCD bổ sung

H.1 Dụng cụ–thử nghiệm–PCD và phụ kiện

Điều này xác định dụng cụ thử nghiệm PCD và các mạch thử nghiệm để kiểm tra hoạt động của PCD theo TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

H.1.1 Phương pháp thử

Mô hình tóm tắt ISO/IEC 9646 được chọn và phương pháp thử cục bộ được sử dụng để thử nghiệm giao thức trong TCVN 11689 (ISO/IEC 14443) giữa PCD và LT đã thử nghiệm.

H.1.2 Cấu trúc dụng cụ–thử nghiệm–PCD

Dụng cụ–thử nghiệm–PCD gồm 2 phần (xem Hình H.1):

– Bộ thử nghiệm mức cao hơn (có thể là một máy tính cá nhân với giao diện chủ phù hợp cho 8361 PCD đã thử nghiệm);

– Bộ thử nghiệm mức thấp hơn (LT).

PCD đã thử nghiệm được coi là triển khai thử nghiệm (IUT).

Khi một PCD được gắn vào trong một sản phẩm, nó gồm UT. Đối với trường hợp này, một vài thử nghiệm có thể không được áp dụng. Ngoài ra, trong trường hợp tiêu chuẩn không có một yêu cầu cụ thể phương pháp thử phải kết thúc với báo cáo chỉ nêu về khả năng.

Hình H.1 – Kiến trúc bộ thử nghiệm dựa trên khái niệm

Phần LT của dụng cụ thử nghiệm PCD gồm:

– Một PICC mô phỏng thiết bị phần cứng và phần mềm có khả năng mô phỏng các giao thức Kiểu A và B;

– Một máy hiện sóng lấy mẫu kỹ thuật số (xem 5.1.1).

H.1.3 Giao diện dụng cụ–thử nghiệm–PCD

UT và IUT giao kết với TM-PDU (PDU quản lý thử nghiệm). Định nghĩa các TM-PDU là việc thực hiện phụ thuộc và được cung cấp bởi nhà tạo IUT và phải khởi động các hành động được yêu cầu trong Bảng H.1.

Bảng H.1 – Các lệnh giao diện lô-gic

	Tên TM-PDU	Hành động IUT được yêu cầu
1	INITIALIZE_PCD_TEST_MODE	Trở về trạng thái Power ON (bật nguồn) (IUT mong muốn để nhập vào vòng lặp chống va chạm). IUT trả lại mã kết quả hành động của nó đối với UT.
2	INITIATE_ANTICOLLISION	Trình tự chống va chạm khởi động (nếu IUT bắt đầu trình tự chống va chạm tự động khi khởi động, trình tự có thể rỗng). IUT trở về mã kết quả hành động của nó đối với UT.
3	SEND_UT_APDU	Truyền UT_APDU qua giao diện RF đến LT và trở về mã kết quả IUT hành động của nó đối với UT. Đáp ứng từ IUT sẽ gồm trả lời của LT đến gửi UT_APDU.

Dụng cụ–thử nghiệm–PCD có thể phải khởi động thông tin hữu ích được cung cấp bởi nhà tạo IUT qua giao diện UT và đến cấu hình chính nó để to các quy trình, giao thức và phân tích cần thiết qua giao diện LT của nó.

H.1.4 Mô phỏng giao thức I/O

Dụng cụ–thử nghiệm–PCD tại giao diện LT của nó có thể phải mô phỏng giao thức Kiểu A và Kiểu B và các ứng dụng PICC, được yêu cầu để vận hành kịch bản. LT có thể phải phá vỡ các gói đã truyền dẫn trong các khối được liên kết chuỗi theo độ dài được yêu cầu.

Có thể để cấu hình LT giống với các tùy chọn khác nhau:

– Cấu hình NAD và CID;

– Kích cỡ khung, các tốc độ bit và bất kì thông số khác như yêu cầu thực hiện của các phương pháp thử.

H.1.5 Tạo kí tự I/O định xung nhịp thời gian trong chế độ truyền dẫn

Dụng cụ–thử nghiệm–PCD tại giao diện LT của nó có thể phải tạo dòng bit I/O theo TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3). Các thông số định xung nhịp thời gian: khoảng thời gian bit bắt đầu, thời gian bảo vệ thêm (chỉ Kiểu B), khoảng thời gian bit, thời gian trễ khung, bắt đầu chiều rộng khung và kết thúc chiều rộng khung có thể phải được cấu hình. Đối với mục đích của thử nghiệm Kiểu A, LT có khả năng phải giống một va chạm bit tại (các) vị trí bit được chọn.

H.1.6 Đo lường và giám sát giao thức I/O RF

H.1.6.1 Phép đo định xung nhịp thời gian

Dụng cụ–thử nghiệm–PCD phải tiếp tục giám sát định dạng khung và các giá trị định xung nhịp thời gian dưới đây:

Kiểu A:

– Thời gian trễ khung PICC đến PCD (xem TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 6.2.1.2);

– các định dạng khung (xem TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 6.2.3);

Kiểu B:

– Kí tự, định dạng khung và định xung nhịp thời gian (xem TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 7.1).

Một thử nghiệm KHÔNG ĐẠT và PCD được thử nghiệm phải được tuyên bố là không tuân thủ trong trường hợp một trong những ràng buộc định xung nhịp thời gian được liệt kê bị vi phạm.

H.1.6.2 Báo cáo các phép đo định xung nhịp thời gian

Điền vào Bảng H.20 đối với Kiểu A và Bảng H.21 đối với Kiểu B với các giá trị định xung nhịp thời gian đo được.

H.1.7 Phân tích giao thức

Dụng cụ–thử nghiệm–PCD có thể phải phân tích dòng I/O–bit tại giao diện LT theo giao thức Kiểu A và Kiểu B như quy định trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3) và TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) và trích xuất dòng dữ liệu lô-gic để phân tích giao thức thêm.

H.1.8 Quy trình kích hoạt giao thức

H.1.8.1 Quy trình kích hoạt cho các phương pháp thử chống va chạm

Kích hoạt LT bằng trình tự sau:

a) Cấu hình LT để mô phỏng giao thức Kiểu A hoặc Kiểu B.

b) UT gửi INITIALIZE_PCD_TEST_MODE TM-PDU đến PCD.

C) UT gửi INITIATE_ANTICOLLISION TM-PDU đến PCD.

H.1.8.2 Quy trình kích hoạt cho các phương pháp thử giao thức Kiểu A

Kích hoạt LT bằng trình tự sau:

a) Cấu hình LT để mô phỏng giao thức Kiểu A.

b) UT gửi INITIALIZE_PCD_TEST_MODE TM-PDU đến PCD.

C) UT gửi INITIATE_ANTICOLLISION TM-PDU đến PCD. PCD phải áp dụng trình tự chống va chạm như trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), Điều 6 (yêu cầu, vòng lặp chống va chạm và lựa chọn). PCD phải áp dụng trình tự kích hoạt giao thức xác định trong TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443–4), Điều 5.

d) PCD báo cáo kết quả UT của quy trình kích hoạt.

H.1.8.3 Quy trình kích hoạt cho các phương pháp thử giao thức Kiểu B

Kích hoạt LT bằng trình tự sau:

a) Cấu hình LT để mô phỏng giao thức Kiểu B.

b) UT gửi INITIALIZE_PCD_TEST_MODE TM-PDU đến PCD.

c) UT gửi INITIATE_ANTICOLLISION TM-PDU đến PCD. PCD phải áp dụng trình tự chống va chạm như trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), Điều 7.

d) PCD báo cáo kết quả UT của quy trình kích hoạt.

H.1.9 Kịch bản

H.1.9.1 Mô tả

Thử nghiệm PCD như trong tài liệu này yêu cầu một kịch bản thực hiện. Kịch bản này là một ứng dụng và giao thức truyền thông cụ thể điển hình, phụ thuộc giao thức và ứng dụng cụ thể có tính chức năng dự định dành cho sử dụng thông thường và được thực hiện trong PCD.

Kịch bản điển hình là thiết lập các TM-PDU lệnh xác định trong H.1.3.

Kịch bản phải được xác định bởi các thực thể thực hiện thử nghiệm này và phải được tài liệu các kết quả thử nghiệm. Kịch bản bao gồm một tập con thể hiện hoặc nếu thực tế, việc đầy đủ chức năng của PCD dự kiến được sử dụng trong quá trình sử dụng thông thường.

CHÚ THÍCH Thực thể thử nghiệm có thể yêu cầu thông tin về giao thức và chức năng thực hiện.

UT_APDU được gửi có thể là một trong những dạng dưới đây:

– UT_TEST_COMMAND1, quyết định bởi dụng cụ–thử nghiệm–PCD, quy định hướng dẫn ISO sử dụng như hướng dẫn mặc định các kịch bản không cần liên kết chuỗi PCD. (Trong trường hợp PCD quyết định cách liên kết chuỗi khác, kịch bản nên được thích ứng theo thử nghiệm trong phòng thí nghiệm);

– UT_TEST_COMMAND2, quyết định bởi dụng cụ–thử nghiệm–PCD, quy định hướng dẫn ISO sử dụng như hướng dẫn mặc định các kịch bản đối phó với liên kết chuỗi PCD.

H.1.9.2 Ví dụ Kịch bản

Kịch bản điển hình có thể như sau:

INITIALIZE_PCD_TEST_MODE
INITIATE_ANTICOLLISION
SEND_UT_APDU (UT_TEST_COMMAND1)
SEND_UT_APDU (UT_TEST_COMMAND1)
…

H.1.10 UT, LT và cách hoạt động PCD

Các mục sau tóm tắt cách hoạt động của UT, LT và PCD:

a) UT vận hành quy trình kích hoạt như trong H.1.8.

b) Nếu quy trình kích hoạt bị lỗi, PCD tiến tới quá trình loại trừ. Quá trình loại trừ này có thể gồm việc báo cáo lỗi đến UT.

c) Trong trường hợp của các phương pháp thử chống va chạm dụng cụ-thử nghiệm-PCD kết thúc thử nghiệm tại điểm này. Đối với các phương pháp thử giao thức UT tiếp tục thực hiện bước tiếp theo.

d) UT gửi lệnh UT_APDU đầu tiên đến PCD.

e) PCD mong muốn chuyển tiếp lệnh UT_APDU này đến LT sử dụng các TB-PDU. PCD chia tách UT_APDU hiện thời vào nhưng TB-PDU thích hợp (các Khối–I), gửi Khối–I đầu tiên đến LT và đáp ứng khối được chờ đợi. PCD quản lí các khối truyền thông TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

f) Lệnh UT_APDU được nhận bởi LT. LT gửi đáp ứng UT_APDU đến PCD. LT quản lí manages các khối truyền thông (các TB-PDU) theo TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) (LT có thể sử dụng cơ chế liên kết chuỗi bất cứ lúc nào ngay cả khi không ra lệnh bởi Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) PCD hoặc PICC). PCD mong muốn chuyển tiếp đáp ứng UT_APDU, nhận từ LT, trở lại UT.

g) Nếu lệnh không qua được mức giao thức (ví dụ lỗi được phát hiện bởi PCD), PCD tiến tới quá trình loại trừ. Quá trình loại trừ này có thể gồm việc báo cáo lỗi đến UT.

h) Nếu lệnh thành công, PCD báo cáo UT về kết quả thành công. Trong trường hợp này, nếu kịch bản xác định UT_APDU bổ sung được gửi đến LT, UT gửi UT_APDU tiếp theo đến PCD. Lòng lặp này tiếp tục cho đến khi thử nghiệm UT_APDU cuối cùng được gửi.

H.1.11 Mối quan hệ của các phương pháp thử với yêu cầu tiêu chuẩn cơ bản

Tất cả thử nghiệm các bảng H.2, H.3 và H.4 phải được thực thi và kết quả của chúng được báo cáo trong các bảng liên quan trong H.6.

Bảng H.2 – Phương pháp thử cụ thể Kiểu A

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Yêu cầu tương ứng
Điều	Tên	Tiêu chuẩn cơ bản	Điều
H.2.1	Thời gian trễ khung PICC đến PCD	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	6.2.1.2
H.2.2	Yêu cầu thời gian bảo vệ	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	6.2.2
H.2.3	Xử lý của va chạm bit trong ATQA	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	6.5.2
H.2.4	Xử lý vòng lặp chống va chạm	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	6.5.3
H.2.5	Xử lý của RATS và ATS	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	5.6.1.1
H.2.6	Xử lý của đáp ứng PPS	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	5.6.2.1
H.2.7	Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	5.2.3
H.2.8	Xử lý của Khởi động thời gian bảo vệ khung	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	5.2.5
H.2.9	Xử lý của CID trong kích hoạt bởi PCD	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	5.6.3

Bảng H.3 – Phương pháp thử cụ thể Kiểu B

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Yêu cầu tương ứng
Điều	Tên	Tiêu chuẩn cơ bản	Điều
H.3.1	Định thời gian truyền dẫn I/O	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	7.1
H.3.2	Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	7.9
H.3.3	Xử lý của CID trong kích hoạt bởi PCD	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	7.10

Bảng H.4 – Phương pháp thử cho thao tác lô-gic

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Yêu cầu tương ứng
Điều	Tên	Tiêu chuẩn cơ bản	Điều
H.4.1	Xử lý của kiểm soát vòng lặp	TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)	5
H.4.2	Phản ứng của PCD đối với yêu cầu cho mở rộng thời gian chờ	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	7.3
H.4.3	Phát hiện và khôi phục lỗi	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	7.5.7
H.4.4	Xử lý của NAD trong liên kết chuỗi	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)	7.1.2.3

H.2 Phương pháp thử cụ thể Kiểu A

H.2.1 Thời gian trễ khung PICC đến PCD

Mục đích của thử nghiệm này là xác định xung nhịp thời gian giữa một khung PICC và khung PCD tiếp theo.

H.2.1.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.2.1.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD.

Trong quy trình sau dữ liệu Đầu vào/Tiếp nhận RF phải tiếp tục được giám sát và kiểm tra chính xác với TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Tất cả các chuyển tiếp tín hiệu (mức và thời gian) cũng như nội dung lô-gic của truyền thông phải được ghi.

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA/WUPA hợp lệ.

c) LT trả lời với ATQA hợp lệ.

d) LT đợi cho đến khi PCD gửi một lệnh chống va chạm hợp lệ theo Hình 7 trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

e) Đo thời gian giữa điều chế được truyền dẫn bởi LT và điểm dừng đầu tiên truyền dẫn bởi PCD (xem 6.2.1.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

H.2.1.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo ghi tín hiệu. Điền mục 1 của Bảng H.20 với giá trị đo được về thời gian trễ khung và hàng thích hợp của Bảng H.22.

H.2.2 Yêu cầu thời gian bảo vệ

Mục đích của thử nghiệm này là xác định yêu cầu thời gian bảo vệ của 2 lệnh REQA/WUPA liên tiếp. Thử nghiệm này liên quan đến các PCD gửi liên tiếp REQA/WUPA.

H.2.2.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.2.2.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD.

Trong các quy trình sau dữ liệu Đầu vào/Tiếp nhận RF phải tiếp tục được giám sát và kiểm tra chính xác với TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Tất cả các chuyển tiếp tín hiệu (mức và thời gian) cũng như nội dung lô-gic của truyền thông phải được ghi.

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA/WUPA hợp lệ. LT vần ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng).

c) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA/WUPA hợp lệ. LT vần ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng).

d) Đo thời gian giữa các bit khởi đầu của 2 lệnh liên tiếp REQA/WUPA (xem 6.2.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

H.2.2.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo việc ghi tín hiệu. Điền mục 2 trong Bảng H.20 với giá trị đo được của yêu cầu thời gian bảo vệ và hàng thích hợp của Bảng H.22.

H.2.3 Xử lý của va chạm bit trong ATQA

Mục đích của thử nghiệm này là để xác định việc Xử lý va chạm bit trong ATQA bởi PCD.

H.2.3.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.2.3.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD. Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA/WUPA hợp lệ.

c) Duy trì LT để trả lời với việc dùng mô phỏng ATQA của va chạm bit tại N bit (N từ 1 đến 16). Va chạm tại một bit gây ra va chạm cũng như trong bit chẵn lẻ có liên quan.

H.2.3.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.22 theo Bảng H.5.

Bảng H.5 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của va chạm bit trong ATQA

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PCD bắt đầu vòng lặp chống va chạm bit có hướng	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.2.4 Xử lý vòng lặp chống va chạm

Mục đích của thử nghiệm này là xác định Xử lý vòng lặp chống va chạm bit theo TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 6.5.3.

H.2.4.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.2.4.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD.

H.2.4.2.1 Quy trình 1 (UID kích cỡ đơn)

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA/WUPA hợp lệ.

c) LT trả lời với ATQA chỉ ra việc chống va chạm khung bit và kích cỡ UID: đơn (bit b8 và b7 bằng (00)b).

d) PCD phải gửi lệnh ANTICOLLISION ’93 20′ (mức phân tầng 1).

e) LT trả lời với UID CL1 (uid0 uid1 uid2 uid3 BCC).

f) PCD phải gửi lệnh SELECT ’93 70′ uid0 uid1 uid2 uid3 BCC CRC_A.

g) LT trả lời với SAK (bit phân tầng để trống, b3 = (0)b), chỉ ra UID được hoàn thành.

Kịch bản H.1 – Xử lý vòng lặp chống va chạm cho PICC với UID kích cỡ đơn (Quy trình 1)

H.2.4.2.2 Quy trình 2 (UID kích cỡ gấp đôi)

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA/WUPA hợp lệ.

c) LT trả lời với ATQA chỉ ra việc chống va chạm khung bit và kích cỡ UID: gấp đôi (bit b8 và b7 bằng (01)b).

d) PCD phải gửi lệnh ANTICOLLISION ’93 20′ (mức phân tầng 1).

e) LT trả lời với UID CL1 (’88’ uid0 uid1 uid2 BCC).

f) PCD phải gửi lệnh SELECT ’93 70 88′ uid0 uid1 uid2 BCC CRC_A.

g) LT trả lời với SAK (bit phân tầng được thiết lập, b3 = (1)b).

h) PCD phải tăng mức phân tầng và gửi lệnh ANTICOLLISION ’95 20′ (mức phân tầng 2).

i) LT trả lời với UID CL2 (uid3 uid4 uid5 uid6 BCC).

j) PCD phải gửi lệnh SELECT ’95 70’ uid3 uid4 uid5 uid6 BCC CRC_A.

k) LT trả lời với SAK (bit phân tầng để trống, b3 = (0)b), chỉ ra UID được hoàn thành.

Kịch bản H.2 – Xử lý vòng lặp chống va chạm cho PICC với UID kích cỡ gấp đôi (Quy trình 2)

H.2.4.2.3 Quy trình 3 (UID kích cỡ cặp ba)

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA/WUPA hợp lệ.

c) LT trả lời với ATQA chỉ ra việc chống va chạm khung bit và kích cỡ UID: gấp 3 (bit b8 và b7 bằng (10)b).

d) PCD phải gửi lệnh ANTICOLLISION ’93 20′ (mức phân tầng 1).

e) LT trả lời với UID CL1 (88′ uid0 uid1 uid2 BCC).

f) PCD phải gửi lệnh SELECT ’93 70 88′ uid0 uid1 uid2 BCC CRC_A.

g) LT trả lời với SAK (bit phân tầng được thiết lập, b3 = (1)b).

h) PCD phải tăng mức phân tầng và gửi lệnh ANTICOLLISION ’95 20′ (mức phân tầng 2).

i) LT trả lời với UID CL2 (’88’ uid3 uid4 uid5 BCC).

j) PCD phải gửi lệnh SELECT ’95 70 88′ uid3 uid4 uid5 BCC CRC_A.

k) LT trả lời với SAK (bit phân tầng được thiết lập, b3 = (1)b).

l) PCD phải tăng mức phân tầng và gửi lệnh ANTICOLLISION ’97 20′ (mức phân tầng 3).

m) LT trả lời với UID CL3 (uid6 uid7 uid8 uid9 BCC).

n) PCD phải gửi lệnh SELECT ’97 70′ uid6 uid7 uid8 uid9 BCC CRC_A.

o) LT trả lời với SAK (bit phân tầng để trống, b3 = (0)b), chỉ ra UID được hoàn thành.

Kịch bản H.3 – Xử lý vòng lặp chống va chạm cho PICC với UID kích cỡ cặp ba (Quy trình 3)

H.2.4.2.4 Quy trình 4 (Chống va chạm phân theo bit đầy đủ, UID kích cỡ đơn)

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA hoặc WUPA hợp lệ.

c) LT trả lời với ATQA chỉ ra việc chống va chạm khung bit và kích cỡ UID: đơn (bit b8 và b7 bằng (00)b).

d) PCD phải gửi lệnh ANTICOLLISION: ’93 20′.

e) LT trả lời bằng một dòng 40 bit mô phỏng một va chạm trên từng bit, gồm cả các bit chẵn lẻ.

f) Lặp lại the các bước g) đến h) cho các giá trị k từ 1 đến 31.

g) PCD phải gửi lệnh ANTICOLLISION: ’93’ NVB UIDTX1[[1..k]], khi UIDTX1[[1..k-1]] rỗng (ví dụ k = 1) hoặc giá trị sẵn sàng được biết đến bởi PCD và UIDTX1[[k]] là một bit tùy ý được chọn bởi PCD.

h) LT trả lời bằng một dòng – 40 bit k mô phỏng một va chạm trên từng bit, gồm cả các bit chẵn lẻ.

i) PCD có thể gửi tùy chọn lệnh ANTICOLLISION: ’93 60′ UIDTX1[[1..32]]. Trong trường hợp này LT trả lời với BCC.

CHÚ THÍCH Lệnh tùy chọn ANTICOLLISON không thay đổi số giai đoạn.

j) PCD phải gửi lệnh SELECT ’93 70′ UIDTX1[[1 ..32]] BCC CRC_A, với BCC tính toán bằng PCD nếu nó không vận hành bước tùy chọn i).

k) LT trả lời với SAK (bit phân tầng để trống, b3 = (0)b), chỉ ra UID được hoàn thành.

Kịch bản H.4 – Xử lý vòng lặp chống va chạm phân theo bit đầy đủ cho PICC (Quy trình 4)

H.2.4.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.22 theo Bảng H.6.

Bảng H.6 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý vòng lặp chống va chạm

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi cách hoạt động của PCD thích hợp với từng Kịch bản mong muốn theo quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.2.5 Xử lý của RATS và ATS

Mục đích của thử nghiệm này là xác định việc Xử lý của RATS và ATS bằng PCD theo 5.6.1.1, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

H.2.5.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.2.5.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD.

H.2.5.2.1 Quy trình 1

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT trả lời các thông điệp chống va chạm liên quan và đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh RATS hợp lệ.

c) LT không đáp ứng RATS (Mute (chặn đáp ứng)).

d) PCD có thể gửi một khung lệnh RATS hợp lệ.

e) Nếu PCD đã gửi một RATS thứ 2, LT không đáp ứng với RATS (Mute (chặn đáp ứng)).

f) PCD phải bắt đầu trình tự ngừng kích hoạt xác định trong 8, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

g) Lặp lại the quy trình với khung có sai sót ATS (sử dụng một lỗi sai CRC_A) thay vì trạng thái Mute (chặn đáp ứng).

Kịch bản H.5 – Xử lý RATS và ATS, Quy trình 1

H.2.5.2.2 Quy trình 2

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT trả lời các thông điệp chống va chạm liên quan và đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh RATS hợp lệ.

c) LT trả lời với ATS hợp lệ không có byte TA.

d) PCD phải trở về mã kết quả, theo Bảng H.1, hành động của nó đến UT.

e) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

f) PCD mong muốn gửi Khối–I bất kì (gồm cả khối rỗng) đến LT, có thể sau các trình tự kiểm tra có mặt PICC.

Kịch bản H.6 – Xử lý của RATS và ATS, Quy trình 2

H.2.5.2.3 Vô hiệu

Quy trình 3, được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xoá bỏ.

Kịch bản H.7: Bỏ trống

Kịch bản H.7, Xử lý RATS và ATS, Quy trình 3, được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xoá bỏ.

H.2.5.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.22 theo Bảng H.7.

Bảng H.7 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của RATS và ATS

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi cách hoạt động của PCD thích hợp với từng Kịch bản mong muốn theo quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.2.6 Xử lý của đáp ứng PPS

Xử lý đáp ứng PPS được thử nghiệm trong 1.2.1.

Kịch bản H.8: Bỏ trống

Kịch bản H.8, Xử lý yêu cầu và đáp ứng PPS, Quy trình 1, được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xoá bỏ.

Kịch bản H.9: Bỏ trống

Kịch bản H.9, Xử lý yêu cầu và đáp ứng PPS, Quy trình 2, được xác định trong TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6), bị xoá bỏ.

H.2.7 Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

Mục đích của thử nghiệm này là kiểm tra Xử lý đúng kích cỡ khung được truyền dẫn. Các khung được truyền dẫn không dài hơn dấu hiệu FSCI. Thử nghiệm này phải được thực thi cho ít nhất FSCI đặt là “0“, “1“, “8“ và “C“.

H.2.7.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.2.7.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD.

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT trả lời các thông điệp chống va chạm liên quan và đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh RATS hợp lệ.

c) LT trả lời với ATS hợp lệ. Đối với mục đích của thử nghiệm này, LT trở về byte định dạng T0 bằng ’70’ (xem TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 5.2.3). Trong trường hợp có một yêu cầu PPS, LT phải trả lời nó trước khi tiếp tục với bước tiếp theo:

a) Kích cỡ lớn nhất của một khung được chấp nhận bởi LT tuân theo FSCI.

d) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND2) đến PCD khi độ dài dữ liệu lớn hơn kích cỡ lớn nhất của một khung được chấp nhận bởi LT.

e) PCD phải gửi khối I(1)0 theo sau với độ dài lớn nhất tuân theo FSCI.

Kịch bản H.10 – Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

H.2.7.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.22 theo Bảng H.8.

Bảng H.8 – Tiêu chí kết quả đối với cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi cách hoạt động của PCD thích hợp với Kịch bản mong muốn cho tất cả các giá trị FSCI đã thử nghiệm.	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.2.8 Xử lý của Khởi động thời gian bảo vệ khung

Mục đích của thử nghiệm này là xác định định xung nhịp thời gian truyền dẫn PCD theo 5.2.5, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

Thử nghiệm này phải thực thi với ít nhất SFGI đặt là 0, 1 và 14.

H.2.8.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.2.8.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD. Trong quy trình sau dữ liệu Đầu vào/Tiếp nhận RF phải tiếp tục được giám sát và kiểm tra chính xác theo TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Tất cả các chuyển tiếp tín hiệu (mức và định xung nhịp thời gian) cũng như nội dung lô-gic của truyền thông phải được ghi.

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT trả lời các thông điệp chống va chạm liên quan và đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh RATS hợp lệ.

c) LT trả lời với ATS hợp lệ.

d) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

e) PCD phải gửi khối tiếp theo hoặc một yêu cầu PPS sau một trễ nhỏ nhất của SFGT.

Kịch bản H.11 – Cơ chế khởi động thời gian bảo vệ khung

H.2.8.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền mục 3 của Bảng H.20 với các giá trị đo được và điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.22 theo Bảng H.9.

Bảng H.9 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của Khởi động thời gian bảo vệ khung

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi cách hoạt động của PCD thích hợp với Kịch bản mong muốn cho tất cả các giá trị SFGI đã thử nghiệm	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.2.9 Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD

Mục đích của thử nghiệm này là xác định việc Xử lý của CID theo TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 5.6.3. Thử nghiệm này phải thực thi cho ít nhất CID đặt là 0, 1 và 14 nếu CID có thể được chọn bởi UT. Ngoài ra, chỉ CID được chọn bởi PCD phải được sử dụng.

H.2.9.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.2.9.2 Quy trình

Sử dụng trình tự a) đến c) để đặt PCD vào trong trạng thái được yêu cầu bởi thử nghiệm này:

a) Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD.

b) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

c) LT trả lời các thông điệp chống va chạm liên quan và đợi cho đến khi PCD gửi RATS. LT trả lời với ATS.

Đối với mỗi thử nghiệm từ Kịch bản H.12, khi hỗ trợ bởi PCD, sử dụng trình tự d) đến h):

d) Đặt PCD vào trong trạng thái được yêu cầu bởi thử nghiệm này.

e) LT đợi cho đến khi PCD áp dụng lệnh như trong cột PCD.

f) LT trả lời như trong cột LT.

g) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

h) PCD mong muốn gửi Khối–I đến LT áp dụng điều kiện như trong cột PCD.

Kịch bản H.12 – Xử lý của CID

H.2.9.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.22 theo Bảng H.10.

Bảng H.10 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi cách hoạt động của PCD thích hợp với từng Kịch bản mong muốn theo quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.3 Phương pháp thử cụ thể Kiểu B

H.3.1 Định thời gian truyền dẫn I/O

Mục đích của thử nghiệm này là xác định định xung nhịp thời gian truyền dẫn PCD theo 7.1, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

H.3.1.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.3.1.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD.

Trong quy trình sau dữ liệu Đầu vào/Tiếp nhận RF phải tiếp tục được giám sát và kiểm tra chính xác với TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Tất cả các chuyển tiếp tín hiệu (mức và định xung nhịp thời gian) cũng như nội dung lô–gic của truyền thông phải được ghi.

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) Phân tích các ranh giới bit định xung nhịp thời gian trong một kí tự được gửi bởi PCD (xem 7.1.1, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

c) Phân tích thời gian bảo vệ thêm (EGT) giữa 2 kí tự liên tiếp được gửi bởi PCD (xem 7.1.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

d) Phân tích định xung nhịp thời gian của SOF được gửi bởi PCD (xem 7.1.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

e) Phân tích định xung nhịp thời gian của EOF được gửi bởi PCD (xem 7.1.5, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

f) Phân tích định xung nhịp thời gian trước khi PCD SOF (xem 7.1.7, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

H.3.1.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo việc ghi tín hiệu. Điền Bảng H.21 các giá trị đo được từ b) đến f) và hàng thích hợp của Bảng H.23.

H.3.2 Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

Mục đích của thử nghiệm này là phân tích cơ chế lựa chọn kích cỡ khung theo 7.9, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

Thử nghiệm này phải thực thi cho ít nhất mã Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) đặt là “0”, “1”, “8” và “C“.

H.3.2.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.3.2.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của Các lệnh PCD. Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQB/WUPB hợp lệ.

c) LT trả lời với ATQB. Giả thiết rằng PUPI của LT là ’12 23 34 45′ và LT hỗ trợ CID.

a) Đối với mục đích của thử nghiệm này LT trả giao thức thứ 2 vào trong byte bằng ’01’ (xem 7.9, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).4), có nghĩa là Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) được hỗ trợ bởi LT là 16 byte và LT phù hợp với TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

d) PCD phải gửi một khung lệnh ATTRIB hợp lệ.

e) LT gửi trả lời cho lệnh ATTRIB.

f) PCD phải trả mã kết quả, theo Bảng H.1, hành động của nó đến UT.

g) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND2) đến PCD.

h) PCD phải gửi một khối I(1)0 với độ dài lớn nhất 16 byte như chỉ ra trong cột PCD của Kịch bản H.13.

Kịch bản H.13 – Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

H.3.2.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.24 theo Bảng H.12.

Bảng H.11 – Tiêu chí kết quả đối với cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi cách hoạt động của PCD thích hợp với kịch bản mong muốn cho ít nhất mã Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất) trong ATQB đặt là 0, 1 và 8	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.3.3 Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD

The mục đích của thử nghiệm này là xác định việc Xử lý của CID theo TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

Thử nghiệm này phải thực thi cho ít nhất CID đặt là 0, 1 và 14 nếu CID có thể được chọn bởi UT. Ngoài ra chỉ CID được chọn bởi PCD phải được sử dụng.

H.3.3.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.3.3.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD.

H.3.3.2.1 Quy trình 1

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi lệnh REQB/WUPB.

c) LT gửi ATQB với các bit tùy chọn khung (b2,b1) bằng (00)b. Có nghĩa: CID và NAD không được hỗ trợ.

d) LT đợi cho đến khi PCD gửi lệnh ATTRIB. PCD phải gửi một khung lệnh ATTRIB hợp lệ với Param 4 byte bằng 0.

e) LT gửi trả lời cho lệnh ATTRIB với giá trị CID bằng 0.

f) PCD phải trả về mã kết quả, theo Bảng H.1, hành động của nó đến UT.

g) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

h) PCD phải gửi khối l(0 hoặc 1)₀ theo sau không có NAD và CID.

Kịch bản H.14 – Xử lý của CID, Quy trình 1

H.3.3.2.2 Quy trình 2

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi lệnh REQB/WUPB.

c) LT gửi ATQB với các bit tùy chọn khung (b2,b1) bằng (01)b. Có nghĩa: CID và NAD không được hỗ trợ

d) LT đợi cho đến khi PCD gửi lệnh ATTRIB. PCD phải gửi một khung lệnh hợp lệ ATTRIB, sử dụng Param 4 byte bằng ‘0X’ (CID = X trong khoảng từ 0 đến 14).

e) LT gửi trả lời đến lệnh ATTRIB với giá trị CID được gán bởi PCD ở bước d) trong Param 4 byte.

f) PCD phải trở về mã kết quả theo Bảng H.1, hành động của nó đến UT.

g) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

h) PCD phải gửi khối l(0 hoặc 1)0 theo sau việc sử dụng giá trị CID được gán bởi PCD ở bước d) hoặc, tùy chọn, không dùng CID nếu CID = 0. PCD phải không sử dụng NAD trong khối l(0 hoặc 1)₀ này.

Kịch bản H.15 – Xử lý của CID, Quy trình 2

H.3.3.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.23 theo Bảng H.12.

Bảng H.12 – Các tiêu chí báo cáo cho Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi cách hoạt động của PCD thích hợp với từng Kịch bản mong muốn theo quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.4 Phương pháp thử các thao tác lô-gic của PCD

Tất cả các phương pháp thử mô tả trong Điều này, ngoại trừ H.4.1, phải được áp dụng 2 lần, một cho giao diện tín hiệu Kiểu A và một cho giao diện tín hiệu Kiểu B.

H.4.1 Xử lý của kiểm soát vòng lặp

Mục đích của thử nghiệm này là xác định cách hoạt động của PCD trong vòng kiểm soát. Các điều kiện xác định trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 5.1 phải được áp dụng.

H.4.1.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.4.1.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD. Trong quy trình sau Dữ liệu Đầu vào/Tiếp nhận RF phải tiếp tục được giám sát và kiểm tra chính xác với TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Tất cả chuyển tiếp tín hiệu (mức và định xung nhịp thời gian) cũng như nội dung lô-gic của truyền thông phải được ghi.

Sử dụng trình tự sau đây:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt giao thức theo H.1.8.1.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một khung lệnh REQA/WUPA và một khung lệnh REQB/WUPB hợp lệ, theo bất kì thứ tự và lặp lại.

H.4.1.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.24 xem xét các kết quả của cả Kiểu A và Kiểu B theo Bảng H.13.

Bảng H.13 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của kiểm soát vòng lặp

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PCD gửi ít nhất các khung lệnh REQA/WUPA và một khung lệnh REQB/WUPB (tối thiểu 5 ms giữa mỗi kiểu). Các điều kiện xác định trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3), 5.1 phải được áp dụng.	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.4.2 Phản ứng của PCD đối với yêu cầu về mở rộng thời gian chờ

Mục đích của thử nghiệm này là xác định cách hoạt động của PCD khi PICC sử dụng một yêu cầu về một mở rộng thời gian chờ (xem 7.3, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)). Cơ chế duy trì WTX bởi PCD cũng được thử nghiệm.

Thử nghiệm này phải thực thi ít nhất FWI đặt là 0,1 và 14 với TR0 và TR1 thiết lập chỉ định giá trị mặc định trong LT, nếu nó mô phỏng một PICC Kiểu B.

Kết hợp thử nghiệm này phải thực thi ít nhất WTXM đặt là 1, 3 và 59 theo Bảng H.14.

Bảng H.14 – Các kết hợp tối thiểu

Kết hợp	FWI	WTXM
1	0	1
2	0	3
3	0	59
4	1	1
5	1	3
6	1	59
7	14	1
8	14	3
9	14	59

H.4.2.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.4.2.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của Các lệnh PCD. Trong quy trình sau Dữ liệu Đầu vào/Tiếp nhận RF phải tiếp tục được giám sát và kiểm tra chính xác với TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Tất cả chuyển tiếp tín hiệu (mức và định xung nhịp thời gian) cũng như nội dung lô-gic của truyền thông phải được ghi.

UT thực hiện quy trình kích hoạt giao thức theo H.1.8.2 cho Kiểu A hoặc H.1.8.3 cho Kiểu B.

H.4.2.2.1 Quy trình 1 (7.3, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4))

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.2.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi khối l(0)0 đến LT, với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi yêu cầu S(WTX) cho mở rộng thời gian chờ.

d) PCD phải gửi đáp ứng S(WTX) với INF(b6 đến b1) = WTXM được sử dụng.

Kịch bản H.16- Phản ứng PCD đối với yêu cầu mở rộng thời gian chờ LT, Quy trình 1

H.4.2.2.1.1 Kết quả mong đợi

Cách hoạt động của PCD phải thích hợp với kịch bản mong muốn H.16 cho tất cả giá trị FWI và WTXM xác định trong H.4.2 ở tất cả các kết hợp được thử nghiệm. Thử nghiệm chỉ phải đạt khi mọi thử nghiệm thực hiện đạt.

H.4.2.2.1.2 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.24 xem xét các kết quả thử nghiệm cho cả Kiểu A và Kiểu B theo Bảng H.15.

Bảng H.15 – Tiêu chí kết quả về phản ứng PCD với yêu cầu mở rộng thời gian chờ, Quy trình 1

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PCD gửi đáp ứng S(WTX) với INF(b6 đến b1) = WTXM cho tất cả giá trị FWI và WTXM xác định trong H.4.2 (các kết hợp tối thiểu để thử nghiệm được đưa ra trong Bảng H.15)	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.4.2.2.2 Quy trình 2 (7.3, TCVN 11689–4 (ISO/IEC 14443-4))

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.2.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I đến LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi yêu cầu S(WTX).

d) PCD phải gửi đáp ứng S(WTX) với INF(b6 to b1) = WTXM. Nếu nó không phù hợp với đáp ứng mong muốn, kết thúc thử nghiệm tại điểm này.

e) Thiết lập các thông số– định xung nhịp thời gian– bit sau tại LT:

Thông số	Giá trị	Tham chiếu
Thời gian chờ đợi khung tạm thời (FWT_TEMP)	WTXM x (256 x 16/fc) x 2^FWI	7.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4) và 7.3
Thời gian bảo vệ bổ sung, Kiểu B (EGT)	Lớn nhất (19 µs)	7.1.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
CHÚ THÍCH Thời gian đáp ứng khung được xác định như thời gian giữa cạnh đuôi của EOF của khung nhận được và cạnh dẫn của SOF của khung tiếp theo đã gửi.

f) LT gửi trả lời cho lệnh UT_TEST_COMMAND1, gửi trong b).

g) PCD mong muốn chuyển tiếp đáp ứng UT_APDU (trả lời đến lệnh UT_TEST_COMMAND1) trở lại UT.

h) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

i) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1. PCD phải thiết lập lại FWT tại điểm này.

j) LT ở trạng thái Mute (chặn đáp ứng) cho ít nhất FWT mong muốn. Thực tế này có nghĩa FWT tạm nghỉ cho PCD.

k) Ghi sự hiện diện, nội dung và định xung nhịp thời gian của PCD–đáp ứng. PCD phải gửi một khối R(NAK) chỉ sau FWT hết hạn (TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 7.5.5.2).

l) Đo và ghi thời gian giữa việc kết thúc khung PCD từ bước i) và bắt đầu khung PCD từ bước k).

Kịch bản H.17 – Phản ứng PCD đến yêu cầu mở rộng thời gian chờ LT, Quy trình 2

H.4.2.2.2.1 Kết quả mong muốn

Cách hoạt động của PCD phải thích hợp với Kịch bản H.17 mong muốn cho tất cả các giá trị FWI và WTXM xác định trong H.4.2 trong tất cả các kết hợp đã thử nghiệm. Thử nghiệm phải đạt chỉ khi mỗi thử nghiệm với các giá trị khác nhau đạt.

H.4.2.2.2.2 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.24 cho cả Kiểu A và Kiểu B theo Bảng H.16.

Bảng H.16 – Tiêu chí kết quả cho phản ứng PCD với yêu cầu mở rộng thời gian chờ, Quy trình 2

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi trả lời cho TEST_COMMAND_1 không được gửi trở lại đến UT hoặc khi PCD gửi R(NAK) trước khi FWT hết hạn tại ít nhất một giá trị FWI, một giá trị WTXM xác định trong H.4.2 (các kết hợp tối thiểu để thử nghiệm được đưa ra trong Bảng H.15)	KHÔNG ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	ĐẠT

H.4.3 Phát hiện và khôi phục lỗi

Mục đích của thử nghiệm này là xác định cách hoạt động của PCD khi lỗi phóngy ra theo 7.5.7, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

CHÚ THÍCH Trong phần này, “Khối có lỗi“ là một khung với CRC lỗi.

H.4.3.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.4.3.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD. Trong quy trình sau Dữ liệu Đầu vào/Tiếp nhận RF phải tiếp tục được giám sát và kiểm tra chính xác với TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Tất cả các chuyển tiếp tín hiệu (mức và định xung nhịp thời gian) cũng như nội dung lô-gic của truyền thông phải được ghi.

UT thực hiện quy trình kích hoạt giao thức theo H.1.8.2 cho Kiểu A hoặc H.1.8.3 cho Kiểu B.

H.4.3.2.1 Quy trình 1 (TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Tham khảo Phụ lục B, Kịch bản 12)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi một Khối–I có sai sót đến PCD.

d) PCD phải gửi R(NAK)₀.

e) LT gửi Khối–I (gồm một vài đáp ứng UT_APDU trả lời cho UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

f) PCD mong muốn chuyển tiếp đáp ứng UT_APDU trở lại UT. Kiểm tra UT xem đáp ứng khối UT_APDU này được chấp nhận chính xác.

Kịch bản H.18 – Phát hiện và phục hồi lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD Quy trình 1

H.4.3.2.2 Quy trình 2 (TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 7.5.5.2 nguyên tắc 4)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi một Khối có lỗi đến PCD.

d) PCD phải gửi R(NAK)0.

e) LT gửi một Khối có lỗi thứ 2 đến PCD.

f) PCD phải gửi yêu cầu hoặc R(NAK)0 hoặc S(DESELECT).

Kịch bản H.19 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 2

H.4.3.2.3 Quy trình 3 (TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 7.5.5.2 nguyên tắc 4)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) Duy trì LT Mute (chặn đáp ứng).

d) Ghi tất cả đáp ứng từ PCD. PCD phải gửi R(NAK)₀ít nhất một lần.

Kịch bản H.20 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 3

H.4.3.2.4 Quy trình 4 (Qui tắc 7, 7.5.5.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4))

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU (UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi R(ACK)0 (vì vi phạm quy tắc giao thức bởi LT).

d) PCD phải gửi một yêu cầu S(DESELECT).

Kịch bản H.21 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 4

H.4.3.2.5 Quy trình 5 (với liên kết chuỗi) (Qui tắc 5, 7.5.5.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Tham khảo Phụ lục B, Kịch bản 23)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối-l tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi khối đầu tiên I(1)0 của liên kết chuỗi và đợi PCD đáp ứng.

d) PCD phải gửi R(ACK)1.

e) LT gửi một Khối có lỗi l (0)1 đến PCD.

f) PCD phải gửi R(ACK)1.

Kịch bản H.22 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 5

H.4.3.2.6 Quy trình 6 (TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 7.5.5.2)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi một Khối có lỗi đến PCD.

d) PCD phải gửi R(NAK)0.

e) LT duy trì Mute (chặn đáp ứng).

f) Ghi tất cả đáp ứng từ PCD. PCD phải gửi yêu cầu hoặc R(NAK)0 hoặc S(DESELECT).

Kịch bản H.23 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 6

H.4.3.2.7 Quy trình 7 (7.5.7, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Tham khảo Phụ lục B, Kịch bản 14)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối-I tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi một yêu cầu có sai sót S(WIX).

d) PCD phải gửi R(NAK)0.

e) LT gửi một yêu cầu S(WTX) hợp lệ.

f) PCD phải gửi trả lời với đáp ứng S(WTX).

g) LT gửi Khối–I (gồm một vài đáp ứng UT_APDU trả lời cho UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

h) PCD mong muốn chuyển tiếp đáp ứng UT_APDU này trở lại UT. Kiểm tra tại UT xem khối đáp ứng UT_APDU này có được chấp nhận chính xác.

Kịch bản H.24 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 7

H.4.3.2.8 Quy trình 8 (7.5.7, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Tham khảo Phụ lục B, Kịch bản 17)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối-I tới LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi một yêu cầu S(WTX).

d) PCD phải trả lời với đáp ứng S(WTX).

e) LT gửi một l(0)0 có sai sót.

f) PCD phải gửi R(NAK)0.

g) LT gửi một l(0)0 hợp lệ với định xung nhịp thời gian lớn nhất giữa R(NAK)0 và l(0)0 để kiểm tra xem PCD FWT vẫn được mở rộng.

h) PCD mong muốn chuyển tiếp đáp ứng UT_APDU này trở lại UT. Kiểm tra tại UT xem khối đáp ứng UT_APDU này có được chấp nhận chính xác.

Kịch bản H.25 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 8

H.4.3.2.9 Quy trình 9 (với liên kết chuỗi) (xem TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Tham khảo Phụ lục B, Kịch bản 20)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND2 (gây ra 3 liên kết chuỗi)) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I I(1)0 đến LT, với trường INF liên kết chuỗi đầu tiên của UT_TEST_COMMAND2.

c) LT gửi một R(ACK)0 có sai sót.

d) PCD phải gửi R(NAK)0.

e) LT gửi R(ACK)0.

f) PCD phải gửi khối I(1)1 tiếp theo của liên kết chuỗi.

g) LT gửi R(ACK)1.

h) PCD phải gửi khối l(0)0 cuối cùng của liên kết chuỗi.

i) LT gửi Khối–I (gồm một vài đáp ứng UT_APDU trả lời cho UT_TEST_COMMAND2) đến PCD.

j) PCD mong muốn chuyển tiếp đáp ứng UT_APDU này trở lại UT. Kiểm tra tại UT xem khối đáp ứng UT_APDU này có được chấp nhận chính xác.

CHÚ THÍCH Trong trường hợp UT không thể bắt buộc PCD sử dụng 3 liên kết chuỗi để gửi TEST_COMMAND2, sửa đổi quy trình mong đợi để phản ánh mục đích thử nghiệm đảm bảo việc đánh số khối và liên kết chuỗi được thực thi đúng sau lỗi truyền dẫn tại bước c).

Kịch bản H.26 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 9

H.4.3.2.10 Quy trình 10 (với liên kết chuỗi) (xem TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Tham khảo Phụ lục B, Kịch bản 21)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND2 (gây ra 3 liên kết chuỗi)) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I I(1)0 đến LT, với trường INF liên kết chuỗi đầu tiên của UT_TEST_COMMAND2.

c) LT duy trì Mute (chặn đáp ứng).

d) PCD phải gửi R(NAK)0.

e) LT gửi một khối–R với số khối liên tục không đồng bộ R(ACK)1.

f) PCD phải lặp lại Khối-I I(1)0 trước đó đến LT .

g) LT gửi R(ACK)0.

h) PCD phải gửi khối I(1)1 tiếp theo của liên kết chuỗi.

i) LT gửi R(ACK)1.

j) PCD phải gửi khối l(0)0 cuối cùng của liên kết chuỗi.

k) LT gửi Khối–I (gồm một vài đáp ứng UT_APDU trả lời cho UT_TEST_COMMAND2) đến PCD.

l) PCD mong muốn chuyển tiếp đáp ứng UT_APDU này trở lại UT. Kiểm tra tại UT xem khối đáp ứng UT_APDU này có được chấp nhận chính xác.

Kịch bản H.27 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 10

H.4.3.2.11 Quy trình 11 (với liên kết chuỗi) (xem TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Tham khảo Phụ lục B, Kịch bản 24)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I l(0)0 đến LT, với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT gửi Khối-I I(1)0 có dấu hiệu liên kết chuỗi.

d) PCD phải gửi R(ACK)1.

e) LT gửi Khối-I I(1)1 có sai sót đến PCD.

f) PCD phải gửi R(ACK)1.

g) LT truyền dẫn lại Khối-I I(1)1 không có lỗi.

h) PCD phải gửi R(ACK)0.

i) LT gửi khối cuối cùng của liên kết chuỗi trong Khối–I l(0)0 (của đáp ứng của nó UT_APDU với trả lời cho UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

j) PCD mong muốn chuyển tiếp đáp ứng UT_APDU, chứa tất cả các đoạn liên kết chuỗi, trở lại UT. Kiểm tra tại UT xem đáp ứng khối UT_APDU này có được chấp nhận chính xác.

Kịch bản H.28 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 11

H.4.3.2.12 Quy trình 12 (TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 7.5.5.2 nguyên tắc 8)

Sử dụng trình tự sau đây ngay sau quy trình H.4.3.2:

a) UT gửi SEND_UT_APDU(UT_TEST_COMMAND1) đến PCD.

b) LT đợi cho đến khi PCD gửi một Khối–I đến LT với trường INF chứa UT_TEST_COMMAND1.

c) LT duy trì Mute (chặn đáp ứng).

d) LT đợi cho đến khi PCD gửi R(NAK)0. (Khối–R có thể được gửi nhiều hơn một lần.)

e) LT duy trì Mute (chặn đáp ứng).

f) LT đợi cho đến khi PCD gửi một yêu cầu S(DESELECT) đến LT.

g) LT duy trì Mute (chặn đáp ứng).

h) Ghi đáp ứng từ PCD. PCD phải truyền dẫn lại yêu cầu S(DESELECT) hoặc loại bỏ LT.

Kịch bản H.29 – Phát hiện và khôi phục lỗi của một lỗi truyền dẫn bởi PCD, Quy trình 12

H.4.3.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.24 cho Kiểu A và Kiểu B theo Bảng H.17.

Bảng H.17 – Tiêu chí kết quả đối với phát hiện và khôi phục lỗi

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi cách hoạt động của PCD thích hợp từng kịch bản mong đợi quy trình	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.4.4 Xử lý của NAD trong quá trình liên kết chuỗi

Mục đích của thử nghiệm này là đảm bảo PCD duy trì NAD theo cách thích hợp.

H.4.4.1 Dụng cụ

Xem H.1.

H.4.4.2 Quy trình

Đặt LT vào trong bộ qui tắc hoạt động PCD và ghi sự hiện diện và nội dung của các lệnh PCD. Sử dụng trình tự sau đây:

a) Cấu hình LT như một sự hỗ trợ NAD.

b) Lặp lại quy trình từ Kịch bản H.26.

H.4.4.3 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào hàng thích hợp trong Bảng H.24 cho Kiểu A và Kiểu B theo Bảng H.18.

Bảng H.18 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của NAD trong quá trình liên kết chuỗi

Diễn giải	Kết quả thử nghiệm
Chỉ khi PCD sử dụng NAD chỉ trong gói đầu tiên của liên kết chuỗi hoặc không sử dụng NAD.	ĐẠT
Trường hợp khác bất kì	KHÔNG ĐẠT

H.5 Tiếp tục giám sát các gói được gửi bởi PCD

Mục đích của thử nghiệm này là đảm bảo PCD không thiết lập bất kì bit RFU trong bất kì khung được gửi đến bất kì giá trị khác với giá trị mặc định được tài liệu hoá cho bit RFU. Hơn nữa, thử nghiệm cũng phải đảm bảo không bao giờ trường được đặt là giá trị RFU. Thử nghiệm cũng phải đảm bảo khối –R và khối –S phù hợp với các định nghĩa giao thức và nguyên tắc đã có liên quan đến byte đầu tiên của gói không bị vi phạm.

H.5.1 Các trường RFU

Các trường RFU phải tiếp tục được giám sát đang thử nghiệm và phải luôn được kiểm tra để chứa giá trị mặc định được gán cho. Một thử nghiệm phải không đạt và PCD được thử nghiệm được tuyên bố là không phù hợp trong trường hợp một trường RFU không được đặt là giá trị mặc định của nó tại bất kì thời điểm nào.

H.5.2 Các giá trị RFU

Các trường chức năng phải tiếp tục được giám sát đang thử nghiệm và phải luôn được kiểm tra để chứa chỉ các giá trị chức năng được tài liệu hoá trong tiêu chuẩn hoặc các giá trị độc quyền được tài liệu hoá như trong tiêu chuẩn. Một thử nghiệm phải không đạt và PCD được thử nghiệm được tuyên bố là không phù hợp trong trường hợp một trường chức năng không được đặt là các giá trị được nói đến tại bất kì thời điểm nào.

H.5.3 Khối –R

Khối–R phải không bao giờ chứa trường INF (xem TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 7.1.2.1).

H.5.4 Khối–S

Một khối –S phải có hoặc

– một trường INF của một byte chỉ khi nó là một khối WTX, hoặc

– một trường INF của n byte (n ≥ 0) khi nó là một khối PARAMETERS, hoặc

– không có trường INF khác

(xem 7.1.2.1, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)).

H.5.5 PCB

Byte PCB phải gồm các giá trị cho phép (xem 7.1.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), và Phụ lục C, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)).

H.5.6 Các khung khởi động Kiểu A

Các khung khởi động Kiểu A phải gồm các giá trị cho phép (xem 6.4.1 và 6.5.3.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)).

H.5.7 Dụng cụ

Xem H.1.

H.5.8 Quy trình

Trong tất cả các quy trình và kịch bản thử nghiệm nội dung lô-gic của truyền thông phải luôn được ghi.

H.5.9 Báo cáo thử nghiệm

Điền vào các hàng thích hợp trong Bảng H.24 và Bảng H.26 cho Kiểu A và Kiểu B theo Bảng H.19.

Bảng H.19 – Tiêu chí kết quả đối với tiếp tục giám sát các gói được gửi bởi PCD

Diễn giải

Kết quả thử nghiệm

Khi PCD thoả mãn tất cả các điều kiện sau;

– PCD thiết lập các giá trị mặc định đến các bit RFU trong tất cả các khung đã gửi.

– PCD không thiết lập giá trị RFU đến trường bất kì.

– PCD không vi phạm nguyên tắc độ dài của khối –R và khối–S.

– PCD không vi phạm nguyên tắc mã hoá byte đầu tiên của Khối và Khung (như tóm tắt trong Phụ lục C, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)).

ĐẠT

Khi PCD thoả mãn ít nhất một trong các điều kiện sau;

– PCD thiết lập khác giá trị mặc định đối với ít nhất một bit RFU trong khung bất kì đã gửi.

– PCD thiết lập trường bất kì tới một giá trị RFU.

– PCD vi phạm nguyên tắc độ dài của khối–R hoặc khối–S.

– PCD vi phạm nguyên tắc mã hoá byte đầu tiên của Khối và Khung (như tóm tắt trong Phụ lục C, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)).

KHÔNG ĐẠT

H.6 Kết quả báo cáo

Bảng H.20 – Bảng định xung nhịp thời gian cụ thể Kiểu A

TT	Thông số		Tham chiếu ISO	Giá trị nhỏ nhất đo được	Kết quả thử nghiệm ĐẠT/KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG
1	Thời gian trễ khung PICC đến PCD		6.2.1.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
2	Yêu cầu thời gian bảo vệ		6.2.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
3	Khởi động thời gian bảo vệ khung	SFGI=0	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-3), 5.2.5
		SFGI=1
		SFGI=14

Bảng H.21 – Bảng định xung nhịp thời gian cụ thể Kiểu B

TT	Thông số		Tham chiếu ISO	Các giá trị đo được [etu] hoặc [1/fs] hoặc [1/fc] phụ thuộc vào các yêu cầu		Kết quả thử nghiệm ĐẠT/KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG
				Nhỏ nhất	Lớn nhất
1	SOF thấp		7.1.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
2	SOF cao		7.1.4, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
3	EOF thấp		7.1.5, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
4	Các ranh giới Bit cho	(các) cạnh đổ dưới	7.1.1, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
		(các) cạnh tăng lên
5	EGT PCD đến PICC		7.1.2, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
6	TR2	(b3,b2)=(00)b	7.1.7, TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3)
		(b3,b2)=(01)b
		(b3,b2)=(10)b
		(b3,b2)=(11)b

Bảng H.22 – Kết quả báo cáo cho các phương pháp thử cụ thể Kiểu A

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Số kịch bản	Kết quả thử nghiệm
Điều	Thông số	ISO/IEC 10373-6	ĐẠT hoặc KHÔNG ĐẠT hoặc KHÔNG ÁP DỤNG*
H.2.1	Thời gian trễ khung PICC tới PCD
H.2.2	Yêu cầu thời gian bảo vệ
H.2.3	Xử lý của va chạm bít trong ATQA
H.2.4	Xử lý vòng lặp chống va chạm	Kịch bản H.1
		Kịch bản H.2
		Kịch bản H.3
		Kịch bản H.4
H.2.5	Xử lý của RATS và ATS	Kịch bản H.5
H.2.5	Xử lý của RATS và ATS	Kịch bản H.6
H.2.7	Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung	Kịch bản H.10
H.2.8	Xử lý Khởi động thời gian bảo vệ khung	Kịch bản H.11
H.2.9	Xử lý CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD	Kịch bản H.12
^a Trong trường hợp một thử nghiệm có một vài quy trình ĐẠT chỉ trong trường hợp từng quy trình cá nhân ĐẠT.

Bảng H.23 – Kết quả báo cáo cho các phương pháp thử cụ thể Kiểu B

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Số kịch bản	Kết quả thử nghiệm
Điều	Thông số	ISO/IEC 10373-6	ĐẠT hoặc KHÔNG ĐẠT *
H.3.1	I/O truyền dẫn timing
H.3.2	Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung	Kịch bản H.13
H.3.3	Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD	Kịch bản H.14
H.3.3	Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD	Kịch bản H.15
^a Trong trường hợp một thử nghiệm có một vài quy trình ĐẠT chỉ trong trường hợp từng quy trình cá nhân ĐẠT.

Bảng H.24 – Kết quả báo cáo về phương pháp thử cho các thao tác lô-gic của PCD

Phương pháp thử từ TCVN 11688-6 (ISO/IEC 10373-6)		Số kịch bản		Kết quả thử nghiệm
Điều	Thông số	ISO/IEC 10373-6	TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), Phụ lục B	Kiểu A^a	Kiểu B^a
H.4.1	Xử lý của kiểm soát vòng lặp
H.4.2	Phản ứng của PCD đối với yêu cầu mở rộng thời gian chờ	Kịch bản H.16
H.4.2	Phản ứng của PCD đối với yêu cầu mở rộng thời gian chờ	Kịch bản H.17
H.4.3	Phát hiện và khôi phục lỗi	Kịch bản H.18	Kịch bản 12 “Trao đổi của các khối–l“
		Kịch bản H.19
		Kịch bản H.20
		Kịch bản H.21
		Kịch bản H.22	Kịch bản 23 “PICC sử dụng liên kết chuỗi“
		Kịch bản H.23
		Kịch bản H.24	Kịch bản 14 “Yêu cầu mở rộng thời gian chờ“
		Kịch bản H.25	Kịch bản 17 “Yêu cầu mở rộng thời gian chờ“
		Kịch bản H.26	Kịch bản 20 “PCD sử dụng liên kết chuỗi“
		Kịch bản H.27	Kịch bản 21 “PCD sử dụng liên kết chuỗi“
		Kịch bản H.28	Kịch bản 24 “PICC sử dụng liên kết chuỗi”
		Kịch bản H.29
H.4.4	Xử lý của NAD trong quá trình liên kết chuỗi
H.5	Tiếp tục giám sát các gói được gửi bởi PCD
^a Trong trường hợp một thử nghiệm có một vài quy trình ĐẠT chỉ trong trường hợp từng quy trình cá nhân ĐẠT.

Bảng H.25 – Báo cáo tình hình thử nghiệm

TT	Thông số	Mô tả	Thông tin
1	Liên kết chuỗi	Chỉ được thử nghiệm nếu có một lệnh hỗ trợ hơn 16 byte
2	NAD Xử lý

Bảng H.26 – Báo cáo bảng PCD RFU

Tên	Lệnh PCD	Trường/giá trị RFU	Giá trị		Kết quả thử nghiệm
Tên	Lệnh PCD	Trường/giá trị RFU	Mặc định	Cho cho phép	ĐẠT hoặc KHÔNG ĐẠT hoặc không làm
Khung ngắn Kiểu A	REQA/WUPA	Các giá trị RFU		Tất cả giá trị quy định như RFU trong ISO/IEC 14443-3:-, Bảng 3
Mã hoá SEL	SEL	Các giá trị RFU		Tất cả giá trị quy định như RFU trong ISO/IEC 14443-3:-, Bảng 7
AFI	REQB/WUPB	Các giá trị RFU		Tất cả giá trị quy định RFU trong ISO/IEC 14443-3:-, Bảng 22
PARAM	REQB/WUPB	Trường RFU (b8 to b6)	(000) b	Tất cả giá trị khác
PARAM	REQB/WUPB	Các giá trị RFU theo số khe (b3 đến b1)		(101)b (110)b (111)b
Param 1	ATTRIB	Trường RFU (b2 đến b1)	(00)b	Tất cả giá trị khác
TR0 nhỏ nhất	ATTRIB	Các giá trị RFU (b8 đến b7)		(11)b
TR1 nhỏ nhất	ATTRIB	Các giá trị RFU (b6 đến b5)		(11)b
Param 2	ATTRIB	Các giá trị RFU (b4 đến b1)		Tất cả giá trị từ ‘9’((1001)b) lên đến ‘F'((1111)b)
Param 3	ATTRIB	RFU field (b8 to b4)	(00000)b	Tất cả giá trị khác
Param 4	ATTRIB	RFU field (b8 to b5)	(0000)b	Tất cả giá trị khác
Param 4	ATTRIB	RFU giá trị (b4 to b1)		‘F'((1111)b)

Phụ lục I

(qui định)

Phương pháp thử lựa chọn tốc độ bit cao cho PCD

I.1 Dụng cụ

Trong thử nghiệm này dụng cụ-thử nghiệm-PCD phải có thể lập cấu hình để thay đổi tốc độ bit trong quy trình thử nghiệm. Bộ thử nghiệm có khả năng đo tốc độ bit sử dụng bởi PCD trong mỗi giai đoạn của quy trình thử nghiệm này.

I.2 Quy trình

I.2.1 Quy trình cho Kiểu A

Đặt dụng cụ-thử nghiệm-PCD vào trong trường của PCD.

Quy trình sau đây phải được lặp lại cho tất cả giá trị của byte giao diện TA(1) xác định trong Bảng 1.1:

a) Vận hành qua trình tự kích hoạt như trong TCVN 11689-3 (ISO/IEC 14443-3).

b) PCD phải gửi một lệnh RATS như trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC14443-4).

c) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD trả lời với ATS hợp lệ gồm TA(1) theo Bảng I.1.

d) PCD có thể gửi tùy chọn một PPS với thông số hợp lệ thiết lập cho byte PPS1 theo Bảng I.1.

e) Nếu gửi một PPS sau đó Dụng cụ-thử nghiệm-PCD thừa nhận PPS nhận được với đáp ứng PPS hợp lệ.

f) PCD phải gửi khối l(0)₀ sử dụng tốc độ bit được chọn.

CHÚ THÍCH 1 Khối này cũng có thể là l(1)₀, hoặc R(NAK) trong trường hợp PICC hiện diện kiểm tra phương pháp 2a như trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 7.5.6.2.

g) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD gửi một đáp ứng hợp lệ sử dụng tốc độ bit được chọn. Kiểm tra, nếu trả lời từ dụng cụ-thử nghiệm-PCD được chấp nhận bởi PCD.

CHÚ THÍCH 2 Các bước sau có thể không được ứng dụng khi PCD được gắn vào một sản phẩm.

h) PCD phải gửi một yêu cầu S(DESELECT) sử dụng tốc độ bit được chọn.

i) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD gửi một đáp ứng S(DESELECT) hợp lệ sử dụng tốc độ bit được chọn. Kiểm tra, nếu trả lời từ dụng cụ-thử nghiệm-PCD được chấp nhận bởi PCD.

j) PCD phải gửi một khung lệnh REQA hợp lệ sử dụng tốc độ bit fc/128.

k) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD trả lời với ATQA hợp lệ.

Bảng I.1 – Cách hoạt động chính xác của PCD sau ATS với TA(1)

Kịch bản I.1 – Lựa chọn tốc độ bit cao, Kiểu A, Quy trình 1

I.2.1.1 Kết quả mong muốn

PCD phải cư xử như trong Kịch bản I.1 trong mỗi trường hợp của 72 thử nghiệm.

I.2.1.2 Báo cáo thử nghiệm

PCD cư xử hợp lệ theo Kịch bản I.1 trong mỗi trường hợp của 72 thử nghiệm, thì thử nghiệm này đạt. Báo cáo thử nghiệm nên tài liệu hoá các tốc độ bit được chọn bởi PCD trong mỗi trường hợp của 72 thử nghiệm.

I.2.2 Quy trình cho Kiểu B

Đặt Dụng cụ-thử nghiệm-PCD vào trong trường của PCD.

Quy trình sau đây phải được lặp lại cho tất cả giá trị của byte thông tin giao thức Bit_Rate_capability xác định trong Bảng I.2:

a) PCD phải gửi khung lệnh REQB hợp lệ.

b) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD trả lời với ATQB hợp lệ gồm byte Bit_Rate_capabiIity theo Bảng I.2:

c) PCD phải gửi một lệnh ATTRIB với thông số hợp lệ thiết lập cho byte Param 2 theo Bảng I.2.

d) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD thừa nhận ATTRIB nhận được với trả lời hợp lệ cho lệnh ATTRIB.

e) PCD phải gửi khối l(0)₀ sử dụng tốc độ bit được chọn với Param 2.

CHÚ THÍCH 1 Khối này cũng có thể là l(1)₀, hoặc R(NAK) trong trường hợp PICC hiện diện kiểm tra phương pháp 2a như trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4), 7.5.6.2.

f) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD gửi một đáp ứng hợp lệ sử dụng tốc độ bit được chọn với Param 2. Kiểm tra, nếu trả lời từ dụng cụ-thử nghiệm-PCD được chấp nhận bởi PCD.

CHÚ THÍCH 2 Các bước sau có thể không được ứng dụng khi PCD được gắn vào một sản phẩm.

g) PCD phải gửi một yêu cầu S(DESELECT) sử dụng tốc độ bit được chọn.

h) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD gửi một đáp ứng S(DESELECT) hợp lệ sử dụng tốc độ bit được chọn. Kiểm tra, nếu trả lời từ dụng cụ-thử nghiệm-PCD được chấp nhận bởi PCD.

i) PCD phải gửi một khung lệnh REQB hợp lệ sử dụng tốc độ bit fc/128.

j) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD trả lời với ATQB hợp lệ gồm byte Bit_Rate_capability theo Bảng I.2.

Bảng I.2 – Cách hoạt động chính xác của PCD sau ATQB

Kịch bản I.2 – Lựa chọn tốc độ bit cao, Kiểu B, Quy trình 2

I.2.2.1 Kết quả mong đợi

PCD phải cư xử như trong Kịch bản l.2 trong mỗi trường hợp của 72 thử nghiệm.

I.2.2.2 Báo cáo thử nghiệm

Nếu PCD cư xử hợp lệ theo Kịch bản I.2 trong mỗi trường hợp của 72 thử nghiệm, thì thử nghiệm này đạt Báo cáo thử nghiệm nên tài liệu hoá các tốc độ bit được chọn bởi PCD trong mỗi trường hợp của 72 thử nghiệm.

I.2.3 Quy trình cho việc lựa chọn tốc độ bit sử dụng các khối S(PARAMETERS)

Đặt Dụng cụ-thử nghiệm-PCD vào trong trường của PCD.

Quy trình dưới đây được lặp lại cho tất cả các giá trị của các tốc độ bit các byte thông tin xác định trong Bảng I.3 đối với các PCD sử dụng cơ chế S(PARAMETERS) cho việc lựa chọn tốc độ bit như trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4):-, Điều 9:

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt giao thức theo H.1.8.2 cho Kiểu A hoặc H.1.8.3 cho Kiểu B.

CHÚ THÍCH 1 Khi một PCD được gắn vào một sản phẩm hoặc sự chuyển tiếp không bắt đầu ngay sau quy trình kích hoạt giao thức, phương pháp để kích hoạt cơ chế phải được cung cấp bởi nhà sản xuất PCD.

b) PCD phải gửi một khối S(PARAMETERS) để yêu cầu các thông số tốc độ bit.

c) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD trả lời với khối S(PARAMETERS) hợp lệ gồm các byte tốc độ bit thông theo Bảng I.3.

CHÚ THÍCH 2 Chỉ một bộ đặc biệt của tất cả các tốc độ bit có thể được thử nghiệm. Byte thứ 2 luôn là ‘00’ theo cả 2 chiều.

d) PCD phải gửi một khối S(PARAMETERS) với trường INF hợp lệ chứa các byte lựa chọn tốc độ bit với bộ bit chính xác về tốc độ bit từ PCD đến PICC và một bộ bit chính xác về tốc độ bit từ PICC đến PCD được chỉ ra bởi Dụng cụ-thử nghiệm-PCD trong bước c).

e) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD thừa nhận khối S(PARAMETERS) nhận được với đáp ứng khối S(PARAMETERS) hợp lệ.

f) PCD phải gửi khối l(0)₀ sử dụng tốc độ bit được chọn.

CHÚ THÍCH 3 Khối này có thể cũng là l(1)₀, hoặc R(NAK) trong trường hợp PICC hiện diện kiểm tra phương pháp 2 a) như trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4):-, 7.5.6.2.

g) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD gửi một đáp ứng hợp lệ sử dụng tốc độ bit được chọn. Kiểm tra việc trả lời từ Dụng cụ-thử nghiệm-PCD được chấp nhận bởi PCD.

CHÚ THÍCH 4 Các bước h) đến k) có thể không thể áp dụng khi một PCD được gắn vào một sản phẩm.

h) PCD phải gửi một yêu cầu S(DESELECT) sử dụng tốc độ bit được chọn.

i) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD gửi một đáp ứng S(DESELECT) hợp lệ sử dụng tốc độ bit được chọn. Kiểm tra việc trả lời từ Dụng cụ-thử nghiệm-PCD được chấp nhận bởi PCD.

j) PCD phải gửi một WUPA hợp lệ cho Kiểu A hoặc WUPB cho Kiểu B sử dụng tốc độ bit fc/128.

k) Dụng cụ-thử nghiệm-PCD trả lời với ATQA hợp lệ cho Kiểu A hoặc ATQB hợp lệ cho Kiểu B.

Bảng I.3 – Các tốc độ bit được hỗ trợ

CHÚ THÍCH Việc mã hoá các byte này được xác định trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4):-, Hình 24.

Kịch bản I.3: Việc lựa chọn tốc độ bit sử dụng các khối S(PARAMETERS), Quy trình 3

I.2.3.1 Kết quả mong muốn

PCD phải tiến hành như trong Kịch bản I.3 trong từng trường hợp của 34 thử nghiệm.

I.2.3.2 Báo cáo thử nghiệm

Nếu PCD tiến hành hợp lệ theo Kịch bản I.3 trong từng trường hợp của 34 thử nghiệm, thử nghiệm này là ĐẠT. Báo cáo thử nghiệm nên ghi các tốc độ bit được chọn bởi PCD trong từng trường hợp của 34 thử nghiệm.

Phụ lục J

(tham khảo)

Chương trình đo lường mức EMD

Chương trình dưới đây được viết theo ngôn ngữ C có thể sử dụng để thực hiện đo lường mức EMD cho các tốc độ bit PICC đến PCD fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16.

CHÚ THÍCH 1 Đối với đo lường mức EMD với tần số sóng mang điều chế PICC cao hơn fc/16, chương trình cần thích nghi cho phù hợp.

CHÚ THÍCH 2 Đầu ra của (thời gian, USB, LSB) có thể phụ thuộc vào những lựa chọn trình biên dịch và cấu trúc hệ điều hành được sử dụng.

Phụ lục K

(quy định)

Phương pháp thử cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc từ PCD đến PICC

K.1 Tổng quan

Phụ lục này quy định các phương pháp thử cho các tốc độ bit of 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc từ PCD đến PICC.

CHÚ THÍCH Các phiên bản TCVN 11689 (ISO/IEC 14443) (tất cả các phần) trong tương lai và tiêu chuẩn này có thể quy định dung sai NPV mới và các giá trị tạp âm pha với các phương pháp thử tương ứng.

K.2 Thử nghiệm các thông số TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2)

K.2.1 Thử nghiệm PCD

Tất cả thử nghiệm được mô tả dưới đây phải được tiến hành theo bộ qui tắc hoạt động như xác định của nhà sản xuất PCD.

K.2.1.1 Dải pha PCD và đặc tính dạng sóng

K.2.1.1.1 Mục đích

Thử nghiệm này được sử dụng để xác định PR cũng như các thông số tạp âm pha vi sai và nhiễu liên kí hiệu được chuẩn hoá, ISI_m và ISI_d, như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

K.2.1.1.2 Quy trình

Áp dụng quy trình xác định trong 7.1.6.2 với các thích ứng sau:

– Sau khi kích hoạt tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 hoặc 2fc, PCD phải truyền một l(0)₀ (TEST_COMMAND1 (1)).

– Trong các bước a) và f) trong 7.1.6.2, các đặc tính dạng sóng phải được xác định bằng cách sử dụng công cụ phân tích xác định trong K.3.

K.2.1.1.3 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra PR, ISI_m, ISI_d và các giá trị tạp âm pha vi sai được chuẩn hóa đo được của trường PCD, theo bộ qui tắc hoạt động xác định trong các điều kiện có tải và không tải.

CHÚ THÍCH K.3.13 đưa ra một vài ví dụ báo cáo thử nghiệm.

K.2.2 Thử nghiệm PICC

K.2.2.1 Tiếp nhận PICC

K.2.2.1.1 Mục đích

Mục đích của thử nghiệm này là kiểm tra khả năng của PICC nhận các lệnh PCD cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc.

K.2.2.1.2 Điều kiện

Bốn điều kiện thử nghiệm được xác định tại ranh giới các thông số tín hiệu PICC như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Một tạp âm trắng giả – ngẫu nhiên được lọc thông giải thấp như trong K.4.3 được thêm vào các APV được truyền do vậy tạp âm pha vi sai được chuẩn hoá (rms) là giá trị lớn nhất như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Các điều kiện thử nghiệm được tạo bằng việc sử dụng bộ lắp ráp PCD thử nghiệm kết hợp với điều kiện ổn định trước kỹ thuật số của các APV được truyền như chỉ ra trong K.4:

– điều kiện 1: tín hiệu PCD thử nghiệm được đặt trước điều kiện kỹ thuật số để có giá trị ISI_m lớn nhất đối với giá trị lSl_d 45° như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2);

– điều kiện 2: tín hiệu PCD thử nghiệm được đặt trước điều kiện kỹ thuật số để có giá trị ISI_m lớn nhất đối với giá trị ISI_d -45° như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2);

– điều kiện 3: tín hiệu PCD thử nghiệm được đặt trước điều kiện kỹ thuật số để có giá trị ISI_m lớn nhất đối với giá trị ISI_d120° như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2);

– điều kiện 4: tín hiệu PCD thử nghiệm được đặt trước điều kiện kỹ thuật số để có giá trị ISI_m lớn nhất đối với giá trị ISI_d 0° như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

CHÚ THÍCH 1 Các điều kiện này được áp dụng sau khi chuyển tiếp sang tốc độ bit đang thử nghiệm.

CHÚ THÍCH 2 K.4 mô tả có thông tin cách tạo trên bốn điều kiện trong miền dải tần số cơ sở (trên đường bao phức của tín hiệu).

Bốn điều kiện này phải được thử nghiệm ít nhất có sử dụng H_min và H_max.

K.2.2.1.3 Quy trình

Đối với mỗi tốc độ bit được hỗ trợ 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc, PICC phải vận hành theo các điều kiện xác định sau khi lựa chọn một tốc độ bit. PICC này phải đáp ứng chính xác cho I(0)₀ (TEST_COMMAND1 (1)) được truyền tại tốc độ bit quy định.

Việc kích hoạt các tốc độ bit sử dụng cơ chế S(PARAMETERS) như trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

Đối với kích cỡ khung lớn hơn 256 byte, phải sử dụng một khung có sửa lỗi như trong TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4).

K.2.2.1.4 Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải kiểm tra hoạt động đã dự kiến tại các tốc độ bit khi thử nghiệm. Các điều kiện thử nghiệm được sử dụng phải được đề cập trong báo cáo thử nghiệm.

K.3 Công cụ phân tích đặc tính dạng sóng PCD cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc

K.3.1 Tổng quan

Nguyên tắc làm việc của công cụ phân tích cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc được minh họa trong Hình K.1.

Hình K.1 – Sơ đồ khối công cụ phân tích cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc

Mỗi khối được mô tả riêng biệt trong K.3.2 đến K.3.11.

K.3.2 Lấy mẫu

Các máy hiện sóng được sử dụng cho việc thu giữ tín hiệu phải thực thi đầy đủ các yêu cầu xác định trong 5.1.1. Dữ liệu thời gian và điện áp của ít nhất 1 000 khoảng thời gian sóng mang chưa điều chế, theo sau bởi một khung dữ liệu, tiếp theo bởi ít nhất 10 khoảng thời gian sóng mang chưa điều chế (xem minh họa trong Hình K.2) phải được chuyển tiếp sang một máy tính phù hợp.

Sóng mang chưa điều chế

Khung

Sóng mang chưa điều chế

Hình K.2 – Sóng mang chưa điều chế theo sau bởi một khung, tiếp theo bởi sóng mang chưa điều chế

K.3.3 Việc lọc chống răng cưa

Một lọc thông dải thấp kiểu Butterworth bậc 4 với 3 dB tần số cắt tại 120 MHz phải được sử dụng cho việc lọc các thành phần tần số cao. Đặc tính bộ lọc được minh họa trong Hình K.3.

Hình K.3 – Đặc tính bộ lọc chống tạo tên riêng

K.3.4 Giải điều chế Homodyne

Tín hiệu phải được giải điều chế bằng cách sử dụng một bộ giải điều chế homodyne (Bộ giải điều chế IQ) và đối số của biến đổi phức thể hiện tín hiệu pha trên thời gian (xem Hình K.4).

Hình K.4 – Ví dụ tín hiệu pha trên thời gian sau khi giải điều chế homodyne

K.3.5 Lấy mẫu phụ

Tín hiệu pha phải được lấy mẫu phụ với tần số bằng một số nguyên nhân với fc bằng cách sử dụng phép nội suy tuyến tính. Số nguyên đó ít nhất phải bằng 32.

K.3.6 Giải quay vòng

Tín hiệu pha này trên thời gian thay đổi liên tục do chênh lệch giữa tần số sóng mang RF được điều chế và tần số giải điều chế. Tần số này không phù hợp được tính toán từ the constant phase slope of tín hiệu pha trong khoảng thời gian của sóng mang chưa điều chế. Tín hiệu pha đầy đủ được nhân với tần số của tín hiệu sóng mang là chênh lệch tần số được tính (xem Hình K.5).

Hình K.5 – Ví dụ tín hiệu pha sau khi giải quay vòng

K.3.7 Notch-filtering

Tín hiệu pha gồm điều hòa thứ 2 do điều chế. Tín hiệu pha phải được làm trơn với gỡ bỏ bộ lọc trung bình và có khoảng lọc bằng 2/fc (xem Hình K.6).

Hình K.6 – Ví dụ tín hiệu pha sau khi lọc

K.3.8 Căn chỉnh lưới etu

Tín hiệu pha phải được căn chỉnh cho lưới etu của tín hiệu pha tham chiếu. Tín hiệu pha tham chiếu được tính toán từ SOC bằng cách sử dụng phương pháp xác định trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2). Căn chỉnh lưới etu được tiến hành bởi tối đa hóa hiệu chỉnh tính toán, bằng cách sử dụng tín hiệu pha và tín hiệu pha tham chiếu.

K.3.9 Đo dải pha

Thông số PR phải được xác định như trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

K.3.10 Đo nhiễu liên ký hiệu

Các thông số ISl_m và ISI_d phải được xác định từ hệ số định danh hệ thống. Hệ số định danh hệ thống phải được xác định bởi giải quyết vấn đề định danh hệ thống đưa ra bởi tín hiệu pha và tín hiệu pha tham chiếu bằng cách sử dụng phương pháp bình phương ít nhất tuyến tính. Các giá trị ISI_m và ISI_d phải được tính cho mọi thời gian lấy mẫu trong khoảng một etu. Giá trị ISI_m lớn nhất phải được lựa chọn với ISI_dliên quan.

K.3.11 Đo tạp âm pha vi sai chuẩn hóa

Tạp âm pha vi sai chuẩn hóa phải được xác định trong thời gian chọn sóng mang chưa điều chế của ít nhất 500 khoảng sóng mang phù hợp với định nghĩa trong TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2).

K.3.12 Chương trình công cụ phân tích đặc tính dạng sóng PCD cho tốc độ bit của 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc (tham khảo)

Chương trình sau được viết bằng ngôn ngữ ANSI C đưa ra một ví dụ cho phần mềm triển khai công cụ phân tích cho tốc độ bit của 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc.

Chương trình này gồm 7 tệp nên đặt trong cùng thư mục.

K.3.13 Báo cáo thử nghiệm ví dụ (tham khảo)

Dưới đây là một ví dụ báo cáo thử nghiệm cho vị trí thử nghiệm trong bộ qui tắc hoạt động và tốc độ bit fc được chỉ ra.

VÍ DỤ 1 Trường hợp ĐẠT

K.4 Tạo tín hiệu PCD đối với Thử nghiệm tiếp nhận PICC (tham khảo)

K.4.1 Giới thiệu

Các điều sau mô tả cách tạo tín hiệu thử nghiệm đối với thử nghiệm tiếp nhận PICC như yêu cầu đối với các điều kiện 1 đến 4 của K.2.2.1.2. Tín hiệu thử nghiệm được đặt trước điều kiện kỹ thuật số trước khi truyền.

K.4.2 Tạo tín hiệu thử nghiệm ISlm và ISId

Tín hiệu thử nghiệm được tạo bằng cách sử dụng mô hình băng cơ sở của ăng-ten PCD thử nghiệm với mạng phối hợp trở kháng cho tốc độ bit cao hơn fc/128. Mô hình băng cơ sở có thể dùng để tạo một hàm truyền H mô tả bộ cộng hưởng ăng-ten vật lý. Tín hiệu thử nghiệm được tạo như sau:

a) chuỗi các NPV trong thể hiện phức của nó được lọc bởi Hbb;

b) tín hiệu sóng mang được điều chế pha bởi các NPV được lọc.

Tín hiệu số kết quả tương đương với tín hiệu được quan sát tại giao diện không khí. Do đó, việc truyền tín hiệu này dẫn đến sự khác biệt không đáng kể Các thông số ISI_m và ISI_d do tác dụng bộ lọc bổ sung của ăng-ten PCD thử nghiệm được dùng để truyền.

Mô tả tín hiệu này không tính đến tác dụng bộ lọc bổ sung của ăng-ten PCD thử nghiệm.

Bộ lọc băng cơ sở rời rạc theo thời gian tạo tín hiệu nhiễu liên ký hiệu mong muốn (với ISIm và ISId cho trước) được mô tả trong miền-z:

H_bb= (1 – p)/(1 – p.z^-1)

Với p là điểm cực phức.

Vị trí điểm cực phức p có thể được tính toán cho các thông số ISIm và ISId mong muốn:

Trong đó j là đơn vị ảo và T_sr là khoảng thời gian lấy mẫu (nghịch đảo của tốc độ lấy mẫu). Biểu thức này chỉ đúng khi T_sr ≤ 1/fc.

K.4.3 Tạo tín hiệu thử nghiệm tạp âm pha vi sai chuẩn hóa

Tín hiệu thử nghiệm xác định được tạo bởi việc thêm tạp âm trắng giả ngẫu nhiên lọc thông dải thấp cho chuỗi các NPV trong thể hiện phức của nó. Bộ lọc thông dải thấp kiểu Butterworth bậc 2 với 3 dB tần số cắt bằng 100 kHz được dùng để lọc các thành phần tần số trên tần số cắt. Đặc tính bộ lọc được minh họa trong Hình K.7.

Hình K.7 – Đặc tính bộ lọc của bộ lọc Butterworth bậc 2

K.4.4 Tạo tín hiệu Công cụ PCD

Chương trình này được viết bằng ngôn ngữ ANSI C mô tả cách 4 điều kiện thử nghiệm trong miền băng cơ sở kỹ thuật số có thể được tạo cho tốc độ bit of 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc từ PCD đến PICC. Phần mềm triển khai gồm một tệp. Chọn 1 trong 4 điều kiện thử nghiệm và 1 trong 4 tốc độ bit.

Phụ lục L

(qui định)

Khung với phương pháp thử có sửa lỗi

L.1 Lựa chọn định dạng khung

L.1.1 Thử nghiệm PCD

L.1.1.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này là để kiểm tra việc lựa chọn phù hợp và việc sử dụng các khung có sửa lỗi gồm tùy chọn lập khung. Các thử nghiệm PCD chỉ áp dụng cho PCD hỗ trợ các khung có sửa lỗi trong ít nhất một hướng.

L.1.1.2 Dụng cụ

Trong thử nghiệm này Dụng cụ-thử nghiệm-PCD phải có thể cấu hình để thay đổi khuôn dạng khung trong quy trình thử nghiệm. Dụng cụ-thử nghiệm-PCD phải có khả năng giám sát các khung được sử dụng trong mỗi giai đoạn quy trình thử nghiệm này.

L.1.1.3 Quy trình

Quy trình sau phải được lặp lại đối với tất cả các trường hợp xác định trong Bảng L.1, Bảng L.2 và Bảng L.3. Trong mỗi trường hợp thử nghiệm Dụng cụ-thử nghiệm-PCD chỉ ra sự hỗ trợ của tất cả tốc độ bit tùy chọn. Giám sát định dạng khung được sử dụng và tùy chọn lập khung.

Các trường hợp 1 đến 6 (xem Bảng L.1) phải được áp dụng cho Kiểu A và Kiểu B. Không chỉ ra tùy chọn lập khung phải (bởi các phương pháp khác).

Các trường hợp 7 đến 11 (xem Bảng L.2) phải được áp dụng cho Kiểu A, cho PCD đến PICC tốc độ bit lớn hơn fc/16. Các khung có sửa lỗi phải được chỉ ra như một tùy chọn độc lập theo mỗi hướng (b2=(1)b và b8=(0)b) và có thể được kích hoạt. Nếu PCD không hỗ trợ PCD đến PICC tốc độ bit lớn hơn fc/16, các trường hợp này phải được bỏ qua.

Trường hợp 12 đến 23 (xem Bảng L.3) phải được áp dụng cho Kiểu B. Các khung có sửa lỗi phải được chỉ ra như tuỳ chọn độc lập theo mỗi hướng (b2=(1)b và b8=(0)b) và có thể được kích hoạt.

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt giao thức phù hợp với H.1.8.2 đối với Kiểu A hoặc H.1.8.3 đối với Kiểu B.

Khi PCD được nhúng trong một sản phẩm hoặc thỏa thuận không bắt đầu ngay sau quy trình kích hoạt giao thức, phương pháp để kích hoạt cơ chế này nên đưa ra bởi nhà sản xuất PCD để phù hợp với kịch bản thử nghiệm.

b) PCD phải gửi một khối S(PARAMETERS) để yêu cầu thông số định dạng khung.

c) LT trả lời với khối S(PARAMETERS) gồm các byte chỉ báo khuôn dạng khung phù hợp với Bảng L.1 và Bảng L.2 cho Kiểu A và Bảng L.1 và Bảng L.3 cho Kiểu B.

CHÚ THÍCH 1 Chỉ thử nghiệm tập con của tùy chọn có thể.

d) PCD phải gửi một Khối S(PARAMETERS) với một Trường INF gồm các byte kích hoạt định dạng khung với

1) đúng một tập bit cho định dạng khung từ PCD đến PICC,

2) và đúng một tập bit cho định dạng khung từ PICC tới PCD,

3) và có thể đặt một số bit từ tùy chọn lập khung được chỉ ra bởi LT trong Bước c).

e) LT báo nhận Khối S(PARAMETERS) đã nhận với đáp ứng khối S(PARAMETERS).

f) PCD phải gửi Khối l(0)0 bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn.

Khối này có thể là I(1), Khối–S hoặc R(NAK) trong trường hợp Có mặt PICC kiểm tra Phương pháp 2 a) như mô tả trong 7.5.6.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4). Đáp ứng trong Bước g) thay đổi phù hợp.

g) LT gửi một đáp ứng bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn. Kiểm tra nếu trả lời từ LT được chấp nhận bởi PCD.

CHÚ THÍCH 3 Các bước h) to j) không thể áp dụng khi một PCD được nhúng trong một sản phẩm.

h) PCD phải gửi một Yêu cầu S(DESELECT) bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn.

i) LT gửi một đáp ứng S(DESELECT) bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn. Check, nếu trả lời từ Dụng cụ thử nghiệm PCD được chấp nhận bởi PCD.

j) PCD phải bắt đầu chuỗi quay vòng bằng cách sử dụng khung ngắn (cho Kiểu A) và khung tiêu chuẩn (cho Kiểu B).

Bảng L.1- Byte định dạng khung

Trường hợp	Khung được hỗ trợ																Chỉ dẫn rằng không hỗ trợ tùy chọn lập khung
	PCD đến PICC (Thẻ ‘80’)								PICC tới PCD (Thẻ ‘81’)								PCD đến PICC (Thẻ ‘82’)^a	PICC tới PCD (Thẻ ‘83’) ^b
	b8	b7	b6	b5	b4	b3	b2	b1	b8	b7	b6	b5	b4	b3	b2	b1	PCD đến PICC (Thẻ ‘82’)^a	PICC tới PCD (Thẻ ‘83’) ^b
1	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	1	Không gắn thẻ	Không gắn thẻ
2	0	0	0	0	0	0	1	1	0	0	0	0	0	0	0	1	Không gắn thẻ	Có mặt thẻ, Chiều dài=0
3	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	1	1	Không gắn thẻ	Có mặt thẻ, Chiều dài=1, Giá trị = ’00’
4	0	0	0	0	0	0	1	1	0	0	0	0	0	0	1	1	Có mặt thẻ, Chiều dài=1, Giá trị = ’00’	Có mặt thẻ, Chiều dài=1, Giá trị = ’00’
5	1	0	0	0	0	0	0	1	1	0	0	0	0	0	0	1	Có mặt thẻ, Chiều dài=0	Không gắn thẻ
6	1	0	0	0	0	0	1	1	1	0	0	0	0	0	1	1	Có mặt thẻ, Chiều dài=1, Giá trị = ’00’	Không gắn thẻ
^a Thẻ ‘82’ phải luôn được bỏ qua đối với Kiểu A PCD đến PICC tốc độ bit đến fc/16 và cao hơn fc/2. ^b Thẻ ‘83’ phải luôn được bỏ qua đối với Kiểu A.

Bảng L2 – Tùy chọn lập khung cho Kiểu A PCD đến PICC tốc độ bit lớn hơn fc/16 và nhỏ hơn 3fc/4

Trường hợp	Tùy chọn lập khung PCD đến PICC (Thẻ ‘82’)
Trường hợp	b8	b7	b6	b5	b4	b3	b2	b1
7	0	0	0	0	0	0	0	0
8	0	0	0	0	0	0	0	1
9	0	0	0	0	0	0	1	0
10	0	0	0	0	0	1	0	0
11	0	0	0	0	0	1	1	1

Bảng L.3 – Tùy chọn lập khung cho Kiểu B

Trường hợp	Tùy chọn lập khung PCD đến PICC (Thẻ ‘82’)								Tùy chọn lập khung PICC tới PCD (Thẻ ‘83’)
Trường hợp	b8	b7	b6	b5	b4	b3	b2	b1	b8	b7	b6	b5	b4	b3	b2	b1
12	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0
13	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0
14	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0
15	0	0	0	0	0	1	1	1	0	0	0	0	0	0	0	0
16	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1
17	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1	0
18	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0
19	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1	1	1
20	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	1
21	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	1	0
22	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0
23	0	0	0	0	0	1	1	1	0	0	0	0	0	1	1	1

Kịch bản L.1: lựa chọn định dạng khung bằng cách sử dụng Khối S(PARAMETERS)

L.1.1.4 Kết quả mong muốn

PCD phải như mô tả trong Kịch bản L.1 cho mỗi trường hợp thử nghiệm.

L.1.1.5 Báo cáo thử nghiệm

Nếu PCD hoạt động phù hợp với Kịch bản L.1 trong mỗi trường hợp thử nghiệm, thì thử nghiệm phải được PASS. Báo cáo thử nghiệm nên lập tài liệu các định dạng khung và tùy chọn lập khung được chọn bởi PCD theo mỗi hướng và mỗi trường hợp thử nghiệm.

L.1.2 Thử nghiệm PICC

L.1.2.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này là để kiểm tra sự phù hợp của việc sử dụng các khung có sửa lỗi gồm tùy chọn lập khung. Các thử nghiệm PICC này chỉ áp dụng cho các PICC hỗ trợ các khung có sửa lỗi trong ít nhất một hướng.

L.1.2.2 Dụng cụ

Trong các thử nghiệm này, dụng cụ-thử nghiệm-PICC phải có thể cấu hình để thay đổi khuôn dạng khung trong quy trình thử nghiệm. Dụng cụ-thử nghiệm-PICC phải có khả năng giám sát các khung được sử dụng trong mỗi giai đoạn quy trình thử nghiệm này.

L.1.2.3 Quy trình

Áp dụng quy trình sau hai lần. Một lần cho tốc độ bit fc/128 theo mỗi hướng, và nếu tùy chọn tốc độ bit được hỗ trợ, một lần với tốc độ bit lớn nhất theo mỗi hướng.

a) Dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt PICC phù hợp với G.5.1.1.

b) Dụng cụ-thử nghiệm-PICC gửi một Khối S(PARAMETERS) để yêu cầu thông số định dạng khung.

c) PICC phải trả lời với khối S(PARAMETERS) gồm các byte chỉ báo khuôn dạng khung.

d) Dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt khung có sửa lỗi trong hướng PCD đến PICC, nếu được hỗ trợ bởi PICC, với không tùy chọn lập khung bằng cách sử dụng khối S(PARAMETERS). Nếu không hỗ trợ khung có sửa lỗi trong PCD đến PICC, thì tiếp tục với Bước m).

e) PICC phải báo nhận Khối S(PARAMETERS) nhận được với đáp ứng khối S(PARAMETERS) bằng cách sử dụng khuôn dạng khung tiêu chuẩn.

f) Dụng cụ-thử nghiệm-PICC gửi Khối I(0)0 bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn.

g) PICC phải gửi một đáp ứng bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn.

CHÚ THÍCH PICC có thể trả lời với Khối S(WTX). Dụng cụ-thử nghiệm-PICC cần xử lý phù hợp.

h) Dụng cụ-thử nghiệm-PICC gửi một Yêu cầu S(DESELECT) bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn.

i) PICC phải gửi một đáp ứng S(DESELECT) bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn.

j) Dụng cụ-thử nghiệm-PICC gửi một WUPA cho Kiểu A trong một khung ngắn hoặc WUPB cho Kiểu B trong một khung tiêu chuẩn.

k) PICC phải trả lời với một ATQA khi Kiểu A hoặc ATQB khi Kiểu B.

l) Lặp lại các bước a) to k) cho mỗi trường hợp hỗ trợ sau bởi PICC.

1) Trong bước d), dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt với chặn SYNC.

2) Trong bước d), dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt với chặn SOF/EOF.

3) Trong bước d), dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt với chặn bit bắt đầu và bit dừng.

4) Trong bước d), dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt chặn SYNC và chặn SOF/EOF.

5) Trong bước d), dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt chặn SYNC và chặn bit bắt đầu và bit dừng.

6) Trong bước d), dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt chặn SOF/EOF và chặn bit bắt đầu và bit dừng.

m) Lặp lại các bước a) to I) cho mỗi trường hợp hỗ trợ sau bởi PICC.

1) Trong bước d), dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt các khung có sửa lỗi cho hướng PICC tới PCD.

2) Trong bước d), dụng cụ-thử nghiệm-PICC kích hoạt các khung có sửa lỗi cho cả hai hướng.

Kịch bản L.2: lựa chọn định dạng khung bằng cách sử dụng Khối S(PARAMETERS)

L.1.2.4 Kết quả mong muốn

PICC phải như mô tả trong Kịch bản L.2 trong mỗi trường hợp thử nghiệm.

L.1.2.5 Báo cáo thử nghiệm

Nếu PICC hoạt động phù hợp với Kịch bản L.2 trong mỗi trường hợp thử nghiệm, thì thử nghiệm phải được PASS.

L.2 Cơ chế sửa lỗi

L.2.1 Thử nghiệm PCD

L.2.1.1 Scope

Thử nghiệm này là để kiểm tra khả năng của PCD nhận đúng các khối có sửa lỗi trong các trường hợp sau:

– không bit lỗi trong mỗi khối con Hamming sửa đổi;

– một bit lỗi trong mỗi khối con Hamming sửa đổi;

– hai bit lỗi trong khối con Hamming sửa đổi đầu tiên (để kiểm tra CRC_32).

Thử nghiệm PCD này chỉ áp dụng cho các PCD hỗ trợ các khung có sửa lỗi theo hướng PICC tới PCD.

L.2.1.2 Dụng cụ

Trong thử nghiệm này dụng cụ-thử nghiệm-PCD phải có thể cấu hình để thay đổi khuôn dạng khung trong quy trình thử nghiệm. Dụng cụ-thử nghiệm-PCD phải có khả năng giám sát các khung được sử dụng trong mỗi giai đoạn quy trình thử nghiệm này.

L.2.1.3 Quy trình

Áp dụng quy trình sau.

a) UT thực hiện quy trình kích hoạt giao thức phù hợp với H.1.8.2 cho Kiểu A hoặc H.1.8.3 cho Kiểu B và thỏa thuận của khung có sửa lỗi.

b) PCD phải gửi Khối l(0)0 bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn.

Khối này và các khối PCD tiếp theo có thể là I(1)0, Khối–S hoặc R(NAK) trong trường hợp Có mặt PICC kiểm tra Phương pháp 2 a) như mô tả trong 7.5.6.2, TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4). Đáp ứng trong các bước sau thay đổi phù hợp.

c) LT gửi một Đáp ứng I(0)0 bằng cách sử dụng khung có sửa lỗi gồm không bit lỗi trong mỗi khối con Hamming sửa đổi. Kiểm tra, nếu trả lời từ LT được chấp nhận bởi PCD.

d) PCD phải gửi Khối I(0)1 bằng cách sử dụng khuôn dạng khung được chọn.

e) LT gửi một Đáp ứng I(0)1 bằng cách sử dụng định dạng khung có sửa lỗi và gồm hai bit lỗi trong khối con Hamming sửa đổi đầu tiên.

f) PCD phải gửi một khối R(NAK)1.

g) Lặp lại các bước a) to f) với một bit lỗi trong mỗi khối con Hamming sửa đổi trong bước c).

Kịch bản L.3: Trao đổi các khung có sửa lỗi

L.2.1.4 Kết quả mong muốn

PCD phải phù hợp với Kịch bản L.3.

L.2.1.5 Báo cáo thử nghiệm

Nếu PCD phù hợp Kịch bản mong muốn L.3, thì thử nghiệm phải được PASS.

L.2.2 Thử nghiệm PICC

L.2.2.1 Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này là để kiểm tra khả năng của PICC nhận đúng các khối có sửa lỗi trong các trường hợp sau:

– không bit lỗi trong mỗi khối con Hamming sửa đổi;

– một bit lỗi trong mỗi khối con Hamming sửa đổi;

– hai bit lỗi trong khối con Hamming sửa đổi đầu tiên (để kiểm tra CRC_32).

Thử nghiệm PICC này chỉ áp dụng cho các PICC hỗ trợ các khung có sửa lỗi theo hướng PCD đến PICC.

L.2.2.2 Dụng cụ.

Trong thử nghiệm này dụng cụ-thử nghiệm-PICC phải được sử dụng để mô phỏng các khung có sửa lỗi. Dụng cụ-thử nghiệm-PICC phải có khả năng giám sát các khung được sử dụng trong mỗi giai đoạn quy trình thử nghiệm này.

L.2.2.3 Quy trình

Áp dụng quy trình sau.

a) Dụng cụ–thử nghiệm-PICC kích hoạt PICC và các khung có sửa lỗi ít nhất theo hướng PCD đến PICC và không có tùy chọn lập khung phù hợp với G.5.1.1.

b) Dụng cụ-thử nghiệm-PICC gửi Khối l(0)0 bằng cách sử dụng định dạng khung có sửa lỗi gồm không bit lỗi trong mỗi khối con Hamming sửa đổi.

c) PICC phải gửi Đáp ứng l(0)0 bằng cách sử dụng định dạng khung được chọn.

d) Dụng cụ-thử nghiệm-PICC gửi Khối I(0)1 bằng cách sử dụng định dạng khung có sửa lỗi gồm hai bit lỗi trong khối con Hamming sửa đổi đầu tiên.

e) PICC phải ở Mute.

Lặp lại các bước a) đến e) với một bit lỗi trong mỗi khối con Hamming sửa đổi trong bước b).

Kịch bản L4: Trao đổi các khung có sửa lỗi

L.2.2.4 Kết quả mong muốn

PICC phải đáp ứng như chỉ ra trong quy trình.

L.2.2.5 Báo cáo thử nghiệm

Nếu PICC đáp ứng như trong quy trình, thì thử nghiệm phải PASS.

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1 Phạm vi áp dụng áp dụng

2 Tài liệu viện dẫn

3 Thuật ngữ và định nghĩa, ký hiệu và thuật ngữ viết tắt

3.1 Thuật ngữ và định nghĩa

3.1.1 Tiêu chuẩn cơ bản (Base standard)

3.1.2 Mức phân tầng (CascadeLevels)

3.1.3 Tập lệnh (Command Set)

3.1.4 Tác động tải (Loading Effect)

3.1.5 Mute (chặn đáp ứng) (Mute)

3.1.6 Trạng thái PICC (PICC States)

3.1.7 Kịch bản (Scenario)

3.1.8 Trạng thái khởi đầu thử nghiệm (Test Initial State)

3.1.9 Phương pháp thử (Test method)

3.1.10 Trạng thái đích thử nghiệm (Test Target State)

3.2 Ký hiệu và thuật ngữ viết tắt

4 Hạng mục mặc định áp dụng đối với các phương pháp thử

4.1 Môi trường thử nghiệm

4.2 Điều kiện ổn định trước

4.3 Dung sai mặc định

4.4 Điện cảm giả

4.5 Độ không đảm bảo đo tổng

5 Dụng cụ và mạch đối với thử nghiệm thông số trong TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1) và TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2)

5.1 Yêu cầu tối thiểu đối với dụng cụ đo

5.1.1 Máy hiện sóng

5.2 Cuộn dây hiệu chuẩn

5.2.1 Kích cỡ thẻ cuộn dây hiệu chuẩn

Hình 1 – Các cuộn dây hiệu chuẩn 1 và 2

5.2.2 Chiều dày và vật liệu của thẻ cuộn dây hiệu chuẩn

5.2.3 Đặc tính cuộn dây

5.3 Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm

Hình 2 – Thiết lập thử nghiệm (nguyên tắc)

5.3.1 Ăng-ten PCD thử nghiệm

5.3.2 Cuộn cảm

5.3.3 Bộ lắp ráp của PCD thử nghiệm

5.4 PICC tham chiếu

5.4.1 Kích thước của PICC tham chiếu

Hình 4 – Kích thước PICC tham chiếu

5.4.2 Cấu trúc PICC tham chiếu

5.4.3 Chỉnh tần số cộng hưởng PICC tham chiếu

5.5 Thiết lập thử nghiệm EMD

5.5.1 Mô tả chung

5.5.2 Tính toán công suất so với thời gian

5.5.3 Thử nghiệm điều kiện ổn định trước nền tạp âm

6 Thử nghiệm thông số trong TCVN 11689-1 (ISO/IEC 14443-1)

6.1 Thử nghiệm PCD

6.1.1 Từ trường luân phiên

6.2 Thử nghiệm PICC

6.2.1 Từ trường luân phiên

6.2.2 Thử nghiệm điện tĩnh

7 Thử nghiệm thông số của TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2)

7.1 Thử nghiệm PCD

7.1.1 Cường độ trường PCD

7.1.2 Bỏ trống

7.1.3 Bỏ trống

7.1.4 Chỉ số điều chế và dạng sóng

7.1.5 Tiếp nhận điều chế tải tiếp nhận

7.2 Thử nghiệm PICC

7.2.1 PICC truyền dẫn

7.2.2 Mức độ EMD PICC và thử nghiệm thời gian EMD thấp

7.2.3 Tiếp nhận PICC

7.2.4 PICC tần số cộng hưởng (tham khảo)

7.2.5 Tác động tải lớn nhất PICC

7.3 Các phương pháp thử cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc từ PCD đến PICC

7.4 Thử nghiệm PXD

8.1 Thử nghiệm PCD

8.2 Thử nghiệm PICC

8.3 Thử nghiệm PXD

8.3.1 Các chế độ PCD và PICC

8.3.2 Luân phiên chế độ tự động

Phụ lục A (qui định) Ăng-ten PCD thử nghiệm

A.1 Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng

A.2 Mạng phối hợp trở kháng

A.2.1 Mạng phối hợp trở kháng cho tốc độ bit fc/128

A.2.2 Mạng phối hợp trở kháng cho các bit tốc độ fc/64, fc/32 và fc/16

A.3 Ăng ten PCD thử nghiệm 2

A.3.1 Bố trí ăng ten PCD thử nghiệm 2 bao gồm mạng phối hợp trở kháng

A.3.2 Mạng phối hợp trở kháng 2

Phụ lục B (tham khảo) Chỉnh Ăng-ten PCD thử nghiệm

Bước 1

Bước 2

Phụ lục C (qui định) Cuộn cảm

C.1 Bố trí cuộn cảm

C.1.1 Bố trí cuộn cảm 1

C.1.2 Bố trí cuộn cảm 2

C.1.3 Bộ lắp ráp cuộn cảm

Phụ lục D (qui định) PICC tham chiếu

D.1 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 1

D.2 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 2

D.3 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 3

D.4 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 4

D.5 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 5

D.6 Bố trí cuộn dây PICC tham chiếu 6

Phụ lục E (qui định) Chỉ số điều chế và công cụ phân tích dạng sóng

E.1 Tổng quan

E.2 Lấy mẫu

E.2.1 Lấy mẫu cho các tốc độ bit fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16

E.2.2 Lấy mẫu cho các tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2

E.3 Việc lọc

E.3.1 Việc lọc cho các tốc độ bit fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16

E.3.2 Việc lọc cho các tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2

E.4 Tạo đường bao

E.5 Làm trơn đường bao

E.5.1 Làm trơn đường bao cho các tốc độ bit fc/128, fc/64, fc/32 và fc/16

E.5.2 Làm trơn đường bao cho các tốc độ bit fc/8, fc/4 và fc/2

E.6 Xác định chỉ số điều chế

E.7 Xác định định xung nhịp thời gian

E.8 Xác định vượt ngưỡng và dưới ngưỡng

E.9 Chương trình công cụ phân tích chỉ số điều chế và dạng sóng (tham khảo)

E.9.1 structure.h

E.9.2 fftrm.h

E.9.3 fftrm.c

E.9.4 hilbert.h

E.9.5 hilbert.c

E.9.6 functs.c

Phụ lục F (tham khảo) Chương trình cho việc đánh giá quang phổ

Phụ lục G (qui định) Phương pháp thử PICC bổ sung

G.1 Dụng cụ-thử nghiệm-PICC và phụ kiện

G.1.1 Mô phỏng giao thức I/O

G.1.2 Tạo kí tự I/O định xung nhịp thời gian trong chế độ tiếp nhận

G.1.3 Đo và giám sát giao thức I/O RF

G.1.4 Phân tích giao thức

G.1.5 Giá trị và trường RFU

G.1.6 Đo lường định xung nhịp thời gian

G.2 Xem xét chung

G.2.1 Sử dụng các lệnh thử nghiệm (có thể cả những đáp ứng PICC bổ sung)

G.2.2 Mối quan hệ giữa các phương pháp thử với yêu cầu của tiêu chuẩn cơ bản

G.3 Phương pháp thử việc khởi tạo PICC kiểu A

G.3.1 Giới thiệu

G.3.2 Kịch bản G. 1: Kiểm soát vòng

G.3.3 Thử nghiệm các chuyển tiếp trạng thái PICC kiểu A

G.3.4 Kịch bản G. 13: Xử lý chống va chạm Kiểu A

G.3.5 Xử lý của RATS

G.3.6 Xử lý của yêu cầu PPS

G.3.7 Kịch bản G. 20: Xử lý của FSD

G.4 Phương pháp thử cho việc khởi động của PICC kiểu B

G.4.1 Giới thiệu

G.4.2 Kịch bản G. 21: Kiểm soát vòng

G.4.3 Kịch bản G. 22: PICC Tiếp nhận

G.4.4 Thử nghiệm trạng thái chuyển tiếp PICC kiểu B

G.4.6 Xử lý của ATTRIB

G.4.7 Kịch bản G. 31: Xử lý của Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất)

G.5 Phương pháp thử đối với thao tác lô-gic của PICC kiểu A/Kiểu B

G.5.1 Giới thiệu

G.5.2 Phản ứng PICC đối với các kịch bản TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)

G.5.3 Xử lý phát hiện lỗi PICC

G.5.4 PICC phản ứng trên CID

G.5.5 PICC phản ứng trên NAD

G.5.6 Phản ứng PICC trên các khối-S(PARAMETERS)

G.5.7 PICC hỗ trợ Kiểu A và Kiểu B

G.6 Báo cáo kết quả

Phụ lục H (qui định) Phương pháp thử PCD bổ sung

H.1 Dụng cụ-thử nghiệm-PCD và phụ kiện

H.1.1 Phương pháp thử

H.1.2 Cấu trúc dụng cụ-thử nghiệm-PCD

H.1.3 Giao diện dụng cụ-thử nghiệm-PCD

H.1.4 Mô phỏng giao thức I/O

H.1.5 Tạo kí tự I/O định xung nhịp thời gian trong chế độ truyền dẫn

H.1.6 Đo lường và giám sát giao thức I/O RF

H.1.7 Phân tích giao thức

H.1.8 Quy trình kích hoạt giao thức

H.1.9 Kịch bản

H.1.10 UT, LT và cách hoạt động PCD

H.1.11 Mối quan hệ của các phương pháp thử với yêu cầu tiêu chuẩn cơ bản

H.2 Phương pháp thử cụ thể Kiểu A

H.2.1 Thời gian trễ khung PICC đến PCD

H.2.2 Yêu cầu thời gian bảo vệ

H.2.3 Xử lý của va chạm bit trong ATQA

H.2.4 Xử lý vòng lặp chống va chạm

H.2.5 Xử lý của RATS và ATS

H.2.6 Xử lý của đáp ứng PPS

H.2.7 Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

H.2.8 Xử lý của Khởi động thời gian bảo vệ khung

H.2.9 Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD

H.3 Phương pháp thử cụ thể Kiểu B

H.3.1 Định thời gian truyền dẫn I/O

H.3.2 Cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

H.3.3 Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD

H.4 Phương pháp thử các thao tác lô-gic của PCD

H.4.1 Xử lý của kiểm soát vòng lặp

H.4.2 Phản ứng của PCD đối với yêu cầu về mở rộng thời gian chờ

H.4.3 Phát hiện và khôi phục lỗi

H.4.4 Xử lý của NAD trong quá trình liên kết chuỗi

H.5 Tiếp tục giám sát các gói được gửi bởi PCD

H.5.1 Các trường RFU

H.5.2 Các giá trị RFU

H.5.3 Khối -R

H.5.4 Khối-S

H.5.5 PCB

H.5.6 Các khung khởi động Kiểu A

H.5.7 Dụng cụ

H.5.8 Quy trình

H.5.9 Báo cáo thử nghiệm

Phụ lục I (qui định) Phương pháp thử lựa chọn tốc độ bit cao cho PCD

I.1 Dụng cụ

I.2 Quy trình

I.2.1 Quy trình cho Kiểu A

I.2.2 Quy trình cho Kiểu B

I.2.3 Quy trình cho việc lựa chọn tốc độ bit sử dụng các khối S(PARAMETERS)

Phụ lục J (tham khảo) Chương trình đo lường mức EMD

Phụ lục K (qui định) Phương pháp thử cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc từ PCD đến PICC

K.1 Tổng quan

K.2 Thử nghiệm các thông số TCVN 11689-2 (ISO/IEC 14443-2)

K.2.1 Thử nghiệm PCD

K.2.2 Thử nghiệm PICC

K.3 Công cụ phân tích đặc tính dạng sóng PCD cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc

K.3.1 Tổng quan

K.3.2 Lấy mẫu

K.3.3 Việc lọc chống răng cưa

K.3.5 Lấy mẫu phụ

K.3.6 Giải quay vòng

K.3.7 Notch-filtering

K.3.8 Căn chỉnh lưới etu

K.3.9 Đo dải pha

K.3.10 Đo nhiễu liên ký hiệu

K.3.11 Đo tạp âm pha vi sai chuẩn hóa

K.3.12 Chương trình công cụ phân tích đặc tính dạng sóng PCDcho tốc độ bit of 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc (tham khảo)

K.3.13 Báo cáo thử nghiệm ví dụ (tham khảo)

K.4 Tạo tín hiệu PCD đối với Thử nghiệm tiếp nhận PICC (tham khảo)

K.4.1 Giới thiệu

K.4.2 Tạo tín hiệu thử nghiệm ISIm và ISId

K.4.3 Tạo tín hiệu thử nghiệm tạp âm pha vi sai chuẩn hóa

K.4.4 Tạo tín hiệu Công cụ PCD

Phụ lục L (qui định) Khung với phương pháp thử có sửa lỗi

L.1 Lựa chọn định dạng khung

L.1.1 Thử nghiệm PCD

L.1.2 Thử nghiệm PICC

L.2 Cơ chế sửa lỗi

L.2.1 Thử nghiệm PCD

L.2.2 Thử nghiệm PICC

Danh mục các Bảng

Bảng 1 – Ánh xạ từ UID đến UIDTX

Bảng 2 – Danh sách thành phần PICC tham chiếu

Bảng 3 – Lớp các thông số

Bảng A.1 – Các trường hợp sử dụng mạng phối hợp trở kháng

Bảng G.1 – Phương pháp thử đối với thao tác lô-gic của giao thức PICC kiểu A

Bảng G.2 – Phương pháp thử đối với thao tác lô-gic của giao thức PICC kiểu B

Bảng G.3 – Phương pháp thử đối với thao tác lô-gic PICC kiểu A hoặc B

Bảng G.4 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.1: Kiểm soát vòng

Bảng G.5 – Bảng trình tự chuyển tiếp trạng thái

Bảng G.6 – Bảng chuyển tiếp trạng thái

Bảng G.7 – Kiểm tra TTS

Bảng G.8 – Chuyển từ trạng thái IDLE

Bảng G.9 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái IDLE

Bảng G.10 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY(1)

Bảng G.11 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(1)

Bảng G.12 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY(2)

Bảng G.13 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(2)

Bảng G.14 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY(3)

Bảng G.15 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY(3)

Bảng G.16 – Các chuyển tiếp từ trạng thái ACTIVE

Bảng G.17 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trạng thái ACTIVE

Bảng G.18 – Các chuyển tiếp từ trạng thái HALT

Bảng G.19 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trạng thái HALT

Bảng G.20 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY*(1)

Bảng G.21 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái EADY*(1)

Bảng G.22 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY*(2)

Bảng G.23 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY*(2)

Bảng G.24 – Các chuyển tiếp từ trạng thái READY*(3)

Bảng G.25 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái READY*(3)

Bảng G.26 – Các chuyển tiếp từ trạng thái ACTIVE*

Bảng G.27 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trong trạng thái ACTIVE*

Bảng G.28 – Các chuyển tiếp từ trạng thái PROTOCOL

Bảng G.29 – Tiêu chí kết quả đối với cách hoạt động của PICC kiểu A trạng thái PROTOCOL

Bảng G.30 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của chống va chạm Kiểu A

Bảng G.31 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của yêu cầu PPS

Bảng G.32 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.20: Xử lý của FSD

Bảng G.33 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.21: Kiểm soát vòng

Bảng G.34 – Các thông số khung Kiểu B

Bảng G.35 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.22: PICC Tiếp nhận

Bảng G.36 – Trình tự chuyển tiếp trạng thái

Bảng G.37 – Chuyển tiếp trạng thái

Bảng G.38 – Kiểm tra TTS

Bảng G.39 – Các chuyển tiếp từ trạng thái IDLE

Bảng G.40 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.23: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái IDLE

Bảng G.41 – Các chuyển tiếp từ trạng thái con READY-REQUESTED

Bảng G.42 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.24: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái con READY- REQUESTED

Bảng G.43 – Các chuyển tiếp từ trạng thái con READY-DECLARED

Bảng G.44 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.25: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái con READY-DECLARED

Bảng G.45 – Các chuyển tiếp từ trạng thái HALT

Bảng G.46 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.26: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái HALT

Bảng G.47 – Các chuyển tiếp từ trạng thái PROTOCOL

Bảng G.48 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.27: Cách hoạt động của PICC kiểu B trong trạng thái PROTOCOL

Bảng G.49 – các giá trị ngũ phân vị α

Bảng G.50 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.28: Xử lý của chống va chạm Kiểu B

Bảng G.51 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của ATTRIB

Bảng G.52 – Tiêu chí kết quả đối với Kịch bản G.31: Xử lý của Maximum Frame Size (kích cỡ khung lớn nhất)

Bảng G.53 – Tiêu chí kết quả đối với phản ứng PICC đối với các kịch bản TCVN 11689-4 (ISO/IEC 14443-4)

Bảng G.54 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý phát hiện lỗi PICC

Bảng G.55 – Bảng trường hợp thử nghiệm CID (đối với các PICC hỗ trợ CID)

Bảng G.56 – Bảng trường hợp thử nghiệm CID (đối với các PICC không hỗ trợ CID)

Bảng G.57 – Tiêu chí kết quả đối với PICC phản ứng trên CID

Bảng G.58 – Tiêu chí kết quả đối với PICC phản ứng trên NAD

Bảng G.59 – Tiêu chí kết quả cho việc thay đổi các thông số bổ sung

Bảng G.60 – Bảng định xung nhịp thời gian cụ thể Kiểu A

Bảng G.61 – Bảng định thời gian cụ thể Kiểu B

Bảng G.62 – Kết quả báo cáo đối với các phương pháp thử cụ thể kiểu A

Bảng G.63 – Kết quả báo cáo đối với các phương pháp thử cụ thể Kiểu B

Bảng G.64 – Kết quả báo cáo đối với các phương pháp thử về thao tác lô-gic của PICC kiểu A hoặc Kiểu B

Bảng H.1 – Các lệnh giao diện lô-gic

Bảng H.2 – Phương pháp thử cụ thể Kiểu A

Bảng H.3 – Phương pháp thử cụ thể Kiểu B

Bảng H.4 – Phương pháp thử cho thao tác lô-gic

Bảng H.5 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của va chạm bit trong ATQA

Bảng H.6 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý vòng lặp chống va chạm

Bảng H.7 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của RATS và ATS

Bảng H.8 – Tiêu chí kết quả đối với cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

Bảng H.9 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của Khởi động thời gian bảo vệ khung

Bảng H.10 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của CID trong quá trình kích hoạt bởi PCD

Bảng H.11 – Tiêu chí kết quả đối với cơ chế lựa chọn kích cỡ khung

Bảng H.12 – Các tiêu chí báo cáo cho Xử lý của ClD trong quá trình kích hoạt bởi PCD

Bảng H.13 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của kiểm soát vòng lặp

Bảng H.14 – Các kết hợp tối thiểu

Bảng H.15 – Tiêu chí kết quả về phản ứng PCD với yêu cầu mở rộng thời gian chờ, Quy trình 1

Bảng H.16 – Tiêu chí kết quả cho phản ứng PCD với yêu cầu mở rộng thời gian chờ, Quy trình 2

Bảng H.17 – Tiêu chí kết quả đối với phát hiện và khôi phục lỗi

Bảng H.18 – Tiêu chí kết quả đối với Xử lý của NAD trong quá trình liên kết chuỗi

Bảng H.19 – Tiêu chí kết quả đối với tiếp tục giám sát các gói được gửi bởi PCD

Bảng H.20 – Bảng định xung nhịp thời gian cụ thể Kiểu A

Bảng H.21 – Bảng định xung nhịp thời gian cụ thể Kiểu B

Bảng H.22 – Kết quả báo cáo cho các phương pháp thử cụ thể Kiểu A

Bảng H.23 – Kết quả báo cáo cho các phương pháp thử cụ thể Kiểu B

Bảng H.24 – Kết quả báo cáo về phương pháp thử cho các thao tác lô-gic của PCD

Bảng H.25 – Báo cáo tình hình thử nghiệm

Bảng H.26 – Báo cáo bảng PCD RFU

Bảng I.1 – Cách hoạt động chính xác của PCD sau ATS với TA(1)

Bảng I.2 – Cách hoạt động chính xác của PCD sau ATQB

Bảng I.3 – Các tốc độ bit được hỗ trợ

Bảng L.1- Byte định dạng khung

Bảng L.2- Tùy chọn lập khung cho Kiểu A PCD đến PICC tốc độ bit lớn hơn fc/16 và nhỏ hơn 3fc/4 331

Bảng L.3 – Tùy chọn lập khung cho Kiểu B

Danh mục các Hình

Hình 1 – Các cuộn dây hiệu chuẩn 1 và 2

Hình 2 – Thiết lập thử nghiệm (nguyên tắc)

Hình 3 – Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 1 và Bộ lắp ráp PCD thử nghiệm 2

Hình 4 – Kích thước PICC tham chiếu

Hình 5 – Sơ đồ mạch PICC tham chiếu

Hình 6 – Thiết lập điều chỉnh tần số PICC tham chiếu (nguyên tắc)

Hình 7 – Mạch thử nghiệm ESD

Hình 8 – Các vùng thử nghiệm trên PICC đối với thử nghiệm ESD

Hình 9 – Thử nghiệm miễn dịch PCD (chung cho Kiểu A và Kiểu B)

Hình 10 – Trình tự thử nghiệm Khôi phục EMD (chung cho Kiểu A và Kiểu B)

Hình 11 – Mẫu thử nghiệm cho thử nghiệm khôi phục EMD (Kiểu A)

Hình 12 – Mẫu thử nghiệm cho thử nghiệm khôi phục EMD (Kiểu B)

Hình A.1 – Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng với tốc độ bit fc/128 (Xem từ mặt trước)

Hình A.2 – Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng với tốc độ bit fc/128 (xem từ mặt sau)

Hình A.3 – Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng với các tốc độ bit fc/64, fc/32 và fc/16 (xem từ mặt trước)

Hình A.4 – Bố trí ăng-ten PCD thử nghiệm gồm mạng phối hợp trở kháng với các tốc độ bit fc/64, fc/32 và fc/16 (xem từ mặt trước)

Hình A.5 – Mạng phối hợp trở kháng cho tốc độ bit fc/128

Hình A.6 – Mạng phối hợp trở kháng cho các bit tốc độ fc/64, fc/32 và fc/16

Hình A.7 – Bố trí ăng ten PCD thử nghiệm 2 gồm mạng phối hợp trở kháng (xem từ mặt trước)

Hình A.8 – Bố trí ăng ten PCD thử nghiệm 2 gồm mạng phối hợp trở kháng (xem từ mặt sau)

Hình A.9 – Mạng phối hợp trở kháng 2

Hình B.1 – Thiết lập hiệu chuẩn (Bước 1)

Hình B.2 – Thiết lập hiệu chuẩn (Bước 2)

Hình C.1-Bố trí các cuộn cảm 1 (a và b)

Hình C.2 – Bố trí các cuộn cảm 2 (a và b)

Hình C.3 – Bộ lắp ráp cuộn cảm

Hình D.1 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu

Hình D.2 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 2

Hình D.3 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 3

Hình D.4 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 4

Hình D.5 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 5

Hình D.6 – Bố trí cuộn dây thụ âm và cuộn dây chính PICC tham chiếu 6

Hình E.1 – Sơ đồ khối công cụ phân tích chỉ số điều chế và dạng sóng

Hình E.2 – Điều chế xung

Hình E.3 – Xung điều chế

Hình E.4 – Đặc tính của bộ lọc

Hình E.5 – Làm trơn đường bao

Hình E.6 – Giá trị nhỏ nhất của chỉ số điều chế m

Hình H.1 – Kiến trúc bộ thử nghiệm khái niệm

Hình K.1 – Sơ đồ khối công cụ phân tích cho các tốc độ bit 3fc/4, fc, 3fc/2 và 2fc

Hình K.2 – Sóng mang chưa điều chế theo sau bởi một khung, tiếp theo bởi sóng mang chưa điều chế

Hình K.3 – Đặc tính bộ lọc chống tạo tên riêng

Hình K. 4 – Ví dụ tín hiệu pha trên thời gian sau khi giải điều chế homodyne

Hình K. 5 – Ví dụ tín hiệu pha sau khi giải quay vòng

Hình K. 6 – Ví dụ tín hiệu pha sau khi lọc

Hình K. 7 – Đặc tính bộ lọc của bộ lọc Butterworth bậc 2

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 11688-6:2016 (ISO/IEC 10373-6:2016) VỀ THẺ ĐỊNH DANH – PHƯƠNG PHÁP THỬ – PHẦN 6: THẺ CẢM ỨNG
Số, ký hiệu văn bản	TCVN11688-6:2016	Ngày hiệu lực	30/12/2016
Loại văn bản	Tiêu chuẩn Việt Nam	Ngày đăng công báo
Lĩnh vực	Giao dịch điện tử	Ngày ban hành	30/12/2016
Cơ quan ban hành	Bộ khoa học và công nghê	Tình trạng	Còn hiệu lực

Các văn bản liên kết

Văn bản được hướng dẫn		Văn bản hướng dẫn
Văn bản được hợp nhất		Văn bản hợp nhất
Văn bản bị sửa đổi, bổ sung		Văn bản sửa đổi, bổ sung
Văn bản bị đính chính		Văn bản đính chính
Văn bản bị thay thế		Văn bản thay thế
Văn bản được dẫn chiếu		Văn bản căn cứ

Tải văn bản

Tải văn bản về Bản PDF/Bản gốc