TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 6749-4-2:2017 (IEC 60384-4-2:2007) VỀ TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ – PHẦN 4-2: QUY ĐỊNH KỸ THUẬT CỤ THỂ CÒN ĐỂ TRỐNG – TỤ ĐIỆN KHÔNG ĐỔI ĐIỆN PHÂN NHÔM CÓ CHẤT ĐIỆN PHÂN RẮN MANGAN DIOXIT- MỨC ĐÁNH GIÁ EZ

[1]

QC 300302-XXX

IEC 60384-1

IEC 60384-4

[3]

QC 300302

(hình chiếu góc…)

[7]

Cấp tính năng:

Tham chiếu cỡ của vỏ bọc

Kích thước mm

 Æ

L

H

d

……

CHÚ THÍCH 2: Phải cho các kích thước lớn nhất hoặc các kích thước danh nghĩa cùng với dung sai.

Điện áp danh định

μF

U_R

C_R

Tang của góc tổn hao ở …. °C, …. Hz

Trở kháng ở …. °C, …. Hz (nếu áp dụng)

Dòng điện gợn sóng danh định ở …. °C, …. Hz

V

μF

Ω

A

Bảng này được sử dụng để xác định các đặc tính bổ sung hoặc khắc nghiệt hơn so với các đặc tính quy định trong quy định kỹ thuật từng phần

Số điều và thử nghiệm^a

D^c hoặc ND^c

Điều kiện thử nghiệm^a

IL

^c

n

^c

c

^c

Các yêu cầu tính năng^a

4.21  Dòng điện xung cao (nếu yêu cầu bởi quy định kỹ thuật cụ thể)

ND

100%^e

4.1  Kiểm tra bằng mắt

4.2  Kích thước (đo)

ND

S-3^d

^d

0

Như ở 4.2
Ghi nhãn rõ ràng và như quy định ở 1.5 của quy định kỹ thuật này

Như quy định trong Bảng 1 của quy định kỹ thuật này.

4.3.1  Dòng rò

4.3.2  Điện dung

4.3.3  Tang của góc tổn hao

4.3.4  Trở kháng (nếu áp dụng)

ND

Điện trở bảo vệ:….

Tần số:… Hz

Tần số:… Hz

Tần số:… Hz

S-3^d

^d

0

Như ở 4.3.1.2

Trong khoảng dung sai quy định

Như ở 4.3.3.2

Trong giới hạn quy định ở quy định kỹ thuật cụ thể.

^b Không áp dụng với tụ điện có chân vặn vít hoặc các chân khác không được thiết kế để hàn, như được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

^c Trong bảng này:

IL là mức kiểm tra (IEC 60410)

n là cỡ mẫu;

c là số cho phép các hạng mục không phù hợp

p là định kỳ (tính bằng tháng);

D là phá hủy

ND là không phá hủy

^d Số lượng cần được thử nghiệm: Cỡ mẫu được dành riêng trực tiếp cho chữ cái mã đối với IL trong Bảng II A của lEC 60410.

^e Tiếp theo thử nghiệm 100% phải kiểm tra lại bằng cách lấy mẫu để theo dõi mức chất lượng đầu ra, tính bằng số các hạng mục không phù hợp trên một triệu (ppm). Mức lấy mẫu do nhà chế tạo xác định. Để tính toán các giá trị ppm, bất kỳ trường hợp tham số không đạt nào đều được tính như là một hạng mục không phù hợp. Nếu một hoặc nhiều hạng mục không phù hợp xảy ra trong một bộ mẫu, thì lô này phải bị loại bỏ.

Phân nhóm B1

4.6  Khả năng hàn^b

ND

Phương pháp:..

S-3^d

^d

0

Độ bám thiếc tốt với bằng chứng là dòng thiếc hàn chảy tự do, bám thiếc các chân hoặc đáp ứng (các) tham số yêu cầu trong quy định kỹ thuật cụ thể, nếu áp dụng.

4.19  Đặc tính ở nhiệt độ cao và thấp

ND

Tụ điện phải được đo ở mỗi bước nhiệt độ

Bước 1: 20 °C

Trở kháng (ở tần số giống Bước 2)

Bước 2:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Trở kháng

S-3^d

^d

0

Tỷ số so với giá trị ở Bước 1:≤ 2 lần.

^b Không áp dụng với tụ điện có chân vặn vít hoặc các chân khác không được thiết kế để hàn, như được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

^c Trong bảng này:

IL là mức kiểm tra (IEC 60410)

n là cỡ mẫu;

c là số cho phép các hạng mục không phù hợp

p là định kỳ (tính bằng tháng);

D là phá hủy

ND là không phá hủy

^d Số lượng cần được thử nghiệm: Cỡ mẫu được dành riêng trực tiếp cho chữ cái mã đối với IL trong Bảng II a của lEC 60410.

Số điều và thử nghiệm^a

D hoặc ND

Điều kiện thử nghiệm^a

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận^c

Yêu cầu tính năng^a

p

n

c

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Không có hư hại nhìn thấy được

Không có hư hại nhìn thấy được

Ghi nhãn rõ ràng

|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đo được ở 4.4.1

Phần của cỡ mẫu của phân nhóm C1

4.2  Kích thước
(chi tiết)

4.4.1  Phép đo ban đầu

4.4  Độ vững chắc của các chân

4.5  Khả năng chịu nhiệt hàn*

4.5.2  Phép đo kết thúc

D

Điện dung
Kiểm tra bằng mắt
Phương pháp:…
Mức khắc nghiệt
Không làm khô trước
Phương pháp:…
Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

6

9

0

Phần còn lại của cỡ mẫu của nhóm C1

4.7.1  Phép đo ban đầu

4.7  Thay đổi nhanh nhiệt độ

4.7.3  Phép đo kết thúc

4.8  Rung

D

Điện dung

T_A = Nhiệt độ dưới của chủng loại
T_B = Nhiệt độ trên của chủng loại 5 chu kỳ
Khoảng thời gian t₁ = 30 min hoặc 3 h
Phục hồi: 16 h
Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò
Tang của góc tổn hao
Trở kháng

Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này
Dải tần số:
… Hz đến… Hz
Biên độ:… mm hoặc
Gia tốc:… m/s2
(chọn giá trị ít khắc nghiệt hơn)

Thời gian tổng: … h

6

18

0

Không có hư hại nhìn thấy được
Như ở 4.3.1
Như ở 4.3.1

Trong giới hạn quy định ở quy định kỹ thuật cụ thể

Điện dung

Ghi nhãn rõ ràng

|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đo được ở 4.7.1, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.9  Va đập (hoặc xóc, xem 4.10)

4.10  Xóc (hoặc va đập, xem 4.8)

4.9.2 hoặc 4.10.2  Phép đo kết thúc

Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này.
Số va đập:….
Gia tốc: 400 m/s²
Khoảng thời gian xung: 6 ms

Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này
Gia tốc:… m/s²
Khoảng thời gian xung:… ms

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân
|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đo được ở 4.7.1, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Bộ mẫu kết hợp các mẫu của các phân nhóm C1A và C1B
4.11  Trình tự khí hậu
4.11.1  Nóng khô

4.11.2  Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, chu kỳ đầu tiên
4.11.3 Lạnh

4.11.4  Áp suất không khí thấp (nếu yêu cầu bởi quy định kỹ thuật cụ thể)
4.11.4.3  Phép đo trung gian

4.11.5  Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, các chu kỳ còn lại
4.11.6  Gắn kết (nếu yêu cầu bởi quy định quy định kỹ thuật cụ thể.
4.11.7  Phép đo kết thúc

D

Nhiệt độ:
Nhiệt độ trên của chủng loại Khoảng thời gian: 16 h

Nhiệt độ:
Nhiệt độ trên của chủng loại Khoảng thời gian: 2 h

Áp suất không khí: 8 kPa

Kiểm tra bằng mắt

Phương pháp:…

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò
Điện dung

Tang của góc tổn hao

6

27

0

Không có phóng điện đánh thủng, phóng điện bề mặt hoặc biến dạng có hại của vỏ

Không có hư hại nhìn thấy được.
Ghi nhãn rõ ràng
Như ở 4.3.1

|∆C/C|  đối với:

Cấp tuổi thọ dài: ≤ 5%
Cấp mục đích chung:

≤ 10% của giá trị đo được ở 4.5.2, 4.9.2 hoặc 4.10.2 nếu áp dụng.

≤ 1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

4.12  Nóng ẩm, không đổi

4.12.1  Phép đo ban đầu

4.11.3  Phép đo kết thúc

D

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

Trở kháng

Điện trở cách điện của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

Chịu điện áp của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

6

9

0

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân.

Ghi nhãn rõ ràng

Như ở 4.3.1

∆C/C đối với

Cấp tuổi thọ dài: ≤5%

Cấp mục đích chung:

≤ 10% giá trị đo được ở 4.12.1

≤ 1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

≤ 1,2 lần giới hạn ở quy định kỹ thuật cụ thể.

≥ 100 MΩ

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

4.13  Độ bền

4.13.1  Phép đo ban đầu 4.13.3  Phép đo kết thúc

D

Khoảng thời gian:…h

Nhiệt độ:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Điện áp đặt:…V

Phục hồi: tối thiểu 16 h.

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

3

21

0

Không có hư hại nhìn thấy được

Như ở 4.3.1

∆C/C ≤ 10% giá trị đo được ở 4.13.1

Trở kháng

Điện trở cách điện của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

Chịu điện áp của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

≤ 1,2 lần giới hạn ở quy định kỹ thuật cụ thể.

≥ 100 MΩ

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

Số điều và thử nghiệm^a

D^b hoặc ND

Điều kiện thử nghiệm^a

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận^c

Yêu cầu tính năng^a

p

n

c

4.14  Xung

4.14.1  Phép đo ban đầu

4.14.3  Phép đo kết thúc

D

Số chu kỳ: 1 000

Nhiệt độ:…. °C

Điện áp nạp:

1,15 U_R hoặc 1,15 U_C
đối với U_R ≤ 315 V
hoặc

1,10 U_R hoặc 1,10 U_C
đối với U_R > 315 V

Khoảng thời gian nạp: 30 s

Khoảng thời gian không tải: 5 min 30 s

Điện dung

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

12

6

0

Như ở 4.3.1

∆C/C đối với

Cấp tuổi thọ dài: ≤5%

Cấp mục đích chung:

≤ 10% giá trị đo được ở 4.12.1

Như ở 4.3.3

4.15 Điện áp ngược
(nếu yêu cầu)

4.15.1 Phép đo ban đầu 4.15.3 Phép đo kết thúc

D

Điện dung

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

12

6

0

0

Như ở 4.3.1

∆C/C ≤ 10% giá trị đo được ở 4.15.1

Như ở 4.3.3

4.17  Lưu kho ở nhiệt độ cao^*

4.17.1  Phép đo ban đầu

4.17.3  Phép đo kết thúc

D

Nhiệt độ:

Nhiệt độ trên của chủng loại

Khoảng thời gian: 96 h ± 4 h

Phục hồi: tối thiểu 16 h.

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

12

6

0

Không có hư hại nhìn thấy được

Như ở 4.3.1

∆C/C ≤ 5% giá trị đo được ở 4.17.1

Như ở 4.3.3

Số điều và thử nghiệm^a

D hoặc ND

Điều kiện thử nghiệm^a

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận^c

Yêu cầu tính năng^a

p

n

c

4.19  Đặc tính ở nhiệt độ cao và thấp

4.20  Nạp và phóng (nếu yêu cầu)

4.20.1  Phép đo ban đầu

4.20.3 Phép đo kết thúc

D

Tụ điện phải được đo ở mỗi bước nhiệt độ

Bước 1: 20 °C

Tụ điện ^*

Tang của góc tổn hao

Trở kháng (ở tần số giống Bước 2)

Bước 2:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Điện dung

Trở kháng

Tang của góc tổn hao

Bước 3:

Nhiệt độ trên của chủng loại

Dòng điện rò

Điện dung ^*

Tang của góc tổn hao ^*

Nhiệt độ: 20 °C

Số chu kỳ:

U_R ≤ 160 V: 10⁶

U_R > 160 V:

đang được xem xét

Khoảng thời gian nạp: 0,5 s

Khoảng thời gian phóng: 0,5 s

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

6

15

Để sử dụng như là giá trị tham khảo

Để sử dụng như là giá trị tham khảo

∆C/C ≤ 20% giá trị đo được ở 4.15.1

Tỷ số so với các giá trị ở Bước 1:
≤ 2 lần
≤ 2 lần giới hạn ở 4.3.3

Ở 125 °C: ≤ 15 lần giới hạn của 4.3.1
Ở 105°C: ≤ 8 lần giới hạn của 4.3.1
Ở 100 °C: ≤ 12,5 lần giới hạn của 4.3.1

Ở 85 °C: ≤ 10 lần giới hạn của 4.3.1

∆C/C ≤ 20% giá trị đo được ở Bước 1

≤ giới hạn ở 4.3.3

Không có hư hại nhìn thấy được

∆C/C ≤ 5% giá trị đo được ở 4.20.1

^b Mức kiểm tra được lựa chọn từ IEC 60410.

^c Trong bảng này,

p định kỳ (tính bằng tháng);

n là cỡ mẫu;

c tiêu chí chấp nhận (số lượng cho phép các hạng mục không phù hợp);

D phá hủy,

ND không phá hủy;

IL là mức kiểm tra (IEC 60410).