TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 9897-1:2013 (IEC 61051-1:2007) VỀ ĐIỆN TRỞ PHI TUYẾN DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ – PHẦN 1: QUY ĐỊNH KỸ THUẬT CHUNG

Hiệu lực: Còn hiệu lực

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 9897-1:2013

IEC 61051-1:2007

ĐIỆN TRỞ PHI TUYẾN DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ – PHẦN 1: QUI ĐỊNH KỸ THUẬT CHUNG

Varistor for use in electronic equipment – Part 1: Generic specification

Lời nói đầu

TCVN 9897-1:2013 hoàn toàn tương đương với IEC 61051-1:2007;

TCVN 9797-1:2013 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử gia dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

 

ĐIỆN TRỞ PHI TUYẾN DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ – PHẦN 1: QUI ĐỊNH KỸ THUẬT CHUNG

Varistors for use in electronic equipment – Part 1: Generic specification

1. Quy định chung

1.1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này áp dụng cho các điện trở biến đổi có đặc tính điện áp – dòng điện đối xứng để sử dụng trong các thiết bị điện tử.

1.2. Mục đích

Mục đích của tiêu chuẩn này nhằm thiết lập các điều khoản, quy trình thử nghiệm và phương pháp thử nghiệm tiêu chuẩn, để sử dụng trong quy định kỹ thuật từng phần và quy định kỹ thuật cụ th dùng cho hệ thống phê chun chất lượng và hệ thống đánh giá chất lượng các linh kiện điện tử.

1.3. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chun. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.

TCVN 7699-1:2007 (IEC 60068-1), Thử nghiệm môi trường – Phần 1: Quy định chung và hướng dẫn

TCVN 7699-2-1:2007 (IEC 60068-2-1), Th nghiệm môi trường – Phần 2-1: Các thử nghiệm – Th nghiệm A: Lạnh

TCVN 7699-2-2:2011 (IEC 60068-2-2:1994), Thử nghiệm môi trường – Phn 2-2: Các thử nghiệm – Th nghiệm B: Nóng khô

TCVN 7699-2-6:2009 (IEC 60068-2-6), Thử nghiệm môi trường – Phần 2-6: Các thử nghiệm – Th nghiệm Fc: Rung (hình sin)

TCVN 7699-2-13:2007 (IEC 60068-2-13), Thử nghiệm môi trường – Phần 2-13, Các th nghiệm – Th nghiệm M: Áp suất không khí thấp

TCVN 7699-2-14:2007 (IEC 60068-2-14), Th nghiệm môi trường – Phần 2-14, Các th nghiệm – Th nghiệm N: Thay đổi nhiệt độ

TCVN 7699-2-27:2007 (IEC 60068-2-27), Thử nghiệm môi trường – Phần 2-27, Các thử nghiệm – Thử nghiệm Ea và hướng dẫn: Xóc

TCVN 7699-2-29:2007 (IEC 60068-2-29), Thử nghiệm môi trường – Phần 2-29: Các thử nghiệm – Thử nghiệm Eb và hướng dẫn: Va đập

TCVN 7699-2-30:2007 (IEC 60068-2-30), Thử nghiệm môi trường – Phần 2-30: Các thử nghiệm – Thử nghiệm Db: Nóng ẩm, chu kỳ (12 h + chu kỳ 12 h)

TCVN 7699-2-45:2007 (IEC 60068-2-45), Thử nghiệm môi trường – Phần 2-45: Các thử nghiệm – Thử nghiệm XA và hướng dẫn: Ngâm trong dung môi làm sạch

TCVN 7699-2-78:2007 (IEC 60068-2-78:2001), Thử nghiệm môi trường – Phần 2-78: Các thử nghiệm – Thử nghiệm Cab: Nóng ẩm, không đi

TCVN 9896:2013 (IEC 60717:1981), Phương pháp xác định không gian yêu cầu của tụ điện và điện trở có các chân theo một hướng

IEC 60027 (all parts), Letter symbols to be used in electrical technology (tất cả các phần), Ký hiệu bằng chữ sử dụng trong công nghệ điện

IEC 60050 (all parts), International Electrotechnical Vocabulary (IEV) (tất cả các phần), Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế (IEV)

IEC 60060-2:1994, High-voltage test techniques – Part 2: Measuring systems, (kỹ thuật thử nghiệm cao áp – Phần 2: Hệ thống đo)

IEC 60062:2004, Marking codes for resistors and capacitors (Mã dùng để ghi nhãn cho điện trở và tụ điện).

IEC 60068-2-20:1979, Environment testing  Part 2: Tests  Test T: Soldering amendment 2 (1987) (Thử nghiệm môi trường – Phần 2: Thử nghiệm – Thử nghiệm T: hàn, sửa đổi 2 (1987))

IEC 60068-2-21:2006, Environmental testing Part 2-21: Tests  Test U: Robustness of terminations and integral mounting devices (Thử nghiệm môi trường Phần 2-21: Thử nghiệm – Thử nghiệm U: Độ cứng vững của các chân và các cơ cấu lắp liền)

IEC 60068-2-54:2005, Environmental testing  Part 2-54: Tests  Test Ta: Solderability testing of electronic components by the wetting balance method (Thử nghiệm môi trường – Phần 2-54: Thử nghiệm – Thử nghiệm Ta: thử nghiệm khả năng hàn của các linh kiện điện tử theo phương pháp cân bằng ẩm)

IEC 60068-2-58:2004, Environmental testing  Part 2-58: Tests  Test Td: Test methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface mounting devices (SMD) (Thử nghiệm môi trường – Phần 2-58: Thử nghiệm – Thử nghiệm Td: Phương pháp th khả năng hàn, khả năng chịu ăn mòn kim loại và nhiệt hàn của các thiết bị lắp đặt b mặt (SMD))

IEC 60068-2-69:1995, Environmental testing Part 2: Tests – Test Te: Solderability testing oelectronic components for surface mount technology by the wetting balance method (Thử nghiệm môi trường – Phần 2: Thử nghiệm – Thử nghiệm Te: Thử nghiệm khả năng hàn của linh kiện điện tử công nghệ lắp đặt bề mặt bằng phương pháp cân lượng thiếc bám)

IEC 60294:1969, Measurement of the dimensions of a cylindrical component having two axial terminations (đo kích thước của linh kiện hình trụ có hai chân đồng trục)

IEC 60410:1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes (Phương án lấy mẫu và quy trình thử nghiệm bởi các thuộc tính)

IEC 60617:2007, Graphical symbols for diagrams (Ký hiệu đồ họa dùng cho sơ đồ)

TCVN 9900-11-5:2013 (IEC 60695-11-5:2004), Thử nghiệm nguy cơ cháy – Phần 11-5: Ngọn lửa thử nghiệm – Phương pháp thử nghiệm ngọn la hình kim – Thiết bị, bố trí thử nghiệm chấp nhận và hướng dẫn)

IEC 61249-2-7:2002, Materials for printed boards and other interconnecting structures – Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad – Epoxide woven E-glass laminated sheet of defined flammability (vertical burning test) copper-clad (Vật liệu làm tấm mạch in và cu trúc kết nối khác – Phần 2-7: Vật liệu nền tăng cường có phủ và không phủ – Epoxy đan kết nhiều lớp thủy tinh E có lớp phủ đồng có khả năng cháy xác định (thử nghiệm cháy thẳng đứng))

IEC QC 001.002-3, xem http:/iwww.ieccorg

ISO 1000:1992, SI units and recommendations for the use of their multiples and of certain other units, Amendment 1 (1998) (Hệ đơn vị SI và khuyến nghị cho việc sử dụng các bội số của chúng và của một số đơn vị khác, Sửa đổi 1 (1998))

2. Dữ liệu kỹ thuật

2.1. Đơn vị, ký hiệu và thuật ngữ

Đơn vị, ký hiệu bằng đồ họa, ký hiệu bằng chữ cái và các thuật ngữ phải được lấy từ các tiêu chun sau đây, bt cứ khi nào có thể:

IEC 60027

IEC 60050

IEC 60617

ISO 1000

Khi các hạng mục khác được yêu cầu, phải được lấy phù hợp với các nguyên tắc của các tài liệu được liệt kê trên đây

2.2. Thuật ngữ và đnh nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa sau đây.

2.2.1Loại (type)

Nhóm các linh kiện có đặc điểm thiết kế tương tự và giống nhau về công nghệ chế tạo cho phép được nhóm lại với nhau hoặc để phê chuẩn chất lượng hoặc để kiểm tra sự phù hợp chất lượng. Chúng thường được đề cập bi một quy định kỹ thuật cụ thể duy nhất.

CHÚ THÍCH: Linh kiện được mô tả trong một số quy định kỹ thuật cụ thể có thể, trong một số trường hợp, được xem là thuộc về cùng loại và do đó có thể được nhóm lại với nhau để phê chuẩn chất lượng hoặc để kiểm tra sự phù hợp chất lượng.

2.2.2Kiểu (style)

Sự chia nh của một loại, thường dựa vào các yếu tố kích thước mà các yếu tố này có thể bao gồm một số biến thể, thường là trật tự cơ khí.

2.2.3Điện trở phi tuyến (điện trở phụ thuộc điện áp, VDR) (ký hiệu đồ họa Z) (varistor (voltage dependent resistor, VDR) (graphical symbol) Z)

Linh kiện, có độ dẫn,  nhiệt độ nhất định, tăng lên nhanh chóng theo điện áp. Thuộc tính này được thể hiện bằng một trong các công thức sau đây:

U = C Ib                                                 (1)

hoặc

I = AUg                                                  (2)

trong đó

I là dòng điện chạy qua điện trở biến đổi;

là điện áp đặt lên điện trở biến đổi;

b là chỉ số dòng điện;

g là chỉ số điện áp;

A và C là hằng số.

2.2.4Chỉ số đòng điện phi tuyến b (non-linearity current index b)

bắt đầu từ công thức (1) của 1.5.3, b được xác định theo công thức:

                (3)

Đ thuận tiện cho tính toán, có thể sử dụng công thức sau đây:

                                               (4)

b luôn nhỏ hơn 1.

2.2.5Chỉ số điện áp phi tuyến g (non-linearity voltage index g)

bắt đầu từ công thức (2) của 1.5.3, g được xác định theo công thức:

                                          (5)

Để thuận tiện cho tính toán, có thể sử dụng công thức sau đây:

                                     (6)

b luôn nhỏ hơn 1.

2.2.6Điện áp xoay chiều liên tục lớn nhất (maximum continuous a.c. voltage)

Điện áp xoay chiều hiệu dụng lớn nhất có dạng sóng về cơ bản là hình sin (tổng méo hài nhỏ hơn 5 %) có thể đặt lên các linh kiện trong điều kiện hoạt động liên tục ở nhiệt độ 25 °C nhiệt độ lớn hơn 25 °C, quy định kỹ thuật cụ thể phải đưa ra thông tin đầy đ về các yêu cầu giảm tải.

Thông thường giá trị điện áp này phải là 1,1 lần điện áp nguồn.

2.2.7Điện áp một chiều liên tục lớn nhất (maximun continuous d.c. voltage)

Điện áp một chiều lớn nhất (gợn sóng nhỏ hơn 5 %) có thể đặt lên các linh kiện trong điều kiện hoạt động liên tục  nhiệt độ bên ngoài là 25 °C nhiệt độ lớn hơn 25 °C, quy định kỹ thuật cụ thể phải đưa ra thông tin đầy đ về các yêu cầu giảm tải.

2.2.8Điện áp nguồn (supply voltage)

điện áp mà qua đó hệ thống được ấn định rõ và tới đó các đặc tính làm việc của hệ thống được tham chiếu đến.

2.2.9Điện áp điện trở biến đổi danh nghĩa (nominal varistor voltage)

Điện áp, ở dòng điện một chiều quy định, được sử dụng như một điểm tham chiếu trong đặc tính linh kiện.

2.2.10Điều kiện điện áp dưới xung (voltage-under-pulse conditions)

Giá trị đỉnh của điện áp, xuất hiện  các chân của điện trở biến đổi, khi có một dòng điện xung quy định đặt lên điện trở này.

2.2.11Điện áp kẹp (clamping voltage)

Điện áp đỉnh hình thành trên các chân điện trở biến đổi trong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn, khi đi qua một dòng điện xung loại 8/20 (xem 1.5.15)

2.2.12Điện áp cách ly (ch áp dụng cho điện trở biến đổi được cách điện) (isolation voltage (applicable only to insulated varistors)

Điện áp đỉnh lớn nhất có thể đặt, trong điều kiện hoạt động liên tục giữa các chân điện tr biến đổi và bất kỳ bề mặt lắp đặt dẫn điện

2.2.13Dòng điện rò (leakage current)

Dòng điện đi qua các điện tr biến đổi tại điện áp một chiều lớn nhất và  nhiệt độ 25 °C hoặc tại bất kỳ nhiệt độ quy định khác

2.2.14Dòng diện đỉnh lớn nhất (maximum peak current)

Dòng điện lớn nhất cho mỗi xung, có thể chạy qua điện trở biến đổi  nhiệt độ môi trường 25 °C, đối với một số lượng nhất định các xung

2.2.15Loại dòng diện (class current)

Giá trị đỉnh của dòng điện bằng 1/10 giá trị đỉnh của dòng điện lớn nhất trong 100 xung  hai lần mỗi phút đối với xung 8/20.

2.2.16Xung hoặc xung nhịp (pulse or currents)

Sóng chỉ theo một hướng của điện áp hoặc dòng điện mà không có dao động đáng kể

CHÚ THÍCH: Theo IEC 60060-2, từ “xung nhịp” được sử dụng, tuy nhiên, đối với yêu cầu kỹ thuật này, chỉ sử dụng từ “xung”.

2.2.17Dòng điện xung (pulse currents)

Có hai loại dòng điện xung được sử dụng:

1. Loại thứ nhất có hình dạng tăng từ không đến giá trị đỉnh trong một thời gian ngắn, và sau đó giảm xuống bằng không hoặc giảm gần như theo cấp số nhân hoặc theo cách thức của một đường cong sin bị làm nhụt nhanh. Loại này được xác định bi thời gian sườn trước là T1 và thời gian giảm về một nửa giá trị là T2, xem hình 1. Xung điện áp của tổ hợp xung (xem 2.2.29) có hình dạng tương tự.

Hình 1  Hình dạng của dòng điện xung loại 1

2. Loại thứ hai có hình dạng gần như hình chữ nhật và được xác định bởi thời gian ảo của đỉnh và tổng thời gian ảo, xem hình 2.

Hình 2 – Hình dạng của dòng điện xung loại 2

2.2.18Giá trị của xung dòng điện (value of pulse current)

Dòng điện xung thường được xác định bằng giá tr đỉnh của nó. Với một số mạch thử nghiệm, có thể có dòng điện quá đích hoặc dao động. Dòng điện xung được xác định bởi một đường cong vẽ qua các dao động với điều kiện là đỉnh của các dao động phù hợp với 4.6.2

2.2.19Thời gian sườn trước ảo T1 (virtual from time T1)

Thời gian sườn trước ảo T1 của dòng điện xung là 1,25 lần khoảng thời gian giữa các thời điểm mà xung là 10% và 90% giá trị đỉnh của nó.

Thời gian sườn trước ảo T1 của xung điện áp là 1,67 lần thời gian mà xung là 30 % và 90% giá trị đnh của nó.

2.2.20Gốc tọa độ ảo O1 (virtural origin O1)

Gốc tọa độ ảo O1 của một dòng điện xung là thời điểm vượt trước một thời gian là 0,1 T1 mà tại đó dòng điện là 10 % giá trị đỉnh của nó. Gốc tọa độ ảo O1 của một xung điện áp là thời điểm vượt trước một thời gian là 0,3 T1 mà tại đó các điện áp là 30% giá tr đnh của nó.

Đối với các dao động có thời gian quét tuyến tính, gốc tọa độ ảo O1 là giao điểm vi trục X của một đường thẳng vẽ qua các điểm chuẩn 10 % (30 %, trong trường hợp là xung điện áp) và 90 % ở sườn trước.

2.2.21Thời gian ảo đến một nửa giá trị T2 (virtual time to half-value T2)

Thời gian ảo đến một nửa giá trị T2 của một dòng điện xung hoặc xung điện áp là khoảng thời gian giữa gốc tọa độ ảo và thời điểm trên đuôi sóng mà tại đó dòng điện lần đầu tiên giảm xuống còn một nửa giá trị đnh của nó

2.2.22Thời gian ảo của đỉnh của một dòng diện xung hình chữ nhật td (virtural duration of peak of a rectangular pulse current td)

Khoảng thời gian mà dòng điện lớn hơn 90 % giá trị đỉnh của nó

2.2.23Tổng thời gian ảo tt của xung dòng điện (virtual total duration t1 of a pulse current)

Khoảng thời gian trong đó biên độ của xung lớn hơn 10 % giá trị đỉnh của nó, nếu có dao động trên sườn trước, cần v một đường cong trung bình để xác định thời gian mà tại đó đạt được giá trị 10 %.

2.2.24Loại dải nhiệt độ (category temperature range)

Dải nhiệt độ môi trường xung quanh mà điện tr biến đổi được thiết kế để hoạt động liên tục, điều này được xác định bởi giới hạn nhiệt độ của loại khí hậu thích hợp của nó

2.2.25Nhiệt độ loại cao (upper category temperature)

Nhiệt độ môi trường cao nhất mà một điện trở biến đổi được thiết kế để hoạt động liên tục:

– Đối với điện trở biến đổi có cấu trúc oxit kim loại,  một phần của điện áp xoay chiều hoặc một chiều lớn nhất liên tục được chỉ ra trong các đường cong suy giảm nêu trong quy định kỹ thuật c thể;

– Hoặc, nếu thích hợp, đối với điện tr biến đổi có cu trúc cacbua silic,  một phần của tiêu tán danh định được chỉ ra trong loại tiêu tán

2.2.26Nhiệt độ loại thấp (lower category temperature)

Nhiệt độ môi trường thấp nhất mà một điện trở biến đổi được thiết kế để hoạt động liên tục.

2.2.27Khả năng chịu nhiệt (thermal resistance)

Tỷ số giữa độ tăng nhiệt của phần tử là điện trở biến đổi trên nhiệt độ môi trường xung quanh và công suất đặt.

2.2.28Tiêu tán danh đnh (rated dissipation)

Tiêu tán lớn nhất cho phép tại nhiệt độ 25 °C

2.2.29Xung kết hợp (rated dissipation)

xung có dạng sóng điện áp 1,2 / 50 (T1/T2) và dòng điện có dạng sóng 8/20 (T1/T2), được thể hiện bởi

điện áp đỉnh /dòng điện đỉnh

2.3. Giá trị và đặc tính ưu tiên

Mỗi yêu cầu kỹ thuật từng phần phải quy định các giá trị ưu tiên phù hợp với phân họ, được đề cập bởi quy định kỹ thuật từng phần.

2.4. Ghi nhãn

2.4.1. Quy định chung

Các thông tin được đưa ra trên nhãn thường được chọn từ liệt kê dưới đây, tầm quan trọng tương đối của mỗi hạng mục được ấn định bởi thứ tự của nó trong liệt kê này:

a) Điện áp xoay chiều liên tục cao nhất hoặc điện áp điện trở biến đổi danh nghĩa;

b) Ngày tháng năm sản xut;

c) Số hiệu của quy định kỹ thuật cụ thể và kiểu tham chiếu;

d) Tên hoặc thương hiệu của nhà chế tạo.

Các điện trở biến đổi phải được ghi nhãn rõ ràng với hạng mục a) trên đây cùng với càng nhiều hạng mục còn lại càng tốt. Cần tránh lặp lại thông tin khi ghi nhãn trên điện trở biến đổi.

Trong trường hợp các linh kiện rất nhỏ, quy định kỹ thuật từng phần phải quy định các yêu cầu.

Bao gói của (các) điện tr biến đổi phải được ghi nhãn rõ ràng tất cả các thông tin liệt kê ở trên.

Mọi ghi nhãn bổ sung phải được đặt sao cho không dẫn đến hiểu lầm.

2.4.2. Mã hóa

Khi sử dụng mã hóa, phương pháp được ưu tiên lựa chọn là từ phương pháp nêu trong IEC 60062.

3. Quy trình đánh giá chất lượng

3.1. Hệ thống phê duyệt chất lượng / đánh giá chất lượng

Khi tiêu chuẩn này được sử dụng cho một hệ thống đánh giá chất lượng đầy đủ như hệ thống đánh giá chất lượng IEC đối với linh kiện điện tử (IECQ), kèm theo phê duyệt chất lượng và kiểm tra sự phù hợp chất lượng, thì các quy trình của 3.4 và 3.5 phải được tuân thủ.

Khi tiêu chuẩn này được các hệ thống đánh giá chất lượng bên ngoài IECQ sử dụng cho các mục đích thử nghiệm thiết kế hoặc thử nghiệm điển hình, có thể sử dụng các quy trình và yêu cầu của 3.4.1 và 3.4.2 b), nhưng các thử nghiệm và các bộ phận thử nghiệm phải được áp dụng theo thứ tự được đưa ra trong lịch trình thử nghiệm.

3.2. Giai đoạn đầu của quá trình sản xuất

Đối với quy định kỹ thuật của điện trở biến đổi, giai đoạn đầu của quá trình sản xuất là sự pha trộn các thành phần.

3.3. Linh kiện tương tự nhau về cấu trúc

Điện trở biến đổi trong phạm vi yêu cầu kỹ thuật này có thể được nhóm thành các nhóm có cấu trúc tương tự để hình thành các lô kiểm tra với điều kiện đáp ứng các yêu cầu sau.

a) được sản xuất bởi một nhà chế tạo trên một vị trí, về cơ bản sử dụng cùng một thiết kế, vật liệu, quy trình và phương pháp.

b) Đối với các thử nghiệm về điện, các cơ cấu có cùng các đặc tính về điện có thể được nhóm lại với điều kiện các yếu tố dùng đ xác định các đặc trưng giống với tất cả các cơ cấu liên quan.

c) Đối với các thử nghiệm về môi trường, có thể nhóm thành các thiết bị có cùng một cách đóng gói, cùng cấu trúc bên trong cơ bản và cùng một quy trình hoàn thiện.

d) Đối với các kiểm tra bằng mắt (ngoại trừ kiểm tra ghi nhãn) các cơ cấu có thể được nhóm lại nếu được thực hiện trên một dây chuyền sản xuất giống nhau, có cùng kích thước bao gói và hoàn thiện bên ngoài.

Việc nhóm thành các nhóm cũng có thể được sử dụng đối với độ cứng vững của các chân và các thử nghiệm hàn trong trường hợp thuận tiện để nhóm các cơ cu có cấu trúc bên trong khác nhau (xem c)  trên).

e) Đối với các thử nghiệm độ bền, thiết bị có thể được nhóm lại nếu được thực hiện trên cùng một quy trình sản xuất, trong cùng một vị trí, sử dụng cùng một thiết kế và chỉ khác nhau  đặc tính điện. Nếu có thể ch ra rằng một loại nào đó trong nhóm đã chịu được ứng suất nặng nề hơn so với các loại khác thì khi đó thử nghiệm trên loại này có thể được chấp nhận cho các phần tử còn lại của nhóm.

3.4. Thủ tục chứng nhận chất lượng

Nhà chế tạo phải tuân thủ:

– Các yêu cầu chung của các quy tắc về quy trình quản lý chứng nhận cht lượng (IEC QC 001 002-3, Điều 3);

– Các yêu cầu đối với giai đoạn đầu của quá trình sản xuất được định nghĩa trong 3.2 của tiêu chuẩn này.

Ngoài ra, các yêu cầu của quy trình a) hoặc b) dưới đây, phải được áp dụng.

a) Nhà chế tạo phải có bằng chứng thử nghiệm phù hợp với các yêu cầu quy định trên ba lô thử nghiệm đại diện cho từng lô được lấy trong một thời gian ngn nhất có thể và một lô đại diện cho thử nghiệm định kỳ. Trong thời gian mà các lô thử nghiệm được lấy, không được có thay đổi đáng kể trong quá trình chế tạo.

Các mẫu phải được lấy từ các lô phù hợp với IEC 60410 (xem Phụ lục B). Phải sử dụng việc kiểm tra thông thường, nhưng nếu cỡ mẫu cung cp cho chấp nhận trên cơ sở không có sự không phù hợp, thì phải lấy các mẫu bổ sung để đáp ứng cỡ mẫu được yêu cầu để cung cấp cho chấp nhận trên một hạng mục không phù hợp.

b) Nhà chế tạo phải có bằng chứng thử nghiệm phù hợp với các yêu cầu của quy định kỹ thuật trên các lịch trình thử nghiệm cỡ mẫu cố định được cho trong quy định kỹ thuật từng phần.

Các mẫu được lấy để tạo thành bộ mẫu phải được chọn ngẫu nhiên từ sản xuất hoặc theo thỏa thuận với Cơ quan quốc gia về kiểm tra giám sát.

Chứng nhận chất lượng là một phần của một hệ thống đánh giá cht lượng phải được duy trì bởi các bằng chứng chứng minh hợp thức thường xuyên về việc tuân th các yêu cầu phù hợp chất lượng (xem 3.5). Nếu không, việc chứng nhận chất lượng này phải được kiểm tra xác nhận qua các quy tắc duy trì chứng nhận chất lượng được đưa ra trong Quy tắc về quy trình của hệ thống đánh giá chất lượng IEC đối với linh kiện điện tử (IEC QC 001.002-3, 3.1.7).

3.5. Kiểm tra sự phù hợp chất lượng

Quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống kết hợp với quy định kỹ thuật từng phần phải quy định lịch trình thử nghiệm đối với kiểm tra sự phù hợp chất lượng.

Lịch trình này cũng phải quy định cụ thể việc nhóm, lấy mẫu và chu kỳ cho từng lô và kiểm tra định kỳ.

Mức độ kiểm tra và AQL phải được chọn từ các mức được nêu trong IEC 60410.

Nếu cần thiết, có thể quy định nhiều hơn một lịch trình thử nghiệm.

3.5.1. Hồ sơ chứng nhận của các lô đưa ra bán

Hồ sơ chứng nhận của các lô đưa ra bán nếu được quy định trong quy định kỹ thuật liên quan và có yêu cầu của người mua, tối thiểu phải nêu các thông tin dưới đây:

– Thông tin thuộc tính (ví dụ như số lượng các linh kiện được thử nghiệm và số lượng linh kiện không phù hợp) đối với các thử nghiệm trong các phân nhóm thuộc kiểm tra định kỳ mà không cần tham chiếu đến các tham số mà việc không đạt đã loại bỏ.

– Các thông tin có thể thay đổi được về thay đổi điện áp hoặc dòng điện sau các thử nghiệm độ bền theo quy định trong quy định kỹ thuật từng phần.

3.5.2. Giao hàng chậm

Điện trở biến đổi bị tồn đọng trong thời gian quá hai năm (trừ trường hợp có quy định khác tại quy định kỹ thuật từng phần), cùng với việc đưa ra bán lô này, trước khi giao hàng, phải kiểm tra lại về xem xét bằng mắt, khả năng hàn và điện áp tại dòng điện rò 1 mA như được quy định trong kiểm tra nhóm A hoặc nhóm B của quy định kỹ thuật cụ thể.

Nếu ảnh hưởng của sự thay đổi theo điện áp hoặc dòng điện phụ thuộc vào loại điện trở biến đổi, thì giá trị của nó và dung sai ban đầu, thủ tục do người đứng đầu bộ phận kiểm tra của nhà chế tạo phê duyệt để đảm bảo các yêu cầu điện áp tại dòng điện rò 1 mA được đáp ứng, đều phải được chấp thuận của cơ quan quốc gia về kiểm tra giám sát.

Một khi một “lô” đã đáp ứng với thử nghiệm lại, chất lượng của nó được tái đảm bảo trong thời hạn quy định.

3.5.3. Giao hàng trước khi hoàn thành các thử nghiệm nhóm B

Khi các điều kiện của IEC 60410 đối với các thay đổi để giảm bớt công việc kiểm tra đã được đáp ứng cho tất cả các thử nghiệm nhóm B, nhà chế tạo được phép đem bán các linh kiện trước khi hoàn thành các thử nghiệm này.

3.6. Phương pháp thử nghiệm thay thế

Phương pháp thử nghiệm và đo lường được đưa ra trong quy định kỹ thuật liên quan không nhất thiết phải là phương pháp duy nhất có thể được sử dụng. Tuy nhiên, nhà chế tạo phải đáp ứng các yêu cầu của cơ quan quốc gia về kiểm tra giám sát rằng bất kỳ phương pháp thay thế nào mà nhà chế tạo có thể sử dụng phải cho kết quả tương đương với kết quả thu được bằng các phương pháp quy định. Trong trường hợp có tranh chấp, với mục đích trọng tài và mục đích chuẩn, chỉ sử dụng phương pháp quy định.

3.7. Tham số chưa kiểm tra

Chỉ các tham số của linh kiện đã được quy đnh trong quy định kỹ thuật cụ thể và đó là đối tượng thử nghiệm mới có thể được coi là cần nằm trong giới hạn quy định.

Không nên cho rằng bất kỳ tham số nào không được quy định thì đều không thay đổi từ linh kiện này đến linh kiện khác. Nếu vì lý do nào đó cần thiết để thêm tham số để kiểm soát, thì khi đó nên sử dụng quy định kỹ thuật mới, mở rộng hơn.

Phương pháp thử nghiệm bổ sung phải được mô tả đầy đủ và quy định giới hạn, AQL và mức độ kiểm tra thích hợp.

4. Quy trình thử nghiệm và đo lường

4.1. Quy định chung

Quy định kỹ thuật cụ thể từng phần và / hoặc quy định kỹ thuật còn để trống phải chứa các bảng thể hiện các thử nghiệm cần thực hiện, các phép đo cần tiến hành trước và sau mỗi thử nghiệm hoặc phân nhóm thử nghiệm, và trình tự cần thực hiện. Các giai đoạn của mỗi thử nghiệm được thực hiện theo thứ tự bằng văn bản. Các điều kiện đo cho các phép đo ban đầu và cuối cùng phải giống nhau.

Nếu quy đnh kỹ thuật quốc gia nằm trong hệ thống đánh giá chất lượng nào đó kể cả các phương pháp không phải là phương pháp quy định tại các văn bản trên thì đều phải mô tả đầy đủ.

Tình trạng sửa đổi và phát hành của bộ tiêu chuẩn thử nghiệm IEC 60068 nêu trong Điều 4 này được đưa ra trong 1.3.

4.2. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

4.2.1. Điều kiện khí quyn tiêu chuẩn đ thử nghiệm

Nếu không có quy định khác, tất cả các thử nghiệm và phép đo đều phải được thực hiện theo điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để thử nghiệm như được đưa ra trong 5.3 của IEC 60068-1:

Nhiệt độ: 15 oC đến 35 °C

Độ m tương đối: 25 % đến 75 %.

Áp sut không khí: 86 kPa đến 106 kPa

Trước khi thực hiện phép đo, các điện trở biến đổi phải được lưu giữ  nhiệt độ dùng để đo trong một thời gian đủ để toàn bộ điện trở biến đổi đạt nhiệt độ này. Thời gian giống như thời gian quy định cho việc phục hồi vào cuối của thử nghiệm thường là đủ cho mục đích này.

Khi thực hiện phép đo ở nhiệt độ khác với nhiệt độ quy định, kết quả phải, khi cần thiết, được quy đổi về nhiệt độ quy đnh. Nhiệt độ môi trường xung quanh trong quá trình đo phải được nêu trong báo cáo thử nghiệm. Trong trường hợp có tranh chp, các phép đo phải được lặp lại bng cách sử dụng một trong các nhiệt độ trọng tài (như được đưa ra trong 4.2.3) và các điều kiện khác như được nêu trong quy định kỹ thuật này.

Khi thử nghiệm được tiến hành theo một trình tự, phép đo cuối cùng của một thử nghiệm có thể được ly làm phép đo ban đầu cho thử nghiệm tiếp theo.

CHÚ THÍCH: Trong quá trình đo, các điện trở biến đổi không được tiếp xúc với gió lùa, tia nắng mặt trời trực tiếp hoặc các ảnh hưởng khác có nhiều khả năng gây sai số.

4.2.2. Điều kiện phục hồi

Nếu không có quy định khác, phục hồi phải diễn ra trong các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn dùng để thử nghiệm (xem 4.2.1). Nếu phục hồi cần được thực hiện trong điều kiện kiểm soát chặt chẽ, thì phải sử dụng các điều kiện phục hồi có kiểm soát tại Điều 5.4.1 của IEC 60068-1.

4.2.3. Điều kiện trọng tài

Với mục đích trọng tài, phải chọn một trong các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để thử nghiệm trọng tài được lấy từ 5.2 của IEC 60088-1, như được đưa ra trong Bảng 1.

Bảng 1 – Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

Nhiệt độ

°C

Độ ẩm tương đối

%

Áp suất không khí

kPa

20 ± 1

63 đến 67

86 đến 106

23 ± 1

46 đến 52

86 đến 106

25 ± 1

48 đến 52

86 đến 106

27 ± 1

63 đến 67

86 đến 106

4.2.4. Điều kiện chuẩn

Với mục đích làm chuẩn, áp dụng các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để làm chuẩn được đưa ra trong 5.1 của TCVN 7699-1 (IEC 60068-1):

Nhiệt độ: 20 °C

Áp suất không khí: 101,3 kPa

4.3. Làm khô và phục hồi

Trong trường hợp làm khô được quy định trong quy định kỹ thuật, các điện trở biến đổi phải được ổn định trước khi thực hiện phép đo, sử dụng quy trình quy trình I hoặc quy trình II trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Quy trình I

Trong 24 h ± 4 h bên trong lò có nhiệt độ 55 °C ± 2 ° C và độ m tương đối không cao hơn 20 %

Quy trình II

96 h ± 4 h bên trong lò có nhiệt độ 100 °C ± 5 °C.

Sau đó các điện trở biến đổi được để nguội trong bình hút m có chất hút ẩm thích hợp, chẳng hạn như nhôm hoạt tính hoặc silica gel, và được giữ trong đó tính từ thời gian ly ra khỏi lò đến khi bắt đầu các thử nghiệm quy định.

4.4. Kiểm tra bằng mắt và kiểm tra kích thước

4.4.1. Kiểm tra bằng mắt

Tình trạng, tay nghề và chất lượng bề mặt phải đáp ứng được các kiểm tra bằng mắt.

4.4.2. Ghi nhãn

Ghi nhãn phải rõ ràng, bằng cách kiểm tra bằng mắt. Ghi nhãn phải phù hợp với các yêu cầu của quy định kỹ thuật cụ thể.

4.4.3. Kích thước (đo kiểm)

Tất cả các kích thước được chỉ ra trong quy định kỹ thuật cụ thể là thích hợp để kiểm tra bằng cách đo đều phải được kiểm tra và phải phù hợp với các giá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Khi áp dụng, các phép đo được thực hiện theo quy định của IEC 60294 hoặc IEC 60717.

4.4.4. Kích thước (chi tiết)

Tất cả các kích thước được chỉ ra trong quy định kỹ thuật cụ thể đều phải được kiểm tra và phải phù hợp với các giá trị quy định.

4.5. Điện áp hoặc dòng điện rò của điện trở biến đổi danh nghĩa (không áp dụng đối với các phép đo xung)

4.5.1. Quy trình thử nghiệm

Các điện tr biến đổi phải được cố định vào kẹp chống ăn mòn bằng phương tiện thông thường. Phương tiện lắp đặt ưu tiên được đưa ra trong Phụ lục A để đo trong không khí và khi có thể xảy ra tự gia nhiệt. Phương pháp trong Phụ lục A phải được sử dụng trong trường hợp có tranh chấp.

4.5.2. Phép đo và yêu cầu

Đo điện áp hoặc dòng điện rò của điện trở biến đổi danh nghĩa được thực hiện bằng cách sử dụng một điện áp (hoặc dòng điện) một chiều trong thời gian ngắn càng tốt, để nhiệt độ của các phần tử điện tr biến đổi không tăng đáng kể trong quá trình đo.

Trong trường hợp đòi hỏi điều kiện chính xác hơn thì phải được quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Phép đo phải được thực hiện theo hai hướng,

Độ chính xác của thiết bị đo phải đảm bảo rằng sai số không vượt quá 10 % dung sai.

Các giá trị đo được về điện áp (hoặc dòng điện rò) của điện trở biến đổi danh nghĩa phải phù hợp với các giới hạn được đưa ra trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.6. Dòng điện xung

Các điện trở biến đổi phải được cố định vào kẹp chống ăn mòn bằng phương tiện thông thường. Phương tiện lắp đặt ưu tiên được đưa ra trong Phụ lục A để đo trong không khí và khi có thể xảy ra tự gia nhiệt. Phương pháp trong Phụ lục A phải được sử dụng trong trường hợp có tranh chấp.

4.6.1. Dòng điện xung tiêu chuẩn

Sử dụng dòng điện xung tiêu chuẩn tương ứng với loại xung thứ nhất được xác định trong 2.2.17. Một xung có thời gian sườn trước ảo là 8 ms và thời gian đến một nửa giá trị là 20 ms. Xung được mô tả như một xung 8/20. Một xung khác có thời gian sườn trước o là 10 ms và thời gian đến một nửa giá trị là 1 000 ms được mô tả là xung 10/1 000.

Dòng điện xung chữ nhật, tương ứng với loại xung thứ hai được định nghĩa trong 2.2.17 có thời gian ảo là tựa đnh, tới 50 ms, 1 000 ms hoặc 2 000 ms, nằm trong dung sai quy định.

4.6.2. Dung sai

Bảng 2 liệt kê sự khác nhau được chấp nhận giữa các giá trị quy đnh đối với dòng điện xung và giá trị thực được ghi lại, với điều kiện là hệ thống đo đáp ứng các yêu cầu của IEC 60060-2.

Bảng 2 – Sự sai khác được thừa nhận giữa các giá tr quy định và dòng điện xung được ghi lại

 

Đối với 8 /20

Đối với 10/1 000

Giá trị đỉnh

± 10%

± 10%

 

Thời gian sườn trước ảo T1

± 10%

+ 100%

 10 %

Thời gian ảo đến một nửa giá trị T2

± 10%

± 20 %

Tổng thời gian ảo

 

2,5 đến 4 lần T2

Cho phép quá đích hoặc dao động nhỏ với điều kiện biên độ đỉnh duy nhất của chúng nằm trong vùng lân cận của đỉnh xung không vượt quá 5 % giá tr đỉnh. Mọi thay đổi cực tính sau khi dòng điện giảm về không đều không được lớn hơn 20 % giá trị đnh

Đối với xung chữ nhật

Giá trị đỉnh %

Thời gian ảo của đỉnh %

Cho phép quá đích hoặc dao động với điều kiện là biên độ đỉnh không vượt quá 10 % giá trị đnh. Thời gian tổng của xung chữ nhật cần nhỏ hơn hoặc bằng 1,5 lần thời gian ảo của đỉnh và đảo ngược cực tính cần được giới hạn đến 10 % giá trị đỉnh.

CHÚ THÍCH: Dung sai được đề cập trên đây liên quan đến hệ thống đo tạo ra xung (hệ thống đo khi ngắn mạch) và không ghi lại xung trong quá trình thử nghiệm.

4.6.3. Phép đo dòng điện xung

Dòng điện xung cần được đo bằng thiết bị đã qua thủ tục chấp nhận liên quan đến IEC 60060-2. Xung này phải được định nghĩa trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.7. Điện áp trong điều kiện xung

Điện trở biến đổi phải được đặt vào các kẹp chịu ăn mòn theo cách thông thường. Phương tiện lắp đặt ưu tiên được cho trong phụ lục A đối với phép đo trong không khí khi có tự gia nhiệt có th xuất hiện. Phương pháp trong phụ lục A phải được sử dụng trong trường hợp có nghi ngờ.

Khi phép đo đòi hỏi tăng điện áp đặt lên đối tượng thử nghiệm trong quá trình thử nghiệm với dòng điện xung cao, có th sử dụng cơ cấu đo được thừa nhận để đo điện áp xung theo IEC 60060-2 cho mục đích này.

Dòng điện xung có thể gây ra điện áp đáng kể trong mạch đo điện áp xung dẫn đến sai số lớn. Khuyến cáo rằng các dây dẫn thường nối bộ phn áp với đầu mang điện của đối tượng thử nghiệm cần được ngắt khỏi điểm này và được nối đến đầu nối đất của đối tượng thử nghiệm, nhưng duy trì một vòng lặp gần giống nhau. Một cách khác, đối tượng thử nghiệm có thể được nối tắt hoặc thay thế bằng một dây dẫn kim loại đặc. Điện áp được đo trong điều kiện bất kỳ, khi bộ phát phóng điện, không đáng k so với điện áp đặt lên đối tượng thử nghiệm,  ít nhất là trong khoảng thời gian  một phần quan trọng của xung dùng đ đánh giá kết quả thử nghiệm.

CHÚ THÍCH: Kiểm tra ngn mạch này có thể thực hiện  dòng điện suy giảm.

4.8. Điện dung

Điện trở biến đổi phải được đặt vào các kẹp chịu ăn mòn theo cách thông thường. Phương tiện lắp đặt ưu tiên được cho trong phụ lục A đối với phép đo trong không khí khi có tự gia nhiệt có thể xuất hiện. Phương pháp trong phụ lục A phải được sử dụng trong trường hợp có nghi ngờ.

CHÚ THÍCH 1: Thuộc tính của điện trở biến đổi phụ thuộc vào tn số, phát sinh từ điện dung của chúng, cần quan tâm đến yếu tố này.

CHÚ THÍCH 2: Phép đo điện dung cần được thực hiện trên mẫu đã được phục hồi trong thời gian ít nht 48 h sau bt kỳ thử nghiệm điện nào khác.

4.8.1. Các phép đo được thực hiện trong điều kiện bình thường,  tần số 1 kHz và, trừ trường hợp quy định tại các đặc điểm kỹ thuật chi tiết, ở mức tín hiệu  1 V giá trị hiệu dụng, không có định thiên bằng điện một chiều.

4.8.2. Điện dung phải phù hợp với giá trị nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể có tính đến dung sai.

4.9. Chịu điện áp (chỉ đối với điện trở biến đổi cách ly)

Thử nghiệm phải được thực hiện bằng cách sử dụng một trong ba phương pháp lắp đặt sau đây, nếu được quy định tại các quy định kỹ thuật cụ thể.

4.9.1. Phương pháp khối V

Điện trở biến đổi được kẹp trong máng của khối V 90 ° bng kim loại có kích thước sao cho thân điện trở biến đổi không nhô ra ngoài các điểm xa nhất của khối. Lực kẹp phải đảm bảo đủ tiếp xúc giữa điện trở biến đổi và khối. Lực kẹp phải được chọn theo cách cách không làm hỏng điện tr biến đổi. Điện trở biến đổi phải được định vị phù hợp với những điều sau đây.

– Đối với điện trở biến đổi hình trụ: điện tr biến đổi phải được định vị trong khối sao cho chân xa nhất tính từ trục của điện trở biến đổi là gần nhất với một trong các bề mặt của khối.

– Đối với điện trở biến đổi hình chữ nhật: điện tr biến đổi phải được định vị trong khối sao cho chân gần nhất tính từ mép của điện trở biến đổi là gần nhất với một trong các bề mặt của khối.

Đối với điện trở biến đổi hình trụ và hình chữ nhật có dây ra dọc trục: mọi đnh vị lệch tâm của điểm nhô ra của các chân tính từ thân phải được bỏ qua.

4.9.2. Phương pháp viên bi kim loại

Các phần không cách điện của điện trở biến đổi phải được bọc bằng vật liệu cách điện có giá trị cách ly rất cao.

Điện trở biến đổi hoàn chnh phải được đặt vào một thùng chứa các viên bi kim loi đường kính 1,6 mm ± 0,2 mm sao cho chỉ các chân của điện trở biến đổi nhô ra. Cắm một điện cực vào giữa các viên bi kim loại.

4.9.3. Phương pháp lá kim loại

Một lá kim loại phải được quấn chặt xung quanh thân của điện trở biến đổi.

Đối với điện trở biến đổi có các chân dọc trục, lá kim loại phải được quấn xung quanh toàn bộ thân của điện trở biến đổi nhô thêm ra ít nhất là 5 mm tính từ mỗi đầu với điều kiện là duy trì được khoảng không tối thiểu giữa lá kim loại và các chân là 1 mm. Các đầu của lá kim loại không được bị gập trên các đầu của điện trở biến đổi.

Điện áp đặt vào phải được quy định trong tài liệu an toàn có thể áp dụng. Nếu không có tài liệu an toàn thì điện áp đặt phải như sau:

Đặt trong thời gian 60 s ± 5 s một điện áp xoay chiều có tần số 40 Hz đến 60 Hz, có giá trị đỉnh bằng 1,4 lần điện áp cách ly quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể lên tất cả các chân của điện trở biến đổi nối với nhau thành một cục, các viên bi kim loại hoặc lá kim loại hoặc khối V là một cực khác.

Điện áp phải được đặt từ từ với tc độ xấp xỉ 100 V/s. Thời gian thử nghiệm có thể giảm đến 1 s với điều kiện điện áp thử nghiệm tăng 20 %.

Không được có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

4.10. Điện trở cách điện (chỉ đối với điện trở biến đổi được cách ly)

4.10.1. Quy trình thử nghiệm

Thử nghiệm phải được thực hiện bng cách sử dụng một trong những phương pháp quy định trong 4.9, theo quy định tại các quy định kỹ thuật cụ thể.

4.10.2. Phép đo và yêu cầu

Điện trở cách điện phải được đo với điện áp một chiều 100 V ± 15 V (đối với UISO < 500 V) hoặc 500 V ± 50 V (cho UISO > 500 V) giữa hai chân của điện tr biến đổi được nối với nhau tạo thành một cực và lá kim loại, viên bi kim loại, lá kim loại hoặc khối V tạo thành cực khác.

Điện áp phải được đặt trong 1 min, hoặc trong thời gian ngắn hơn nhưng đủ để đạt được số đọc ổn định, điện trở cách ly được đọc  cuối của giai đoạn này.

Khi điện trở biến đổi được đo theo quy định, điện trở cách ly không được nhỏ hơn các giá trị thích hợp quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Không được có phóng điện đánh thng hoặc phóng điện bề mặt.

Điện trở cách ly không được nhỏ hơn giá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.11. Độ cứng vững của các chân

4.11.1. Quy đnh chung

Điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm Ua1, Ub, Uc và Ud của IEC 60068-2-21, tùy theo từng trường hợp.

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại, điện áp  dòng điện quy định phải được đo theo 4.5.

4.11.2. Thử nghiệm Ua1 – Kéo căng

Lực đặt phải là:

– 20 N đối với các chân không phải là sợi dây;

– theo bảng 3 đối với các chân là sợi dây.

Bảng 3 – Lực dành cho các chân là sợi dây

Diện tích mặt cắt danh nghĩa

mm2

Đường kính tương ứng đối với dây mặt cắt tròn

mm

Lực kéo

N

≤ 0,05

d ≤ 0,25

1

0,05 < S  0,07

0,25 < d ≤ 0,3

2,5

0,07 S ≤ 0,2

0,3 < d  0,5

5

0,2 < ≤ 0,5

0,5 < d ≤ 0,8

10

0,5 < ≤ 1,2

0,8 < d ≤ 1,25

20

1,2 < S

1,25 < d

40

4.11.3. Thử nghiệm Ub – Uốn (một na số chân)

Phương pháp 1, Phải đặt hai lần uốn liên tiếp theo mỗi hướng. Không áp dụng thử nghiệm này nếu quy định kỹ thuật cụ thể quy định các chân là loại cứng.

4.11.4. Thử nghiệm Uc – Xoắn (một nửa số chân còn lại)

Phương pháp 1, phải sử dụng độ khắc nghiệt 2 (2 lần xoay liên tiếp 180 °).

Không áp dụng thử nghiệm này nếu trong quy định kỹ thuật cụ thể quy định các chân là cứng và không áp dụng cho các linh kiện có các chân cùng một hướng được thiết kế cho các ứng dụng mạch in.

4.11.5. Thử nghiệm Ud – Mô men xoắn (dành cho các chân là vít hoặc bu lông và dành cho các cơ cấu lắp liền)

Bảng 4 – Mô men xoắn

Đường kính ren danh nghĩa

mm

2,6

3

3,5

4

5

6

Mô men xoắn (Nm)

Độ khắc nghiệt 1

0,4

0,5

0,8

1,2

2,0

2,5

Độ khắc nghiệt 2

0,2

0,25

0,4

0,6

1,0

1,25

4.11.6. Kiểm tra bằng mắt

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi phải được kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được.

4.11.7. Phép đo cuối cùng

Đối với điện trở biến đổi silicon cacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5, và không được vượt quá giá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Đối với điện trở biến đổi là oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định trong 4.4, và sự thay đi từ giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.12. Khả năng chịu nhiệt hàn

4.12.1. Ổn định trước

Khi có quy định của quy định kỹ thuật liên quan, điện trở nhiệt phải được làm khô bằng cách sử dụng phương pháp của 4.3.

Các nhiệt kế điện tử phải được đo theo quy định kỹ thuật liên quan.

4.12.2. Quy trình thử nghiệm

Nếu không có quy định khác trong quy định kỹ thuật liên quan, phải áp dụng một trong các thử nghiệm sau đây nếu được quy định trong cùng một quy định kỹ thuật.

Các điều kiện thử nghiệm được xác định trong quy định kỹ thuật liên quan.

a) Đối với tt cả các điện trở nhiệt trừ các mục b) và c) dưới đây:

IEC 60068-2-20. thử nghiệm Tb, phương pháp 1 (bể hàn).

b) Đối với điện tr nhiệt không được thiết kế để sử dụng trong tấm mạch in nhưng có các chân thích hợp với hàn thiếc như được chỉ ra trong quy định kỹ thuật cụ thể:

1) IEC 60068-2-20. thử nghiệm Tb. phương pháp 1 (bể hàn)

2) IEC 60068-2-20. thử nghiệm Tb. phương pháp 2 (mỏ hàn).

c) Đối với điện trở nhiệt lắp đặt bề mặt:

IEC 60068-2-58. Phương pháp chảy ngược hoặc phương pháp bể hàn

4.12.3. Phục hồi

Trừ trường hợp có quy định kỹ thuật cụ thể. Giai đoạn phục hồi không được sớm hơn 1 giờ hoặc lâu hơn 2 giờ, ngoại trừ đối với điện trở nhiệt lp đặt bề mặt, trong đó giai đoạn phục hồi phải là 24 h ± 2h.

4.12.4. Kiểm tra cuối cùng, phép đo và các yêu cầu

Đối với tất cả các điện trở nhiệt, ngoại trừ điện tr nhiệt lắp đặt bề mặt phải áp dụng như sau:

– Khi thử nghiệm đã được thực hiện, các điện trở nhiệt vẫn phải được kiểm tra bằng mắt.

– Không được có hư hại nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn rõ ràng.

– Các điện trở nhiệt sau đó phải được đo theo quy định tại quy định kỹ thuật liên quan.

Điện tr nhiệt lắp đặt bề mặt phải được kiểm tra bằng mắt và đo và phải đáp ứng các yêu cầu theo quy định trong quy định kỹ thuật liên quan.

4.13. Khả năng hàn

CHÚ THÍCH: Không áp dụng cho các chân mà quy định kỹ thuật cụ thể mô tả là không được thiết kế để hàn.

Quy định kỹ thuật liên quan cần quy định có cần áp dụng lão hóa hay không. Nếu lão hóa gia tốc là cần thiết, thì áp dụng một trong các quy trình lão hóa được đưa ra trong IEC 60068-2-20.

Trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật liên quan, thử nghiệm phải được thực hiện với chất gây chảy không hoạt hóa.

4.13.1. Quy trình thử nghiệm

Trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật liên quan, áp dụng một trong các thử nghiệm sau đây được quy định trong cùng một quy định kỹ thuật.

a) Các điều kiện phải được quy định trong quy định kỹ thuật liên quan.

1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương pháp 1 (bể hàn).

Độ sâu nhúng (tính từ mặt phẳng đặt hoặc thân linh kiện):

2,0 mm, bằng cách sử dụng màn chắn cách nhiệt có chiều dày 1,5 mm ± 0,5 mm;

2) IEC 60006-2-20, Thử nghiệm Ta. phương pháp 2 (mỏ hàn).

3) TCVN 7699-2-54 (IEC 60068-2-54)

b) Đối với điện tr nhiệt không được thiết kế để sử dụng trong tấm mạch in, nhưng các chân được thiết kế để hàn như được chỉ ra trong quy định kỹ thuật cụ thể:

1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương pháp 1 (bể hàn).

Độ sâu nhúng (tính từ mặt phẳng đặt hoặc thân linh kiện): 3,5 mm.

2) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương pháp 2 (mỏ hàn).

c) Đối với điện trở nhiệt lắp đặt bề mặt:

1) IEC 60068-2-58. Phương pháp chảy ngược hoặc phương pháp bể hàn

2) IEC 60068-2-69, Phương pháp bể hàn hoặc phương pháp giọt nóng chảy

4.13.2. Kiểm tra cuối cùng, phép đo và yêu cầu

Các chân điện trở phải được kiểm tra về bám thiếc tốt mà bằng chứng là thiếc bám đều trên các chân.

Các điện trở nhiệt phải đáp ứng các yêu cầu theo quy định trong quy định kỹ thuật liên quan.

4.14. Thay đổi nhiệt độ đột ngột

4.14.1. Phép đo ban đầu

Đối với điện trở biến đổi là oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định trong 4.5.

4.14.2. Quy trình thử nghiệm

Điện tr biến đổi phải chịu thử nghiệm Na của TCVN 7699-2-14 (IEC 60068-2-14) trong năm chu kỳ. Thời gian đặt vào mỗi cực biên của nhiệt độ phải là 30 min.

Các điện trở biến đổi sau đó phải được duy trì trong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn không sớm hơn 1 h hoặc không lâu hơn 2 h để phục hồi.

4.14.3. Kiểm tra cuối cùng, phép đo và yêu cầu

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi được kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn phải rõ ràng.

Đối với điện trở biến đổi silicon cacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy đnh tại 4.5, và không được vượt quá giá tr quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Đối với điện tr biến đổi là oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định trong 4.5, và sự thay đổi từ giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.15. Va đập

4.15.1. Phép đo ban đầu

Đối với điện tr biến đổi là oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định trong 4.5

4.15.2. Quy trình thử nghiệm

Điện tr biến đổi được lắp đặt như được ch ra là chỉ ra trong quy định kỹ thuật liên quan.

Điện tr biến đổi phải chịu thử nghiệm Eb của TCVN 7699-2-29 (IEC 60068-2-29) sử dụng độ khắc nghiệt quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.15.3. Kiểm tra cuối cùng, phép đo và yêu cầu

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi được kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được.

Đối với điện trở biến đổi silicon cacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5 và không vượt quá giá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5, và sự thay đổi so với giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.16. Xóc

4.16.1. Phép đo ban đầu

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5.

4.16.2. Quy trình thử nghiệm

Các điện trở biến đổi được lắp đặt bề mặt như là ch ra trong quy định kỹ thuật liên quan.

Các điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm Ea của TCVN 7699-2-27 (IEC 60068-2-27) sử dụng độ khắc nghiệt quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.16.3. Kiểm tra cuối cùng, phép đo và yêu cầu

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi được kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được.

Đối với điện tr biến đổi silicon cacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5 và không vượt quá giá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Đối với điện tr biến đổi oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5, và sự thay đổi so với giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.17. Rung

4.17.1. Phép đo ban đầu

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5.

4.17.2. Quy trình thử nghiệm

Các điện trở biến đổi phải được lắp đặt như ch ra trong quy định kỹ thuật liên quan.

Trừ trường hợp có quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể, điện trở biến đổi phải chịu phương pháp B4 của thử nghiệm Fc trong TCVN 7699-2-6 (IEC 60068-2-6) sử dụng độ khắc nghiệt quy định trong quy định kỹ thuật cụ th.

4.17.3. Kiểm tra cuối cùng, phép đo và yêu cầu

Sau khi phục hồi, điện trở biến đi được kiểm tra bng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được.

Đối với điện trở biến đổi silicon cacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5 và không được vượt quá giá tr quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5, và sự thay đổi so với giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ th.

4.18. Trình tự khí hậu

Trong trình tự khí hậu, cho phép một khoảng thời gian tối đa là 3 ngày giữa các lần thử nghiệm bất kỳ, ngoại trừ thử nghiệm lạnh phải được áp dụng ngay lập tức sau giai đoạn phục hồi quy định cho chu kỳ đầu tiên của thử nghiệm nhiệt ẩm chu kỳ, thử nghiệm Db.

4.18.1. Phép đo ban đầu

Đối với điện tr biến đổi oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5.

4.18.2. Nóng khô

Điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm Ba của TCVN 7699-2-2 (IEC 60068-2-2)  nhiệt độ mức cao trong thời hạn 16 h.

4.18.3. Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, chu kỳ thứ nht

Điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm Db của TCVN 7699-2-30 (IEC 60066-2-30) trong một chu kỳ 24 giờ, sử dụng nhiệt độ 55 °C (độ khắc nghiệt b), biến thể 1.

4.18.4. Lạnh

Điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm Aa của TCVN 7699-2-1 (IEC 60068-2-1)  nhiệt độ mức thp trong thời gian 2 h.

4.18.5. Áp suất không khí thấp

a) điện tr biến đổi phải chịu thử nghiệm M của TCVN 7699-2-13 (IEC 60068-2-13) sử dụng độ khắc nghiệt quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

b) Thử nghiệm phải được thực hiện  nhiệt độ từ 15 °C đến 35 ° C. Thời gian thử nghiệm phải là 1 h.

4.18.6. Nóng m, chu kỳ, thử nghiệm Db, chu kỳ còn lại

Điện tr biến đổi phải chịu thử nghiệm Db của TCVN 7699-2-30 (IEC 60066-2-30) trong chu kỳ tiếp theo là 24 h như được ch ra trong Bảng 5, ở nhiệt độ 55 °C (độ khắc nghiệt b), biến thể 1.

Bảng 5 – Số chu kỳ

Mức

Số chu kỳ

 /  / 56

5

 /  / 21

1

 /  / 10

1

 /  / 04

0

 /  / 00

0

Các điện trở biến đổi phải được duy trì trong điều kiện khí quyển tiêu chun cho việc phục hồi trong thời gian không sớm hơn 1 h hoặc không muộn hơn 2 h.

4.18.7. Kiểm tra cuối cùng, phép đo và yêu cầu

Sau khi phục hồi các điện trở biến đổi phải được kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hỏng nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn rõ ràng.

Đối với điện trở biến đổi silicon cacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5 và không được vượt quá giá trị quy đnh trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo 4.5, sự thay đổi so với giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ th.

Điện tr cách điện không được nhỏ hơn các giá tr quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Thử nghiệm chịu điện áp bằng phải được thực hiện theo quy định tại 4.8. Không được có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt.

4.19. Nóng ẩm, trạng thái ổn đnh

4.19.1. Phép đo ban đầu

Đối với điện tr biến đổi oxit kim loại điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo 4.5.

4.19.2. Quy trình thử nghiệm

Các điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm Ca của TCVN 7699-2-78 (IEC 60068-2-78) sử dụng độ khắc nghiệt tương ứng với các loại khí hậu của điện trở biến đổi như được chỉ ra trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Các điện trở biến đổi được chia thành hai nhóm.

a) Nhóm thứ nhất phải chịu thử nghiệm này mà không có điện áp.

b) Nhóm thứ hai phải chu thử nghiệm này và đặt điện áp một chiều theo quy định trong quy định kỹ thuật từng phần hoặc trong quy định kỹ thuật cụ th.

Các điện trở biến đổi phải được duy trì trong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để phục hồi trong thời gian không sớm hơn 1 h cũng không muộn hơn 2 h.

4.19.3. Kiểm tra cuối cùng, phép đo và yêu cầu

Sau khi phục hồi các điện trở biến đổi được kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn rõ ràng.

Đối với điện tr biến đổi oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo 4.5, sự thay đổi so với giá tr đo được ban đu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Điện trở cách điện không được nhỏ hơn các giá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.20. Nguy hiểm cháy

Các điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm ngọn lửa hình kim của TCVN 9900-11-5 (IEC 60695-11-5).

Quy định kỹ thuật cụ thể quy định các chi tiết sau đây:

a) chuẩn bị trước, nếu cần thiết;

b) Số lượng mẫu thử nghiệm, nếu không phải là ba mu;

c) các tư thế của mu;

d) bề mặt cần được thử nghiệm và điểm đặt;

e) lớp rải bên dưới được sử dụng để đánh giá tác động của tàn lửa;

f) độ khắc nghiệt:

– thời gian đặt ngọn lửa thử nghiệm (ta);

g) các yêu cầu:

– thời gian cho phép và mức độ cháy lan, xem xét thiết kế và bố trí các bộ phận khác nhau, v bọc và tấm chắn bên trong thiết bị;

– Liệu các tiêu chí quy định đã đ để kiểm tra việc tuân thủ các yêu cầu an toàn hay cần đưa thêm các tiêu chí khác;

h) Mọi suy giảm của tính chất cơ/điện cho phép.

4.21. Độ bền  nhiệt độ mức cao

4.21.1. Đối với điện trở biến đi oxit kim loại điện áp tại dòng điện quy định được xác định theo 4.5.

4.21.2. Điện tr biến đổi phải chịu thử nghiệm độ bền 1 000 h ± 24 h  nhiệt độ môi trường xung quanh bng với nhiệt độ mức cao quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.21.3. Phải đặt liên tục điện áp một chiều hoặc xoay chiều lớn nhất theo quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể, có tính đến đường cong suy giảm theo chu kỳ 1,5 h bật và 0,5 h tắt xuyên suốt thử nghiệm theo các điều kiện hoạt động tương ứng với nhiệt độ mức cao.

Thời gian “nửa giờ tắt” được bao gồm trong tổng thời gian quy định trong 4.20.1.

4.21.4. Điện trở biến đổi phải được giữ ở vị trí bằng các chân của chúng bằng các kẹp phù hợp trên một giá bằng vật liệu cách điện.

Khoảng cách giữa hai điện trở biến đi liền kề không được nhỏ hơn ba lần so với kích thước chính của thân điện trở.

Không được có gió lùa lên các điện trở biến đổi. Chỉ có đối lưu tự nhiên tạo ra từ các điện trở biến đổi nóng lên là được phép.

4.21.5. Sau khoảng 48 h, 500 h và 1 000 h các điện trở biến đổi được lấy ra khỏi tủ thử và được làm nguội trong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để phục hồi trong 4 h ± 0,5 h.

Lấy điện tr biến đổi ra khỏi tủ thử ở cuối thời gian nửa giờ tắt.

4.21.5.1. Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi được kiểm tra bng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn phải rõ ràng.

4.21.5.2. Đối với điện trở biến đổi silicon cacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy đnh tại 4.4, và giá trị không được vượt quá quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.4, và sự thay đổi so với giá tr đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.21.6. Sau các phép đo trung gian, điện trở biến đổi được đặt lại vào tủ thử nghiệm. Khoảng thời gian từ lúc lấy điện trở biến đi ra khỏi t và trả về với điều kiện thử nghiệm không được vượt quá 12 h.

4.21.7. Sau 1 000 h điện tr biến đổi phải chịu thêm các thử nghiệm sau đây.

4.21.7.1. Điện áp  loại dòng điện phải được đo và giá trị không vượt quá quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.21.7.2. Điện trở cách điện phải được đo và giá trị không được ít hơn so với quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.22. Khả năng chịu dung môi của nhãn

4.22.1. Quy trình thử nghiệm

Các linh kiện phải chịu thử nghiệm XA của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45), với các chi tiết sau đây.

a) dung môi được sử dụng: Xem 3.1,1 của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45).

b) nhiệt độ dung môi: 23 ° C ± 5 ° C.

c) ổn định: Phương pháp 1 (có chà xát).

d) vật liệu chà xát: bông.

e) Thời gian phục hồi: Không áp dụng, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.22.2. Yêu cầu

Sau khi thử nghiệm, nhãn vẫn phi dễ đọc.

4.23. Khả năng chu dung môi của linh kiện

4.23.1. Phép đo ban đầu

Các phép đo theo quy định tại quy định kỹ thuật liên quan phải được thực hiện.

4.23.2. Quy trình thử nghiệm

Các linh kiện phải chịu thử nghiệm XA của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45) với các chi tiết sau đây.

Dung môi được sử dụng: Xem 3.1.1 của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45).

Nhiệt độ dung môi: 23 ° C ± 5 °C, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

n định: Phương pháp 2 (không chà xát).

Thời gian phục hồi: 48 h, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.23.3. Phép đo và yêu cầu

Các phép đo theo quy định tại quy định kỹ thuật liên quan được thực hiện và các yêu cầu quy định phải được đáp ứng.

4.24. Lắp đặt (chỉ dành cho điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt)

4.24.1. Ví dụ về lắp đặt đi với điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt được thể hiện trong hình A.4.

4.24.2. Điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt phải được đặt trên một bề mặt phù hợp. Phương pháp lắp đặt tùy thuộc vào cấu trúc của điện trở biến đổi. Vật liệu nền thông thường phải là tm mạch in bằng vải thủy tinh ép epoxy dày 1,6 mm (theo quy đnh trong IEC 61249-2-7, IEC -EP -GC- CU) hoặc tấm nền là nhôm dày 0,635 mm và không được ảnh hưởng đến kết quả của bất kỳ thử nghiệm hoặc phép đo nào. Quy định kỹ thuật cụ thể phải ch ra các vật liệu được sử dụng cho các phép đo điện.

Tấm nền phải có diện tích tiếp đt bằng kim loại có khoảng cách thích hợp để cho phép lắp đặt điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt và có kết nối điện với các chân của điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt. Quy định chi tiết phải được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Nếu áp dụng phương pháp lắp đặt khác thì phương pháp này cần được mô tả rõ ràng trong quy định kỹ thuật cụ thể.

4.24.3. Khi quy định kỹ thuật cụ thể có quy định hàn sóng, lớp keo thích hợp được sử dụng để giữ chặt các linh kiện với lớp nền trước khi công việc hàn được thực hiện phải được chỉ định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Chấm nhỏ bằng keo được đặt giữa các đường dẫn của tấm nền bằng một thiết bị phù hợp đảm bảo kết quả lặp lại.

Điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt phải được đặt lên chấm bng nhíp. Để đảm bảo không có keo dính vào thì dây dẫn của điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt không được xê dịch.

Tấm nền có điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt được xử lý nhiệt trong lò  nhiệt độ 100 °C trong 15 min.

Tấm nền phải được hàn bằng máy hàn sóng. Máy hàn phải được điều chnh để gia nhiệt trước đến nhiệt độ từ 80 °C đến 130 °C, một bể chất hàn có nhiệt độ 260 °C ± 5 °C và thời gian hàn là (5 ± 0,5) s.

Các thao tác hàn phải được lặp lại một lần nữa (tổng số hai chu kỳ).

Tm nền được làm sạch trong vòng 3 min trong một dung môi thích hợp (xem 3.1.2 của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45)).

4.24.4. Khi quy định kỹ thuật cụ thể có quy định hàn chảy ngược, áp dụng quy trình lắp đặt sau đây.

a) Chất hàn được sử dụng có dạng định hình hoặc hỗn hợp nhão phải chứa bạc (tối thiểu 2 %) chất hàn eutectic Sn / Pb cùng với chất gây chảy không hoạt hóa như nêu trong IEC 60068-2-20. Chất hàn thay thế như 60/40 hoặc 63/37 có thể được sử dụng trên điện tr biến đổi lắp đặt bề mặt có cấu trúc bao gồm các lớp chắn ngấm hàn. Chất hàn không có Pb sử dụng trong phôi định hình hoặc hỗn hợp nhão phải là Sn96,5 – Ag3.0 – Cu0,5 hoặc chất hàn phái sinh cùng với chất gây chảy như đã nêu trong IEC 60068-2-58.

b) Các điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt sau đó được đặt trên diện tích nối đất bằng kim loại của tm nền thử nghiệm để tạo tiếp xúc giữa điện trở biến đổi và diện tích tiếp đất của tấm nền.

c) Tấm nền sau đó phải được đặt trong hoặc trên một hệ thống gia nhiệt thích hợp (nóng chảy chất hàn, tấm nóng, lò ống. v.v.) Nhiệt độ của các khối được duy trì giữa 215 °C và 260 °C cho đến khi chất hàn chảy ra và chảy ngược tạo thành liên kết chất hàn đồng đều, nhưng thời gian không dài hơn 10 s.

CHÚ THÍCH 1: Chất gây chảy cần được loại bỏ bằng một dung môi thích hợp (xem 3.1.2 của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45). Tất cả các xử lý tiếp theo phải sao cho tránh được ô nhiễm, cẩn thận để giữ sạch phòng thử và giữ sạch trong quá trình thực hiện các phép đo.

CHÚ THÍCH 2: Quy định kỹ thuật cụ thể có thể yêu cầu dải nhiệt độ hạn chế hơn.

CHÚ THÍCH 3: Nếu áp dụng phương pháp hàn giai đoạn hóa hơi thì cùng một phương pháp có thể được sử dụng với nhiệt độ thích nghi.

 

Phụ lục A

(quy định)

Lắp đặt để đo điện trở biến đổi

Điện tr biến đổi có các dây dẫn phải được nối (mà không hàn) đến các sợi dây pht pho-đồng thiếc có đường kính 1,3 mm ± 10 %, được lắp đặt trên một đế bằng vật liệu cách điện, như thể hiện dưới đây.

CHÚ THÍCH: Nếu không có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ th, các linh kiện cn được nối cách thân một khoảng 6 mm ± 1mm.

Hình A.1 – Phương pháp lắp đặt để do

Kích thước tính bng milimet

CHÚ THÍCH: Dây dẫn này có thể bỏ qua hoặc sử dụng như một điện cực bảo vệ.

Hình A.2  Phương pháp lắp đặt để đo điện tr biến đổi lắp đặt bề mặt

 

Phụ lục B

(quy định)

Giải thích phương án lấy mẫu và các thủ tục quy định trong IEC 60410 để sử dụng trong hệ thống đánh giá chất lượng đối với linh kiện điện tử

Khi sử dụng tiêu chun IEC 60410 để kiểm tra các thuộc tính cách giải thích sau đây của các điều khoản chỉ áp dụng cho các mục đích của tiêu chun này.

1.1. Thẩm quyền chịu trách nhiệm là tổ chức quốc gia có thm quyn để thực hiện các quy tắc cơ bản và các quy tắc về thủ tục.

1.5. Đơn vị sản phẩm là linh kiện điện tử quy định tại quy định kỹ thuật cụ thể.

2. Ch yêu cầu các đnh nghĩa sau đây từ điều này:

– một khiếm khuyết là sự không phù hp bt kỳ của một đơn v sản phm so với yêu cầu quy định;

– một khiếm khuyết là một đơn vị sản phẩm, trong đó có một hoặc nhiều khiếm khuyết.

3.1. Mức độ không phù hợp của một sn phẩm phải được thể hiện dưới dạng phần trăm các hạng mục khiếm khuyết.

3.3. Không áp dụng.

4.5. Cơ quan chịu trách nhiệm là Ủy ban kỹ thuật IEC soạn thảo các quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống có dạng là một phần của quy định kỹ thuật chung hoặc quy định kỹ thuật từng phần.

5.4. Người có trách nhiệm là người đứng đầu cơ quan kiểm tra, hành động phù hợp với các thủ tục quy định trong các tài liệu mô tả các bộ phận kiểm tra của các nhà sản xuất đã được phê duyệt và đã được cơ quan quốc gia về kiểm tra giám sát chấp nhận.

6.2. Người có trách nhiệm là người đứng đầu cơ quan kiểm tra.

6.3. Không áp dụng.

6.4. Người có trách nhiệm là người đứng đầu cơ quan kiểm tra.

8.1. Kiểm tra bình thường phải được áp dụng thường xuyên ở giai đoạn bắt đầu kiểm tra.

8.3.3. (d) Người có trách nhiệm là người đứng đầu cơ quan kiểm tra.

8.4. Người có trách nhiệm trong cơ quan quốc gia về kiểm tra giám sát.

9.2. Cơ quan chịu trách nhiệm là Ủy ban kỹ thuật IEC soạn thảo các quy đnh kỹ thuật cụ thể còn để trống có dạng là một phần của quy định kỹ thuật chung hoặc quy định kỹ thuật từng phần.

9.4. (chỉ câu thứ tư) Không áp dụng. (Chỉ câu thứ năm). Người có trách nhiệm là người đứng đầu cơ quan kiểm tra.

10.2. Không áp dụng

 

Phụ lục C

(quy định)

Quy tắc để dự thảo quy định kỹ thuật cụ thể đối với tụ điện và điện trở dùng cho thiết bị điện tử

1. Việc dự thảo quy định kỹ thuật cụ thể hoàn chỉnh của Ban kỹ thuật 40 của IEC, nếu có yêu cầu, chỉ được bắt đầu khi tất cả các điều kiện dưới đây được đáp ứng.

a) Quy định kỹ thuật chung đã được phê duyệt.

b) Quy định kỹ thuật từng phần, khi thích hợp, đã được lưu hành để phê duyệt theo quy tắc sáu tháng.

c) Quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống kết hợp đã được lưu hành để phê duyệt theo quy tắc sáu tháng.

d) Có bằng chứng cho thấy có ít nhất ba Ủy ban Quốc gia đã chính thức phê duyệt là tiêu chun của quốc gia, quy định kỹ thuật bao gồm một linh kiện có tính năng rất giống nhau.

Trong trường hợp Ủy ban Quốc gia chính thức khẳng định rằng trong nước của họ sử dụng chủ yếu hoặc đáng kể một phần của một số tiêu chuẩn quốc gia khác, khẳng định điều này có thể được tính vào yêu cầu nói trên.

2. Dự thảo các quy định kỹ thuật cụ thể thuộc trách nhiệm của Ủy ban kỹ thuật 40, phải sử dụng các tiêu chuẩn hoặc các giá trị ưu tiên, các thông số đặc trưng, các đặc tính và độ khắc nghiệt để thử nghiệm môi trường, v.v, được đưa ra trong các quy định kỹ thuật chung hoặc quy định kỹ thuật từng phần thích hợp.

Ngoại lệ cho quy tắc này chỉ có thể có cho một quy định kỹ thuật cụ thể khi được sự đồng ý của Ủy ban kỹ thuật 40.

3. Quy định kỹ thuật cụ thể không được lưu hành theo Quy tắc sáu tháng cho đến khi quy định kỹ thuật từng phần và quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống được phê duyệt để xuất bản.

 

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1. Qui định chung

2. Dữ liệu kỹ thuật

3. Qui trình đánh giá chất lượng

4. Qui trình thử nghiệm và đo lường

Phụ lục A (quy định) – Lắp đặt để đo điện tr biến đổi

Phụ lục B (quy định) – Giải thích phương án lấy mẫu và các thủ tục quy định trong IEC 60410 để sử dụng trong hệ thống đánh giá chất lượng đối với linh kiện điện tử

Phụ lục C (quy định) – Qui tắc để dự thảo quy định kỹ thuật cụ thể đối với tụ điện và điện tr dùng cho thiết bị điện tử

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 9897-1:2013 (IEC 61051-1:2007) VỀ ĐIỆN TRỞ PHI TUYẾN DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ – PHẦN 1: QUY ĐỊNH KỸ THUẬT CHUNG
Số, ký hiệu văn bản TCVN9897-1:2013 Ngày hiệu lực
Loại văn bản Tiêu chuẩn Việt Nam Ngày đăng công báo
Lĩnh vực Điện lực
Ngày ban hành
Cơ quan ban hành Tình trạng Còn hiệu lực

Các văn bản liên kết

Văn bản được hướng dẫn Văn bản hướng dẫn
Văn bản được hợp nhất Văn bản hợp nhất
Văn bản bị sửa đổi, bổ sung Văn bản sửa đổi, bổ sung
Văn bản bị đính chính Văn bản đính chính
Văn bản bị thay thế Văn bản thay thế
Văn bản được dẫn chiếu Văn bản căn cứ

Tải văn bản